JPH03162646A - 多孔質材用密度検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、粉末圧延ラインにおける多孔質材用密度検出
装置に関するものである。

［従来の技術］ 例えば、粉末を圧延して多孔質のグリーンシートを成形
する粉末圧延か行われており、該粉末圧延では後述する
ような理由で密度の均一なグリーンシートを得る必要が
あるが、グリーンシ一トを成形するライン中で、多孔質
材であるグリーンシ一トの密度を検出することのできる
多孔質材用密度検出装置は従来存在しなかった。

［発明が解決しようとする課題コ 従来、ライン中で多孔質材の密度を検出することのでき
る多孔質材用密度検出装置が存在しなかったので、ライ
ン中でグリーンシ一トの密度を検出してグリーンシ一ト
の密度か一定となるように粉末圧延装置をフィードバッ
ク制御すること等がてきなかった。

そのため、粉末圧延で得られるグリーンシトの密度は、
成りゆきまかせとなっており、後工程における焼結時に
焼結不良を発生したり、更に後工程における再圧延時に
密度の高い部分は伸びやすく密度の低い部分は伸びにく
いことを原因とするキャンバーと呼ばれる形状不良を、
発生したりするおそれかあった。

本発明は上述の実情に鑑み、ライン中で多孔質材の密度
を検出することのできる多孔質材用密度検出装置を提供
することを目的とするものである。

［課題を解決するための手段］ 本発明は多孔質材の厚さをＭ１定する厚さ計と、多孔質
材にＸ線を照射するＸ線照射装置と、多孔質材を透過し
たＸ線の強度を検出するＸ線検出装置と、厚さ計が計測
した多孔質材の厚さ、及び、Ｘ線ＩＩα射装置か多孔質
材にｐｒ（射したＸ線の強度、並にＸ線検出装置か検出
した多孔質材を透過したＸ線の強度を人力して、多孔質
材の密度を成算によって求める演算装置とを備えたこと
を特徴とする多孔質材用密度検出装ＩＩ￥にかかるしの
である。

［作　　　用］ 厚さ計て計測した多孔質材の厚さと、Ｘ線ｊｊ４ｊ身・
１装置て多孔質材に！Ｉ（（射したＸ線の強度と、Ｘ線
検出装置で検出した、多孔質材を透過したＸ線の強度と
に基づいて、演算装置か多孔質材の密度を演算する。

［実　施　例］ 以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。

第１図は本発明の一実施例である。

図中Ｉは粉末圧延等で得られたグリーンシー］・等の多
孔質材、２は多孔質材ｌの送り方向、３．４は多孔質材
ｌが送られるラインの途中に設けられた上下の支持部材
である。

５は、上下方向に突出収納自在な検出端６を多孔質材ｌ
に接触させて、上方の支持部材３に固定した接触式の変
位計、７は、前記変位計５と多孔質材１を挟んで対特さ
せ、且つ、上下方向に突出収納白在な検出端８を多孔質
材ｌに接触させて、下方の支持部材４に固定した変位計
、９は、変位計５，７からの検出端６，８の変位量１０
．１＋を、設定器ｌ２からの多孔質材１の基準厚さｌ３
に加算して、多孔質材ｌの実際の厚さｌ４を求める加算
器であって、変位計５，７及び加算器９によって厚さ計
１５か構成されている。

尚、変位計５．７は、検出端６．８の間隔が、多孔質材
ｌの基準厚さｌ３と等しい時に、変位量を０とするよう
に予め調整しておく。

ｌ６は上方の支持部材３に変位計５に近接させて固定し
た多孔質材１にＸ線ｌ７を照射するＸ線照射装置、ｌ８
は下方の支持部材４に多孔質材ｌを挟んでＸ線照射装置
ｌ６と対峙するよう固定した、多孔質材ｌを透過したＸ
線ｌ９の強度２０を検出するためのＸ線検出装置である
。

２ｌは厚さ計１５を構成する加算器９からの多孔質材ｌ
の実際の厚さｌ４と、Ｘ線照射装置１６からの多孔質材
Ｉに照射したＸｍｌ７の強度２２と、Ｘ線検出装置ｌ８
からの多孔質材ｌを透過したＸ線ｌ９の強度２０とを人
力して、多孔質材ｌの密度（ここでは真密度比とする。

真密度比：溶製材の原子密度を１００とした場合の多孔
質材ｌの相対密度）を演算する演算装置である。

尚、上記構成の多孔質材用密度検出装置は、多孔質材ｌ
の幅方向に複数設けるようにしても良い。但し演算装置
２ｌは兼用することができる。

次に作動について説明する。

粉末圧延により或形されたグリーンシ一ト等の多孔質材
１は、送り方向２に沿って送られて、ラインの途中に設
けられた上下の支持部材３，４間を通過する。

すると、先ず上下の支持部材３．４に多孔質材ｌと接触
するよう支持された変位計５．７の検出端６．８が、多
孔質材ｌの厚さｈの変化に追随して上下方向に変位し、
その変位ｍ　１０　．　１１を加算器９に送る。

加算器９は、入力した変位量１０．１１を、設定器ｌ２
に予め設定しておいた、粉末圧延の条件によって決めら
れる多孔質材１の基準厚さ１３に加算して、多孔質材ｌ
の実際の厚さｌ４を求める。

これと同時に上方の支持部材３に固定したＸ線照射装置
１Ｂから多孔質材ｌにＸａｌ７を照射させ、多孔質材ｌ
を挟んでＸ線照射装Ｒ１Ｂと対峙しているＸ線検出装置
ｌ８により多孔質材ｌを透過したＸ線ｌ９の強度２２を
検出させる。

このようにして求められた厚さ計１５の加算器９からの
多孔質材１の実際の厚さ１４と、Ｘ線照射装置１６が多
孔質材ｌに照射したＸ線ｌ７の強度２２と、Ｘ線検出装
置ｌ８が検出した多孔質材ｌを透過したＸ線ｌ９の強度
２０とが演算装置２ｌに送られて、演算装置２ｌて以下
のようにしてライン中の多孔質材ｌの密度を演算する。

即ち、一般に物質（この場合には多孔質材Ｉ）に胆射し
たＸ線ｌ７の強度２２（記号ｌ０で表わす）とその物質
を透過したＸ線ｌ９の強度２０（記号Ｉて表わす）の間
には、その物質に固有のＸ線吸収係数をμ、物質の厚さ
をｈ、物質の真密度比をρとすると、 １−１。　　　（一μｈρ）　　　　　　　　　・・　
（１）Ｃｘｐ という関係か成り立つ。

そこで、（１）式を真密度比ρについて変形すると（２
）式 か得られ、（２式に予め求めておいた多孔質材ｌのＸ線
吸収係数μを代入し、史にｈ，Ｉ０、Ｉに夫々前述のよ
うにして求められた多孔質材ｌの厚さ１４及びＸ線１７
．１９の強度１，Ｉｏを代入することにより、多孔質材
ｌの密度即ち真密度比ρが得られる。

尚、本発明の多孔質材用密度検出装置は、上述の実施例
にのみ限定されるものではなく、厚さ計は任意のものと
し得ること、粉末圧延以外の場合にも適用が可能なこと
、その他、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種
々変更を加え得ることは勿論である。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明の多孔質材用密度検出装置
によれば、厚さ計とＸ線照射装置とＸ線検出装置と、演
算装置とを設けたので、ライン中で多孔質材の密度を検
出することかできるという優れた効果を奏し得る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発門の一実施例の全体構成図である。 図中１は多孔質材、ｌ４は多孔質材の実際の厚さ、ｌ５
は厚さ計、ｌ６はＸ線照Ｉ・１装置、１７はＸ線照射装
置ｌ６が照射したＸ線、ｌ８はＸ線検出装置、ｌ９は多
孔質材ｌを透過したＸ線、２０．２２は夫々Ｘｉ１１９
．１７の強度、２ｌは多孔質材１の密度を演算により求
める演算装置、ρは密度（真密度比）ｈは厚さを示す。 特 許出願人 石川島播磨重工業株式会社

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）多孔質材の厚さを測定する厚さ計と、多孔質材にＸ
   線を照射するＸ線照射装置と、多孔質材を透過したＸ線
   の強度を検出するＸ線検出装置と、厚さ計が計測した多
   孔質材の厚さ、及び、Ｘ線照射装置が多孔質材に照射し
   たＸ線の強度、並にＸ線検出装置が検出した多孔質材を
   透過したＸ線の強度を入力して、多孔質材の密度を演算
   によって求める演算装置とを備えたことを特徴とする多
   孔質材用密度検出装置。