JPS61137160A - 電子写真感光体 - Google Patents

電子写真感光体

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Publication number
JPS61137160A
JPS61137160A JP25886684A JP25886684A JPS61137160A JP S61137160 A JPS61137160 A JP S61137160A JP 25886684 A JP25886684 A JP 25886684A JP 25886684 A JP25886684 A JP 25886684A JP S61137160 A JPS61137160 A JP S61137160A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
photoconductive layer
surface layer
band gap
contg
Prior art date
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Pending
Application number
JP25886684A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Miki
明 三城
Wataru Mitani
渉 三谷
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Automation Equipment Engineering Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP25886684A priority Critical patent/JPS61137160A/ja
Publication of JPS61137160A publication Critical patent/JPS61137160A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08235Silicon-based comprising three or four silicon-based layers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は電子写真用感光体に係り、その中でも特にレー
ザープリンター用に適用し得る電子写真感光体に関する
ものである。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
電子写真用感光体として、近年非晶質シリコン(以下a
−8tと書く)が注目されている。従来電子写真用感光
体としては、セレン、セレン・ヒ素、セレン・テルル、
硫化カドミウム樹脂分散系、有機光導電性材料等が用い
られてきたが、a−81電子写真感光体は無害であり、
公害の心配のないこと、高い使用温度に耐え、表面硬度
が高く取扱いが容易であること、さらに可視領域に高い
分光感度を有していることなどの理由から急速に製品化
への要求が高まっている。
一方、近年ファクシミリ・ワードプロセッサー、コンピ
ューター等の端末に感光体を用いた電子写真方式のプリ
ンターが開発されてきている。
このプリンターは、光源として種々のものを使用してい
るが、その中でも光源としてレーザーを用いた電子写真
方式のレーザープリンターは、そのレーザー光源として
He−Noレーザー等のガスレーザーが用いられていた
が、最近では、プリンターの小型化、低コスト化、変調
の行表い易さなどの点から半導体レーザーが主に用いら
れるようになってきた。
ところで、光源に半導体レーザーを用いた電子写真方式
のレーザープリンターの感光体にa−8tを利用しよう
とする場合、半導体レーザーはその発光波長が現在のと
ころ、780 nm程度であり、a−8t悪感光はこの
半導体レーザーの発光波長領域では光感度がやや低く、
鮮明な画像が得られないことがある。そこで半導体レー
ザーの発光波長でも光感度を充分持たせられるようにす
るために、a−81感光体中にGe(rルマニウム)を
入れ、光学的バンドギャップを小さくすることがよく行
なわれている。また、a −Si感光体中の光導電層の
水素の含有量を下げることにより、光学的バンドギャッ
プを下げ、長波長感度を増すことも行なわれる。。しか
しながら、以上のようなa−81感光体を用いて半導体
レーザーを光源としたレーザープリンターでレーザー光
を線走査し、画像を形成させてみると、文字画像と重な
って、干渉縞状の濃度ム、うが現われるととがある。ま
たこの濃度ムラは、レーザーの露光量を上げれば消すこ
とができるがその場合でも文字画像が所々白すじ状にぬ
けてしまい、良好な画像を得ることができない。さらに
、文字画像では現われなくてもノ・−フトーンをとって
みると、やはシこのノ・−フトーンに干渉縞による濃度
むらが現われる場合がある。との成因はa−8t悪感光
の表面で反射したレーザー光と、a−8t座感光内部を
透過し、導電性基板、具体的にはAt素管表面で反射し
、再び表面から出てゆく反射レーザー光との間で干渉が
生じるためである。
a−8i悪感光の場合、At素管上に成膜された光導電
層は、多少の膜の厚みむらを持っておυ、これが干渉の
原因となるドラム上の光路長の差となってあられれる。
そして、a−8t悪感光表面の反射光と、At素管表面
で反射し、再び表面から出てくる反射光との間の干渉効
果は実際には、a−81感光体内部に入射し、実質的に
発生するキャリアの量を制限することになシ、前述した
ように膜の厚みムラに゛対応して、濃度ムラが現われる
ことになる。したがっ□層て、対策としては、どちらか
の反射光強度を下げてやればよく、一般には、At素管
表面を適当に荒らすか、あるいは表面に反射防止条件タ よく行なわれる。
ところで、a−’Siを電子写真感光体に使用し゛よう
とする場合、a−8i自身の暗抵抗は約10100・m
程度であるため、表面電荷保持能を高めるため“に一般
に、導電性基板上に導電性基板からの□電荷の注入を阻
止するブロッキング層を設け、さらに光導電層の上部に
電荷保持のための表面□層を股iるいわゆる一層構造が
とられている。
そこで、このような積層構造のa−8i悪感光について
、前述の干渉縞対策として、At素管表面を荒らしてみ
ると、光導電層の厚みむらに対応し゛た狭い間隔の干渉
縞は消えるが°、ハーフトーン画像に間隔の広い干渉縞
が現われることがある。これは、表面層の厚みむらに対
応した千渉効果によるものである。
したがって、との間隔の広い干渉縞を消すためには、第
1に反射防止条件を満たすような膜厚で均一に表面層を
成膜すればよい。しかし、表面層が非常に薄く均一成膜
が不可能な場合は、表面層の上部に反射防止膜を付けれ
ば干渉効果は防止でき乙ことになる。
以上のように、レーザープリンターに現われる干渉縞は
、種々の方法により解決が可能であるが、a−St感光
体の製造プロセスの簡素化、省力化及び生産性を考慮し
た場合、なるべく、成膜装置のみでa−8t悪感光を最
終的に製造し、別の製造プロセスをふやさないようにす
る方がよい。したがって、a−8tと適合する屈折率を
有する物質によ、り反射防止膜を成膜することは不利で
ある。
〔発明の目的〕
本発明は上記事情にもとづきなされたもので、その目的
とするところハ、製造プロセスを増すことなく、干渉効
果による画像の濃度むらめ発生を防止できるようにした
電子写真感光体を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、かかる上記目的を達成すべく、導電性基板上
にシリコン原子を母体として含み、非晶質材料から成る
光導電層を設けた電子写真感光体において、前記光導電
層上に光学的バンドギャップが1.65〜2. OOe
Vの範囲にあり、酸素を構成元素として含む非晶質材料
から成る第1の表面層と、光学的バンドギャップが1.
85〜2.80 eVの範囲にあり、酸素を構成元素と
して含む非晶質材料から成る第2の表面層とをこの順に
積層することによってレーザー光の干渉効果による画像
の濃度ムラを防止し、かつ高感度で良好な電子写真特性
と耐環境性とを兼ね備えるようにしたものである。
また、本発明は、シリコン原子を母体として含む非晶質
材料から成る前記光導電層中に水素原子を10原子チ以
下含有することによって、V −f −プリンターに搭
載される半導光レーザーの発振波長(約790 nm 
)に対しても充分感度を有するようにしたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明管図示の一実施例を参照しながら説明する
第3図は本発明の電子写真感光体の成膜装置の概略構成
図である。反応容器1の内部には高周波電力印加用電極
2と、これに対向してアースされた支持台3と、さらに
この支持台3の上部に成膜用の導電性基板4、下部に加
熱用ヒーター5とが設けられている。前記高周波電力印
加用電極2は反応容器1とは絶縁物、たとえばテフロン
6で絶縁され反応容器1の外部で高周波電力のマツチン
グのだめのLC回路から成るマッチングカツクス7を介
して、プラズマ放電分解を行なうための周波数を有する
電力を供給するだめの高周波電源8に接続されている。
9はガス導入管であυ、これにより原料ガスたとえばS
iH4,5i2)(6ガス等を導入する。10は拡散ポ
ンプによシ排気される第1の排気系であシ、1)は成膜
中にメカニカルブースターポンプによシ排気を行なう第
2の排気系、12,13゜14はバルブである。
次に、上記成膜装置で製造した本発明に係る電子写真感
光体を第1図および第2図に示す。
第1図に示す電子写真感光体は、円筒型のAtから成る
導電性基板2oの上部にはシリコン原子を母体として含
み非晶質材料から成る光導電層21が設けられている。
前記光導電層21は5IH4,Si2H6等のガスを用
いてプラズマ放電分解によって成膜されるが、成膜時に
、前記シリコンを含むガスに加えて膜の比抵抗を高める
目的で、周期律表11rA族の元素を含むガスを混合し
て成膜することもよく行なわれる。
なお、この光導電層21の光学的バンドギャップは1.
60〜1,70eVであり、また、膜厚は10〜70μ
m・、好ましくは、15、〜40μmである場合に良好
な電子写真特性のものが得られる。
また、光導電層21には、水素が10原子チ以下含有さ
れるように成膜が行なわれる。これによって、レーザー
プリンター−に搭載される半導体レーザーの発振波長(
約790nm)に対しても充分表感度を有し、実用上問
題の表い電子写真感光体を提供することができる。本発
明において、光導電層21中に含まれる水素の含有量は
光学的バンドギャップとよい相関があり、前記光導電層
21の光学的バンドギャッf 1.60〜1.70 e
Vの膜においては、水素含有量は2〜10原子チの値を
とる。
また、光導電層21の上部には、第1の表面層22と第
2の表面層23がこの順に積層されているが、第1の表
面層22は、シリコン原子を母体として含むガス、たと
えば5IH4,Si2H6等のガスと酸素を含むガス、
たとえば02,03.No等を混合してプラズマ放電分
解法によって形成され、光学的バンドギャップが1.6
5〜2.00s+Vの範囲にあるものである。また、第
2の表面層23は、前記第1の表面層22と同様の方法
によ?て形成され、光学的バンドギャップが1.85〜
2.80 eVの範囲にあるものである。
また、第1の表面層22は、膜厚として100X〜5μ
m1さらには、5001〜3μmが好ましい。また、第
2の表面層23は膜厚として100X〜3μm1さらに
は500X〜2μmが好ましい。
以上の構成によれば、光導電層2ノの上部に第1表面層
22と第2表面層23とを設けることによシ、電子写真
感光体表面に入射してきたレーザー光は、第2表面層2
3で一部分反射して内部に入る際、第2表面層23の光
学的バンドギャップと膜厚を前記のような値にすること
によって、第2表面層23でのレーザー光の反射を低減
することができる。さらに、第2表面層23の内部に入
射したレーザー光は第1表面層22に到達するが、ここ
でも前記のように、第1表面層22の光学的バンドギャ
ップと膜厚を設定することによって第1表面層22での
レーザー光の反射を低減することができる。次に第1表
面層22を透過したレーザー光は光導電層21の表面に
到達するが、ことでは光導電層2ノの光学的バンドギャ
ップと第1表面層22゜の光学的バンドギャップが大き
く変化しないように光導電層21の光学的バンドギャッ
プを設定すれば、光導電層21表面での反射も低減でき
る。
すなわち、入射するレーザー光に対して第2表面層23
でレーザー光の反射を低くおさえ、さらに、第2表面層
23と第1表面層22との界面、第1表面層22と光導
電層21との界面でのレーザー光の反射を低くおさえる
ととによって反射レーザー光同志の干渉効果を防止する
ことを目的としたものである。
また、第1表面層22と第2表面層23とを積層するこ
とによって、帯電能にすぐれ、かつ耐コロナイオン性、
耐オゾン性、耐環境性にすぐれた電子写真感光体を提供
することができる。
また、第2図に示す本発明の電子写真感光体では、光導
電層21、第1表面層22、第2表面層23は、第1図
の電子写真感光体と同様であるが、帯電能を始めとする
電子写真特性の向上を目的として、導電性基板20と光
導電層21との間にブロッキング層24を設けているも
のである。
〔具体例〕
充分に洗浄したのち乾燥させたAt素管を真空容器1内
に設置し、メカニカルブースターデンプによシ真空容器
1内を排気する。これと同時にAt素管加熱用ヒーター
5の電源をONにして、設定温度を300℃にし加熱を
行なう。約1時間抜At素管の温度が300℃で安定し
た。また、真空容器1内の真空度は1.2 X 10”
−3Torrでありた。次に第1層のブロッキング層2
4の成膜を行なうために、SiHの流量を3 o O8
CCM XB2H6の5(H4に対する流量比を5 X
 10 ’、CH4の5t)I4に対する流量比を20
係、アルがンガスを2009CCM、それぞれマスフロ
ーコントローラによシ調節して、真空容器1内に導入し
、約10分間その状態を保つ。約10分後裔ガスの流量
が安定しているのを確認後、周波数が13.56 MH
zの高周波電源のスイッチを投入して、高周波電力を2
00W印加し、グロー放電を行なった。
なお、この時の反応圧力は0.8TOrrであった。
また、との場合の成膜時間は10分間とし、別途成膜し
たものの膜厚測定から膜厚は1.5μmである。
第1層のブロッキング層24を成膜後、すべてのガスを
止め真空容器1内のガスのパージを15分間行力った。
その後、5IH4の流量600sCCM、アルインガス
の流量を5 Q O8(ICMXB2H6の5IH4に
対する流量比を1×10 とそれぞれマスフローコント
ローラによシ調整し、約10分間その状態に保った。約
10分後裔ガスの流量が安定しているのを確認後、高周
波電力を400Wに設定してグロー放電を行なった。な
お、この場合の反応圧力は1.5 Torrであった。
これによシ第2層目の光導電層2)を2時間の成膜によ
って35μmの膜厚で形成した。このものの光学的バン
ドギャップは1.64eVであり、水素含有量は同一条
件で作製した試料を用いて分析したところ5原子チであ
った。
上記の光導電層21を成膜後、すべてのガス−14= を止め、真空容器1内のガスのパージを15分間行なっ
た。その後、第1表面層22を成膜するために、SiH
の流量を100 [100MXO2の流量を2008C
CMに調節後、約10分間その状態に保った。各ガスの
流量が安定したのち高周波電力を150Wに設定して、
グロー放電を行なった。なおこの場合の反応圧力は0.
6 Torrであった。成膜時間は15分間とし、膜厚
は0.7μmであった。また、光学的バンドギャップは
1.78eVであった。
上記の第1表面層22の成膜後、02の流量を350S
CCMに上げ、その状態に約10分保ち、流量が安定し
たのち、高周波電力を150Wに設定して第2表面層2
3の成膜を行なった。この場合の反応圧力は0.67T
orrであった。成膜時間は3分間で、膜厚は約600
1であった。
また、光学的・9ンドギヤツプは2.2 eVであった
上記第2表面層23を成膜後、加熱用ヒーター5を切り
、すべてのガスを止め、ガスの・ヤージを20分間行な
い、さらにその後、窒素ガスを真空容器1に導入し、成
膜したドラムの冷却を行ない、100℃以下に温度が下
降したら、窒素ガスと装置を止めてドラムを取出す。
このようにして得られた電子写真感光体を評価装置で評
価したところ、表面電位570■、15秒後の保持率8
0%、半減露光量0.3 lux・see 、 790
内mの波長の半導体レーザーで露光した場合、半減露光
量7.5erg、た2であった。
さらに、790内mの発振波長の半導体レーザーを搭載
したレーザープリンターで画像のサンプルを取ってみた
ところ、文字画像にも、)・−フトーンにも干渉効果に
よる濃度むらのない良好な画像を得ることができた。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、製造プロセスを
増すことなく製造可能で干渉効果による縞状の濃度むら
のない良好左画像を得ることができ、さらに半導体レー
ザーの発振波長に対して充分な感度を有する電子写真感
光体を提供できるといった効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図はそれぞれ本発明に係る電子写真感
光体を示す模式的構成図、第3図は本発明に係る電子写
真感光体を成膜するための成膜装置を示す概略的構成図
である。 20・・・導電性基板、2ノ・・・光導電層、22・・
・第1の表面層、23・・・第2の表面層、24・・・
ブロッキング層。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 彦第10 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 導電性基板上に、シリコン原子を母体として含む非晶質
    材料から成る光導電層を設けた電子写真感光体において
    、前記光導電層が、水素原子を10原子%以下含有し、
    前記水素原子を10原子%以下含有する光導電層の上部
    に、光学的バンドギャップが1.65〜2.00eVの
    範囲にあり、酸素を構成元素として含む非晶質材料から
    成る第1の表面層と、光学的バンドギャップが1.85
    〜2.80eVの範囲にあり、酸素を構成元素として含
    む非晶質材料から成る第2の表面層とをこの順に積層し
    てなることを特徴とする電子写真感光体。
JP25886684A 1984-12-07 1984-12-07 電子写真感光体 Pending JPS61137160A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61138258A (ja) * 1984-12-10 1986-06-25 Canon Inc 光導電積層構造部材

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61138258A (ja) * 1984-12-10 1986-06-25 Canon Inc 光導電積層構造部材
JPH0549108B2 (ja) * 1984-12-10 1993-07-23 Canon Kk

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