JPS61133602A - サ−ミスタ - Google Patents

サ−ミスタ

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JPS61133602A
JPS61133602A JP25637084A JP25637084A JPS61133602A JP S61133602 A JPS61133602 A JP S61133602A JP 25637084 A JP25637084 A JP 25637084A JP 25637084 A JP25637084 A JP 25637084A JP S61133602 A JPS61133602 A JP S61133602A
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JP
Japan
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thermistor
metal oxide
oxide layer
ruthenium
metal
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Pending
Application number
JP25637084A
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English (en)
Inventor
博義 水口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、サーミスタに関する。更に詳しくは、低い
抵抗値を有し、種々の対象の温度測定や温度センサとし
て有用なサーミスタに関する。
(ロ)従来技術 従来、熱電素子として電気抵抗が温度によって変化する
ことを利用したサーミスタが知られている。このサーミ
スタは一対の電極間にマンガン、コバルト、ニッケル、
銅等の半導電性の金属酸化物層を形成させたものであり
、これらは通常、対応する金属の炭酸塩、硝酸塩、塩化
物、酸化物等を所定の抵抗値が得られるように適当に混
合し、高温加熱して焼結したり、スパッタリングによっ
て薄膜の金属酸化物層を絶縁基板上に形成させることに
より作製されている。
一方、本発明者らは先に、薄膜の金属酸化物層を備えて
なるサーミスタであって、半導電性の金属酸化物層が、
対応する金属アルコキシド及び/又は酸素を配位子とす
る有機余興キレート化合物の加水分解により生成するゲ
ル膜を中間体として絶縁基材上に形成させ、次いでこれ
を加熱処理することにより作製されるサーミスタを提案
している。
以上のごとき種々の方法により作製されるサーミスタに
おいて、その金属酸化物層は半導電性の範囲内でできる
だけ低い抵抗値を有することが望まれている。というの
は、抵抗値が高いほど、抵抗値に対する抵抗変化の割合
が低(,8/N比が小さくなり、結局、高精度の電圧計
や電流計等が必要となるからである。
このため、金属酸化物自体の組成割合を変化させること
により抵抗値を低下させることも考えられるが、この場
合には意図するサーミスタの温度−抵抗特性自体が変化
し易く、低抵抗値にもかかわらず、温度に対する感度が
低下し易いという問題点があった。
(ハ)目的 この発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、良
好な温変−抵抗特性を阻害することなく抵抗値を低減せ
しめたサーミスタを提供することを目的とするものであ
る。
本発明者らは、前述したごとく、金属アルコキシドや金
属キレート化合物を原料とすることにより、薄膜のサー
ミスタを得る提案を行なっているが、この発明はこの方
法に基づき、更に研究、検討を行なうことによりなされ
たものである。
に)構成 かくしてこの発明によれば、一対の電極間に半導電性の
金属酸化物層を備えてなるサーミスタにおいて、該金属
酸化物層内に酸化ルテニウム成分を少量含有させたこと
を特徴とするサーミスタが提供される。
この発明のサーミスタの金属酸化物層は、酸化ルテニウ
ム成分を少量含み、かつサーミスタ特性を有する金属酸
化物層からなる。酸化ルテニウム以外の金属酸化物とし
ては、後述するようなサーミスタの分野に用いられる種
々の金属酸化物が単独であるいは組合せて用いられる。
この発明において、酸化ルテニウム成分の含有量は、R
u20Bとして金属酸化物内に約0.1〜1.5重量%
とするのが好ましい。0.1重量%未満では、含有させ
ることによる効果が実用上得られず、1.5重量%を越
えると、サーミスタの温度−抵抗特性に悪影響を及ぼす
あそれがあり好ましくない。
上記金属酸化物層は、通常、溶液法で形成させるのが好
ましい。この溶液法は、前述したよ引ζ半導電性の金属
酸化物の基本原料となる金属アルコキシド及び/又は酸
素を配位子とする有機金属キレート化合物並びに酸化ル
テニウム成分の原料としてのルテニウムアルコキシドや
ルテニウムの含酸素有機キレート化合物を、任意に水を
含むメタノールやエタノール等の易揮発性有機溶媒に溶
解させ、この混合溶液を基材上に塗布し、常温又は加温
下放置してこれら化合物の加水分解及び乾燥を進行させ
、生成する金属水酸化物系ゲル膜を加熱処理することに
より酸化物膜に変換させて、酸化物膜を形成させる方法
である。
上記金属アルコキシド及び/又は酸素を配位子とする有
機金属キレート化合物としては、通常、サーミスタの分
野に用いられる半導電性通常、100〜108Ωオーダ
ーの金属酸化物の金属組成に対応した金′属元素及びそ
の組成比からなる単−又は複数の化合物が選択される。
なお、上記金属酸化物層は、通常、マグネシウム、バナ
ジウム、マンカン、鉄、コバルト、ニッケル及び銅から
遁ばれる一種以上の金属の酸化物から基本構成するのが
適当であるため、上記金属アルコキシド及び/又は酸素
を配位子とする有機金属キレート化合物も上記金属を含
有するものが対応して用いられるO 上記金属アルコキシドの具体例としては、低級アルコキ
シド金属を用いるのが適しており、例えば00(002
TT5)2、Nl (OC2TT5 ) 2、Fe(0
02H5) B等が好ましい。一方、酸素を配位子とす
る有機金属キレート化合物の具体例としては、アルカン
ジオン又はその誘導体の金属キレート化合物が適してお
り、例えば2.4−ペンタンジオン(アセチルアセトン
)、8−フェニル−2,4−ペンタンジオン(8−フェ
ニルアセチルアセトン)、2゜4−ヘキサンジオン、2
,4(又は8.5)−へブタンジオン、2. 2. 6
. 6−チトラメチルー8.5−へブタンジオン(ジピ
バロイルメタン)等の低級アルカンジオンのマンガンキ
レート化合物、コバルトキレート化合物、ニッケルキレ
ート化合物等が好ましい。もちろんこれらを混合して用
いてもよい。
一方のルテニウムアルコキシドやルテニウムの含酸素有
機キレート化合物は、半導電性の金属酸化物層内に少量
含有させる酸化ルテニウム成分の原料として添加される
上記ルテニウムアルコキシドの具体例としては、低級ア
ルコキシドルテニウムを用いるのが適しており、例えば
Hu(OOF(s)a、Ru’(OO2Hs ) a等
が好ましい。一方、ルテニウムの含酸素有機キレート化
合物の具体例としては、アルカンジオン又はその誘導体
のルテニウムキレート化合物が挙げることができ、低級
アルカンジオンのルテニウムキレート化合物等が好まし
く、特にトリスアセチルアセトネートルテニウム(Ru
(05TT702)B〕のごときルテニウムのアセチル
アセトネート槽体が好ましい。もちろんこれらも混合し
て用いてもよい。
上記金属アルコキシド及び/又は酸素を配位子とする有
機金属キレート化合物並びにルテニウムアルコキシド及
び/又はルテニウムの含酸素有機キレート化合物の加水
分解によるゲル膜の作製は、これら化合物の含水溶媒溶
液を絶縁基体上にディップ法、スピンナー法、ハケ塗り
法等で塗布した後、風乾等で徐々に乾燥させて徐々に行
なうのが好ましい。この際の含水溶媒溶液の含水量は少
量(通常0.5VO1% 以下)とするのが好ましい。
さらに、この溶液中に酸を添加しておくことが、均一な
真溶液が得られ、加水分解も円滑に行なわれて均一厚み
の造膜が行なわれる観点から好ましい。な詔、含水溶液
の粘変を適宜調整することによりゲル模厚ひいては金属
酸化物層の厚みを制御することができるが、通常、含水
溶液中の上記化合物の濃麿は0.05〜0.1重量%と
するのが好ましい。
かようなゲル膜を加熱処理することによりゲルを構成す
る金属水酸化物やその低縮合物は脱水して高縮合化され
酸化物に変換し、この発明の酸化ルテニウム成分を少量
含有する金属酸化物層が形成される。加熱処理する条件
は通常500〜1500’″C下で0.1〜5時間程度
で充分であり原料を選ぶことにより、1000°C以下
の比較的低温下、ことに500℃程度の低温下での処理
が可能である。
このようにして得られたこの発明のサーミスタの金属酸
化物層の厚みは通常的0.01〜10μmであり従来の
ものに比して顧しく薄膜化されたものである。従って該
酸化物層の熱容量に基づく不利な点は改善されたもので
ある。
なあ、場合によっては、前記金属酸化物の金属組成に対
応した金属の炭酸塩、硝酸塩、塩化物、酸化物等と約0
.1〜1.5重量%の酸化ルテニウムやルテニウム塩類
をそれぞれ粉末とし、これらを適当な分散溶媒と共に、
混合してペースト状物としたものを塗布形成し、高温加
熱する焼結法やこれ以外に、スパッタリング法によって
、この発明の金属酸化物層を形成することが可能である
なお、形成された金属酸化物層の表面に、絶縁性の表面
保護膜を形成させるのが実用上好ましく、ことに液体や
湿分を含む気体を測定対象とする際に望ましいものであ
る。この表面保護膜はサーミスタ特性を阻害せず測定対
象と半導電性酸化物層との直接的な接触を防止しうるも
のであればよく、通常、半導電性酸化物層の1/2〜1
/8程度の厚みの絶縁性酸化物膜を被覆するのが適して
いる。この形成は、好ましくは、低級アルコキシシラン
の溶液を塗布して前記半導電性酸化物層と同様にしてゲ
ル化、加熱処理することにより行われる。従ってこの発
明はかような三層構造のサーミスタ素子をも提供するも
のである。
なお、電極は、前記絶縁基村上に予め形成させておいて
もよく、金属酸化物層を形成させた後形成してもよい。
(ホ)実施例 以下この発明を実施例により説明するが、これによりこ
の発明は限定されるものではない。
実施例1 ジェトキシコバルト、ジェトキシニッケル及びマンガン
アセチルアセトネートを対応する酸化物の重量%として
それぞれ1.56 : 40.5 : 57.9でかつ
全量が0.02モルとなるよう100g/のメタノール
中に混合溶解し、更にトリスアセチルアセトネートルテ
ニウムを酸化物としてそれぞれ0.5.1.0.1.5
重量%となるように加え80℃で2時間還流させて均一
な溶液を得た。なお、均一な真容液が得られ、加水分解
も円滑に行なわれて均一厚みの造膜が行なわれるように
、得られた溶液に1規定塩酸を2ml加えた後、10X
20X1.5露の石英ガラス板の片面にディップ法で塗
布し、次いで常温下、約10分間放置して風乾すること
により、石英ガラス板の片面にコバルト、ニッケル及び
マンガン並びにルテニウムの水酸化物を主体とする厚み
約0.7μmのゲル膜が形成された。上記ガラス板を電
気炉中に入れて約600°C下、1時間高温加熱処理す
ることによりゲル膜が酸化物膜に変換された素子を得、
この素子の酸化物膜の対向する端部に銀ペイントを塗布
して一対の電極を形成させることにより第1図及び第2
図に示すごとき平板状のサーミスタ(1)を得た。図中
、(2)、 (2)は電極、(3)は半導電性の金属酸
化物層、(4)は絶縁基材、(5)はリード線をそれぞ
れ示す。
なお、比較例として酸化ルテニウム成分を含有しないサ
ーミスタも同様にして作製した。
このようにして得られたサーミスタの温度−抵抗特性を
第4図に示す。図から明らかなように、酸化ルテニウム
成分を含有しないサーミスタの温間−抵抗特性を示す直
線の傾きが変化することなく、酸化ルテニウム成分の含
有量を種々変化することにより、抵抗値を任意に低下さ
せることができるのがわかる。
実施例2 絶縁基材としてガラスチューブ(内径8II@、外径5
 m )を用い、その内面の一部に実施例1と同様にし
て半導電性の金属酸化物層を形成させ、さらにその上に
テトラエトキシシランのアルコール溶液を流し込んで加
水分解させ約500℃で焼成して絶縁性のガラス保護膜
を形成した。次いで、ガラスチューブの両端に開いた径
0.5鴎の孔に銀ペーストを流し込んで電極を形成する
ことにより第8図に示すごとき管状のこの発明のサーミ
スタ(1′)を得た。な詔、図中、(ロ)は保護膜を示
す。
このサーミスタ(1′)は管内を流れる流体の温度計測
に供するのに適している。
上記のサーミスタ(1′)の特性は実施例1と同11一 様なものであった。
(へ)効果 以上述べたように、この発明のサーミスタは金属酸化物
層中に酸化ルテニウム成分を含有しているため、その抵
抗値が温度−抵抗特性を阻害することなく低下されたも
のであり、高い抵抗値に配置する種々の問題点、たとえ
ば、抵抗が大きいと動作時のノイズが大きくなるという
問題点を解決できる非常に優れたものである。また金属
酸化物―が薄膜化されているため、それ自体の熱容量が
小さく優れた抵抗−温間特性を有するものである。
さらにその金属酸化物層の形成も溶液法を用いた場合に
は簡便でかつ平面状の絶縁基材に限らず如何なる形状の
もの例えば、管状、曲面状、突起状、凹凸状等のものに
も行なうことができるため有利であり、サーミスタ自体
の構造上の自由度を拡大しつるものである。そして、例
えば管状の絶縁基材の内面に簡便に形成してフロータイ
ブのサーミスタとすることができる。さらにこの際には
、有機金属化合物を原料としているため熱処理温度の低
減化も可能であるという優れた効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明のサーミスタを例示する平面図、第
2図は第1図の断面図、第8図はこの発明のサーミスタ
の他の具体例を示す部分断面図、第4図は、この発明の
サーミスタの温間−抵抗特性を例示するグラフ図である
。 (1)I  (t’ )・・・サーミスタ、(2)・・
・電極、     (3)・・・半導電性の金属酸化(
4)・・・絶縁基材、     物層、(5)・・・リ
ード線、09・・・保護膜。 第1図 第3図 第4図 11Tx103

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、一対の電極間に半導電性の金属酸化物層を備えてな
    るサーミスタにおいて、該金属酸化物層内に酸化ルテニ
    ウム成分を少量含有させたことを特徴とするサーミスタ
    。 2、酸化ルテニウム成分が金属酸化物層内に約0.1〜
    1.5重量%含有されてなる特許請求の範囲第1項記載
    のサーミスタ。
JP25637084A 1984-12-03 1984-12-03 サ−ミスタ Pending JPS61133602A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002093602A (ja) * 2000-09-18 2002-03-29 Marcon Electronics Co Ltd 電子部品

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54115799A (en) * 1978-03-01 1979-09-08 Hitachi Ltd Thermistor composition
JPS55141707A (en) * 1979-04-20 1980-11-05 Hitachi Ltd Method of manufacturing temperatureesensitive resistance element

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