JPS61120284A - 検査対象物の画像処理方式 - Google Patents

検査対象物の画像処理方式

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Publication number
JPS61120284A
JPS61120284A JP59240744A JP24074484A JPS61120284A JP S61120284 A JPS61120284 A JP S61120284A JP 59240744 A JP59240744 A JP 59240744A JP 24074484 A JP24074484 A JP 24074484A JP S61120284 A JPS61120284 A JP S61120284A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
processor
mark
inspected
image processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59240744A
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English (en)
Inventor
Toshihiro Kawanabe
川那辺 敏弘
Yoshiteru Imada
今田 義照
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Information and Control Systems Inc
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Control Systems Inc
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Control Systems Inc filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS61120284A publication Critical patent/JPS61120284A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、画像処理装置を用いた製品検査に係り、検査
対象物に目印を付与することにより、特に検査対象物の
位置、向きに制限されることなく良否判定を行なえる画
像処理方式に関する。
〔発明の背景〕
従来、検査対象物の位置決めを確定する方法として、情
報処理VOL、 22 (1981) Na4.頁28
9.290において論じられているが、この方式では、
最適な目印を、検査対象内で決定しなければならず1位
置決めに適する目印を選択できない可能性が大きい、又
、回転に対し、ある程度の許容があるものの、許容範囲
を超えた場合1位置、向きを確定できない問題があった
〔発明の目的〕
本発明の目的は、検査対象物の目印を付加することによ
り、検査対象物の正確な位置、向きを、画像処理装置側
で決定し、検査対象画像の範囲及び向き゛を確定する画
像処理方式を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は1画像処理を用いた製品検査において搬送系に
委ねられていた検査対象物の位置決めを。
検査対象物自身に目印を付加することにより、画像処理
装置でのこの目印をサーチし、検査対象物の待置、向き
を確定するようにしたものである。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図面に基づき説明する。第1
図は、実施例の構成図である。検査対象物供給装置ll
は、検査対象物2を搬送装置4上の皿3へ供給する。検
査対象物2の画像は、撮像装置5から取込まれ、アナロ
グ/ディジタル変換器6を介し、画像メモリ7内の検査
対象物画像取込みページへ格納される。また、画像メモ
リ7内には、予め第2図に示す検査対象物2のマスクパ
ターン15をマスクパターン格納ページ18へ格納して
おく、ここで、マスタパターン15の2つの目印16.
17は、各々右上位置、左下位置を体定する目印であり
、検査対象物2には、同じ位置に目印が、付加されてい
る。また、画像メモリ7内には、第3図に示す目印サー
チ用のテンプレート19.20も格納しておく。
検査対象物取込みページ上に取込まれた画像データに対
し、画像処理プロセッサ8は、平滑化。
ノイズ除去、2値化等の画像前処理を実施し、この前処
理後の画像に対し、目印サーチプロセッサ9で、上記テ
ンプレート19.20を用い目印をサーチする。この目
印から得られる情報により、アフィン変換プロセッサ1
oにより、マスタパター=’<1:5に対して、平行移
動及び回転を加えたマツチング用マスタパターンを作成
する。このマツチング用マスタパターンと画像前処理後
の画像の照合処理を画像処理プロセッサ8で実施する。
アドレスプロセッサ11は、上記各プロセッサ処理にお
ける処理対象画像メモリのアドレスを制御し。
また、上記の一連の処理を制御するのは、処理装置12
である。記号6〜12までの構成を成すものが画像処理
装置13である。マツチング用マスタパターンと画像前
処理後の画像の照合処理結果を処理装置12で判定し、
良否信号を良否分別装置14へ送信する。良否分別装置
14は、この信号により検査対象物を合格品と不合格品
に分別する。
次に検査対象物画像の位置の確定方法について述へる。
第2図のマスクパターンに示すように、目印16.17
を結ぶ線分は、X方向とθ。の角度を成しており、また
、目印17の座標は、(X++ t 7a )と決めて
おくものとする。この角度、座標は、後のアフィン変換
時の回転平行移動の基準となるも、のである、今1画像
メモリ内に取込まれた検査対象物の画像が第4図のよう
であったとする。目印サーチプロセッサ9は、テンプレ
ート19.20を用い各々に対応する目印21゜22を
サーチする。目印21の座標が(xl。
y□)、目印22の座標が(Xs + ’/z )であ
ったとする、マツチング用マスタパターンを作成するた
めのX方向の変位X、、 y方向の変位y、は、次式に
より求まる。
Xl =Xs −ya           ・・・0
1m =’/z −yo           ・・・
■また、目印21.22を結ぶ線分の傾きは、xl −
X。
Xi −x。
により求まる。従って、マスクパターンからの検査対象
物の画像の回転角θ、は、次式により求まる。
x、−y。
上記■■■より、マツチング用マスクパターンCx’ 
t y’ )は、マスクパターンCx、y)から次のア
フィン変換により求めることができる。
第5図は、上記変換を図で示したものであり、上が、マ
スタパターン、下が、マツチング用マスタパターンであ
る。このマツチング用マスタパターンと1画像前処理後
の検査対象物画像との画像間の差または排他的論理和を
とることにより照合が行なえる1以上の処理の画像処理
装置!13内での内部処理フローを第6図に示す。
本実施例によれば1次の効果がある。
1、搬送装置は検査対象物が撮像範囲内に入る位置に搬
送するだけで、その位置、向きを考慮しなくても良い。
2.2個の目印を検査対象物に付加するだけで、検査対
象物の正確な位置、向きは、画像処理装置内で自動的に
決定可能となり、比較、照合処理が容易に行なえる。
以上が、本、開明の一実施例の説明で、この例では、1
種類の゛検査対象物を検査するためマスタパターンは1
つであったが、位置、向き及び検査対象物の種別を識別
可能な目印を検査対象物に付加し、これらに対応した複
数のマスクパターン及びテンプレートを画像処理装置内
に持つことにより複数種類の検査対象物の検査が実施可
能となる。
前述の一実施例では、目印として第3図に示したテンプ
レートによるパターンを用いたが、検査対象物の撮像画
像濃度ヒストグラムが、例えば、第7図に示したT2か
らf□の範囲内にあれば。
Q(くfl)又はm (> f x )の濃度値を持つ
2種類の目印を付加することにより1位置及び向きを確
定できる。今、fi <nt <ni <f−amなる
濃度値n、、’J を持つ目印を付加するとする。
ここでfl、5は、画像メモリで処理可能な最大濃度値
を表わす、検査対象物取込み画像を第8図(1)とする
と、画像前処理の2値化において。
次の処理を行なう。     ゛ ア、右上目印抽出処理 f、<T、<NsなるT1に対し“1”を出力。
上記以外“0″を出力。
イ、左下目印抽出処理 n、 <T、 <FoamなるT2に対し“1″を出力
、上記以外1′071を出力 に示す、この抽出された2つの目印の重心位置を算出す
ることにより1位置、向きを決める2点が確定できる。
また1、マスタパターンが、第9図(1)に示す様に、
目印間の長さがbであり、検査物対象画像の百−間の長
さが第8図(1)の様にaで−ある場合、マスタパター
ンを第9図(2)の様に縮、小(または拡大)し目印間
の長さがaとなる画像を作成し、この画像から、先程求
めた目印位置の情報を基に、第9図(3)の様に平行移
動2回転を行ない、マツチング用マスクパターンを作成
することができる。
この実施例では、さらにマスクパターンを縮小(または
拡大)した画像パターンとなる。大きさの異なる検査対
象物の製品検査が可能となる。
以上の本発明の実施例及び他の実施例においては、マス
クパターンに回転等の画像処理を施し。
検査対象物画像の位置、向きi適合させたが、検査対象
物画像に画像処理を施し、マスクパターンに適合させる
様にしそも、同−等の処理が可能となる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、検査対象物の画像から、その処理範囲
及び方向を確定できるので、ランダムな位置、向きで搬
送される検査対象物に対しても、的確な画像処理を実現
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一構成例実施例のブロック図、第2
図は、同じくマスク24ターン図、第3図は、同じく目
印テンプレートの構成図、第4図は、同じく検査対象物
取込画像の説明図、第5図は。 同じくマツチング用マスクバタン作成説明図、第6図は
、同じく処理フロー図、第7図は、他の実施例の検査対
象物取込み画像の濃度ヒストグラム図、第8図は、他の
実施例の目印抽出説明図、第9図は、他の実施例のマツ
チング用マスタパタン作成説明図である。 2・j・検査対象物、3・・・皿、4・・・搬送装置、
訃・・撮像装置、7・・・画、−メモリ、12・・・処
理装置、13・・・画像処理装置、14・・・良否分別
装置、15・・・マスタパターン、16,17,21,
22・・・目印、19’、20・・・テンプレート。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、検査対象物と検査対象物を搬送する搬送装置、搬送
    装置上の検査対象物を撮像する撮像装置とこの撮像装置
    により撮像された画像を入力し製品検査処理を行なう画
    像処理装置及び製品検査処理の良否判定結果により、検
    査対象物を分別する良否分別装置からなる画像処理を用
    いた製品検査において、検査対象物に画像処理時の位置
    決めに使用する目印を付加することを特徴とする検査対
    象物の画像処理方式。
JP59240744A 1984-11-16 1984-11-16 検査対象物の画像処理方式 Pending JPS61120284A (ja)

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JPS61120284A true JPS61120284A (ja) 1986-06-07

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JP (1) JPS61120284A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63201876A (ja) * 1987-02-18 1988-08-19 Hitachi Ltd 画像処理方法および装置
EP0452398A1 (en) * 1988-12-21 1991-10-23 Gmf Robotics Corp METHOD AND SYSTEM FOR AUTOMATICALLY DETERMINING THE POSITION AND ORIENTATION OF AN OBJECT IN A THREE-DIMENSIONAL SPACE.
JPH04154387A (ja) * 1990-10-18 1992-05-27 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線画像のエネルギーサブトラクション方法および装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63201876A (ja) * 1987-02-18 1988-08-19 Hitachi Ltd 画像処理方法および装置
EP0452398A1 (en) * 1988-12-21 1991-10-23 Gmf Robotics Corp METHOD AND SYSTEM FOR AUTOMATICALLY DETERMINING THE POSITION AND ORIENTATION OF AN OBJECT IN A THREE-DIMENSIONAL SPACE.
JPH04154387A (ja) * 1990-10-18 1992-05-27 Fuji Photo Film Co Ltd 放射線画像のエネルギーサブトラクション方法および装置

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