JPS61134608A - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
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- JPS61134608A JPS61134608A JP59257861A JP25786184A JPS61134608A JP S61134608 A JPS61134608 A JP S61134608A JP 59257861 A JP59257861 A JP 59257861A JP 25786184 A JP25786184 A JP 25786184A JP S61134608 A JPS61134608 A JP S61134608A
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 19
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G12—INSTRUMENT DETAILS
- G12B—CONSTRUCTIONAL DETAILS OF INSTRUMENTS, OR COMPARABLE DETAILS OF OTHER APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G12B15/00—Cooling
- G12B15/04—Cooling by currents of fluid, e.g. air, in open cycle
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0252—Constructional arrangements for compensating for fluctuations caused by, e.g. temperature, or using cooling or temperature stabilization of parts of the device; Controlling the atmosphere inside a photometer; Purge systems, cleaning devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0286—Constructional arrangements for compensating for fluctuations caused by temperature, humidity or pressure, or using cooling or temperature stabilization of parts of the device; Controlling the atmosphere inside a spectrometer, e.g. vacuum
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J5/061—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats
-
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- G12B17/00—Screening
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、光を用いて測定物体の性状を測定するよう
な光学的測定装置に関するものである。
な光学的測定装置に関するものである。
［従来の技術］
光を利用して測定物体の温度、水分、厚み等の性状を測
定する装置、検出器は、８０℃以上のａ温、多湿環境で
使用されることがある。＾温環境下で使用すると、検出
器内部の赤外線検出素子や電子部品が劣化、破損し使用
できなくなる。
定する装置、検出器は、８０℃以上のａ温、多湿環境で
使用されることがある。＾温環境下で使用すると、検出
器内部の赤外線検出素子や電子部品が劣化、破損し使用
できなくなる。
このため、従来は、検出器を水冷用ケースに収納し、流
水を検出器とケースとの間に流し、検出器の加熱を防ぐ
方法を用いていた。
水を検出器とケースとの間に流し、検出器の加熱を防ぐ
方法を用いていた。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、水冷用ケースを用いた場合は、冷却効果
はあるが、外部環境が高温多湿であるのでケース自体の
温度が外部環境の温度より低く、そのケース表面に結露
を生じ、紙などの測定物体にその水滴が落下し、じみや
穴を生じ不良品の原因となる。
はあるが、外部環境が高温多湿であるのでケース自体の
温度が外部環境の温度より低く、そのケース表面に結露
を生じ、紙などの測定物体にその水滴が落下し、じみや
穴を生じ不良品の原因となる。
また、検出器を、測定物体の幅方向に走行して使用する
場合、冷却水を用いると、冷却水を検出器へ供給する途
中の配管部で結露を生じたり、配管（ホース）が万一破
損した場合、多口゛の水が測定物体に散布し、製品を駄
目にしてしまう問題点がある。
場合、冷却水を用いると、冷却水を検出器へ供給する途
中の配管部で結露を生じたり、配管（ホース）が万一破
損した場合、多口゛の水が測定物体に散布し、製品を駄
目にしてしまう問題点がある。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、より効果的に検出
器を冷却し、製品を破損するおそれがなく、常に安定し
た測定を可能とした光学的測定装置を提供することであ
る。
器を冷却し、製品を破損するおそれがなく、常に安定し
た測定を可能とした光学的測定装置を提供することであ
る。
［問題点を解決するための手段］
この発明は、光を用いて測定物体の性状を測定する検出
器を第１のケースに収納し、この第１のケースをさらに
第２のケースに収納し、この第１のケースに冷却器から
冷却エアを供給するとともに制御手段により第１のケー
ス内の温度を検出し、冷却エアの制御を行い、常に第１
のケース内の温度を一定とするようにし、た光学的測定
装置である。
器を第１のケースに収納し、この第１のケースをさらに
第２のケースに収納し、この第１のケースに冷却器から
冷却エアを供給するとともに制御手段により第１のケー
ス内の温度を検出し、冷却エアの制御を行い、常に第１
のケース内の温度を一定とするようにし、た光学的測定
装置である。
［実施例］
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図、第２
図は、その測定状態の説明図である。
図は、その測定状態の説明図である。
第２図で示すように、たとえば、検出器を含む光学的測
定装置１は、適当な懸垂手段２で走行装置３に支持され
、測定物体４の幅方向を往復運動するようになっており
、光を測定物体４に投光し、その反射光から測定物体４
の性状を測定している。
定装置１は、適当な懸垂手段２で走行装置３に支持され
、測定物体４の幅方向を往復運動するようになっており
、光を測定物体４に投光し、その反射光から測定物体４
の性状を測定している。
そして、光学的測定装置１は、第１図で示すように構成
されている。図において、５は、その下部のフード５０
より測定物体に光を投授光してその性状を測定する検出
器、６は、検出器５を内部に収納し、その内側に断熱材
６０が設けられた第１のケース、７は、中の第１のケー
ス６を内部に収納する外の第２のケースである。第２の
ケース７内には、外部より乾燥エアＡが供給され、この
乾燥エアＡは、手動弁８１．８２．８３により三方に分
岐し、手動弁８１よりのエアは電磁弁９を介して冷却部
１０へ・手 １動弁８２よりのエアＡＩは第２のケー
ス７内に解放され、手動弁８３よりのエアＡ３は、第１
のケース６内の検出器５に供給される。
されている。図において、５は、その下部のフード５０
より測定物体に光を投授光してその性状を測定する検出
器、６は、検出器５を内部に収納し、その内側に断熱材
６０が設けられた第１のケース、７は、中の第１のケー
ス６を内部に収納する外の第２のケースである。第２の
ケース７内には、外部より乾燥エアＡが供給され、この
乾燥エアＡは、手動弁８１．８２．８３により三方に分
岐し、手動弁８１よりのエアは電磁弁９を介して冷却部
１０へ・手 １動弁８２よりのエアＡＩは第２のケー
ス７内に解放され、手動弁８３よりのエアＡ３は、第１
のケース６内の検出器５に供給される。
冷却器１０よりの冷却された冷却エア（冷ｆｆ１）Ａ２
は第１のケース６内に供給され、検出器５の７−ド５０
の外周より、第２のケース７内に入り、手動弁８２より
の乾燥エアＡ１とともにフード５０のの外周より第２の
ケース７外へ排出される。この冷却器１０よりの冷却エ
アは、第１のケース６内の温度を検出する検出器１１０
を含む制御手段１１により電磁弁９をオン・オフ制御す
る等して第１のケース６の内部温度が一定となるよう制
御される。つまり、所定の温度以上では電磁弁９は開と
され、冷却エアＡ２は第１のケース７内に供給され、所
定の温度以下 主では、電磁弁９は閉とされ冷却エアＡ２は第１のケー
ス７内に供給されない。なお、冷却器１０として、圧縮
空気を利用し超低温空気を発生するようなポルテックス
クーラーのようなものを用いるとよく、その温風Ａ４は
第２のケース７の外部に排出される。
は第１のケース６内に供給され、検出器５の７−ド５０
の外周より、第２のケース７内に入り、手動弁８２より
の乾燥エアＡ１とともにフード５０のの外周より第２の
ケース７外へ排出される。この冷却器１０よりの冷却エ
アは、第１のケース６内の温度を検出する検出器１１０
を含む制御手段１１により電磁弁９をオン・オフ制御す
る等して第１のケース６の内部温度が一定となるよう制
御される。つまり、所定の温度以上では電磁弁９は開と
され、冷却エアＡ２は第１のケース７内に供給され、所
定の温度以下 主では、電磁弁９は閉とされ冷却エアＡ２は第１のケー
ス７内に供給されない。なお、冷却器１０として、圧縮
空気を利用し超低温空気を発生するようなポルテックス
クーラーのようなものを用いるとよく、その温風Ａ４は
第２のケース７の外部に排出される。
また、手動弁８３よりのエアＡ３は、検出器５の発熱部
を通過して冷却するとともに、フード５０より測定物体
方向に噴出し、塵埃などが吸入するのを防止するための
エアパージに用いられる。
を通過して冷却するとともに、フード５０より測定物体
方向に噴出し、塵埃などが吸入するのを防止するための
エアパージに用いられる。
つまり、第２のケース７内に供給された乾燥エアは、冷
却器１０を介して第１のケース６に冷却エアＡ２として
供給され、制御手段１１により第１のケース６内の濃度
を一定とするようこの冷却エアＡ２の戯が制御さ、れる
ので、第１のケース１内の温度は常に常温程度の一定と
され、検出器５の自己発熱、外部加熱による温度上昇を
防止でき、安定した測定が可能となる。また、第１のケ
ース６の内外に断熱材６０を設けているので、ケース内
側での熱の移動が少く、第１のケース６内のｉ度をいっ
そう最適な温度に保つことができる。また、第２のケー
ス７内に乾燥エアＡ１が常に流通しており、第２のケー
ス７が外部から加熱されてもエアＡ１が熱を奪い外部へ
排出するので、第１のケース６は加熱されにくく、第１
のケース６の表面の温度は第２のケース７内の温度と等
しく、第１のケース６の表面に結露を生じにくい。また
、第２のケース７の内外の温度差も少いため、第２のケ
ース７の外部表面に結露を生じにくく、測定物体に水滴
が落下することがない。
却器１０を介して第１のケース６に冷却エアＡ２として
供給され、制御手段１１により第１のケース６内の濃度
を一定とするようこの冷却エアＡ２の戯が制御さ、れる
ので、第１のケース１内の温度は常に常温程度の一定と
され、検出器５の自己発熱、外部加熱による温度上昇を
防止でき、安定した測定が可能となる。また、第１のケ
ース６の内外に断熱材６０を設けているので、ケース内
側での熱の移動が少く、第１のケース６内のｉ度をいっ
そう最適な温度に保つことができる。また、第２のケー
ス７内に乾燥エアＡ１が常に流通しており、第２のケー
ス７が外部から加熱されてもエアＡ１が熱を奪い外部へ
排出するので、第１のケース６は加熱されにくく、第１
のケース６の表面の温度は第２のケース７内の温度と等
しく、第１のケース６の表面に結露を生じにくい。また
、第２のケース７の内外の温度差も少いため、第２のケ
ース７の外部表面に結露を生じにくく、測定物体に水滴
が落下することがない。
［発明の効果］
以上述べたように、この発明は、検出器を２重のケース
に収納し、内部のケースを冷却部で冷却して所定の温度
としているので、外部環境が高温・多湿であっても検出
器は最適の動作環境とされるので、常に安定した高精度
の測定が可能となる。また、冷却器を外ケース内に収納
しているので、冷部媒体を艮い距離ひきまわす必要がな
く、途中での結露、冷却媒体の温度上昇等の不都合が生
じない。
に収納し、内部のケースを冷却部で冷却して所定の温度
としているので、外部環境が高温・多湿であっても検出
器は最適の動作環境とされるので、常に安定した高精度
の測定が可能となる。また、冷却器を外ケース内に収納
しているので、冷部媒体を艮い距離ひきまわす必要がな
く、途中での結露、冷却媒体の温度上昇等の不都合が生
じない。
第１図、第２図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。 １・・・光学的測定装置、 ２・・・懸垂手段、 ３・
・・走行装置、 ４・・・測定物体、 ５・・・検出器
、 ６・・・第１のケース、 ７・・・第２のケース、
８１，８２．８３・・・手動弁、 ９・・・電磁弁、
１０・−・冷却器、１１・・・制御手段
図である。 １・・・光学的測定装置、 ２・・・懸垂手段、 ３・
・・走行装置、 ４・・・測定物体、 ５・・・検出器
、 ６・・・第１のケース、 ７・・・第２のケース、
８１，８２．８３・・・手動弁、 ９・・・電磁弁、
１０・−・冷却器、１１・・・制御手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、光を用いて測定物体の性状を測定する検出器を収納
する第１のケースと、この第１のケースを収納する第２
のケースと、この第２のケース内に収納され第１のケー
ス内に冷却エアを供給する冷却器と、第１のケース内の
温度を検出し冷却器の冷却エアの制御を行い第１のケー
ス内の温度を一定とするための制御手段とを備えたこと
を特徴とする光学的測定装置。 ２、前記第１のケースと第２のケースとの間に乾燥エア
を供給することを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の光学的測定装置。 ３、前記第１のケースの内側に断熱材を設けたことを特
徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の光学
的測定装置。 ４、第１のケースに供給された乾燥エアを検出器よりの
エアパージに用いたことを特徴とする光学的測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59257861A JPS61134608A (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59257861A JPS61134608A (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | 光学的測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61134608A true JPS61134608A (ja) | 1986-06-21 |
| JPH034087B2 JPH034087B2 (ja) | 1991-01-22 |
Family
ID=17312187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59257861A Granted JPS61134608A (ja) | 1984-12-06 | 1984-12-06 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61134608A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56126509U (ja) * | 1980-02-28 | 1981-09-26 | ||
| JPS5758302A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-08 | Mitsubishi Electric Corp | Helium refrigerating apparatus |
| JPS5797883U (ja) * | 1980-12-08 | 1982-06-16 |
-
1984
- 1984-12-06 JP JP59257861A patent/JPS61134608A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56126509U (ja) * | 1980-02-28 | 1981-09-26 | ||
| JPS5758302A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-08 | Mitsubishi Electric Corp | Helium refrigerating apparatus |
| JPS5797883U (ja) * | 1980-12-08 | 1982-06-16 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH034087B2 (ja) | 1991-01-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |