JPS6097204A - 光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法 - Google Patents
光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法Info
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- JPS6097204A JPS6097204A JP20548583A JP20548583A JPS6097204A JP S6097204 A JPS6097204 A JP S6097204A JP 20548583 A JP20548583 A JP 20548583A JP 20548583 A JP20548583 A JP 20548583A JP S6097204 A JPS6097204 A JP S6097204A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光反射型入力レベル相対出力方式を使用した
被検査体の数量のカウント出力方法に関するものであり
、重ね合せ１＝多数の被検査体を正確に且つ短時間の内
にカウントし得るものであるが、用途はカウント用に限
定されるものではなく、例えば被検査体の表面の凹凸状
態を検査する等多目的に利用されるものである。
被検査体の数量のカウント出力方法に関するものであり
、重ね合せ１＝多数の被検査体を正確に且つ短時間の内
にカウントし得るものであるが、用途はカウント用に限
定されるものではなく、例えば被検査体の表面の凹凸状
態を検査する等多目的に利用されるものである。
以下、本発明を図面に従って説明Ｍる。
図中（１〉はレーザー光の様な光力の強い光を照射し得
る投光器で、後配りる被検査体の」ニ方に設置される。
る投光器で、後配りる被検査体の」ニ方に設置される。
（２）はランダムに並設した多数の被検査体であり、任
意方法により一方向に移動させる過程に於てカウントさ
れるものである。
意方法により一方向に移動させる過程に於てカウントさ
れるものである。
（３）は投光器（１）から被検査体（２）に照射され反
射する反射散乱光を受光す、るフォトダイオード等の受
光器、（４）はノイズフィルター回路（５）を介して前
記受光器〈３）に電気的に結線した増幅回路、（６）は
増幅回路（４）に接続したＡ 、／ Ｄ変換回路であり
、上記投光器〈１）から被検査体（２）に照射され反射
する反射散乱光は受光器（３）並びにノイズフィルター
回路（５）及び増幅回路（４）を介して図面第３図の（
ｂ）に示す様な電気的アナログ波形としてこのＡ／Ｄ変
挽回路（６）に入力する。
射する反射散乱光を受光す、るフォトダイオード等の受
光器、（４）はノイズフィルター回路（５）を介して前
記受光器〈３）に電気的に結線した増幅回路、（６）は
増幅回路（４）に接続したＡ 、／ Ｄ変換回路であり
、上記投光器〈１）から被検査体（２）に照射され反射
する反射散乱光は受光器（３）並びにノイズフィルター
回路（５）及び増幅回路（４）を介して図面第３図の（
ｂ）に示す様な電気的アナログ波形としてこのＡ／Ｄ変
挽回路（６）に入力する。
（７）はマイクロプロセッサ−（８）とＲＯＭ（９）
とＲＡＭ’（１０）とから構成されたマイクロコンピュ
ータ−で、アドレスバス（１１）とデータバス（１２）
とリード信号線（１３）とライ１−信号線（１４）によ
り前記Ａ／Ｄ変換回路〈６）に接続してあり、出力調整
値設定用ＤＩＲスイッチ（１５）を接続した入力ポート
〈１６〉から出力調整値を読み込んだり或いはＡ／Ｄ変
換回路（６）との間で入出力信号の授受を行なったりし
ながう演算処理し、処理したデータを出力ポート（１７
）に出力覆るものであるが、以下、Ａ／Ｄ変換回路（６
）に入力したーＬ記のアナログ波形がカウント信号とし
て出力ポート（１７）に出力される手順を図面第２図に
示すフローチャートに従って説明する。
とＲＡＭ’（１０）とから構成されたマイクロコンピュ
ータ−で、アドレスバス（１１）とデータバス（１２）
とリード信号線（１３）とライ１−信号線（１４）によ
り前記Ａ／Ｄ変換回路〈６）に接続してあり、出力調整
値設定用ＤＩＲスイッチ（１５）を接続した入力ポート
〈１６〉から出力調整値を読み込んだり或いはＡ／Ｄ変
換回路（６）との間で入出力信号の授受を行なったりし
ながう演算処理し、処理したデータを出力ポート（１７
）に出力覆るものであるが、以下、Ａ／Ｄ変換回路（６
）に入力したーＬ記のアナログ波形がカウント信号とし
て出力ポート（１７）に出力される手順を図面第２図に
示すフローチャートに従って説明する。
先ずステップ■で初期値を設定した後、ステップ■で予
め設定した図面第４図中に示す出力調！ｍ１ｉｌｌＣを
読み込む。次にスラップ■で△／Ｄ変換のスタートが指
令され、ステップ■でＡ／Ｄデータを読み込む。ステッ
プ■でこの読み込まれた△／Ｄ変換取入値ＡとＡ／Ｄ変
換過去値Ｂとを比較し前者が大きい場合入力電圧は次第
に増加し始めたものと判断される。つまり図面第４図に
示ず１に該当し、谷の最低部付近であると判断され、Ｙ
ＥＳの条件が成立しステップ■に進む。そしてステップ
■でＯＮ出力値演７フラグＤがＯｒある場合、すなわち
未だＯＮ出力値が計算されていない場合にはＹＥＳの条
件が成立しステップ■に進む。ステップ■でＡ／Ｄ変換
取入値Ａに出力調整値Ｃをｂｌえた値をＯＮ出力値Ｅに
代入し、ステップ■で外部出力データが１になるまで再
び演算されないためＯＮ出力値演算フフラグにフラグ１
を立てる。
め設定した図面第４図中に示す出力調！ｍ１ｉｌｌＣを
読み込む。次にスラップ■で△／Ｄ変換のスタートが指
令され、ステップ■でＡ／Ｄデータを読み込む。ステッ
プ■でこの読み込まれた△／Ｄ変換取入値ＡとＡ／Ｄ変
換過去値Ｂとを比較し前者が大きい場合入力電圧は次第
に増加し始めたものと判断される。つまり図面第４図に
示ず１に該当し、谷の最低部付近であると判断され、Ｙ
ＥＳの条件が成立しステップ■に進む。そしてステップ
■でＯＮ出力値演７フラグＤがＯｒある場合、すなわち
未だＯＮ出力値が計算されていない場合にはＹＥＳの条
件が成立しステップ■に進む。ステップ■でＡ／Ｄ変換
取入値Ａに出力調整値Ｃをｂｌえた値をＯＮ出力値Ｅに
代入し、ステップ■で外部出力データが１になるまで再
び演算されないためＯＮ出力値演算フフラグにフラグ１
を立てる。
ステップ■でＡ／Ｄ変換取入値ＡとＡ１０変換過去値８
とを比較し、前者が小さい場合には入力電圧は次第に減
少し始めたものと判断される。つまり、図面第４図に示
す３に該当し、山の最頂部付近であると判断され、ＹＥ
Ｓの条件が成立しステップ■に進む。ステップ■でＯＦ
Ｆ出力値演算フラグＥがＯである場合にはＹＥＳの条件
が成立しステップ０に進む。ステップ０でＡ／Ｄ変換取
入値△から出力調整値Ｃを差引いた値をＯＦＦＦＦ出力
値式入しステップＯで外部出力データがＯになるまで再
び演算させない為ＯＦＦ出力値演算フラグＥにフラグ１
を立てる。ステップ◎でＡ／Ｉ）変換取入値札とＯＮ出
力値Ｆとを比較し前者が大きい場合には被検査体（２）
の形状が立上がった形状であると判断しく図面第４図中
の２に該当）ステップＯに進む。ステップ０で外部出力
データＩ」を１にし、ステップＯでＯＮ出力値演算フラ
グＤｅＯにし、やがて入力電圧が下がり始め、外部出力
データがＯになり再び入力電圧が上り始めても出力調整
値以−１−上ら”Ｊｔ ＩＪれば外部出力データが１に
ならぬようヒステリアス特性を持たす為にＯＮ出力１ｉ
ｆｊ ＦをΔ／１）変換取入１１１１△に入れ変える。
とを比較し、前者が小さい場合には入力電圧は次第に減
少し始めたものと判断される。つまり、図面第４図に示
す３に該当し、山の最頂部付近であると判断され、ＹＥ
Ｓの条件が成立しステップ■に進む。ステップ■でＯＦ
Ｆ出力値演算フラグＥがＯである場合にはＹＥＳの条件
が成立しステップ０に進む。ステップ０でＡ／Ｄ変換取
入値△から出力調整値Ｃを差引いた値をＯＦＦＦＦ出力
値式入しステップＯで外部出力データがＯになるまで再
び演算させない為ＯＦＦ出力値演算フラグＥにフラグ１
を立てる。ステップ◎でＡ／Ｉ）変換取入値札とＯＮ出
力値Ｆとを比較し前者が大きい場合には被検査体（２）
の形状が立上がった形状であると判断しく図面第４図中
の２に該当）ステップＯに進む。ステップ０で外部出力
データＩ」を１にし、ステップＯでＯＮ出力値演算フラ
グＤｅＯにし、やがて入力電圧が下がり始め、外部出力
データがＯになり再び入力電圧が上り始めても出力調整
値以−１−上ら”Ｊｔ ＩＪれば外部出力データが１に
ならぬようヒステリアス特性を持たす為にＯＮ出力１ｉ
ｆｊ ＦをΔ／１）変換取入１１１１△に入れ変える。
ステップＯでＡ／Ｄ変換取入値ΔとＯＦＦＦＦ出力値式
比較し前者が小さい場合には被検査体（２）の形状が立
下がった形状であると判断ひきく第４図中の４に該当）
ステップ◎に進む。ステップ０で外部出力データを０に
し、ステップ［相］でＯＦＦ出力値演篩７ラグＥをＯに
し、入力電圧に出力調整値以内の変ＦＪＪがあっても外
部出力データに変動を与えイＴいようヒステリアス特性
を持たせる為にＯＦＦＦＦ出力値式／′Ｄ変換取変換取
入値札替える。ステップ◎で△／Ｄ変換取入Ｗｉ Ａを
過去値としてＡ／Ｄ変換過去値已に代入し、ステップＯ
で外部出力データＨの内容を出力ポート（１７）に出力
しステップは■のループの始めに戻る。従って図面第３
図に示寸様にランダムに並設した被検査体（第３図の（
ａ））の形状と近似する形に再現された電気的アナログ
波形（第３図の（ｂ））に振幅のくずれ（Ｘ）があった
としても或いは大小の変化の大ぎい波形であったとして
もこのアナログ波形は図面第３図の（Ｃ）に示す様に被
検査体の数量に相当づ−る数のカウントパルスとして出
力ポート（１７）から出力されるものである。尚、マイ
クロコンピュータ−（７）に変えてＩＣなどシシック を使用したハード的ロナ÷回路を使用し得ることは言う
までもない。
比較し前者が小さい場合には被検査体（２）の形状が立
下がった形状であると判断ひきく第４図中の４に該当）
ステップ◎に進む。ステップ０で外部出力データを０に
し、ステップ［相］でＯＦＦ出力値演篩７ラグＥをＯに
し、入力電圧に出力調整値以内の変ＦＪＪがあっても外
部出力データに変動を与えイＴいようヒステリアス特性
を持たせる為にＯＦＦＦＦ出力値式／′Ｄ変換取変換取
入値札替える。ステップ◎で△／Ｄ変換取入Ｗｉ Ａを
過去値としてＡ／Ｄ変換過去値已に代入し、ステップＯ
で外部出力データＨの内容を出力ポート（１７）に出力
しステップは■のループの始めに戻る。従って図面第３
図に示寸様にランダムに並設した被検査体（第３図の（
ａ））の形状と近似する形に再現された電気的アナログ
波形（第３図の（ｂ））に振幅のくずれ（Ｘ）があった
としても或いは大小の変化の大ぎい波形であったとして
もこのアナログ波形は図面第３図の（Ｃ）に示す様に被
検査体の数量に相当づ−る数のカウントパルスとして出
力ポート（１７）から出力されるものである。尚、マイ
クロコンピュータ−（７）に変えてＩＣなどシシック を使用したハード的ロナ÷回路を使用し得ることは言う
までもない。
従来の方法は受光器とか増幅器を使用することによって
得られたアナログ波形を予め設定した一定の絶対レベル
との比較によりデジタル信号を出力出来る様にして被検
査体のカウントをしたものであるから、波形の感度調整
を如何に行なったとし、でも絶対レベルから外れてしま
う上下の波形はデジタル信号として得ることが出来ない
為、正確な被検査体の数量のカウントが出来ない欠点が
あった。然るに本発明は上記の様に、被検査体に照射し
て反射する反射散乱光の減衰及び外乱光等による振幅の
変動等の影響を少くする様に、レーザー光の様な光力の
強い光を使用し、この光を一方向に移動する被検査体に
照射し、その反射散乱光をフォトダイオード等の受光器
で受光して被検査体の外形形状をアナログ電圧振幅に再
現し、そのアナログ電圧をノイズフィルター回路及び増
幅回路等により波形整形してＡ／Ｄ変換回路に入力し、
次にこのＡ／Ｄ変換回路により入力アナログ電圧を逐次
デジタル量に変換し、これをマイクロコンピュータ−内
に数値データとして取り込み又、被検査体の形状に対応
した適切な数値であり且つヒステリアス特性の幅である
出力調整値を」１記コンピューターの外部に設けたＤＩ
Ｒスイッチ等のデータ設定用のスイッチにより入力ボー
トを介して該マイクロコンピュータ−内に取り込んでこ
れ等をこのマイクロコンピュータ−内に書き込まれてい
るプログラムによって高速演算処理し、入力波形の振幅
形状が被検査体と近似しているかを判断することにより
相対的に被検査体の入力波形を検査すると共にそれに伴
った数量のカウント出力を正確に行なう様にしたもので
あるから、受光器等によって得られたアナログ波形が振
動とかノイズ等の影響により振幅のくずれのあるもので
あったり或いは波の大小の変化の大きい波形であったと
しても、言い変えれば多数の被検査体が互いに不揃いの
ものであったり高さが受光器で受光し得る範囲内で異な
っていたとしても正確にその数はをカウントＪ−ること
が出来る効果を発揮するものである。 □
得られたアナログ波形を予め設定した一定の絶対レベル
との比較によりデジタル信号を出力出来る様にして被検
査体のカウントをしたものであるから、波形の感度調整
を如何に行なったとし、でも絶対レベルから外れてしま
う上下の波形はデジタル信号として得ることが出来ない
為、正確な被検査体の数量のカウントが出来ない欠点が
あった。然るに本発明は上記の様に、被検査体に照射し
て反射する反射散乱光の減衰及び外乱光等による振幅の
変動等の影響を少くする様に、レーザー光の様な光力の
強い光を使用し、この光を一方向に移動する被検査体に
照射し、その反射散乱光をフォトダイオード等の受光器
で受光して被検査体の外形形状をアナログ電圧振幅に再
現し、そのアナログ電圧をノイズフィルター回路及び増
幅回路等により波形整形してＡ／Ｄ変換回路に入力し、
次にこのＡ／Ｄ変換回路により入力アナログ電圧を逐次
デジタル量に変換し、これをマイクロコンピュータ−内
に数値データとして取り込み又、被検査体の形状に対応
した適切な数値であり且つヒステリアス特性の幅である
出力調整値を」１記コンピューターの外部に設けたＤＩ
Ｒスイッチ等のデータ設定用のスイッチにより入力ボー
トを介して該マイクロコンピュータ−内に取り込んでこ
れ等をこのマイクロコンピュータ−内に書き込まれてい
るプログラムによって高速演算処理し、入力波形の振幅
形状が被検査体と近似しているかを判断することにより
相対的に被検査体の入力波形を検査すると共にそれに伴
った数量のカウント出力を正確に行なう様にしたもので
あるから、受光器等によって得られたアナログ波形が振
動とかノイズ等の影響により振幅のくずれのあるもので
あったり或いは波の大小の変化の大きい波形であったと
しても、言い変えれば多数の被検査体が互いに不揃いの
ものであったり高さが受光器で受光し得る範囲内で異な
っていたとしても正確にその数はをカウントＪ−ること
が出来る効果を発揮するものである。 □
第１図は本発明に係る方法を示すブロックダイレグラム
。 第２図はマイクロコンビコーターのソフトウェアを示す
フローチャート。 第３図は被検査体とアナログ波形と出力信号との相関関
係を示すグラフ。 第４図はアナログ波形と出力信号との相関関係を示すグ
ラフである。 図 中 （１）は投光器。 （２）は被検査体。 （３）は受光器。 〈４）は増幅回路。 （５）はノイズフィルター回路。 （６）はＡ／Ｄ変換回路。 （７）はマイクロコンビコーター。 （１５）は出力調整値設定用ＦＬＩＰスイッチ。 （１６）は入力ボート。 （１７）は出力ポート。
。 第２図はマイクロコンビコーターのソフトウェアを示す
フローチャート。 第３図は被検査体とアナログ波形と出力信号との相関関
係を示すグラフ。 第４図はアナログ波形と出力信号との相関関係を示すグ
ラフである。 図 中 （１）は投光器。 （２）は被検査体。 （３）は受光器。 〈４）は増幅回路。 （５）はノイズフィルター回路。 （６）はＡ／Ｄ変換回路。 （７）はマイクロコンビコーター。 （１５）は出力調整値設定用ＦＬＩＰスイッチ。 （１６）は入力ボート。 （１７）は出力ポート。
Claims (1)
- レーザー光の様な光力の強い光を一方向に移動する被検
査体に照射し、その反射散乱光をフォトダイオード等の
受光器で受光して被検査体の外形形状をアナログ電圧振
幅に再現し、そのアナログ電圧をノイズフィルター回路
及び増幅回路等により波形整形してＡ／Ｄ変ｍ回路に入
力し、次にこのＡ／Ｄ変換回路により入力アナログ電圧
を逐次デジタル量に変換しこれをマイクロコンピュータ
−内に数値データとして取り込み又、被検査体の形状に
対応した適切な数値であり且つヒステリアス特性の幅で
もある出力調整値を上記コンピューターの外部に設けた
ＤＩＲスイッチ等のデータ設定用のスイッチにより入カ
ポ−１−を介して該マイクロコンピュータ−内に取り込
んで、これ等をこのマイクロコンビコーター内に書き込
まれているプ［］グラムによって演算処即し、入力波形
の振幅形状が被検査体と近似しているか７１１断するこ
とにより相対的に被検査体の入力波形を検査づると共に
それに伴った数量のカウント出力を正確に行なう光反射
型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量の
カウント出力方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20548583A JPS6097204A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20548583A JPS6097204A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6097204A true JPS6097204A (ja) | 1985-05-31 |
| JPH0252201B2 JPH0252201B2 (ja) | 1990-11-09 |
Family
ID=16507630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20548583A Granted JPS6097204A (ja) | 1983-11-01 | 1983-11-01 | 光反射型入力レベル相対出力方式を使用した被検査体の数量のカウント出力方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6097204A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4750140A (en) * | 1984-11-30 | 1988-06-07 | Kawasaki Steel Corporation | Method of and apparatus for determining glossiness of surface of a body |
| JPH01199290A (ja) * | 1987-06-12 | 1989-08-10 | Spartanics Ltd | ピッチ整合検出および計数装置 |
| JPH02136989A (ja) * | 1988-11-17 | 1990-05-25 | Daipoole:Kk | 紙測定装置 |
| JPH02287785A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-11-27 | Nippon Piston Ring Co Ltd | リング状物品の計測装置 |
| KR101405267B1 (ko) * | 2012-10-30 | 2014-06-13 | (주)아이비티 | 레이저 용접 모니터링 시스템 및 모니터링 방법 |
-
1983
- 1983-11-01 JP JP20548583A patent/JPS6097204A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4750140A (en) * | 1984-11-30 | 1988-06-07 | Kawasaki Steel Corporation | Method of and apparatus for determining glossiness of surface of a body |
| JPH01199290A (ja) * | 1987-06-12 | 1989-08-10 | Spartanics Ltd | ピッチ整合検出および計数装置 |
| JPH02136989A (ja) * | 1988-11-17 | 1990-05-25 | Daipoole:Kk | 紙測定装置 |
| JPH0576072B2 (ja) * | 1988-11-17 | 1993-10-21 | Daihooru Kk | |
| JPH02287785A (ja) * | 1989-04-28 | 1990-11-27 | Nippon Piston Ring Co Ltd | リング状物品の計測装置 |
| KR101405267B1 (ko) * | 2012-10-30 | 2014-06-13 | (주)아이비티 | 레이저 용접 모니터링 시스템 및 모니터링 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0252201B2 (ja) | 1990-11-09 |
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