JPS61120025A - 温度サンプリング装置 - Google Patents

温度サンプリング装置

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Publication number
JPS61120025A
JPS61120025A JP24069184A JP24069184A JPS61120025A JP S61120025 A JPS61120025 A JP S61120025A JP 24069184 A JP24069184 A JP 24069184A JP 24069184 A JP24069184 A JP 24069184A JP S61120025 A JPS61120025 A JP S61120025A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
value
instantaneous
time
values
Prior art date
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Pending
Application number
JP24069184A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomoshi Watabe
渡部 智志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd
Priority to JP24069184A priority Critical patent/JPS61120025A/ja
Publication of JPS61120025A publication Critical patent/JPS61120025A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K1/00Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
    • G01K1/02Means for indicating or recording specially adapted for thermometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、温度測定装置から温度測定開始信号を受け、
温度瞬時値を読取り温度値を求める計算機処理に係り、
特に1短時間で正確な温度をリアルタイムに把握するの
に好適な温度データ装置に関する。
〔発明の背景〕
従来の方式は、特開昭55−78220号公報のように
温度上昇曲線のデータを記憶させ、サンプリングした温
度値より、温度平衡点を予測するようになっていた。し
かし、温度値が下降する点については配慮されていなか
った。このため、温度上昇曲線のデータを多量に記憶し
なければならず、かつ、温度が下降した場合に、平衡点
が二カ所発生した場合は予測出来ない。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、測定物、あるいは、温度測定装置に相
異があっても処理ロジックの変異、定数の全面修正を行
なわなくても一部定数の修正で、最少変化率の平衡点を
短時間に見つけ、正確な温度を得ることが出来る温度サ
ンプリング装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明の要点は、サンプリング周期で温度瞬時値を採取
するたびに、平衡点を求め、前回平衡点の偏差値と比較
し、最少の偏差値となった平衡点の平衡値を今回測定さ
れた温度値とすることにある。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を説明する。第1図は本発明の
構成を示すブロック図であり、第2図は、温度サンプリ
ング方式の動作を説明するための70−チャートであり
、第3図は、従来温度サンプリング方式と、本発明によ
る温度サンプリング方式の相異を説明するだめの、取込
まれた温度瞬時値を表わしだ波形図である。
第1図において、プロセス入出力装置は、温度測定装置
から伝達される信号および瞬時値を、ディジタル信号に
変換する装置である。オペレーティングシステムは、プ
ロセス入出力装置から与えられる信号、および、瞬時値
の入出力管理、プログラム起動順序管理等、計算機シス
テム全体の制御を行なう。温度スキャニング処理は、オ
ペレーティング7ステムからのプロセス信号起動要因に
より動作を開始し、周期的に動作する。このとき温度瞬
時値を取込みこれを温度測定装置別に、温度瞬時値記録
ファイルに格納する。この温度瞬時値の合理性の判定を
行ない、正常な値としたものから平均値と偏差値を求め
、温度平均値・偏差値ファイルを作成する。温度データ
収集処理は、温度スキャニング処理終了後動作を開始し
、求めら′れた温度平均値を時系列的に編集し、温度時
系列ファイルに格納し、各種出力装置(表示盤110・
CRTディスプレイ装置11トタイプライター112等
)に出力するため、各穐プログラムを動作させる。
次に、第1図の温度スキャニング処理の動作を、第2図
のフローチャートに基づいて説明する。温度スキャニン
グ処理は、温度測定装置が発生したプロセス信号により
、プロセス入出力装置、オペレーティングシステムを介
し、動作を開始し、温度測定装置の稽別を取込む。(ス
テップ201)次に、温度測定装置に対応した温度瞬時
値を取込む(202)。この取込まれた温度瞬時値の上
下限の異常判定を行ない、正常であれば、温度瞬時値記
録ファイルを作成し、次に平衡点を求めるため温度瞬時
値採用回数が一定値以上になったかどうかを判定する。
この二項目の判定音すべて正常と判断した場合、合理性
判定正常とする(203)。
作成された温度瞬時値記録ファイルより平均値を式(1
)、偏差値を式(2)により求める(204 )。
ここに、テ;温度平均値 ΔT;温度偏差値 n;瞬時値採用回数一定値 T1.温度瞬時値 次に、温度平均値・偏差値ファイルにある前回までの最
少偏差値と今回求めた偏差値を比較する(205)。今
回求めた偏差値が前回よシ小さい場合、最少の偏差値と
して温度平均値・偏差値ファイルに今回平均値と偏差値
を格納する(206)。
今回温度測定が完了したがどうがを判定する方法は、温
度瞬時値が下限値異常となった個数をカウントし、一定
個数以上の時、完了とする。ただし、この個数は連続し
ていなければならない。今回温度測定が完了とならない
場合、周期起動のタイマをオペレーティングシステムに
セットする。尚、タイマセット済であれば、タイマはセ
ットしない(207)。温度測定完了となった時、各種
処理プログラムに実行権を渡す(298)。
次に、第3図によシ、従来の温度サンプリング方式によ
り得られる温度値と、本発明である温度サンプリング方
式によ)得られる温度値全比較する。尚、偏差値が最小
となった点より遡るNAを使用して平均値を求めるN点
は装置毎の定数となる。
従来方式によると、温度瞬時値T0からサンプリングを
周期時間Nで開始し、上下限異常判定を行ない正常な範
囲内である温度瞬時値T、からT、アまでが採用される
。この採用された温度瞬時値より平衡点を求めるため、
温度瞬時値T、とT3の傾きaI 、次に、T3とT4
 の傾きa2というように、各温度瞬時値間の傾きを求
める(この傾きは温度瞬時値間を直線で結んだ時の一次
方程式より求める)。求められた傾きが、ある一定値(
以下変化率一定値と記す)以下であるものがM個連続し
た時、平衡点としCM+1)個の温度瞬時値の平均値が
温度値とされていた。このことから、変化率一定値と連
続する個数M′t−変更することにより、平衡点とする
位置が異なり、様々な温度値となる。一般に、この二糧
類の値は、経験的数値により決定し、かつ、温度測定装
置毎に調整しなければ正確な温度値が得られなかった。
そこで、本発明の温度サンプリング方式によれば、平衡
点を検出する場合、移動平均法によシ平均値を求め、そ
の平均値から瞬時値の傾向を見るために偏差値を求める
。この偏差値よシ温度瞬時値のバラツキが最少となる部
分を見つけ、その部分を平衡としている。従って、温度
瞬時値が鰻も安定している局間の温度値が得られる。
本発明の実施例によれば、温度測定装置毎の調整をしな
くても正確な温度値が得られる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、温度瞬時値の安定した期間が、二カ所
以上ある場合でも、最も安定した平衡点を見つけられる
ため、精度の高い温度値が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の全体構成を示すブロック図、第2図は
温度スキャニング処理のフローチャート、第3図は温度
瞬時値の波形図である。 110・・・各種表示盤、111・・・CRTディスプ
レ千1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、温度測定装置からの信号および瞬時値を、計算機入
    力用に変換するプロセス入出力装置を備え、温度測定開
    始信号、温度瞬時値が個々に把握出来る変換装置を設け
    た計算機システムにおいて、短時間で正確な温度値を求
    め、各種出力装置に出力可能なように、前記温度測定装
    置および測定時間毎にファイリングする手段を設けたこ
    とを特徴とする温度サンプリング装置。
JP24069184A 1984-11-16 1984-11-16 温度サンプリング装置 Pending JPS61120025A (ja)

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JP24069184A JPS61120025A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 温度サンプリング装置

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JP24069184A JPS61120025A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 温度サンプリング装置

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JPS61120025A true JPS61120025A (ja) 1986-06-07

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JP24069184A Pending JPS61120025A (ja) 1984-11-16 1984-11-16 温度サンプリング装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016021398A1 (ja) * 2014-08-05 2016-02-11 横浜ゴム株式会社 ゴム組成物の混合方法および混合システム

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016021398A1 (ja) * 2014-08-05 2016-02-11 横浜ゴム株式会社 ゴム組成物の混合方法および混合システム
JP2016037039A (ja) * 2014-08-05 2016-03-22 横浜ゴム株式会社 ゴム組成物の混合方法および混合システム
TWI577522B (zh) * 2014-08-05 2017-04-11 橫濱橡膠股份有限公司 橡膠組成物之混合方法及混合系統
CN106573396A (zh) * 2014-08-05 2017-04-19 横滨橡胶株式会社 橡胶组合物的混合方法和混合系统
US20170225132A1 (en) * 2014-08-05 2017-08-10 The Yokohama Rubber Co., Ltd. Method of Mixing Rubber Composition and System for Mixing Rubber Composition
US10618017B2 (en) 2014-08-05 2020-04-14 The Yokohama Rubber Co., Ltd. Method of mixing rubber composition and system for mixing rubber composition

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