JPS633279A - Ｉｃの高低温ハンドリング装置 - Google Patents
Ｉｃの高低温ハンドリング装置Info
- Publication number
- JPS633279A JPS633279A JP61147613A JP14761386A JPS633279A JP S633279 A JPS633279 A JP S633279A JP 61147613 A JP61147613 A JP 61147613A JP 14761386 A JP14761386 A JP 14761386A JP S633279 A JPS633279 A JP S633279A
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- JP
- Japan
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- measurement
- temperature
- cooling
- conveyance
- ics
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 22
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 20
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000001816 cooling Methods 0.000 abstract description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はＩＣ（集積回路）のハンドリング装置、特に高
温、低温測定を行なうハンドリング装置に関する。
温、低温測定を行なうハンドリング装置に関する。
［従来の技術］
従来、この種の高低温ハンドリング装置は高温又は、低
温状態の下でＩＣの電気的測定を行った後、ＩＣを高温
、又は低温の状態のまま収納部に分類収納していた。
温状態の下でＩＣの電気的測定を行った後、ＩＣを高温
、又は低温の状態のまま収納部に分類収納していた。
［発明が解決しようとする問題点］
上述した従来の高低温ハンドリング装置は測定終了後、
ＩＣを高温又は低温の状態のままで収納部に分類収納し
ているので、ＩＣの温度か至温にもどってから次工程へ
進める必要があり、ロス・タイムが発生するという欠点
かおった。
ＩＣを高温又は低温の状態のままで収納部に分類収納し
ているので、ＩＣの温度か至温にもどってから次工程へ
進める必要があり、ロス・タイムが発生するという欠点
かおった。
また、高温測定後のＩＣを直接マガジンケースに収納す
る場合は熱の影響を受けない金属性又は耐熱性のプラス
チック系のマガジンケースを使用しなければならず、通
常の低価格のマガジンケースが使用できないという欠点
かあった。低温測定後のＩＣについては空気に触れるこ
とにより水滴か発生し、ＩＣの特性が劣化される場合も
めるという欠点もあった。
る場合は熱の影響を受けない金属性又は耐熱性のプラス
チック系のマガジンケースを使用しなければならず、通
常の低価格のマガジンケースが使用できないという欠点
かあった。低温測定後のＩＣについては空気に触れるこ
とにより水滴か発生し、ＩＣの特性が劣化される場合も
めるという欠点もあった。
［発明の従来技術に対する相違点］
上述した従来の高低温ハンドリング装置に対し、本発明
は測定部と収納部との間において、ＩＣを高温測定後に
は冷却し、又低温測定後には加熱するという独ｆＪｌ的
内容を有する。
は測定部と収納部との間において、ＩＣを高温測定後に
は冷却し、又低温測定後には加熱するという独ｆＪｌ的
内容を有する。
［問題点を解決するための手段］
本発明のＩＣの高低温ハンドリング装置は被測定物を測
定する測定部と測定後の″＃Ｉ測定物を分類収納する収
納部との間に、高温測定時には被測定物を冷却し、低温
測定時には被測定物を加熱することにより被測定物の温
度調整を行う機構を有することを特徴とするものでおる
。
定する測定部と測定後の″＃Ｉ測定物を分類収納する収
納部との間に、高温測定時には被測定物を冷却し、低温
測定時には被測定物を加熱することにより被測定物の温
度調整を行う機構を有することを特徴とするものでおる
。
［実施例〕
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
（実施例１）
第１図に示すように供給部１と収納部７とは上下に高さ
位置をずらせて設置されている。この供給部１のＩＣ排
出側には供給用搬送チェーン２が水平にΔ装置され、収
納部７のＩＣ流入側に収納用搬送チェーン６か水平に設
置されている。
位置をずらせて設置されている。この供給部１のＩＣ排
出側には供給用搬送チェーン２が水平にΔ装置され、収
納部７のＩＣ流入側に収納用搬送チェーン６か水平に設
置されている。
さらに供給用搬送チェーン２と収納用搬送チェーン６と
は第３図に示す下傾した搬送路３にて連結され、搬送路
３の途中にＩＣの電気的特性を測定する測定部４が設置
されている。
は第３図に示す下傾した搬送路３にて連結され、搬送路
３の途中にＩＣの電気的特性を測定する測定部４が設置
されている。
本発明は測定部４と収納部７との間の搬送路３に、高温
測定時にはＩＣ５０を冷却し、低温測定時にはＩＣ５０
を加熱する冷却・加熱部５を設置したものである。実施
例１に示す冷却・加熱部は第２図に示すように測定部４
と収納部７との間の搬送路３に冷却・加熱源１０を設置
し、搬送路３を冷却又は加熱された搬送路３にＩＣ５０
を直接接触させて冷却又は加熱する構造のものでおる。
測定時にはＩＣ５０を冷却し、低温測定時にはＩＣ５０
を加熱する冷却・加熱部５を設置したものである。実施
例１に示す冷却・加熱部は第２図に示すように測定部４
と収納部７との間の搬送路３に冷却・加熱源１０を設置
し、搬送路３を冷却又は加熱された搬送路３にＩＣ５０
を直接接触させて冷却又は加熱する構造のものでおる。
実施例において、供給部１にＩＣ５０を供給し、加熱又
は冷却を行なったものから、供給用搬送チェーン２によ
り水平方向に送り、図中０部までくると、搬送路３によ
り測定部４に送られる。
は冷却を行なったものから、供給用搬送チェーン２によ
り水平方向に送り、図中０部までくると、搬送路３によ
り測定部４に送られる。
測定部４においてもＩＣ５０を加熱又は冷却し続け、高
温又は低温の環境下で測定部４によりＩＣ５０の電気的
測定を行なう。
温又は低温の環境下で測定部４によりＩＣ５０の電気的
測定を行なう。
測定が終了すると、搬送路３を通り、冷却・加熱部５に
おいて、高温測定後には冷却を、又低温測定後には加熱
を行ない、ＩＣ５０が冷却・加熱部５を通過する間に室
温状態にもどす。それから、収納用搬送チェーン６に入
り、水平方向に送られ収納部７に分類収納される。
おいて、高温測定後には冷却を、又低温測定後には加熱
を行ない、ＩＣ５０が冷却・加熱部５を通過する間に室
温状態にもどす。それから、収納用搬送チェーン６に入
り、水平方向に送られ収納部７に分類収納される。
実施例１では第２図に示すように搬送路３は接触口でい
る冷却・加熱源１０により冷却又は加熱されている。そ
して、ＩＣ５０が搬送路３上を通るとき、直接接触する
とにより冷却又は加熱部なう。
る冷却・加熱源１０により冷却又は加熱されている。そ
して、ＩＣ５０が搬送路３上を通るとき、直接接触する
とにより冷却又は加熱部なう。
冷却・加熱源１０は測定温度により図示されていない温
度コントローラによりＩＣ５０が搬送路３の上を通る間
に室温状態となる様に制御される。カバー１２はＩＣ５
０の飛び出し防止と搬送路３の保温の目的で付けられて
いる。
度コントローラによりＩＣ５０が搬送路３の上を通る間
に室温状態となる様に制御される。カバー１２はＩＣ５
０の飛び出し防止と搬送路３の保温の目的で付けられて
いる。
（実施例２）
第３図は本発明の実施例２の側面図でおる。搬送路３を
通るＩＣ５０に対して冷却・加熱源１０を通過して来た
乾燥空気（図中、矢印が乾燥空気の流れを示す）がダク
ト１１を通り、冷風又は温風を吹き付け、間接接触で冷
ム０又は加熱を行なう。冷却・加熱源１０は測定温度に
より図示されていない温度コントローラにより通過する
乾燥空気の温度を制御し、１ｌｆ２送路３上をＩＣ５０
が通過する間に室温状態となる様にする。
通るＩＣ５０に対して冷却・加熱源１０を通過して来た
乾燥空気（図中、矢印が乾燥空気の流れを示す）がダク
ト１１を通り、冷風又は温風を吹き付け、間接接触で冷
ム０又は加熱を行なう。冷却・加熱源１０は測定温度に
より図示されていない温度コントローラにより通過する
乾燥空気の温度を制御し、１ｌｆ２送路３上をＩＣ５０
が通過する間に室温状態となる様にする。
［発明の効果］
以上説明したように本発明は測定部と収納部との間に冷
却又は加熱部を設けることにより、高温又は低温測定１
変のＩＣを室温状態とすることかでき、次工程へ進む場
合、ロス・タイムを無くすことができる効果がある。
却又は加熱部を設けることにより、高温又は低温測定１
変のＩＣを室温状態とすることかでき、次工程へ進む場
合、ロス・タイムを無くすことができる効果がある。
き、−方、低温測定後にＩＣについては水滴の発生を防
ぐことができ、ＩＣの特性劣化を無くすことができる効
果もおる。
ぐことができ、ＩＣの特性劣化を無くすことができる効
果もおる。
第１図は本発明の実施例１を示す概略平面図、第２図は
第１図中の冷却・加熱部を示す側面図、第３図は本発明
の実施例２を示す側面図でおる。 １・・・供給部 ２・・・供給用搬送チェーン
３・・・搬送路 ４・・・測定部５・−・冷却
・加熱部 ６・・・収納用搬送チェーン７・・・収納
部 １０・・・冷却・加熱源１１・・・ダクト
１２・・・カバー５０・・・ｆｃ ！２ カッ＼゛− 第２図 策３丙
第１図中の冷却・加熱部を示す側面図、第３図は本発明
の実施例２を示す側面図でおる。 １・・・供給部 ２・・・供給用搬送チェーン
３・・・搬送路 ４・・・測定部５・−・冷却
・加熱部 ６・・・収納用搬送チェーン７・・・収納
部 １０・・・冷却・加熱源１１・・・ダクト
１２・・・カバー５０・・・ｆｃ ！２ カッ＼゛− 第２図 策３丙
Claims (1)
- （１）ＩＣの電気的測定に用いる高低温ハンドリング装
置において、被測定物を測定する測定部と測定後の被測
定物を分類収納する収納部との間に、高温測定時には被
測定物を冷却し、低温測定時には被測定物を加熱するこ
とにより被測定物の温度調整を行う機構を有することを
特徴とするＩＣの高低温ハンドリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61147613A JPS633279A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | Ｉｃの高低温ハンドリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61147613A JPS633279A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | Ｉｃの高低温ハンドリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS633279A true JPS633279A (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=15434282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61147613A Pending JPS633279A (ja) | 1986-06-24 | 1986-06-24 | Ｉｃの高低温ハンドリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS633279A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03123276U (ja) * | 1990-03-28 | 1991-12-16 | ||
| JP2012165928A (ja) * | 2011-02-16 | 2012-09-06 | Tsutomu Oyama | ハンガー装置 |
| JP2013152094A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品検査装置および当該物品検査装置を備えた物品分類装置 |
-
1986
- 1986-06-24 JP JP61147613A patent/JPS633279A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03123276U (ja) * | 1990-03-28 | 1991-12-16 | ||
| JP2012165928A (ja) * | 2011-02-16 | 2012-09-06 | Tsutomu Oyama | ハンガー装置 |
| JP2013152094A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Shibuya Kogyo Co Ltd | 物品検査装置および当該物品検査装置を備えた物品分類装置 |
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