JPS6113779A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
- Publication number
- JPS6113779A JPS6113779A JP59133974A JP13397484A JPS6113779A JP S6113779 A JPS6113779 A JP S6113779A JP 59133974 A JP59133974 A JP 59133974A JP 13397484 A JP13397484 A JP 13397484A JP S6113779 A JPS6113779 A JP S6113779A
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- JP
- Japan
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- circuit
- signal
- temperature
- amplitude
- pulse
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- Granted
Links
- 239000007787 solid Substances 0.000 title abstract 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 42
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 13
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000006903 response to temperature Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/68—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to defects
- H04N25/69—SSIS comprising testing or correcting structures for circuits other than pixel cells
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
- Picture Signal Circuits (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、例えば、ＣＣＤ等の固体撮像素子を利用し
た固体撮像装置に係わり、特に、固体撮像素子の画像欠
陥補正に関する。
た固体撮像装置に係わり、特に、固体撮像素子の画像欠
陥補正に関する。
周知のように、半導体の結晶を所定面積に亘って均一に
形成することは難しく、局部的に結晶欠陥が生じ易い。
形成することは難しく、局部的に結晶欠陥が生じ易い。
この結晶欠陥部分では電荷が異常に発生し易くなる。
ＣＯＤ等の固体撮像素子にこのような結晶欠陥が存在す
ると、その部品は受像機の画面上で白点状の画像欠陥と
なって現われる。このような画像欠陥を補正する方法と
しては特公昭５８−２５７８６号公報に示されている如
く、画像欠陥部分に逆極性の補正ノ４．ｙスを加え信号
レベルを抑圧する方法がある。この補正パルスは画像欠
陥の振幅に見合った振幅を有することが必要である。し
かし、画像欠陥の振幅は、通常第３図に示す如く、固体
撮像素子の温度が上昇するのに伴ない太き（なる。この
ためへ補正）４ルスも温度変化に応じて振幅を変える必
要がある。
ると、その部品は受像機の画面上で白点状の画像欠陥と
なって現われる。このような画像欠陥を補正する方法と
しては特公昭５８−２５７８６号公報に示されている如
く、画像欠陥部分に逆極性の補正ノ４．ｙスを加え信号
レベルを抑圧する方法がある。この補正パルスは画像欠
陥の振幅に見合った振幅を有することが必要である。し
かし、画像欠陥の振幅は、通常第３図に示す如く、固体
撮像素子の温度が上昇するのに伴ない太き（なる。この
ためへ補正）４ルスも温度変化に応じて振幅を変える必
要がある。
したがって、画像欠陥の補正には、補正パルスを振幅変
調する回路が必要である。しかしながら、振幅変調回路
が扱うパルスのパルス幅は非常に狭いため、補正ノクル
スの振幅が小さくなると回路中を流れる電流も′小さく
なり、パルス特性が著しく劣化する。
調する回路が必要である。しかしながら、振幅変調回路
が扱うパルスのパルス幅は非常に狭いため、補正ノクル
スの振幅が小さくなると回路中を流れる電流も′小さく
なり、パルス特性が著しく劣化する。
第４図は振幅変調回路内のトランジスタを流れる電流と
、補正ノクルス出力振幅との関係を示すものである。同
１図より明らかなように、ある電流以下では補正パルス
出力が消滅する。こ゛のため、画像欠陥振幅が十分に大
きいときは問題ないが、固体撮像素子の温度が低下し、
画像欠陥振幅が／」・さくなると、画像欠陥補正が正し
く行われなくなるという不都合が生ずる。
、補正ノクルス出力振幅との関係を示すものである。同
１図より明らかなように、ある電流以下では補正パルス
出力が消滅する。こ゛のため、画像欠陥振幅が十分に大
きいときは問題ないが、固体撮像素子の温度が低下し、
画像欠陥振幅が／」・さくなると、画像欠陥補正が正し
く行われなくなるという不都合が生ずる。
この発明は上記事情に基づいてなされたものであり、そ
の目的とするところは広い範囲の温度で画像欠陥の補正
を行うことが可能な固体撮像装置を提供しようとするも
のである。
の目的とするところは広い範囲の温度で画像欠陥の補正
を行うことが可能な固体撮像装置を提供しようとするも
のである。
この発明は、画像欠陥補正パルスの振幅を、゛固体撮像
素子の温度変化に対応して変化する成分１および、温度
変化に無関係な一定成分とから□構成し、固体撮像素子
の温度が低下しても補正パルスの振幅が一定値以下に下
がらないようにするものである。
素子の温度変化に対応して変化する成分１および、温度
変化に無関係な一定成分とから□構成し、固体撮像素子
の温度が低下しても補正パルスの振幅が一定値以下に下
がらないようにするものである。
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。
する。
第１図において、固体撮像素子、例えばＣＣＤイ、メー
ジセンサｌｊはＣＯＤ駆動回路１２によって駆゛動され
、このＣＣＤイメージセンサ１１の出力信号はビデオ信
号処理回路１３においてビデオ信号に生成される。
ジセンサｌｊはＣＯＤ駆動回路１２によって駆゛動され
、このＣＣＤイメージセンサ１１の出力信号はビデオ信
号処理回路１３においてビデオ信号に生成される。
また、画像欠陥同期回路１４からはＣＣＤイメージセン
サ１１より出力される画像欠陥信号に同期したパルス信
号が発生され、このノヤルス信号は前記ＣＯＤ駆動回路
１２に供給されるとともに、変調回路１５および増幅器
１６に供給される。変調回路１５には温度センサ１７に
よって検出されたＣＣＤイメージセンサ１１の温度に対
応した信号が増幅器１８を介して供給されており、この
信号によって前記画像欠陥同期回路１４より供給される
・ぐルス信号の振幅が変調される。したがって、変調回
路１５からはＣＣＤイメージセンサ１１の温度に対応し
た振幅のノ４ルス信号が出力される。また、前記増幅器
１６は画像欠陥同期回路１４より供給されるパルス信号
を温度に係わらず一定振幅に増幅するものであり、この
増幅器１６の出カッｆルス信号は、前記変調回路１５よ
り出力されるパルス信号とともに加算回路１９に供給さ
れ加算される。この加算回路１９において加算されたノ
臂ルス信号はパルス幅変調回路２０に供給され、この回
路２０で画像欠陥補正に適したノクルス幅に整形され補
正ノクルス信号が生成される。この補正）４ルス信号は
前記ＣＯＤイメージ七ンサ１１の出力ダート電極（図示
せず）に印加され画像欠陥の抑圧が行われる。
サ１１より出力される画像欠陥信号に同期したパルス信
号が発生され、このノヤルス信号は前記ＣＯＤ駆動回路
１２に供給されるとともに、変調回路１５および増幅器
１６に供給される。変調回路１５には温度センサ１７に
よって検出されたＣＣＤイメージセンサ１１の温度に対
応した信号が増幅器１８を介して供給されており、この
信号によって前記画像欠陥同期回路１４より供給される
・ぐルス信号の振幅が変調される。したがって、変調回
路１５からはＣＣＤイメージセンサ１１の温度に対応し
た振幅のノ４ルス信号が出力される。また、前記増幅器
１６は画像欠陥同期回路１４より供給されるパルス信号
を温度に係わらず一定振幅に増幅するものであり、この
増幅器１６の出カッｆルス信号は、前記変調回路１５よ
り出力されるパルス信号とともに加算回路１９に供給さ
れ加算される。この加算回路１９において加算されたノ
臂ルス信号はパルス幅変調回路２０に供給され、この回
路２０で画像欠陥補正に適したノクルス幅に整形され補
正ノクルス信号が生成される。この補正）４ルス信号は
前記ＣＯＤイメージ七ンサ１１の出力ダート電極（図示
せず）に印加され画像欠陥の抑圧が行われる。
ここで、増幅器１６より出力される温度に係 −わら
ない一定成分としてのパルス信号の振幅を適宜調整する
ことにより、補正パルス信号は温度に係わらず常時出力
が保証される。
ない一定成分としてのパルス信号の振幅を適宜調整する
ことにより、補正パルス信号は温度に係わらず常時出力
が保証される。
第２図はこの実施例における補正パルスの温度特性を示
すものである。同図より明らかなように、小振幅時でも
補正パルス信号が消滅することはない。また、補正パル
ス信号が画像欠陥振幅より大きくなることも考えられる
が、その場合は、欠陥が画面上で小黒点となるため、白
点の場合より目立たないためさしつかえない。
すものである。同図より明らかなように、小振幅時でも
補正パルス信号が消滅することはない。また、補正パル
ス信号が画像欠陥振幅より大きくなることも考えられる
が、その場合は、欠陥が画面上で小黒点となるため、白
点の場合より目立たないためさしつかえない。
上記実施例によれば、画像欠陥信号に同期したノクルス
信号の振幅なＣＣＤイメージセンサ１１の温度に対応し
て変化させるとともに、前記パルス信号を温度とは無関
係に一定振幅に増幅し、両パルス信号を加算して補正パ
ルス信号を生成している。したがりて、温度がある程度
高い場合は振幅変調された補正ノ臂ルス信号により温度
変化に応じた欠陥補正を行うことができ、温度が低い場
合は一定振幅の補正ノ４ルスにより欠陥補正を行５こと
ができるため、温度の広範囲な変化に対して確実に画像
欠陥の抑圧を行うことが可能である。
信号の振幅なＣＣＤイメージセンサ１１の温度に対応し
て変化させるとともに、前記パルス信号を温度とは無関
係に一定振幅に増幅し、両パルス信号を加算して補正パ
ルス信号を生成している。したがりて、温度がある程度
高い場合は振幅変調された補正ノ臂ルス信号により温度
変化に応じた欠陥補正を行うことができ、温度が低い場
合は一定振幅の補正ノ４ルスにより欠陥補正を行５こと
ができるため、温度の広範囲な変化に対して確実に画像
欠陥の抑圧を行うことが可能である。
尚、この発明は上記実施例に限定されるものではなく、
画像欠陥をその振幅に対応した補正パルスで抑圧する補
正方法に総べて適用することが可能である。
画像欠陥をその振幅に対応した補正パルスで抑圧する補
正方法に総べて適用することが可能である。
また、固体撮像素子としてはＣＣＤイメージセンサに限
らず、例えばＭＯＳ型の固体撮像素子にこの発明を適用
することも可能である。
らず、例えばＭＯＳ型の固体撮像素子にこの発明を適用
することも可能である。
さらに、画像欠陥同期回路１４より出力されるノクルス
信号のパルス幅を画像欠陥信号と一致して発生している
場合はパルス幅変調回路２０は不要である。
信号のパルス幅を画像欠陥信号と一致して発生している
場合はパルス幅変調回路２０は不要である。
その他、この発明の要旨を変えない範囲で種々変形実施
可能なことは勿論である。
可能なことは勿論である。
以上、詳述したようにこの発明によれば、広い範囲の温
度で画像欠陥の補正を行うことが可能な固体撮像装置を
提供できる。
度で画像欠陥の補正を行うことが可能な固体撮像装置を
提供できる。
第１図はこの発明に係わる固体撮像装置の一実施例を示
す構成図、第２図はこの一発明の画像欠陥補正に使用さ
れる補正パルスの振幅、温度特性の一例を示す特性図、
第３図は固体撮像素子における画像欠陥の振幅、温度特
性を説明するために示す図、第４図は従来の固体撮像素
子画像欠陥補正に使用される補正ｉ４ルスの特性を説明
するために示す図である。 １ノ・・・ＣＣＤイメージセンサ、１４・・・画像欠陥
同期回路、１５・・・変調回路、１６・・・増幅器、１
９・・・加算回路、２０・・・パルス幅変調回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図 一→温度（０Ｃ） 、！ＬＱ７− →温度（０Ｃ） 第４図 電流（〃〜→
す構成図、第２図はこの一発明の画像欠陥補正に使用さ
れる補正パルスの振幅、温度特性の一例を示す特性図、
第３図は固体撮像素子における画像欠陥の振幅、温度特
性を説明するために示す図、第４図は従来の固体撮像素
子画像欠陥補正に使用される補正ｉ４ルスの特性を説明
するために示す図である。 １ノ・・・ＣＣＤイメージセンサ、１４・・・画像欠陥
同期回路、１５・・・変調回路、１６・・・増幅器、１
９・・・加算回路、２０・・・パルス幅変調回路。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第１図 第２図 一→温度（０Ｃ） 、！ＬＱ７− →温度（０Ｃ） 第４図 電流（〃〜→
Claims (1)
- 複数の感光素子が配列された固体撮像素子と、この固
体撮像素子の出力信号よりビデオ信号を生成する手段と
からなる固体撮像装置において、前記固体撮像素子の画
像欠陥に同期したパルス信号を発生する手段と、前記固
体撮像素子の温度を検出する手段と、この検出された温
度に応じて前記パルス信号の振幅を変化させる手段と、
この変化されたパルス信号および前記発生された温度変
化に無関係なパルス信号とを加算し、前記固体撮像素子
の画像欠陥補正パルス信号を生成する手段とを具備した
ことを特徴とする固体撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59133974A JPH0628414B2 (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59133974A JPH0628414B2 (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 固体撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6113779A true JPS6113779A (ja) | 1986-01-22 |
| JPH0628414B2 JPH0628414B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=15117423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59133974A Expired - Lifetime JPH0628414B2 (ja) | 1984-06-28 | 1984-06-28 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628414B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273876A (ja) * | 1985-09-25 | 1987-04-04 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 撮像装置 |
| EP0561599A2 (en) * | 1992-03-16 | 1993-09-22 | Sony Corporation | Solid state image pickup apparatus with automatic correction of defective pixels |
-
1984
- 1984-06-28 JP JP59133974A patent/JPH0628414B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6273876A (ja) * | 1985-09-25 | 1987-04-04 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 撮像装置 |
| EP0561599A2 (en) * | 1992-03-16 | 1993-09-22 | Sony Corporation | Solid state image pickup apparatus with automatic correction of defective pixels |
| US5416516A (en) * | 1992-03-16 | 1995-05-16 | Sony Corporation | Solid-state image pickup apparatus having a defect detecting mode |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0628414B2 (ja) | 1994-04-13 |
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