JPS61133809A - 板幅測定装置 - Google Patents

板幅測定装置

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Publication number
JPS61133809A
JPS61133809A JP25588884A JP25588884A JPS61133809A JP S61133809 A JPS61133809 A JP S61133809A JP 25588884 A JP25588884 A JP 25588884A JP 25588884 A JP25588884 A JP 25588884A JP S61133809 A JPS61133809 A JP S61133809A
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JP
Japan
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measured
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pair
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Pending
Application number
JP25588884A
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English (en)
Inventor
Yasushi Ando
安藤 康
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS61133809A publication Critical patent/JPS61133809A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/08Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness for measuring thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B11/046Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野] 本発明は、圧延様で圧延された薄板による被測定材の板
幅測定装置に関する。
〔発明の技術的背景〕
既に提案されているこの種の板幅測定装置は、第2図に
示されるように、内がわに互いに傾斜した一対の傾斜テ
ーブルロール1に跨って被測定材2を載せて移送するよ
うになっており、上記両傾斜テーブルロール1の各下端
部1aに位置する水平な基準パスライン3を位置し、上
記両傾斜テーブルロール1の下位に光源4を配設し、こ
の光源4の上位に上記被測定材2の両端縁2a、2bを
介して受光する一対の光学式検出器(フォトセンサー)
5を付設して構成したものである。
従って、上記光源4からの光束は、上記被測定材2の両
端縁2a、2bを通して上記両光学式検出器5で受光し
、この両光学式検出器5によって被測定材2の板幅を測
定するようになっている。
〔背景技術の問題点〕
しかしながら、上述した板幅測定装置は、被測定材2の
実測板幅をBとし、測定値をBHとしたとぎ、 B、 <8 どなり、実測板幅Bよりも被測定材2の上・不変動によ
り狭く測定される。これは、上記被測定材2のパスライ
ンが上記基準パスライン3よりも上位にあることが原因
で発生する。即ち、上記被測定材2の板幅は、上記基準
パスライン3に対する被測定材2のパスラインの上・下
動によって変化し、これに起因して、板幅の測定誤差を
生じる等の欠点がある。
〔発明の目的〕
本発明は、上述した欠点を解消するために、被測定材の
パスラインの上・下動による変位を板厚計及び距離測定
器によって検出し、この各検出値と一対の光学式検出器
からの検出値とを演算器で演算して修正し、板幅の誤差
を解消して、板幅測定の精度の向上を図るようにしたこ
とを目的とする板幅測定装置を提供するものである。
(発明の概要〕 本発明は、内がわに互いに傾斜した一対の傾斜テーブル
ロールを被測定材を載せて移送するようにして設け、こ
の被測定材のF位に光源を設け、上記被測定材のF位に
上記光源からの光束を上記被測定材の両端縁を介して受
光する一対の光学式検出器を並設し、この両光学式検出
器の近傍に位置する上記被測定材の直上に板厚計及び距
離測定器を設け、この板厚計、距離測定器及び上記両光
学式検出を演算器に接続し、これによって修正して板幅
測定精度の向上を図るように構成したものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明を図示の一実施例について説明する。
なお、本発明は、上述した具体例と同一構成部材には、
同じ符号を付して説明する。
第1図において、符号1は、内がわに互いに傾斜した一
対の傾斜テーブルロールであって、この両傾斜テーブル
ロール1には、圧延機によって圧延された被測定材2が
載置されて移送するようになっており、上記両傾斜テー
ブルロール1の各下端部1aの位置には、水平な基準パ
スライン3が形成されている。又、上記両傾斜テーブル
ロール1の下位には、光源4が配設されており、この光
源4の上位には、一対の光学式検出器(フォトセンサー
)5が上記被測定材2の両端縁2a、2bを介して受光
するようになっている。ざらに、上記両光学式検出器5
の近傍に位置する上記被測定材2の直上には、板厚計(
板厚検出器)6及び距離測定器7が設けられており、こ
の板厚計6、距離測定器7及び上記両光学式検出鼎5は
、演算器8に各リード線を介して接続されている。
従って、上記光源からの光束は、被測定材2の両端縁2
a、2bを通して上記両光学式検出器5で受光し、この
両光学式検出器5によって被測定材2の板幅を検出し、
この検出信号を上記演算器8に入力する。
他方、上記板厚計6及び距離測定器7は、上記基準パス
ライン3に対する被測定材2のパスラインの上・下動に
よる変化を検出して、この検出信号を上記演算器8に入
力して演算して晦正し、上記板幅の誤差を解消して、板
幅を正確に測定するようになっている。
次に、本発明を数式によって説明する。
上記距離測定器7の位置は、基準パスライン3からの距
離、Ooとし、この距離測定器7が上記被測定材2まで
の距離Qを測定する。又、上記板厚計6は、被測定材2
の板厚Hを測定する。
このようにして、上記距ff11と板厚Hとから、上記
被測定材2の下面と上記基準パスライン3と間の距離S
を式(1)により81算する。
5−=G o−(ρ+14)  ・・・・・・(1)但
し、S:被測定材2の下面と基準パスラインとの距離 !J  :距離測定器7と基準パスライン3との距離 1:被測定材2と距離測定器7との距離H;被測定材2
の板厚 次に、上記光学式検出器1の基準パスライン3までの垂
直距離をLとし、この光学式検出器5の一対の傾斜テー
ブルロール1のセンターまでの水平距離をWとし、さら
に、上記光学式検出器5の視野中心から被測定材2の端
部2bまでの距離をΔWとしたとき、このときの端部2
bの検出角αは、下記の式(2ンで表される。
ΔW tanα=□ ・・・・・・・・・(2)し 又、上記被測定材2の板幅と上aa両光学的検出器5に
よって検出した板幅との差を△bとすると、Δbは、下
記の式(3)で求められる。
Δb=s−tanα ・・・・・・・・・(3)その結
果、被測定材2の板幅すは、下記の式(4)%式% このようにして、上記式(1)〜(4)を計算すること
により、上記被測定材2の板幅すを上記被測定材2のパ
スラインの変動を考慮して測定することになり、これら
を@算器8によって演算して煤正し、測定精度を向上す
るようになっている。
因みに、本発明に使用される距離測定器7は、本発明の
要旨を変更しない範囲内で、上記光学的検出器5に設計
変更することは自由である。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発咀によれば、内がわに互いに傾斜
した一対の傾斜テーブルロール1を被測定材2を載せて
移送するようにして設け、この被測定材2の下位に光源
4を設け、上記被測定材2の上位に上記光源4からの光
束を上記被測定材2の両端縁2a、2bを介して受光す
る一対の光学式検出器5を並設し、ごの両光学式検出器
5の近傍に位置する上記被測定材2の直Fに板厚計6及
び距離測定器7を設け、この板厚計6、距+m測定器7
及び上記光学的検出器5を演算器8に接続しであるので
、被測定板の板幅の測定精度を上げることができるばか
りでなく、構成も簡素であるから、既設の装置に組込む
ことができる等の優れた効果を右するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による板幅測定装置を線図的に示ず正
面図、第2図は、既に提案されている板幅測定装置を線
図的に示す正面図である。 1・・・傾斜テーブルロール、2・・・被測定材、4・
・・光源、5・・・光学的検出器、6・・・板厚H1,
7・・・距離測定器、8・・・l?i算器。 出願人代理人  猪  股     清$l 図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 内がわに互いに傾斜した一対の傾斜テーブルロールを被
    測定材を載せて移送するようにして設け、この被測定材
    の下位に設けられた光源と、上記被測定材の上位に上記
    光源からの光束を上記被測定材の両端縁を介して受光す
    るようにして並設された一対の光学式検出器と、この両
    光学式検出器の近傍に位置する上記被測定材の直上に設
    けられた板厚計及び距離測定器と、この板厚計、距離測
    定器及び上記両光学式検出器に接続された演算器とを具
    備したことを特徴とする板幅測定装置。
JP25588884A 1984-12-04 1984-12-04 板幅測定装置 Pending JPS61133809A (ja)

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JP25588884A JPS61133809A (ja) 1984-12-04 1984-12-04 板幅測定装置

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JP25588884A JPS61133809A (ja) 1984-12-04 1984-12-04 板幅測定装置

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JPS61133809A true JPS61133809A (ja) 1986-06-21

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ID=17284960

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JP25588884A Pending JPS61133809A (ja) 1984-12-04 1984-12-04 板幅測定装置

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