JPS61103320A - Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 - Google Patents
Ａ／ｄコンバ−タの試験方法Info
- Publication number
- JPS61103320A JPS61103320A JP22631484A JP22631484A JPS61103320A JP S61103320 A JPS61103320 A JP S61103320A JP 22631484 A JP22631484 A JP 22631484A JP 22631484 A JP22631484 A JP 22631484A JP S61103320 A JPS61103320 A JP S61103320A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- converter
- fclk
- data
- sinusoidal wave
- sampling clock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、Ａ／Ｄコ／バータの試験方法に係り、特に、
変換速度の高いＡ／Ｄコンバータの動特性を有効に試験
することができる試験方法に関するものである。
変換速度の高いＡ／Ｄコンバータの動特性を有効に試験
することができる試験方法に関するものである。
従来の技術
従来１７）Ａ／Ｄコンバータの動特性試験方法は、第２
図に示すように、正弦波信号発生器１より正弦波を、標
本化クロック発生器２より標本化クロックを、それぞれ
、被試験Ａ／Ｄコンバータ３のアナログ入力端子３１．
標本化クロック入力端子３２に人力し、ディジタル出力
端子３３より出力されたディジタル出力コードをバッフ
ァメモリ４に格納する。得られたデータ列からコンピュ
ータ６によってこのデータに最も近い理想正弦波を算出
し、この理想正弦波と実際に変換されたデータとの誤差
から動特性を評価していた。
図に示すように、正弦波信号発生器１より正弦波を、標
本化クロック発生器２より標本化クロックを、それぞれ
、被試験Ａ／Ｄコンバータ３のアナログ入力端子３１．
標本化クロック入力端子３２に人力し、ディジタル出力
端子３３より出力されたディジタル出力コードをバッフ
ァメモリ４に格納する。得られたデータ列からコンピュ
ータ６によってこのデータに最も近い理想正弦波を算出
し、この理想正弦波と実際に変換されたデータとの誤差
から動特性を評価していた。
発明が解決しようとする問題点
このような試験方法で、計算により得られた理想正弦波
と実際に変換されたデータとの誤差から、Ａ／Ｄコンバ
ータの変換精度を評価することはできるが、これらのデ
ータ列には秩序がなく何の傾向もつかむことができない
。また、変換データをリアルタイムに格納するためには
、標本化クロック周波数と同じまたは、それ以上のアク
セススピードを持つバッフ１メモリが必要となる。
と実際に変換されたデータとの誤差から、Ａ／Ｄコンバ
ータの変換精度を評価することはできるが、これらのデ
ータ列には秩序がなく何の傾向もつかむことができない
。また、変換データをリアルタイムに格納するためには
、標本化クロック周波数と同じまたは、それ以上のアク
セススピードを持つバッフ１メモリが必要となる。
本発明は、得られたデータ列からＡ／Ｄコンバータの変
換特性の傾向が読み取れ、かつ、回路構成に低速バック
アメモリを使用しうる試験方法を提供するものである。
換特性の傾向が読み取れ、かつ、回路構成に低速バック
アメモリを使用しうる試験方法を提供するものである。
問題点を解決するための手段
本発明は、被試験用Ａ／Ｄコンバータに対して、Ｎ：１
，２．３・・・・・・の任意の整数、ｎ：必要サンプル
数、なる関係を持たせ、Ａ／Ｄコンバータから得られた
出力コードをＮ個置きに抜き取ってサンプルデータ列と
する過程をそなえたものである。
，２．３・・・・・・の任意の整数、ｎ：必要サンプル
数、なる関係を持たせ、Ａ／Ｄコンバータから得られた
出力コードをＮ個置きに抜き取ってサンプルデータ列と
する過程をそなえたものである。
作 用
情 ら１・“個のデー！ｃｊ周期分力゛構成
される・このｎＷＡのデータ列からビート周波数に最も
近い理想正弦波１ＤＦＴ（ディスクリートフーリエ変換
）により算出し、この理想正弦波と実際のデータとの差
値か、ら、Ａ／Ｄコンバータの動特性を評価する。すな
わち、このようにして得られたデータ列は、入力正弦波
−周期分をＡ／Ｄコンバータでｎ等分してサンプリング
したに等しいものが得られ従来の評価はもちろん、横軸
にデータ列、縦軸に出力コード及び変換誤差を取ったグ
ラフを描くとＡ／Ｄ変換特性の傾向を簡単に把握するこ
とかできる。
される・このｎＷＡのデータ列からビート周波数に最も
近い理想正弦波１ＤＦＴ（ディスクリートフーリエ変換
）により算出し、この理想正弦波と実際のデータとの差
値か、ら、Ａ／Ｄコンバータの動特性を評価する。すな
わち、このようにして得られたデータ列は、入力正弦波
−周期分をＡ／Ｄコンバータでｎ等分してサンプリング
したに等しいものが得られ従来の評価はもちろん、横軸
にデータ列、縦軸に出力コード及び変換誤差を取ったグ
ラフを描くとＡ／Ｄ変換特性の傾向を簡単に把握するこ
とかできる。
実施例
第１図に本発明の一実施例を示す。第１図において、１
は正弦波信号発生器、２は標本化クロック発生器である
。３は被試験ＩＣであるＡ／Ｄコンバータであり、アナ
ログ信号入力端子３１、標本化クロック入力端子３２を
有し、変−された出力コードは、ディジタル出力端子３
３より出力される。得られた出力コードは、４のバフフ
ッメモリに格納され、５のコンピュータにより演算処理
ｌされる。正弦波信号発生器１の周波数ｆ
５と標本３・・・・・・から選ばれる任意の整数、ｎ：
必要サンプル数）なる関係を持たせ、得られた出力コー
ドをＮ個置きに抜き取ったデータ列は、ｎ個でビートＮ
の値は、Ａ／Ｄコンバータの性能によりｆＳとｆＣＬＫ
−の関係から最適値を選択し、ｎの値は、Ａ／Ｄコンバ
ータの分解能に合わせてｍビットの分解能であれば、２
ＷＬ×２以上に選ぶとよい。とりわけ、ｎを２ｒ′Ｌ×
π以上選ぶとｆＳとｆｃＬＫの位相がどのような条件で
も全ての出力コードを発生し正確な評価ができる。また
、バッファメモリの前段にＮ個置きの出力データビック
アップ回路を設けるとメモリのアクセススピードを−に
落とした低速バッフ１メモリを使用することができる。
は正弦波信号発生器、２は標本化クロック発生器である
。３は被試験ＩＣであるＡ／Ｄコンバータであり、アナ
ログ信号入力端子３１、標本化クロック入力端子３２を
有し、変−された出力コードは、ディジタル出力端子３
３より出力される。得られた出力コードは、４のバフフ
ッメモリに格納され、５のコンピュータにより演算処理
ｌされる。正弦波信号発生器１の周波数ｆ
５と標本３・・・・・・から選ばれる任意の整数、ｎ：
必要サンプル数）なる関係を持たせ、得られた出力コー
ドをＮ個置きに抜き取ったデータ列は、ｎ個でビートＮ
の値は、Ａ／Ｄコンバータの性能によりｆＳとｆＣＬＫ
−の関係から最適値を選択し、ｎの値は、Ａ／Ｄコンバ
ータの分解能に合わせてｍビットの分解能であれば、２
ＷＬ×２以上に選ぶとよい。とりわけ、ｎを２ｒ′Ｌ×
π以上選ぶとｆＳとｆｃＬＫの位相がどのような条件で
も全ての出力コードを発生し正確な評価ができる。また
、バッファメモリの前段にＮ個置きの出力データビック
アップ回路を設けるとメモリのアクセススピードを−に
落とした低速バッフ１メモリを使用することができる。
発明の効果
本発明によれば、Ａ／ＤコンバータのＡＣ信号入力時の
変換特性の傾向を簡単に評価することが１でき、実用的
にきわめて有用である。
変換特性の傾向を簡単に評価することが１でき、実用的
にきわめて有用である。
ｆ！４１図は、本発明の一実施例におけるＡ／Ｄコンバ
ータの動特性試験個置のブロック図、第２図は、従来の
試験個置のブロック図である。 １・・・・・・正弦波信号発生器、２・・印・標本化ク
ロック発生器、３・・・・・・被試験Ａ／Ｄコンバータ
、３１・・・・・・アナログ信号入力端子、３２・・・
・・・標本化クロック入力端子、３３・・・・・・ディ
ジタル信号出力端子、４・・・・・・バッファメモリ、
５・・・・・・コンピュータ。
ータの動特性試験個置のブロック図、第２図は、従来の
試験個置のブロック図である。 １・・・・・・正弦波信号発生器、２・・印・標本化ク
ロック発生器、３・・・・・・被試験Ａ／Ｄコンバータ
、３１・・・・・・アナログ信号入力端子、３２・・・
・・・標本化クロック入力端子、３３・・・・・・ディ
ジタル信号出力端子、４・・・・・・バッファメモリ、
５・・・・・・コンピュータ。
Claims (1)
- 被試験用Ａ／Ｄコンバータに対して、正弦波周波数ｆ＿
Ｓと標本化クロック周波数ｆ＿Ｃ＿Ｌ＿Ｋとの間がｆ＿
Ｓ＝（ｆ＿Ｃ＿Ｌ＿Ｋ）／Ｎ（１＋１／ｎ）ただし、Ｎ
：任意の整数、ｎ：必要サンプル数、なる関係の各入力
を与え、同Ａ／Ｄコンバータの出力コードをＮ個置きに
抜き取ってデータ列に変換する過程をそなえたＡ／Ｄコ
ンバータの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22631484A JPS61103320A (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 | Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22631484A JPS61103320A (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 | Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61103320A true JPS61103320A (ja) | 1986-05-21 |
Family
ID=16843256
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22631484A Pending JPS61103320A (ja) | 1984-10-26 | 1984-10-26 | Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61103320A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62198224A (ja) * | 1986-02-26 | 1987-09-01 | Yokogawa Electric Corp | Ｄ／ａ変換器評価装置 |
| JPS6331225A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Ａｄコンバ−タのダイナミツク特性測定方法 |
| JPS63135021A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-07 | Yokogawa Electric Corp | Ａ／ｄ変換器試験装置 |
| JPS63281523A (ja) * | 1987-05-14 | 1988-11-18 | Yokogawa Electric Corp | Ａ／ｄ変換器試験装置 |
| JPS6416122A (en) * | 1987-07-10 | 1989-01-19 | Yokogawa Electric Corp | A/d converter testing instrument |
| JP2021044690A (ja) * | 2019-09-11 | 2021-03-18 | ローム株式会社 | Ａ／ｄコンバータの試験装置および試験方法、半導体装置 |
-
1984
- 1984-10-26 JP JP22631484A patent/JPS61103320A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62198224A (ja) * | 1986-02-26 | 1987-09-01 | Yokogawa Electric Corp | Ｄ／ａ変換器評価装置 |
| JPH0470809B2 (ja) * | 1986-02-26 | 1992-11-12 | Yokogawa Electric Corp | |
| JPS6331225A (ja) * | 1986-07-24 | 1988-02-09 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Ａｄコンバ−タのダイナミツク特性測定方法 |
| JPS63135021A (ja) * | 1986-11-26 | 1988-06-07 | Yokogawa Electric Corp | Ａ／ｄ変換器試験装置 |
| JPH0436608B2 (ja) * | 1986-11-26 | 1992-06-16 | Yokogawa Electric Corp | |
| JPS63281523A (ja) * | 1987-05-14 | 1988-11-18 | Yokogawa Electric Corp | Ａ／ｄ変換器試験装置 |
| JPS6416122A (en) * | 1987-07-10 | 1989-01-19 | Yokogawa Electric Corp | A/d converter testing instrument |
| JP2021044690A (ja) * | 2019-09-11 | 2021-03-18 | ローム株式会社 | Ａ／ｄコンバータの試験装置および試験方法、半導体装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3745962B2 (ja) | インターリーブａｄ変換方式波形ディジタイザ装置、及び試験装置 | |
| JPH0447330B2 (ja) | ||
| US4654584A (en) | High-speed precision equivalent time sampling A/D converter and method | |
| AU622552B2 (en) | A method and an arrangement for accurated digital determination of the time or phase position of a signal pulse train | |
| US4053839A (en) | Method and apparatus for the frequency multiplication of composite waves | |
| JPS61103320A (ja) | Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 | |
| US4667296A (en) | Testing the transfer function linearity of analogue input circuits | |
| JPH04230867A (ja) | 自己整列サンプリング装置 | |
| JPS61186867A (ja) | Ｄａｃ測定回路 | |
| JPS5767327A (en) | Error testing device | |
| JPS62136129A (ja) | Ａ／ｄコンバ−タの試験方法 | |
| JP3167472B2 (ja) | アナログ−ディジタルコンバータのｓｎ比測定方法 | |
| McLeod | Dynamic testing of analogue to digital converters | |
| JPS6272226A (ja) | Ａ／ｄ変換器試験方式 | |
| JP2000284008A (ja) | 周波数測定方法及び周波数測定装置 | |
| JPH0894681A (ja) | 周波数スペクトル分析装置 | |
| RU2099720C1 (ru) | Цифровой анализатор спектра | |
| JPH0630445B2 (ja) | Ｄ／ａ変換器の試験方法 | |
| JPH0125335Y2 (ja) | ||
| KR100188003B1 (ko) | 집적회로 검사방법 및 장치 | |
| JPS6251317A (ja) | Ａ／ｄ変換装置 | |
| JPH0798336A (ja) | サンプリング式測定装置 | |
| JPH0340874B2 (ja) | ||
| JP2944307B2 (ja) | Ａ／ｄコンバータの非直線性の検査方法 | |
| JPS63209224A (ja) | Ａ／ｄ変換器試験方法 |