JPS6092263A - 光学的に均一なアゼチジノン類の製造方法 - Google Patents

光学的に均一なアゼチジノン類の製造方法

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JPS6092263A
JPS6092263A JP59205690A JP20569084A JPS6092263A JP S6092263 A JPS6092263 A JP S6092263A JP 59205690 A JP59205690 A JP 59205690A JP 20569084 A JP20569084 A JP 20569084A JP S6092263 A JPS6092263 A JP S6092263A
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ジエラール・シユミツト
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 公知の3,4−シス−3−アジルアばノーアゼチジノン
は、抗微生物的に(antimicrobially 
)活性なβ−ラクタム抗生物質を製造する際の価値ある
中間体である。その製造は通常塩基の存在下においてフ
タルイミドまたはアジドアセチルクロライドの対応する
N−保護されたイミン(例えばベンズアルデヒド(2,
4−ジメトキシベンジル)イ#/)Kjる環形成付加(
cycloaddition )によって行われ、その
後、得られるN−保護されりA’−(2−オキソ−3−
アゼチジニル)フタルイミドまたは一アジドにおけるフ
タルイミドまたはアジド基をアミン基に転化しくフタル
イミド基はヒドラジン、メチルヒドラジンまたはジメチ
ルアミノプロAシアミンとの反応により、アジド基は硫
化アンモニウムで、または元素状水素及び触媒、例えば
パラジウム/炭素で還元による)、そして更に処理する
ために、遊離したアミン基をアシルクロライド、例えば
カルがベンズオキシクロライドとの反応によって保護す
る。
しかしながら、N−カルボベンズオキシグリシンクロラ
イドとN−保護されたイミンとの直接環形成付加は所望
のアゼチジノンの低収量のみを生ずる: /、 Che
m、Soc、、188011975)参照。
N−カルdζベンズオキシグリシンクロライド自体は不
安定な化合物であり、低温でも役に立たない副生成物に
分解する。かぐして、この直接環形成付加は実用に適さ
ぬものとみなされていた;Tetrahedron 3
7.2321 (1980)参照。
 5− 驚くべきことに、N−カルボベンズオキシクリシンクロ
ライドの代りにN−カル?ベンズオキシグリシンアルカ
リ金属塩を用い、そして塩基の存在下で行うN−保護さ
れたイミンによる環形成付加を特定のスルホン酸クロラ
イド、特にp−クロロベンゼンスルホニルクロライドの
追加の作用下で行った場合、良好々収率によって直接環
形成付加が達成されることを見出した。
適当な置換でN−保護されたイばンを選ぶことにより(
下記式■参照)、2つの新規な光学的中心が環形成付加
生成物(アゼチジノン)中に誘導され、これによって、
3−及び4−位置における置換基はシス−関係であり、
そして更に、2つの可能なジアステレオマー生成物の1
つのみが高度のジアステレオ選択性をもって生成される
。従って本発明の新規な合成法は以下により明白な如く
、光学的に均一な工程生成物を誘導する。
6− 本発明に殊に、一般式 ROC’0NII(’HC0OH■ 式中、Rけベンジル、β−(トリメチルシリル)−低級
アルキルまたはβ−ハロー低級アルキルを表わす、 のカルボン酸のアルカリ金属塩を、塩基及び一般式 %式% 式中、R4はフェニル、低級アルキル−フェニル、ハロ
ーフェニル、低級アルキルまたはハロー低級アルキルを
表わす、 のスルホン酸クロライドの存在下において、一般式 式中、R1け容易に開裂[−得る保護基を表わし、R2
け炭素原子を介して結合する随時酸素を含んでいてもよ
い低級炭化水素基を表わし、そしてR3F′i炭素原子
を介して結合する低級炭化水素基を表わ]〜、その際R
2及びR3はまだ相互に結合して環を形成することもで
きる、 の光学的に均一な化合物と反応させることを特徴とする
一般式 式中、R,R’ 、R271z(JR” d上記o意味
を有する。
の光学的に均一なアゼチジノンの製造方法に関する。
上記式Iの工程生成物において、例えば容易に開裂し得
る保護基R′として次のものが考えられる:ベンジル、
2.4−もしくは3.4−ジ(低級アルコキシ)ベンジ
ル、特に2.4−もしくけ3.4−ジメトキシベンジル
、ジ〔4−(低級アルコキシ)フェニルコメチル、特に
ジ(4−メトキシフェニル)メチル、まl;t4−(低
級アルコキシ)7エ=/l/、特に4−メトキシフェニ
ル;更に、低級2−アルケニル捷たに式 %式% 式中、R5は低級アルキルを表わ1−1そしてnは数0
またに1を表わす、 の基。
「容易に開裂し得る保護基」なる用語は最も広い意味に
おいて解釈すべきであり、かくして、またそれ自体直接
開裂できないが、しかし簡単な化学的交換によって直接
開裂し得る保護基に転化さ9− れ得る基が含まれる。かくて、例えば次の基R1は開裂
前に下記の開裂1−得る基に転化される:低級2−アル
ケニル→低級1−アルケニル−CH,−CH(ORIl
)、 −−CH2−CHO→−CO−CB(OH)。
これらの基の転換及び開裂にヨーロッパ特許公告第10
1,598号に更に詳細に説明されている。
「低級2−アルケニル」なる用語はオレフィン性炭化水
素基を表わし、該基は直鎖まだけ分枝鎖状であることが
でき、2−位置に二重結合を有し且つ好ましくけ炭素原
子8個まで、特に4個までを有する基、例えば2−プロ
ペニル(アリル)、2− メタIJル、2−ブテニル、
2−へキセニル、 l O− 2−へブテニル、2−オクテニル等である。「低級アル
キル」なる用語は飽和炭化水素基を表わし、該基は直鎖
またけ分枝鎖状であることができ且つ好ましくは炭素原
子8個まで、特に4個までを有し、例えばメチル、エチ
ル、n−プロピル、イソ級アルキル基を表わす。
好ましい基1 t−を次のものである:2−プロペニル
(アリル)、2.2−ジメトキシエチル、2.2−ジェ
トキシエチル、2−フェニルチオエチル、2−フェニル
スルフィニルエチル、2.4−またFi3.4−ジメト
キシベンジル及びベンジル。
RIによって表わされる最も好ましい基はアリノ1、ベ
ンジル及び2.4−ジメトキシベンジルである。
ル、フェニル−低級アルキル、低級アルコキシアルキル
、例えば低級アルコキシメチルを表わし、そしてR3が
低級アルキルまだはフェニル−低級は5−または6−員
のO−複素環式基を表わすことができ、該基は場合によ
っては更に偏光力の中心と直接結合していない酸素原子
を含み且つ場合によっては低級アルキル、低級アルコキ
シ、オキソまたはスピロシクロ−低級アルキルで置換さ
れていてもよい。同様に好ましいかかる基の例は次のも
のである: 3−ジオキソラン−4−イル〕が特に好ましい式■の工
程生成物において、R1−J好ましくはベンジルである
。1−かじながら、すでに述べた如く、Rtdまたβ−
(トリメチルシリル)−低級アルキル、例工ばβ−(ト
リメチルシリル)−エチル、またはβ−ハロー低級アル
キル、例えばβ−トリクロロエチル、β−ジクロロエチ
ル、β−クロロエチルも1〜くけβ−トリクロロイソグ
プロルを表わすこともできる。
式■のカルビン酸のアルカリ金域塩として、カリウム、
ナトリウム及びまたリチウム塩が考えられる。カリウム
塩が好ましい。
式■のスルホン酸クロライドとして、好ましくnp−ク
ロロベンゼンスルホニルクロライトカ用いられる。しか
しながら、本発明の目的に対して、 13− またp−トルエンスルホニルクロライド及ヒメタンスル
ホニルクロライドも適当である。
式■、■及びIVの化合物の反応は塩基、例えばトリエ
チルアミンの存在下で且つ好ましくは特に無水状態にお
ける不活性有機溶媒中で行われ、溶媒として好ましくは
エーテル、例えばテトラヒドロフラン、ジエチルエーテ
ル、t−ブチルメチルエーテル、ジオキサン、エチレン
グリコールジメチルエーテル等、ハロダン化された炭化
水素、例えば塩化メチレン、クロロホルム、■、2−ジ
クロロエタン等、アセトニトリル、ジメチルホルムアミ
ド等が考えられる。反応温度は好ましくは約−30℃〜
約50℃の範囲である。
式■の化合物の抗微生物的に価値あるβ−ラクタム抗生
物質への転化は例えばヨーロッパ特許公告第73061
号及び同第101598号に記載されている。必要でお
る意味「ベンジル」におけるR1の開裂は、R1がl−
2、4−1たは3.4−ジ(低級アルコキシ)ベンジル
」である場合と同様の方法において、即ち緩衝されたパ
ーオキソジスルフエート、例えば過硫酸カリウム/硫酸
水素二カルシウムによって酸化的に行われる。しか 1
−ながらまた、ベンジル基を液体アンモニア中のアルカ
リ金属、例えばナトリウムまたはリチウムの作用によっ
て還元的に開裂させることができる。
実施例 l 無水硫酸マグネシウム30?及びN−カルボベンズオキ
シグリシンカリウム塩17.7 r T 71.6ミリ
モル)を塩化メチレン400−に溶解した。
トリエチルアミン20m/4(143ミリモル)の添加
稜、得られた懸濁液を室温で114時間はげしく攪拌し
、次に5℃に冷却した。この懸濁液をインプロピリデン
−D−グリセルアルデヒド(2,4−ジメトキシベンジ
ル)イミン]塩化メチレン2〇−中で2.4−ジメトキ
シベンジルアミン及びイソプロピリデン−L−グリセル
アルデヒドから製造したもの)lO,Or+35.8ミ
リモル)で処理した。次に塩化メチレン501nl中の
p−クロロペン枦嘔ルホニルクロライドl 5. l 
F + 71.6ミリモル)を5℃で45分以内に滴下
した。この懸濁液を室温で3時間攪拌し、そして沖過し
だ。
F液を蒸発させ、得られた黄−褐色油を酢酸エチル30
0−に溶解し、順次IN塩酸100−で2回、5係重炭
酸ナトリウム水溶液100−で2回及び塩化す) IJ
ウム水溶液1oo−で1回洗浄した。有機相を蒸発させ
、油状の黄色残渣を0℃でエーテル300−の添加によ
って結晶させた。融点113〜114℃の135,4S
)−シス−1−12,4−ジメトキシベンジル)−4−
((R)−2,4−ジメチル−1,3−ジオキソラン−
4−イル)−2−オキソ−3−アゼチジンカルバミン酸
ベンジル10.5ft621)が得られた。
実施例 2 実施例1において、2,4−ジメトキシベンジルアミン
の代りにアリルアミンを用いた場合、同様の方法におい
てシリカゲル10.040〜0.063Sm ) 上で
クロマトグラフィーにかけた後、融点94〜96℃の(
314S)−シス−1−アリル−4←(lR)−2,2
−ジメチル−1,3−ジオキソラン−4−イル)−2−
オキソ−3−アゼチジンカルバミン酸ベンジル7.0℃
M(671が得られた。
17−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、一般式 %式% 式中、Rtdベンジル、β−(トリメチルシリル)−低
    級アルキルまたはβ−ノ\ロー低級アルキルを表わす、 のカルボン酸のアルカリ金属塩を、塩基及び一般式 %式% 式中、R4はフェニル、低級アルキル−フェニル、ハロ
    ーフェニル、低級アルキルまたはハロー低級アルキルを
    表わす、 のスルホン酸クロライドの存在下において、一般式 式中、R1は容易に開裂し得ろ保護基を表わし、R2i
    、I炭素原子を介して結合する随時酸素を含んでいても
    よい低級炭化水素基を表わし、そしてR3Fi炭素原子
    を介して結合する低級炭化水素基を表わ【〜、その際R
    2及びRat−1また相互に結合して環を形成すること
    もできる、 の光学的に均一な化合物と反応させることを特徴とする
    一般式 式中、R,RI S7?!及びR3は上記の意味を有す
    る、 の光学的に均一なアゼチジノンの製造方法。 2. Rカヘンジルを表わす式■のカルyl?ン酸のア
    ルカリ金属塩を用いる特許請求の範囲第1項記載の方法
    。 3、 式11のカルボン酸のカリウム地を用いる特許請
    求の範囲第1項記載の方法。 の化合物を用いる特許請求の範囲第1〜3項のいずれか
    に記載の方法。 5゜ R1がアリル、ベンジルまたに2.4−ジメトキ
    シベンジルを表わす弐Hの化合物を用いる特許請求の範
    囲第1〜4項のいずれかに記載の方法。 6、jpがp−クロロフェニルを表わす式■の化合物を
    用いる特許請求の範囲第1〜5項のいずれかに記載の方
    法。 7、 塩基としてトリエチルアミンを用いろ特許請求の
    範囲第1〜6項のいずれかに記載の方法。 8、 反応を無水の不活性有機溶媒、好ましくは無水塩
    化メチレン中にて行う特許請求の範囲第1〜7項のいず
    れかに記載の方法。
JP59205690A 1983-10-03 1984-10-02 光学的に均一なアゼチジノン類の製造方法 Pending JPS6092263A (ja)

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CN (1) CN85100624A (ja)
AT (1) ATE33830T1 (ja)
AU (1) AU572194B2 (ja)
CA (1) CA1251455A (ja)
DE (1) DE3470736D1 (ja)
DK (1) DK411384A (ja)
IL (1) IL73089A (ja)
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IL73089A0 (en) 1984-12-31
AU572194B2 (en) 1988-05-05
NZ209684A (en) 1987-08-31
EP0138113B1 (de) 1988-04-27
CN85100624A (zh) 1986-07-09
DK411384D0 (da) 1984-08-28
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PH19418A (en) 1986-04-10
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CA1251455A (en) 1989-03-21
ZA847585B (en) 1985-05-29
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