JPS61126683A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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Publication number
JPS61126683A
JPS61126683A JP59247771A JP24777184A JPS61126683A JP S61126683 A JPS61126683 A JP S61126683A JP 59247771 A JP59247771 A JP 59247771A JP 24777184 A JP24777184 A JP 24777184A JP S61126683 A JPS61126683 A JP S61126683A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
precharging
memory device
bit line
semiconductor memory
controlled
Prior art date
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Pending
Application number
JP59247771A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Aono
青野 明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS61126683A publication Critical patent/JPS61126683A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は、ビット線をプリチャージし、その電位変動
により情報を読み出す半導体メモリ装置に関する。
〔発明の技術的背景〕
一般に、この種の半導体メモリ装置は、例えば第7図に
示すよう忙構成されている。ここでは、ビット線のプリ
チャージにのみ着目して示しており、図において、QI
IQ2はプリチャージ信号φPRで導通制御されるプリ
チャージ用トランジスタ、MC1,MC2,・・・はメ
モリセル、BL、BLはビット線、WL、 、 WL、
、 、・・・は上記メモリセルMe、 、 MC,、・
・・を選択するワード線である。
上記のような構成において、メモリセルMC,。
MC,、・・・からの情報読み出し時には、プリチャ−
ジ信号φ、Rを”Lルベルに設定してトランジスタQ+
、Qtをオン状態とし、ビット線BL。
BLを′Hルベルにプリチャージする。次に、ワード線
WL、、WL、l・・・によってメモリセルMC,、M
C,*・・・を選択することにより、ビット線BLある
いはBLを記憶情報に応じてディスチャージする。そし
て、上記ビット線BL、BLに生じた電位差を図示しな
いセンスアンプによりて増幅することにより、選択した
メモリセルの記憶情報を得る。
〔背景技術の問題点〕
ところで、上記ビット線BL、BLKは、配線抵抗、配
線容量、およびメモリセルとの接合容量等が存在するた
め、プリチャージ用のトランジスタQ+、Qtに近いと
ころではプリチャージが早いが、遠くなるにしたがって
所定のレベルに上昇するのが遅くなる。このため、プリ
チャージ時間を充分長く設定してプリチャージを行なっ
ている。また、プリチャージが完全に行なわれず、ビッ
ト線BL、BLのレベルが均一でないままでメモリセル
から情報が読み出されると、前サイクルのラッチデータ
と読み出したメモリセルの記憶情報が異なっている場合
には、ビット線BL、BLのレベルを反転させなければ
ならず、読み出し時間が長くなる。
上述したプリチャージの遅れは、メモリ装置の大容量化
、高集積化に伴なって大きくなる傾向にあり、高速化の
阻げとなる。
〔発明の目的〕
この発明は上記のような事情に鑑みてなされメモリ装置
を提供することである。
〔発明の概要〕
すなわち、この発明においては、上記の目的を達成する
ために、ビット線のプリチャージを複数の電流路によっ
て行なうようにしたもので、ビット線のほぼ中央にプリ
チャージ用のトランジスタを設けている。
〔発明の実施例〕
以下、この発明の一実施例について図面を参照して説明
する。第1図におけるビット線BL。
BLのほぼ中央部と電源VDD間にはそれぞれ、プリチ
ャージ用のトランジスタQ3.Q4が接続され、これら
トランジスタQs、Q+はプリチャー信号φPHによっ
て導通制御される。
このような構成によれば、プリチャージ用のトランジス
タQ3.Q4から、ビット線BL 、 BLの両端部に
接続されるメモリセルMC1,MCnまでの距離を短く
できる。従って、配線抵抗および配線容量の影響を小さ
くでき、プリチャージの高速化が図れる。
第2図は、この発明の他の実施例を示すもので、ビット
線BL、BLの両端にプリチャージ用のトランジスタQ
s 、 Qa 、Q?  およびQ、を設け、これらト
ランジスタQs、Qa、QyおよびQ、をプリチャージ
信号φPRで導通制御するようにしたものである。この
ような構成においても上記実施例と同様な効果が得られ
る。
第3図は、さらにこの発明の他の実施例を示すもので、
所定数のメモリセル毎にプリチャージ用のトランジスタ
Q、〜Q+4  を設け、これらトランジスタQ9〜Q
 14をプリチャージ信号φPRで導通制御するように
している。このような構成においても上記各実権例と同
様な効果が得られるのけもちろんであり、特に大容量の
メモリ装置に好適である。
第4図ないし第6図はそれぞれ、上記第1図ないし第3
図に示した回路におけるプリチャージ用のトランジスタ
Q、〜Q 14を逆導電型のもので構成し、プリチャー
ジ信号φPRを逆相の信号φPIIにし7たものである
。このような構成においても上記各実権例と同様な効果
が得られるのは言うまでもない。
〔発明の効果〕
以上説明したようにこの発明によれば、プリチャージに
よる遅れを低減し7、高速化が図れる単導体メモリ装置
が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例に係わる半導体メモリ装置
を説明するための図、第2図ないし7第6図はそれぞれ
この発明の他の実施例を説明する丸めの図、第7図は従
来の半導体メモリ装置を説明するための図である。 BL、BL・・・ビット線、WL1〜W L n・・・
ワード線、MC1〜M Cn・・・メモリセル、Q3〜
Q+4 ・・・プリチャージ用トランジスタ、φPR、
φPR・・・プリチャージ信号、■DD・・・電源。 出願人代理人  弁理士 鈴 江 武 産業1図   
   第2図 第3図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)プリチャージしたビット線の電位をメモリセルの
    記憶情報に応じてディスチャージし、情報を読み出す半
    導体メモリ装置において、複数の電流路でビット線のプ
    リチャージを行なうプリチャージ手段を設けたことを特
    徴とする半導体メモリ装置。
  2. (2)前記プリチャージ手段は、ビット線のほぼ中央部
    に設けられプリチャージ信号で導通制御されるトランジ
    スタから成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の半導体メモリ装置。
  3. (3)前記プリチャージ手段は、ビット線の両端に設け
    られプリチャージ信号で導通制御されるトランジスタか
    ら成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半
    導体メモリ装置。
  4. (4)前記プリチャージ手段は、メモリセル毎または所
    定数のメモリセル毎に設けられプリチャージ信号で導通
    制御されるトランジスタから成ることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の半導体メモリ装置。
JP59247771A 1984-11-22 1984-11-22 半導体メモリ装置 Pending JPS61126683A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5185719A (en) * 1989-10-14 1993-02-09 International Business Machines Corp. High speed dynamic, random access memory with extended reset/precharge time
US5680355A (en) * 1995-03-30 1997-10-21 Nec Corporation Semiconductor storage apparatus
JP2009543270A (ja) 2006-07-07 2009-12-03 エス. アクア セミコンダクター, エルエルシー 選択的なプリチャージを有するメモリ
US8477520B2 (en) 2009-12-02 2013-07-02 Elpida Memory, Inc. Semiconductor memory device
US8861264B2 (en) 2010-08-03 2014-10-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory device, precharge controlling method thereof, and devices having the same

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5278327A (en) * 1975-12-24 1977-07-01 Fujitsu Ltd Semiconductor memory

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5278327A (en) * 1975-12-24 1977-07-01 Fujitsu Ltd Semiconductor memory

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5185719A (en) * 1989-10-14 1993-02-09 International Business Machines Corp. High speed dynamic, random access memory with extended reset/precharge time
US5680355A (en) * 1995-03-30 1997-10-21 Nec Corporation Semiconductor storage apparatus
JP2009543270A (ja) 2006-07-07 2009-12-03 エス. アクア セミコンダクター, エルエルシー 選択的なプリチャージを有するメモリ
US8477520B2 (en) 2009-12-02 2013-07-02 Elpida Memory, Inc. Semiconductor memory device
US8861264B2 (en) 2010-08-03 2014-10-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory device, precharge controlling method thereof, and devices having the same

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