JPS608751B2 - 電流印加電圧測定回路 - Google Patents
電流印加電圧測定回路Info
- Publication number
- JPS608751B2 JPS608751B2 JP2868178A JP2868178A JPS608751B2 JP S608751 B2 JPS608751 B2 JP S608751B2 JP 2868178 A JP2868178 A JP 2868178A JP 2868178 A JP2868178 A JP 2868178A JP S608751 B2 JPS608751 B2 JP S608751B2
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- Japan
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- voltage
- circuit
- input
- measurement
- resistor
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、電流印加電圧測定回路に関する。
電流印加電圧測定回路として、第２図に示す回路が公知
である。この回路は、基準電圧Ｖｒｅｆが入力抵抗Ｒｖ
を介して反転入力に印加され、入出力端子間に帰還抵抗
Ｒｆを有する演算増幅器ＯＰ，と、この出力と測定出力
端子Ｔとの間に設けられた抵抗Ｒｒと、この測定出力端
子Ｔの電圧Ｖ２を入力するボルテージフオロワ回路を構
成する演算増幅器ＰＰ２と、この世力を入力とし、負帰
還回路として用いる演算増幅器ＯＰ３で構成される反転
増幅回路とで構成されるものである。上記演算増幅器Ｏ
Ｐ，の出力電圧をＶ，とすると、被測定物に印加される
電流ｉは、次のように求められる。
である。この回路は、基準電圧Ｖｒｅｆが入力抵抗Ｒｖ
を介して反転入力に印加され、入出力端子間に帰還抵抗
Ｒｆを有する演算増幅器ＯＰ，と、この出力と測定出力
端子Ｔとの間に設けられた抵抗Ｒｒと、この測定出力端
子Ｔの電圧Ｖ２を入力するボルテージフオロワ回路を構
成する演算増幅器ＰＰ２と、この世力を入力とし、負帰
還回路として用いる演算増幅器ＯＰ３で構成される反転
増幅回路とで構成されるものである。上記演算増幅器Ｏ
Ｐ，の出力電圧をＶ，とすると、被測定物に印加される
電流ｉは、次のように求められる。
ｖ．＝−器・ｖｒｅｆ−（蔓）（−帯）‐‐・‐・‐ｍ
ここで、Ｒ２＝１０Ｒｆに設定すると、【２｝式が得ら
れる。
ここで、Ｒ２＝１０Ｒｆに設定すると、【２｝式が得ら
れる。
ｖ．＝−鷺・ｖｒｅｆ＋Ｖ２．．・．・‐‘２｝■式よ
り、電流ｉを求めると、次式脚が得られる。
り、電流ｉを求めると、次式脚が得られる。
・＝二亨２−−青ｒ‐器‐Ｖｒｅｆ……‘３１以上のこ
とより、この測定回路は、被測定物に無関係の定電流ｉ
を印加してその電圧降下を検出でき、例えば、抵抗値の
測定、あるいは耐圧電圧を測定することができる。
とより、この測定回路は、被測定物に無関係の定電流ｉ
を印加してその電圧降下を検出でき、例えば、抵抗値の
測定、あるいは耐圧電圧を測定することができる。
この回路を用いて、例えばＭＩＳＦＥＴ（絶縁ゲート型
電界効果トランジスタ）のドレィン、ソース間の耐圧を
測定する場合、一般にＭＩＳＦＥＴのブレークダウン特
性が第３図に示すように、負性抵抗特性を示すものとな
るため、測定回路が発振してしまうという問題があった
。
電界効果トランジスタ）のドレィン、ソース間の耐圧を
測定する場合、一般にＭＩＳＦＥＴのブレークダウン特
性が第３図に示すように、負性抵抗特性を示すものとな
るため、測定回路が発振してしまうという問題があった
。
すなわち、測定電流を設定したとしても、何らかの原因
で電流が増加すると、ＭＩＳＦＥＴＱにおける電圧Ｖ２
が減少し、式■から明らかなように電流ｉは増々増大し
、電源の容量まで増加しさると、逆に減少する等いうこ
とを繰り返し、電流印加電圧測定回路として機能しなく
なる。
で電流が増加すると、ＭＩＳＦＥＴＱにおける電圧Ｖ２
が減少し、式■から明らかなように電流ｉは増々増大し
、電源の容量まで増加しさると、逆に減少する等いうこ
とを繰り返し、電流印加電圧測定回路として機能しなく
なる。
この発明は、発振を防止するとともに、正確な検出電圧
が得られる電流印加電圧測定回路を提供するためなされ
た。
が得られる電流印加電圧測定回路を提供するためなされ
た。
この発明は、被測定物に直列に抵抗を挿入して被測定物
との合成抵抗特性を正特性とするとともに、電圧検出端
子を被測定物の両端より得るものである。
との合成抵抗特性を正特性とするとともに、電圧検出端
子を被測定物の両端より得るものである。
以下、実施例により、この発明を具体的に説明する。
第１図は、この発明の一実施例を示す回路図である。
この測定回路は、基準電圧Ｖｒｅｆが入力抵抗Ｒｖを介
して反転入力に印加され、入出力端子回路に帰還抵抗Ｒ
ｆが設けられた演算増幅回路ＰＰ，と、この出力と測定
出力端子Ｔとの間に設けられた抵抗Ｒｒと、この測定端
子Ｔの電圧Ｖ２を入力とする演算増幅回路ＯＰ２で構成
されたボルテージフオロワ回路と、この出力を入力とし
、上記反転増幅回路ＯＰ，の負帰還回路として用いる演
算増幅回路ＯＰ３で構成された反転増幅回路と、被測定
物１への印加電流を供給する抵抗Ｒｏと、上記被測定物
１における電圧信号を入力とする演算増幅回路ＯＰ４で
構成されたボルテージフオロワ回路と、電圧計Ｖとによ
り構成される。
して反転入力に印加され、入出力端子回路に帰還抵抗Ｒ
ｆが設けられた演算増幅回路ＰＰ，と、この出力と測定
出力端子Ｔとの間に設けられた抵抗Ｒｒと、この測定端
子Ｔの電圧Ｖ２を入力とする演算増幅回路ＯＰ２で構成
されたボルテージフオロワ回路と、この出力を入力とし
、上記反転増幅回路ＯＰ，の負帰還回路として用いる演
算増幅回路ＯＰ３で構成された反転増幅回路と、被測定
物１への印加電流を供給する抵抗Ｒｏと、上記被測定物
１における電圧信号を入力とする演算増幅回路ＯＰ４で
構成されたボルテージフオロワ回路と、電圧計Ｖとによ
り構成される。
上記演算増幅回路ＯＰ，，ＯＰ３の正相入力端子は、共
に接地する（図示せず）ものであり、演算増幅回路ＯＰ
，は、基準電圧Ｖｒｅｆと、帰還される出力電圧（一Ｖ
２／１０）とを加算する加算回路として作用する。
に接地する（図示せず）ものであり、演算増幅回路ＯＰ
，は、基準電圧Ｖｒｅｆと、帰還される出力電圧（一Ｖ
２／１０）とを加算する加算回路として作用する。
このため、電流設定を容易にするため、あるいは簡単に
するため、換言すれば、式■あるいは式【３ーを満足さ
せるため、上述のように演算増幅器ＯＰ３の利得を１／
１０とし、抵抗（Ｒ２＝１０Ｒｆ）とするものである。
この測定回路は、被測定物１に無関係に式‘３｝で定ま
る電流を被測定物１に供給する。
するため、換言すれば、式■あるいは式【３ーを満足さ
せるため、上述のように演算増幅器ＯＰ３の利得を１／
１０とし、抵抗（Ｒ２＝１０Ｒｆ）とするものである。
この測定回路は、被測定物１に無関係に式‘３｝で定ま
る電流を被測定物１に供給する。
この電流ｉは、既知であるので、被測定物１における電
圧を検出することにより、被測定物の抵抗値の測定、又
は耐圧電圧を知ることができる。
圧を検出することにより、被測定物の抵抗値の測定、又
は耐圧電圧を知ることができる。
なお、耐圧測定の場合には、上記電流ｉが流れるような
電圧ｙ２を形成することとなるため、耐圧測定が可能と
なる。この測定回路においては、被測定物１に直列に抵
抗Ｋｖが設けられているため、例えば、電圧一電流特性
（抵抗特性）が負性となるＭＩＳＦＥＴのドレィンーソ
ース間耐電圧を測定する場合においても、測定出力端子
Ｔからみた合成抵抗特性は、特性Ｑと抵抗Ｒｏが加えら
れることとなり、破線（Ｒｏ十Ｑ）に示すように正特性
となるため、発振防止がなされる。
電圧ｙ２を形成することとなるため、耐圧測定が可能と
なる。この測定回路においては、被測定物１に直列に抵
抗Ｋｖが設けられているため、例えば、電圧一電流特性
（抵抗特性）が負性となるＭＩＳＦＥＴのドレィンーソ
ース間耐電圧を測定する場合においても、測定出力端子
Ｔからみた合成抵抗特性は、特性Ｑと抵抗Ｒｏが加えら
れることとなり、破線（Ｒｏ十Ｑ）に示すように正特性
となるため、発振防止がなされる。
すなわち、測定出力端子Ｔからみた抵抗特性が正特性で
あるときは、電流が増加しようとすると、その電圧Ｖ２
が減少し、電流を小さくするように作用し、逆の場合に
は、電圧Ｖ２が増加して電流を大きくするように作用す
るため、上記式糊で定まる電流値に安定する。そして、
測定電圧を被測定物の電圧降下とするものであるため、
上記抵抗Ｒｏを挿入したことによる測定結果の補正を必
要としない。この発明は、前記実施例に限定されず、被
測定物１が負性特性を有するものの電流印加電圧測定回
路に広く利用できる。
あるときは、電流が増加しようとすると、その電圧Ｖ２
が減少し、電流を小さくするように作用し、逆の場合に
は、電圧Ｖ２が増加して電流を大きくするように作用す
るため、上記式糊で定まる電流値に安定する。そして、
測定電圧を被測定物の電圧降下とするものであるため、
上記抵抗Ｒｏを挿入したことによる測定結果の補正を必
要としない。この発明は、前記実施例に限定されず、被
測定物１が負性特性を有するものの電流印加電圧測定回
路に広く利用できる。
第１図は、この発明の一実施例を示す回路図、第２図は
、従来回路の一例を示す回路図、第３図は、これらの動
作を説明するための被測定物の特性図である。 １・・・・・・被測定物。 系１図 東Ｚ図 素３図
、従来回路の一例を示す回路図、第３図は、これらの動
作を説明するための被測定物の特性図である。 １・・・・・・被測定物。 系１図 東Ｚ図 素３図
Claims (1)
- １ 基準電圧Ｖｒｅｆが入力抵抗Ｒｖを介して印加され
、入出力端子間に帰還抵抗Ｒｆを有す反転増幅回路と、
この出力と測定出力端子との間に設けられた抵抗Ｒｒと
、この測定出力端子電圧を入力とする高入力インピーダ
ンスのバツフアアンプと、このバツフアアンプの出力を
一定比率で上記反転増幅回路の入力に帰還する負帰還回
路と、上記測定出力端子と被測定物との間に設けられた
抵抗Ｒ＿０と、上記被測定物における電圧降下を検出す
る高入力インピーダンスの電圧検出手段とを具備するこ
とを特徴とする電流印加電圧測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2868178A JPS608751B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | 電流印加電圧測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2868178A JPS608751B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | 電流印加電圧測定回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54121777A JPS54121777A (en) | 1979-09-21 |
| JPS608751B2 true JPS608751B2 (ja) | 1985-03-05 |
Family
ID=12255230
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2868178A Expired JPS608751B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | 電流印加電圧測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS608751B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4467273A (en) * | 1978-12-22 | 1984-08-21 | Technicare Corporation | Interchangeable component identification system |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS491804Y1 (ja) * | 1968-09-06 | 1974-01-17 | ||
| JPS5236860Y2 (ja) * | 1971-10-29 | 1977-08-22 |
-
1978
- 1978-03-15 JP JP2868178A patent/JPS608751B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54121777A (en) | 1979-09-21 |
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