JPS63207928A - 結露防止装置 - Google Patents

結露防止装置

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Publication number
JPS63207928A
JPS63207928A JP62037956A JP3795687A JPS63207928A JP S63207928 A JPS63207928 A JP S63207928A JP 62037956 A JP62037956 A JP 62037956A JP 3795687 A JP3795687 A JP 3795687A JP S63207928 A JPS63207928 A JP S63207928A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
air
low
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62037956A
Other languages
English (en)
Inventor
Shintaro Masuda
増田 慎太郎
Teruaki Kojima
小島 輝昭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHIMIZU ENG KK
Hitachi Ltd
Original Assignee
SHIMIZU ENG KK
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by SHIMIZU ENG KK, Hitachi Ltd filed Critical SHIMIZU ENG KK
Priority to JP62037956A priority Critical patent/JPS63207928A/ja
Publication of JPS63207928A publication Critical patent/JPS63207928A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプリント基板の環境試験を行う装置において低
温環境試験時のプリント基板の結露防止をはかるに好適
な装置を提供するものである。
(従来の技術〕 従来のプリント基板の検査装置は常温でのみ行なってお
り、周囲環境の変動によるプリント基板表面への結露は
発生せず、従ってこの結露防止lこ対する配慮は軽され
てぃなかった。
また、この種の環境試験を行う装置として関連するもの
には、例えば特開昭47−29265号公報で示される
ような構成となっている4&置もある。即ち第6図に示
すように、断熱材で囲われた恒編呈21内に、冷却器2
2.加熱器28$?よび送風機24h設置すると共にプ
リント基板等の被試験体25の載置棚26を設け、かつ
恒幅室21の側壁に、被試験体26の出し入れ用の扉2
7を設けた構成となっている。そして、被試験体26の
冷却、加熱試験1こ際しては、3%2?を開けて被試験
体25を恒温室21内の載置棚26上ヘセツトし、室内
の空気を送風機24により矢印の如く冷却器22、加熱
器28のj碩に循環させて、恒湛至21内を所定温度に
株持し、被試験体25の狩却または加熱試験を行うよう
にしている。なお図中28tよ冷却器22の冷却ユニッ
トを示す。従って、被試険体25の偏度と恒温室21内
の温度は同一で冷却または加熱されるため、被試験体2
5が結露することはない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来のプリント基板の検査装置は、常温でのみ実施して
象り、プリント基板への結露に対しては配慮がされてい
なかった。
しかしながら、上記検査を低温あるいに尚−の環境で実
施するときは、プリント基板への結露が重大な問題とな
った。
本開明の目的は、このプリント基板を低温環境で検査す
る時の結露防止をはかることにある。
(問題点を解決するための手段〕 上記目的は、プリント基板を検査する周囲環境として、
乾燥空気を生成し露点を低下させて結露防止をはかると
と(こより達成される。
(作用〕 プリント基板を検査する周囲環境をP′ll′成する供
給仝剣を加熱器Eこより加熱し、その空気湿度を下げて
、プリント基板への結露を防止した。
〔実か市例〕
以下、本発明の一実施例を第1図、第2図により説明す
る。
第1図はプリント基板の検査装置を示す。1は検査前に
プリント基板を所定の幅間に設定する予冷熱装置であり
、内ifこ搬送コンベア4を装備し、プリント基板8の
搬入・搬出を自動で行い、かつ、プリント基板8は搬入
コンベア4上に載ったま\、冷風あるいは温風により所
定偏度に設定される0 2はプリント基板の検査装置である。予冷熱装置1より
搬送コンベア5で搬送されたプリント基板8に予冷熱装
置1の冷温風源の一部をダクト6.7で導いた冷温風を
プリント基板の検査中は連続して送り、所定の湯度でプ
リント基板8の検量を行うものである。
第2図は冷態風及び冷@+を発生のサイクル系統図を示
す。
圧縮@18、凝縮器14、圧力調整弁15、蒸発器11
からなる冷凍サイクルにより発生した冷熱と加熱器12
の熱を送風機10により冷温風を循環させて、プリント
基板8を所定の温度に設定する。そして上記冷温風の1
部を押込送風@16と、吸込送風機17により検査装置
2へ送り、検査中のプリン、ト基板8も所定のmWに設
定することができる。
第8図はダクト6の吹出口、ダクト7の吸込口を示す。
18は冷温風を通すしゃへい板である。
上記システム(こおいて、プリント基板8の横歪温度が
周囲温度より低い低温試験の場合は、予冷熱装置1で所
定温度(こ冷でしたプリント基板8を搬送コンベア4.
5で検査装置2へ移送すると、プリント基板8の温度が
周囲空気9の露点以下となるため、プリント基板が結露
する問題があったこの問題を解決する実施例を以下に示
す。
第1に検電装置lf、2内へ配置した押込送風愼16へ
接続したダクト6の途中に加熱器8を設ける。
紀2μダクト6の吹出口を第4図に示すように、フリン
ト基板8の周囲へも送風する構造とする。
19は冷温風の一部をバイハスさせる吹出口である。第
8は加熱器8と押込送風4fi1gの運転制御Sこある
。すなわち、従来はプリント基板8が検査装置2へ搬入
されてきて所定の位置へセット後。
押込送風@16、吸込送風機17を運転して、検査中の
み冷温風を送っていた制御を次のように改良する。
尚錦試験の時は上記と同じ運転側−であるが、低温試験
の時は、プリント基板8が検量装置2へ搬入されるまで
は、押込送風慎16と加熱器8を運歓し、(吸込送風機
17は停止)予冷熱装置1内の空気より低湿度の空気を
検査装置2円へ送りこむ、そしてプリント基板8が搬入
され所定の位置へセラ)vkH加熱器8の運転を停止し
、かつ吸、込送風楡17を運転して冷風をプリント基板
8Eこ送り所定の温度で検査を行う。
上記の方法によυ、予冷熱装置lより搬入され7ζプリ
ント基板8の周囲空気9の湿間は低くなっていることと
、ダクト6の一部の冷風をプリント基&3の周囲へも送
ること【こより、プリント基板8の結露を防止できる。
加熱器8は、低温空気を直後吹出した時の検量装置構成
物への結露を防止する効果もある。
(発明の効果) 本発明によれば低温試験時1こプリント基板への結露を
防止できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一爽施例を示すプリント基板の検音装
置図、第2図はプリント基板の侯査装置]こおける冷温
・虱すイクル禾統図を示す。第4図は従来の冷扇風の吹
出及び吸込ダクトを示す。第8図は本実施例の冷扇風の
吹出及び吸込ダグ+1−示す。第5図は従来の恒温袋e
を示す。 1・・・予冷熱装置  2・・・検査装置  8・・・
プリン1−基m   4.5・・・コンベア  6.7
・・・ダクト8・・・加熱器  9・・・検貴装置円の
仝気  lO・・・送j虱徐  11”!儂発器  1
2・・・加熱器  13・・・圧縮域  14・・・凝
紬器  15・・・圧力調饅升  16・・・押込送j
虱機  17・・・吸込送風愼18・・・しゃへい板 
 19・・・冷温風吹出口 19・・・恒温室 22・
・・冷却器  23確熱器  24・・・送風機  2
5・・・被試験体  26・・・載置棚 27・・・R
28・・・冷却ニッチ 嘉1し 1・・・1今妃4z・・・柳i響 l+・・濯崗#1−l乏・・r上期キ臂12−加魅番劣
4国 FI 〉 箒う1 1?

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. プリント基板の環境試験であって、予冷熱装置から検査
    装置へプリント基板を搬入時のプリント基板表面への結
    露を防止のため、低温源からの冷風を加熱器により低湿
    度とした空気を検査装置内へ吹出し、低湿度雰囲気を作
    成し、かつ検査中は低温風をプリント基板およびその周
    囲にも送ることを特徴とするプリント基板検査装置の結
    露防止装置。
JP62037956A 1987-02-23 1987-02-23 結露防止装置 Pending JPS63207928A (ja)

Priority Applications (1)

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JP62037956A JPS63207928A (ja) 1987-02-23 1987-02-23 結露防止装置

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JP62037956A JPS63207928A (ja) 1987-02-23 1987-02-23 結露防止装置

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JPS63207928A true JPS63207928A (ja) 1988-08-29

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ID=12512005

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6169409B1 (en) 1997-05-19 2001-01-02 Tokyo Electron Limited Low-temperature wafer testing method and prober
US6249132B1 (en) 1997-02-12 2001-06-19 Tokyo Electron Limited Inspection methods and apparatuses
JP2007057444A (ja) * 2005-08-25 2007-03-08 Nidec-Read Corp 基板検査装置、及び基板検査装置の温度維持機構

Cited By (3)

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