JPS6091668A - 受光集積素子 - Google Patents
受光集積素子Info
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- JPS6091668A JPS6091668A JP20015883A JP20015883A JPS6091668A JP S6091668 A JPS6091668 A JP S6091668A JP 20015883 A JP20015883 A JP 20015883A JP 20015883 A JP20015883 A JP 20015883A JP S6091668 A JPS6091668 A JP S6091668A
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- Japan
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- diode
- substrate
- region
- light
- output currents
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 14
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 2
- 230000003750 conditioning effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003337 fertilizer Substances 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
- H01L27/144—Devices controlled by radiation
- H01L27/1443—Devices controlled by radiation with at least one potential jump or surface barrier
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、任意の成長の元のみに敏感な受光集積素子に
関するものである。
関するものである。
任意の波長の元のみに敏感な受光素子に関しては、従来
より可視光カットフィルターを外付けしたフォトダイオ
ード等の方法が知られているが、次のような欠点を有し
ている。
より可視光カットフィルターを外付けしたフォトダイオ
ード等の方法が知られているが、次のような欠点を有し
ている。
可視光カットフィルターを外付けしなければならず、実
装面積が大きくなる。又、可視)゛0カットフィルタは
赤外ブ0も一部吸収し、フォトダイオードへの入射光量
が小さくなる。あるいは、赤外光をほとんど吸収しない
フィルターは可視光も一部透過させる。本発明はかかる
欠点を除去したものである。
装面積が大きくなる。又、可視)゛0カットフィルタは
赤外ブ0も一部吸収し、フォトダイオードへの入射光量
が小さくなる。あるいは、赤外光をほとんど吸収しない
フィルターは可視光も一部透過させる。本発明はかかる
欠点を除去したものである。
本発明は、半導体基板内に形成した受光素子及び集積回
路自体に、光学フィルターとしての特性をもたせること
により実装面積が小さくなり、低価格化、高信頼性化で
きる受光集積素子を提供することにある。
路自体に、光学フィルターとしての特性をもたせること
により実装面積が小さくなり、低価格化、高信頼性化で
きる受光集積素子を提供することにある。
以下′A施例に基づいて本発明の詳細な説明する第1図
に赤外光に敏感な受光集積素子を実現する本発明による
フォトダイオード断uIJ図を示す。
に赤外光に敏感な受光集積素子を実現する本発明による
フォトダイオード断uIJ図を示す。
n型半棉体基板1上に形成されたP″″拡散領域2.P
+拡散領域3は、接合深さが異なるため、分光愚直が、
第2図に示すように異なっている。
+拡散領域3は、接合深さが異なるため、分光愚直が、
第2図に示すように異なっている。
すなわぢ、接合の深い1−2間ダイオードの分光感度曲
線4と、接合の浅い1−3間ダイオードの分光IFA度
曲線曲線では明らかに異なる。そのため、1−2間ダイ
オード出力電流工凰と1−3間ダイオード出力篭流工、
との差(工1−工? ンをとれば赤外9°0のみに鋭敏
な受光集積素子となる。第3図に前記回路の実現例を示
す。ここでフォトダイオード6は接合の浅いダイオード
、フォトダイオード7は接合の深いダイオードである。
線4と、接合の浅い1−3間ダイオードの分光IFA度
曲線曲線では明らかに異なる。そのため、1−2間ダイ
オード出力電流工凰と1−3間ダイオード出力篭流工、
との差(工1−工? ンをとれば赤外9°0のみに鋭敏
な受光集積素子となる。第3図に前記回路の実現例を示
す。ここでフォトダイオード6は接合の浅いダイオード
、フォトダイオード7は接合の深いダイオードである。
0MO8集積回路におけるPWKLL−N基板間ダイオ
ードを7に、P+拡散−N基板間ダイオードを6にすれ
ば、0M0EI集積回TkIM造プロセスで不回路は実
現できる。このような概念で実際の回路としたものが第
4図である。ここでは、7のダイオードに比ベロのダイ
オードの容量が大きく、出力′屯j+ii;能力が少さ
いため、7のダイオード出力電流を増幅したのち、遅延
回路8で信号を遅らせ、位相を整合させ、又、6のダイ
オードの出力電流を2回増幅し、絶対値を7の出方電流
とあわせている。この両者の信号を減算することにより
螢光灯等の外来ノイズに対しては、不感性となり8 /
N比が改善される。又、より外来ノイズ等に対して強
くさらに位相の微妙な不整台分を除失するために、シュ
ミット・トリガー回路を経て出力している。
ードを7に、P+拡散−N基板間ダイオードを6にすれ
ば、0M0EI集積回TkIM造プロセスで不回路は実
現できる。このような概念で実際の回路としたものが第
4図である。ここでは、7のダイオードに比ベロのダイ
オードの容量が大きく、出力′屯j+ii;能力が少さ
いため、7のダイオード出力電流を増幅したのち、遅延
回路8で信号を遅らせ、位相を整合させ、又、6のダイ
オードの出力電流を2回増幅し、絶対値を7の出方電流
とあわせている。この両者の信号を減算することにより
螢光灯等の外来ノイズに対しては、不感性となり8 /
N比が改善される。又、より外来ノイズ等に対して強
くさらに位相の微妙な不整台分を除失するために、シュ
ミット・トリガー回路を経て出力している。
また、第4図の減算・シュミット・トリガー回路10に
、比較回路を設け、正負を判別することにより、赤外、
赤外色と黄色、緑色との判別をすることが可能となる。
、比較回路を設け、正負を判別することにより、赤外、
赤外色と黄色、緑色との判別をすることが可能となる。
本発明は、同一基板上に形成した検数のフォトダイオー
ドと、その出力電流を増幅・演算専行なう回路を同時に
形成することが出来、任慧の波長依存性を有し、El/
N比の改善部品点数の減少、実装面積の減少、低価格化
、高信頼性などすぐれた効果を有する。
ドと、その出力電流を増幅・演算専行なう回路を同時に
形成することが出来、任慧の波長依存性を有し、El/
N比の改善部品点数の減少、実装面積の減少、低価格化
、高信頼性などすぐれた効果を有する。
また本発明で、MOB集’$ 11!l路のみならず、
バイポーラ集積回路等に於ても同様に作成するととがで
きる。
バイポーラ集積回路等に於ても同様に作成するととがで
きる。
又、本発明に於て、外来元等雑音に強い耐性を有した赤
外受光電子となり、赤外1.KD等を光源とした、外来
光に影響されにくいフォト・インタラプタ、フォト・す
7レクタ等を可視光カットフィルタ等を付加することな
しに、容易に形成できる。
外受光電子となり、赤外1.KD等を光源とした、外来
光に影響されにくいフォト・インタラプタ、フォト・す
7レクタ等を可視光カットフィルタ等を付加することな
しに、容易に形成できる。
第1図は本発明による複数のフォトダイオード断聞図。
第2図は、第1図フォトダイオードの分光感度曲線。
第6図は、本発明回路の概念図。
第4図は、本究明回路の一実施例。
以 上
出願人 株式会社諏訪精工菅
先 源
第2肥
Claims (2)
- (1) 元の波長に対し感度の異なる複数のフォトダイ
オードを同一基板上に形成し、それぞれのフォトダイオ
ード出力電流を信号処理することにより、任意の波長の
光のみに敏感な素子として用いることを特徴とする受う
°C集積系子。 - (2)ouosプロセスを用い、受光素子として、?I
型基板−P型WELL間ダイオードと%型基板−P型関
濃度拡散間ダイオードを用いることを特徴とする符it
’f 請求の軛囲第1項記載の受光集積素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20015883A JPS6091668A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 受光集積素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20015883A JPS6091668A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 受光集積素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6091668A true JPS6091668A (ja) | 1985-05-23 |
Family
ID=16419750
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20015883A Pending JPS6091668A (ja) | 1983-10-26 | 1983-10-26 | 受光集積素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6091668A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5506430A (en) * | 1992-03-03 | 1996-04-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pick-up device with differing capacitances |
US8330090B2 (en) | 2007-05-07 | 2012-12-11 | Nxp, B.V. | Photosensitive device and method of manufacturing a photosensitive device using nanowire diodes |
-
1983
- 1983-10-26 JP JP20015883A patent/JPS6091668A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5506430A (en) * | 1992-03-03 | 1996-04-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid state image pick-up device with differing capacitances |
US8330090B2 (en) | 2007-05-07 | 2012-12-11 | Nxp, B.V. | Photosensitive device and method of manufacturing a photosensitive device using nanowire diodes |
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