JPS6093960A - 回転式電機子抵抗測定装置 - Google Patents
回転式電機子抵抗測定装置Info
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- JPS6093960A JPS6093960A JP58203012A JP20301283A JPS6093960A JP S6093960 A JPS6093960 A JP S6093960A JP 58203012 A JP58203012 A JP 58203012A JP 20301283 A JP20301283 A JP 20301283A JP S6093960 A JPS6093960 A JP S6093960A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- armature
- commutator
- optical sensor
- voltage
- commutator copper
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- Pending
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は小型整流子電動機の電機子巻線抵抗を、その製
造工程において全数自動検査するだめの電機子抵抗測定
装置に関するものである。
造工程において全数自動検査するだめの電機子抵抗測定
装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来の静子式電機子抵抗測定装置は第1図に、その測定
プローブの構成を示すように、固定した電機子1の各整
流子銅片2にそれぞれ電流端子(A−F 、A/−F/
)と電圧端子(a−f、a’〜f/)とからなる2端子
接触子3を、確実に整流子銅片上に接触させるだめの位
置決め装置が必3ベー:! 要となり、整流子銅片数と同数の2端子接触子を装着し
た測定プローブの製作−1−の困離さ、さらに整流子銅
片数の異なる電機子ごとに測定プローブを準備し、交換
する必要性など保守上の繁雑さ等に問題があった。
プローブの構成を示すように、固定した電機子1の各整
流子銅片2にそれぞれ電流端子(A−F 、A/−F/
)と電圧端子(a−f、a’〜f/)とからなる2端子
接触子3を、確実に整流子銅片上に接触させるだめの位
置決め装置が必3ベー:! 要となり、整流子銅片数と同数の2端子接触子を装着し
た測定プローブの製作−1−の困離さ、さらに整流子銅
片数の異なる電機子ごとに測定プローブを準備し、交換
する必要性など保守上の繁雑さ等に問題があった。
一方、測定部においては第2図にその一要部である測定
切替回路の構成を示すように、対向した2端子接触子3
を介してA−F丑で111α次、巻線抵抗4を測定しな
ければならず、そのだめに整流子銅片数と同個数のリー
ドリレーからなる電流端子切替回路5と、同個数のリー
ドリレーからなる電圧端子切替回路6とが必要となり、
リレーの個数の多さに起因する信頼性の低下や保守−1
−の複雑さ、さらに整流子銅片数に応じた測定切替回路
数を設定する操作上の繁雑さ、誤操作等にも問題があっ
た。
切替回路の構成を示すように、対向した2端子接触子3
を介してA−F丑で111α次、巻線抵抗4を測定しな
ければならず、そのだめに整流子銅片数と同個数のリー
ドリレーからなる電流端子切替回路5と、同個数のリー
ドリレーからなる電圧端子切替回路6とが必要となり、
リレーの個数の多さに起因する信頼性の低下や保守−1
−の複雑さ、さらに整流子銅片数に応じた測定切替回路
数を設定する操作上の繁雑さ、誤操作等にも問題があっ
た。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するだめに、電機子を
回転させながら巻線抵抗を全周に渡り連続的に測定し、
かつ自動判定することができる信頼性、保守性の面で優
れた電機子抵抗測定装置を提供することである。
回転させながら巻線抵抗を全周に渡り連続的に測定し、
かつ自動判定することができる信頼性、保守性の面で優
れた電機子抵抗測定装置を提供することである。
発明の構成
本発明は、整流子電動機の電機子整流子片に接触し、一
定電流を通電するだめの電流端子と、巻線抵抗による電
圧降下を測定するだめの電圧端子とからなる対向した1
組の2端子接触子と、整流子銅片位置を検出するための
反射形光センサとを具備した測定プローブと、巻線に一
定電流を通電する定電流回路と、巻線抵抗に相当する微
少電圧降下を増幅する電圧増幅器と、増幅された電圧を
巻線抵抗値に変換するアナログ−デジタル(以下A/D
と略す)変換器と、A/D変換器に整流子銅片位置と同
期した変換開始信号を与える光センサ信号処理回路と、
巻線抵抗値の良否を判定する」―下限値判定回路と、自
動検査を行なうためのシーケンス制御回路とを具備した
測定部とから構成されており、電機子を連続的に回転さ
せながら静止状態と同等な精度で巻線抵抗を測定でき、
反射形光センサを紹込むことにより測定プローブの構6
ベジ 成の簡素化ならびに測定部の測定切替回路が一掃でき、
全体として電機子抵抗測定装置の信頼性を向上でき、保
守性、操作性の面でもきわめて有利である。
定電流を通電するだめの電流端子と、巻線抵抗による電
圧降下を測定するだめの電圧端子とからなる対向した1
組の2端子接触子と、整流子銅片位置を検出するための
反射形光センサとを具備した測定プローブと、巻線に一
定電流を通電する定電流回路と、巻線抵抗に相当する微
少電圧降下を増幅する電圧増幅器と、増幅された電圧を
巻線抵抗値に変換するアナログ−デジタル(以下A/D
と略す)変換器と、A/D変換器に整流子銅片位置と同
期した変換開始信号を与える光センサ信号処理回路と、
巻線抵抗値の良否を判定する」―下限値判定回路と、自
動検査を行なうためのシーケンス制御回路とを具備した
測定部とから構成されており、電機子を連続的に回転さ
せながら静止状態と同等な精度で巻線抵抗を測定でき、
反射形光センサを紹込むことにより測定プローブの構6
ベジ 成の簡素化ならびに測定部の測定切替回路が一掃でき、
全体として電機子抵抗測定装置の信頼性を向上でき、保
守性、操作性の面でもきわめて有利である。
実施例の説明
以下に本発明の一実施例を第3〜7図にもとづいて説明
する。
する。
第3図に測定プローブの構成を示すように、一方向に連
続的に回転する電機子7において、対向する整流子銅片
8に一定電流9を通電するだめの電流接触子1oと巻線
抵抗による電圧降下11を測定するだめの電圧接触子1
2とからなる1組の2端子接触子と、前記2端子接触子
の位置から相対的にずれた位置の整流子銅片13のほぼ
真下に固定した反射形光センサ14とから構成されてい
る。この反射光センサは整流子銅片間の絶縁物16の幅
を検出するに十分な測定精度をもつものとする。
続的に回転する電機子7において、対向する整流子銅片
8に一定電流9を通電するだめの電流接触子1oと巻線
抵抗による電圧降下11を測定するだめの電圧接触子1
2とからなる1組の2端子接触子と、前記2端子接触子
の位置から相対的にずれた位置の整流子銅片13のほぼ
真下に固定した反射形光センサ14とから構成されてい
る。この反射光センサは整流子銅片間の絶縁物16の幅
を検出するに十分な測定精度をもつものとする。
第4図に上記の構成の測定プローブによって、電圧接触
子12に発生する抵抗値相当の電圧値116パ−ジ と反射形光センサ14の出力信号16との回転に伴なう
時間的変化の様子を示す。同図において、反射形光セン
サが整流子間の絶縁物を検出した期間16−1では、2
端子接触子10.12が整流子銅片8をはずれ、巻線抵
抗値11が最大測定値11−1まで増大していることが
わかる。従って真の抵抗値11−2を測定するためには
2端子接触子が確実に整流子銅片に接触している区間1
6−2で測定が実施されなければならない。さらに厳密
には整流子の周速に無関係に、常に2端子接触子が整流
子銅片区間のほぼ中央位置で測定が開始されることが最
も望ましい。この機能を実現するだめの測定部の一要部
である光センサ信号処理回路については第6,7図もと
づいて詳細に後述する。
子12に発生する抵抗値相当の電圧値116パ−ジ と反射形光センサ14の出力信号16との回転に伴なう
時間的変化の様子を示す。同図において、反射形光セン
サが整流子間の絶縁物を検出した期間16−1では、2
端子接触子10.12が整流子銅片8をはずれ、巻線抵
抗値11が最大測定値11−1まで増大していることが
わかる。従って真の抵抗値11−2を測定するためには
2端子接触子が確実に整流子銅片に接触している区間1
6−2で測定が実施されなければならない。さらに厳密
には整流子の周速に無関係に、常に2端子接触子が整流
子銅片区間のほぼ中央位置で測定が開始されることが最
も望ましい。この機能を実現するだめの測定部の一要部
である光センサ信号処理回路については第6,7図もと
づいて詳細に後述する。
第5図に測定部の全回路構成を示し、その動作を説明す
る。電機子巻線抵抗に一定電流を通電するための定電流
回路17は、電流値を1mA、10mA、 100mA
の3段階に切替えることにより、それぞれ200Ω、2
0Ω、210.2Ωの4測定し712 ジ ンジに対応している。この一定電流Iと巻線抵抗Hによ
る電圧降下工・Rが微少電圧増幅器18に入力される。
る。電機子巻線抵抗に一定電流を通電するための定電流
回路17は、電流値を1mA、10mA、 100mA
の3段階に切替えることにより、それぞれ200Ω、2
0Ω、210.2Ωの4測定し712 ジ ンジに対応している。この一定電流Iと巻線抵抗Hによ
る電圧降下工・Rが微少電圧増幅器18に入力される。
この増幅器は0.1mVの最小分解能を必要とするだめ
チョッパアンプを使用している。
チョッパアンプを使用している。
増幅された電圧はA/D変換器のグイナミソクレンジが
一定になるように、測定レンジ切替器19と連動した入
力レンジ切替抵抗2oを通し、A/D変換器21のアナ
ログ入力に入力される。一方、反射形光センサの出力信
号はアンプユニット22により方形波に波形整形され、
光センサ信号処理回路23に入力され、2端子接触子が
整流子銅片区間のほぼ中央位置でA/D変換開始信号2
4を発生する。この時点からA/D変換が開始され、変
換時間設定抵抗26で定められた約20 m s後に巻
線抵抗値が3%桁のBCD信号26として出力され、抵
抗表示器27に真の巻線抵抗値が表示されると同時に上
限値比較器28と下限値比較器29により、それぞれ」
二限値異常信7.3 Qと下限値異常信号31とオーバ
レンジ信号32とが出力される。これらの異常信号のい
ずれかが生じた場合、論理和回路33によって不良信号
34が得られる。この不良信号は不良保持回路36によ
って不良接点出力36を検査機械へ出力する。検査機械
と本測定装置との自動運転を行なうだめのシーケンス制
御回路37は、電機子の回転数が一定した時点で検査機
械よりスタiト信号38を受け、外部には測定中信号3
9と測定完了信号4oを直接出力し、内部ではA/D変
換終了信号41と測定中信号39との論理積による判定
ゲート信号42を不良信号保持回路35に入力し、正確
な不良信号の保持タイミングを実現している。この不良
接点出力36は測定完了信号40と同時な不良解除信号
43により、保持が解除される。
一定になるように、測定レンジ切替器19と連動した入
力レンジ切替抵抗2oを通し、A/D変換器21のアナ
ログ入力に入力される。一方、反射形光センサの出力信
号はアンプユニット22により方形波に波形整形され、
光センサ信号処理回路23に入力され、2端子接触子が
整流子銅片区間のほぼ中央位置でA/D変換開始信号2
4を発生する。この時点からA/D変換が開始され、変
換時間設定抵抗26で定められた約20 m s後に巻
線抵抗値が3%桁のBCD信号26として出力され、抵
抗表示器27に真の巻線抵抗値が表示されると同時に上
限値比較器28と下限値比較器29により、それぞれ」
二限値異常信7.3 Qと下限値異常信号31とオーバ
レンジ信号32とが出力される。これらの異常信号のい
ずれかが生じた場合、論理和回路33によって不良信号
34が得られる。この不良信号は不良保持回路36によ
って不良接点出力36を検査機械へ出力する。検査機械
と本測定装置との自動運転を行なうだめのシーケンス制
御回路37は、電機子の回転数が一定した時点で検査機
械よりスタiト信号38を受け、外部には測定中信号3
9と測定完了信号4oを直接出力し、内部ではA/D変
換終了信号41と測定中信号39との論理積による判定
ゲート信号42を不良信号保持回路35に入力し、正確
な不良信号の保持タイミングを実現している。この不良
接点出力36は測定完了信号40と同時な不良解除信号
43により、保持が解除される。
ここで、A/D変換開始信号24を作成する光センサ信
号処理回路23について詳細に説明する。
号処理回路23について詳細に説明する。
第6図にその回路構成を示し、第7図に各部の信号波形
を示す。整流子銅片区間A−1がLレベル、整流間の絶
縁物区間H,−2がHレベルに対応した電圧信号Aは、
時定数設定抵抗44で定まる約100m5の上昇時間を
もつランプ関数発生器45に入9ページ 力され、整流子銅片区間の通過時間に比例した電圧信号
Bを発生している。ピーク追従回路46はこの電圧信号
Bのピーク値C1つまり整流子銅片区間を接触子が通過
する平均時間を測定している。
を示す。整流子銅片区間A−1がLレベル、整流間の絶
縁物区間H,−2がHレベルに対応した電圧信号Aは、
時定数設定抵抗44で定まる約100m5の上昇時間を
もつランプ関数発生器45に入9ページ 力され、整流子銅片区間の通過時間に比例した電圧信号
Bを発生している。ピーク追従回路46はこの電圧信号
Bのピーク値C1つまり整流子銅片区間を接触子が通過
する平均時間を測定している。
ことで、ピーク値Cを抵抗分圧器47で約%に分圧した
電圧信号C′と前記電圧信号Bとを電圧比較器48によ
り比較し得られる電圧信号りは整流子銅片区間のほぼ中
央でHレベルからLレベルに変化しており、この電圧信
号りをパルス化回路49で単発化し、約60μ8幅のA
/D変換変換開始信号組ている。
電圧信号C′と前記電圧信号Bとを電圧比較器48によ
り比較し得られる電圧信号りは整流子銅片区間のほぼ中
央でHレベルからLレベルに変化しており、この電圧信
号りをパルス化回路49で単発化し、約60μ8幅のA
/D変換変換開始信号組ている。
上記の回路構成により、この先センサ信号処理回路は、
整流子表面の周速に応じた整流子銅片区間の通過時間を
測定し、その通過時間に比例した電圧信号BとC′との
2信号が整流子銅片区間のほぼ中央位置で電圧一致を生
じることから、整流子表面の周速変化に無関係に2端子
接触子が確実に整流子銅片に接触した位置でA/D変換
開始信号を発生できることを特徴とし、本電機子抵抗測
定装置が種類の異なる電機子に対しても広範囲に10ペ
ージ 無調整で対応できる利点を提供している。
整流子表面の周速に応じた整流子銅片区間の通過時間を
測定し、その通過時間に比例した電圧信号BとC′との
2信号が整流子銅片区間のほぼ中央位置で電圧一致を生
じることから、整流子表面の周速変化に無関係に2端子
接触子が確実に整流子銅片に接触した位置でA/D変換
開始信号を発生できることを特徴とし、本電機子抵抗測
定装置が種類の異なる電機子に対しても広範囲に10ペ
ージ 無調整で対応できる利点を提供している。
なお、本実施例では説明の簡略化のだめ電機子の整流子
銅片数を12個としだが、実際の装置では整流子銅片数
がいくつであっても本電機子抵抗測定装置における測定
プローブと測定部との構成と機能が変更されることがな
い。まだ、電機子の回転速度は、第4図に示す整流子銅
片区間の通過時間が、第5図におけるA/D変換器の最
大変換時間である20m5の2倍値の40 m s以上
とれれば良く、−例として整流子片総数を26個とする
電機子では、整流子直径に無関係に毎秒1回転の速度ま
で追従できることになる。
銅片数を12個としだが、実際の装置では整流子銅片数
がいくつであっても本電機子抵抗測定装置における測定
プローブと測定部との構成と機能が変更されることがな
い。まだ、電機子の回転速度は、第4図に示す整流子銅
片区間の通過時間が、第5図におけるA/D変換器の最
大変換時間である20m5の2倍値の40 m s以上
とれれば良く、−例として整流子片総数を26個とする
電機子では、整流子直径に無関係に毎秒1回転の速度ま
で追従できることになる。
発明の効果
このように本発明は電機子を最大毎秒1回転で連続回転
させながら電機子巻線抵抗を全周に渡り短時間でその良
否を自動判定でき、しかも、整流子の周速の変化に自動
追従しながら常に静止状態と同等な精度で測定ができる
ことから、電機子製造工程における電機子抵抗測定装置
としての導入効果がきわめて太きい。また、測定プロー
ブの構11ページ 成の簡素化と測定部の測定切替リレー1iYの一掃によ
シ信頼性が大幅に向−1ニし、操作性の面でも優れてい
る。
させながら電機子巻線抵抗を全周に渡り短時間でその良
否を自動判定でき、しかも、整流子の周速の変化に自動
追従しながら常に静止状態と同等な精度で測定ができる
ことから、電機子製造工程における電機子抵抗測定装置
としての導入効果がきわめて太きい。また、測定プロー
ブの構11ページ 成の簡素化と測定部の測定切替リレー1iYの一掃によ
シ信頼性が大幅に向−1ニし、操作性の面でも優れてい
る。
第1図は従来の静止形電機子11(抗ff1l ff1
j装置のi+11定プローブの説明図、第2図は従来の
同装置の測定切替回路の構成図、第3図は本発明の一実
施例におりる回転式電機子抵抗測定装置の測定プローブ
の構成図、第4図は同測定プローブの各部の電圧波形図
、第5図は同装置の測定部の回路構成図、第6図は同測
定部における光センザ信号処理回路図、第7図は同処理
回路の各部の電圧波形図である。 10・・・・・・電流接触子、12・・・・・・電圧接
触子、14・・・・・・反射形光センサ、17・・・・
・・定電流回路、18・・・・・・微少電圧増幅器、2
1・・・・・・A/D変換器、23・・・・・・光セン
サ信号処理回路、28.29・・・・・−に下限値比較
器、37・・・・・・シーケンス制御回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 3 第6図 44 第7図 貧 7E A−t バー2 1 ハ B、7 C′ r+ C′ I ム E JJ δopS
j装置のi+11定プローブの説明図、第2図は従来の
同装置の測定切替回路の構成図、第3図は本発明の一実
施例におりる回転式電機子抵抗測定装置の測定プローブ
の構成図、第4図は同測定プローブの各部の電圧波形図
、第5図は同装置の測定部の回路構成図、第6図は同測
定部における光センザ信号処理回路図、第7図は同処理
回路の各部の電圧波形図である。 10・・・・・・電流接触子、12・・・・・・電圧接
触子、14・・・・・・反射形光センサ、17・・・・
・・定電流回路、18・・・・・・微少電圧増幅器、2
1・・・・・・A/D変換器、23・・・・・・光セン
サ信号処理回路、28.29・・・・・−に下限値比較
器、37・・・・・・シーケンス制御回路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 3 第6図 44 第7図 貧 7E A−t バー2 1 ハ B、7 C′ r+ C′ I ム E JJ δopS
Claims (2)
- (1)電機子整流子片に接触し、一定電流を通電する電
流接触子と、巻線抵抗による電圧降下を測定するだめの
電圧接触子とからなる対向した1組の2端子接触子と、
整流子銅片位置を検出するの反射形光センサとを具備し
た測定プローブと、巻線に一定電流を通電する定電流回
路と、巻線抵抗に相当する微少電圧降下を増幅する電圧
増幅器と、増幅された電圧を巻線抵抗値に変換するアナ
ログ−デジタル変換器と、アナログ−デジタル変換器に
整流子銅片位置と同期した変換開始信号を与える光セン
サ信号処理回路と、巻線抵抗値の良否を判定する上下限
値比較器と、r目り1検査゛を行なうだめのシーケンス
制御回路とを具備した測定部とからなり、整流子電動機
の電機子を連続的に回転させながら、すべての整流子銅
片を介して電機子巻線抵抗を全周に渡り正確に測定する
回転式電機子2;2・ 抵抗測定装置。 - (2)2端子接触子の位置から相対的にずれた位置の整
流子銅片下に取付けた反射形光センサがら発生する信号
を光センサ信号処理回路で処理することにより、電機子
回転速度の変化や整流子間の絶縁物の影響を回避し、真
の巻線抵抗値が測定する特許請求の範囲第1項記載の回
転式電機子抵抗測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58203012A JPS6093960A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | 回転式電機子抵抗測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58203012A JPS6093960A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | 回転式電機子抵抗測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6093960A true JPS6093960A (ja) | 1985-05-25 |
Family
ID=16466872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58203012A Pending JPS6093960A (ja) | 1983-10-28 | 1983-10-28 | 回転式電機子抵抗測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6093960A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0370450A (ja) * | 1989-07-27 | 1991-03-26 | Keihin Kiyuukou Dentetsu Kk | 車両用電機子の検査装置 |
-
1983
- 1983-10-28 JP JP58203012A patent/JPS6093960A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0370450A (ja) * | 1989-07-27 | 1991-03-26 | Keihin Kiyuukou Dentetsu Kk | 車両用電機子の検査装置 |
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