JPH07134159A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPH07134159A JPH07134159A JP5282449A JP28244993A JPH07134159A JP H07134159 A JPH07134159 A JP H07134159A JP 5282449 A JP5282449 A JP 5282449A JP 28244993 A JP28244993 A JP 28244993A JP H07134159 A JPH07134159 A JP H07134159A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analog switch
- resistance value
- input
- terminal
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 集積回路に内蔵されたアナログスイッチのオ
ン抵抗値を保証のために測定するサンプルホールド回路
のような半導体装置において、外部端子数を増加するこ
となく、アナログスイッチのオン抵抗値を精度良く測定
できるようにする。 【構成】 一端が入力端子１に接続されたオン抵抗値を
測定すべき第１のアナログスイッチ３の他端に、第２の
アナログスイッチ４を直列に接続し、この第２のアナロ
グスイッチ４の他端を定電圧源に接続する。また、この
第１のアナログスイッチ３と第２のアナログスイッチ４
のオン抵抗値の比を一定値とする。そして、上記第１の
アナログスイッチ３のオン抵抗値を測定する時は、第２
のアナログスイッチ４を導通状態にし、入力端子１の入
力電圧と入力電流とからアナログスイッチ３のオン抵抗
値を算出する。
ン抵抗値を保証のために測定するサンプルホールド回路
のような半導体装置において、外部端子数を増加するこ
となく、アナログスイッチのオン抵抗値を精度良く測定
できるようにする。 【構成】 一端が入力端子１に接続されたオン抵抗値を
測定すべき第１のアナログスイッチ３の他端に、第２の
アナログスイッチ４を直列に接続し、この第２のアナロ
グスイッチ４の他端を定電圧源に接続する。また、この
第１のアナログスイッチ３と第２のアナログスイッチ４
のオン抵抗値の比を一定値とする。そして、上記第１の
アナログスイッチ３のオン抵抗値を測定する時は、第２
のアナログスイッチ４を導通状態にし、入力端子１の入
力電圧と入力電流とからアナログスイッチ３のオン抵抗
値を算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路に内蔵された
アナログスイッチのオン抵抗値を測定可能な半導体装置
に関するものである。
アナログスイッチのオン抵抗値を測定可能な半導体装置
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図２はアナログスイッチのオン抵抗値を
測定可能な従来の半導体装置の構成を示す回路図であ
る。同図中、１は入力端子、２は出力端子、３は一端が
入力端子１に接続されたアナログスイッチで、他の一端
はコンデンサ５及び出力アンプ（増幅器）６に接続され
ている。７は上記アナログスイッチ３の内部回路側の一
端と接続されたオン抵抗値測定用のテスト端子である。
測定可能な従来の半導体装置の構成を示す回路図であ
る。同図中、１は入力端子、２は出力端子、３は一端が
入力端子１に接続されたアナログスイッチで、他の一端
はコンデンサ５及び出力アンプ（増幅器）６に接続され
ている。７は上記アナログスイッチ３の内部回路側の一
端と接続されたオン抵抗値測定用のテスト端子である。
【０００３】上記の回路は例えばサンプルホールド回路
として構成されたものであり、このようなアナログスイ
ッチ３が内蔵されたＩＣ（集積回路）において、アナロ
グスイッチ３のオン抵抗値がある一定の規格値内にある
ことを保証するためにそのオン抵抗値を測定する必要が
ある場合がある。そこで、従来では図２に示すように、
アナログスイッチ３の両端に外部端子（入力端子１とテ
スト端子７）を設けており、その２端子間の抵抗値を測
定するようにしている。
として構成されたものであり、このようなアナログスイ
ッチ３が内蔵されたＩＣ（集積回路）において、アナロ
グスイッチ３のオン抵抗値がある一定の規格値内にある
ことを保証するためにそのオン抵抗値を測定する必要が
ある場合がある。そこで、従来では図２に示すように、
アナログスイッチ３の両端に外部端子（入力端子１とテ
スト端子７）を設けており、その２端子間の抵抗値を測
定するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の半導体装置にあっては、通常動作に必要な
外部端子の他にアナログスイッチのオン抵抗値測定用の
外部端子を設ける必要があり、端子数が増加するという
問題点があった。また、端子数に余裕がない場合には、
オン抵抗値の測定ができず、動作の保証ができないとい
う問題点があった。
ような従来の半導体装置にあっては、通常動作に必要な
外部端子の他にアナログスイッチのオン抵抗値測定用の
外部端子を設ける必要があり、端子数が増加するという
問題点があった。また、端子数に余裕がない場合には、
オン抵抗値の測定ができず、動作の保証ができないとい
う問題点があった。
【０００５】本発明は、上記のような問題点に着目して
なされたもので、端子数を増加することなくアナログス
イッチのオン抵抗値を高精度で測定することができ、常
に安定した動作を保証することが可能な半導体装置を提
供することを目的としている。
なされたもので、端子数を増加することなくアナログス
イッチのオン抵抗値を高精度で測定することができ、常
に安定した動作を保証することが可能な半導体装置を提
供することを目的としている。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
一端が外部端子に接続され、他の一端が内部回路に接続
された第１のアナログスイッチと、一端が前記第１のア
ナログスイッチの内部回路側の一端に接続され、他の一
端が内部定電圧源に接続された第２のアナログスイッチ
とを備え、前記第２のアナログスイッチはテストモード
時のみ導通し、前記第１のアナログスイッチと第２のア
ナログスイッチはオン抵抗値の比が一定の値となるよう
に構成したものである。
一端が外部端子に接続され、他の一端が内部回路に接続
された第１のアナログスイッチと、一端が前記第１のア
ナログスイッチの内部回路側の一端に接続され、他の一
端が内部定電圧源に接続された第２のアナログスイッチ
とを備え、前記第２のアナログスイッチはテストモード
時のみ導通し、前記第１のアナログスイッチと第２のア
ナログスイッチはオン抵抗値の比が一定の値となるよう
に構成したものである。
【０００７】
【作用】本発明によれば、例えば被測定のアナログスイ
ッチの一端が高入力インピーダンスのアンプの入力端子
に接続され、そのアンプの出力側が外部端子に出力され
ている構成をもった回路（サンプルホールド回路など）
において、上記被測定のアナログスイッチのアンプ入力
側端子と内部基準電圧源との間に、測定時のみにオン
（導通）するアナログスイッチを設けることにより、被
測定のアナログスイッチの他の一端に入力する電圧を変
化させた時の上記アンプの出力電圧の値から、被測定の
アナログスイッチのオン抵抗値を算出することができ
る。
ッチの一端が高入力インピーダンスのアンプの入力端子
に接続され、そのアンプの出力側が外部端子に出力され
ている構成をもった回路（サンプルホールド回路など）
において、上記被測定のアナログスイッチのアンプ入力
側端子と内部基準電圧源との間に、測定時のみにオン
（導通）するアナログスイッチを設けることにより、被
測定のアナログスイッチの他の一端に入力する電圧を変
化させた時の上記アンプの出力電圧の値から、被測定の
アナログスイッチのオン抵抗値を算出することができ
る。
【０００８】
【実施例】図１は本発明の一実施例の構成を示す回路図
である。図において、１，２は外部端子である入力端子
及び出力端子、３は被測定の第１のアナログスイッチ
で、一端が入力端子１に接続され、他の一端が内部回路
を構成するコンデンサ５及び出力アンプ６に接続されて
おり、また制御端子３ａ，３ｂを有している。
である。図において、１，２は外部端子である入力端子
及び出力端子、３は被測定の第１のアナログスイッチ
で、一端が入力端子１に接続され、他の一端が内部回路
を構成するコンデンサ５及び出力アンプ６に接続されて
おり、また制御端子３ａ，３ｂを有している。
【０００９】４は上記第１のアナログスイッチ３のオン
抵抗値を測定するテストモード時のみオンする第２のア
ナログスイッチで、一端が上記第１のアナログスイッチ
３の内部回路側の一端に接続され、他の一端が内部定電
圧源に接続されており、制御端子４ａ，４ｂを有してい
る。そして、これらの第１のアナログスイッチ３と第２
のアナログスイッチ４は、オン抵抗値の比が一定の値と
なるように構成されている。
抵抗値を測定するテストモード時のみオンする第２のア
ナログスイッチで、一端が上記第１のアナログスイッチ
３の内部回路側の一端に接続され、他の一端が内部定電
圧源に接続されており、制御端子４ａ，４ｂを有してい
る。そして、これらの第１のアナログスイッチ３と第２
のアナログスイッチ４は、オン抵抗値の比が一定の値と
なるように構成されている。
【００１０】本実施例は、図２の回路と同様サンプルホ
ールド回路に適用したものであり、通常の動作時には、
アナログスイッチ３の制御端子３ａ，３ｂに印加される
サンプルホールドパルスにより該アナログスイッチ３が
オンし、端子１に入力された電圧がコンデンサ５に蓄積
され、出力アンプ６により増幅されて端子２に出力され
る。この時、テスト用のアナログスイッチ４は閉じたま
た（オフ）の状態であり、またこのアナログスイッチ３
と４はオン抵抗値の比が一定の値となるよう設計されて
いる。
ールド回路に適用したものであり、通常の動作時には、
アナログスイッチ３の制御端子３ａ，３ｂに印加される
サンプルホールドパルスにより該アナログスイッチ３が
オンし、端子１に入力された電圧がコンデンサ５に蓄積
され、出力アンプ６により増幅されて端子２に出力され
る。この時、テスト用のアナログスイッチ４は閉じたま
た（オフ）の状態であり、またこのアナログスイッチ３
と４はオン抵抗値の比が一定の値となるよう設計されて
いる。
【００１１】ここで、アナログスイッチ３のオン抵抗値
を測定する場合には、まず内部のテストモード設定信号
によりアナログスイッチ３及びスイッチ４を導通状態に
する。この状態で入力端子１に電圧Ｖ１（≠ＶＲ）を印
加すると、アナログスイッチ３と４の接続点の電圧Ｖ２
は、アナログスイッチ３と４のオン抵抗値の分圧値とな
る。この時、アナログスイッチ３と４のオン抵抗値の比
を１：ｎとすれば、アナログスイッチ３による電圧降下
は、
を測定する場合には、まず内部のテストモード設定信号
によりアナログスイッチ３及びスイッチ４を導通状態に
する。この状態で入力端子１に電圧Ｖ１（≠ＶＲ）を印
加すると、アナログスイッチ３と４の接続点の電圧Ｖ２
は、アナログスイッチ３と４のオン抵抗値の分圧値とな
る。この時、アナログスイッチ３と４のオン抵抗値の比
を１：ｎとすれば、アナログスイッチ３による電圧降下
は、
【００１２】
【数１】
【００１３】となる。また、入力端子１の入力電流の値
をＩ１とすれば、アナログスイッチ３のオン抵抗値Ｒ３
は、
をＩ１とすれば、アナログスイッチ３のオン抵抗値Ｒ３
は、
【００１４】
【数２】
【００１５】から求めることができる。
【００１６】これより明らかなように、被測定のアナロ
グスイッチ３と直列にテスト用のアナログスイッチ４を
接続し、このアナログスイッチ４の一方の端子を電圧Ｖ
Ｒの内部定電圧源に接続することにより、端子数を増加
することなく、テストモード時に入力端子１に印加する
電圧と入力電流から、アナログスイッチ３のオン抵抗値
を容易に高精度で測定することができる。したがって、
常に安定した動作を保証することができる。
グスイッチ３と直列にテスト用のアナログスイッチ４を
接続し、このアナログスイッチ４の一方の端子を電圧Ｖ
Ｒの内部定電圧源に接続することにより、端子数を増加
することなく、テストモード時に入力端子１に印加する
電圧と入力電流から、アナログスイッチ３のオン抵抗値
を容易に高精度で測定することができる。したがって、
常に安定した動作を保証することができる。
【００１７】なお、アナログスイッチ３とアナログスイ
ッチ４のオン抵抗値の比を所望の一定値にすることは容
易であり、周知の事実である。
ッチ４のオン抵抗値の比を所望の一定値にすることは容
易であり、周知の事実である。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
オン抵抗値を測定したいアナログスイッチと直列にテス
トモード時のみ導通するアナログスイッチを設け、その
他方の一端を内部定電圧源と接続することにより、被測
定の上記アナログスイッチへの入力電圧と入力電流値と
から、容易にそのアナログスイッチのオン抵抗値を算出
することができ、被測定のアナログスイッチの他端を外
部端子に出す必要がなく、したがって端子数を増加する
ことなく、高精度でアナログスイッチのオン抵抗値を測
定することができるという効果があり、常に安定した動
作を保証することができる。
オン抵抗値を測定したいアナログスイッチと直列にテス
トモード時のみ導通するアナログスイッチを設け、その
他方の一端を内部定電圧源と接続することにより、被測
定の上記アナログスイッチへの入力電圧と入力電流値と
から、容易にそのアナログスイッチのオン抵抗値を算出
することができ、被測定のアナログスイッチの他端を外
部端子に出す必要がなく、したがって端子数を増加する
ことなく、高精度でアナログスイッチのオン抵抗値を測
定することができるという効果があり、常に安定した動
作を保証することができる。
【図１】 本発明の一実施例の構成を示すブロック図
【図２】 従来例の構成を示すブロック図
１ 入力端子（外部端子） ２ 出力端子（外部端子） ３ 第１のアナログスイッチ ４ 第２のアナログスイッチ ５ コンデンサ（内部回路） ６ 出力アンプ（内部回路）
Claims (1)
- 【請求項１】 一端が外部端子に接続され、他の一端が
内部回路に接続された第１のアナログスイッチと、一端
が前記第１のアナログスイッチの内部回路側の一端に接
続され、他の一端が内部定電圧源に接続された第２のア
ナログスイッチとを備え、前記第２のアナログスイッチ
はテストモード時のみ導通し、前記第１のアナログスイ
ッチと第２のアナログスイッチはオン抵抗値の比が一定
の値となるように構成したことを特徴とする半導体装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5282449A JPH07134159A (ja) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5282449A JPH07134159A (ja) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | 半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07134159A true JPH07134159A (ja) | 1995-05-23 |
Family
ID=17652575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5282449A Withdrawn JPH07134159A (ja) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | 半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07134159A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019158573A (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
-
1993
- 1993-11-11 JP JP5282449A patent/JPH07134159A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019158573A (ja) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH1054851A (ja) | 電源出力電流測定装置 | |
| JPS61253474A (ja) | 減衰器 | |
| JP2003028900A (ja) | 非接触電圧測定方法およびその装置 | |
| JPH07134159A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH057582Y2 (ja) | ||
| JP3006219B2 (ja) | 測定用電圧印加回路 | |
| JPH05264604A (ja) | ディジタルマルチメータ | |
| JPH0635195Y2 (ja) | 時間間隔計測回路 | |
| RU2012935C1 (ru) | Устройство для определения полярности выводов электролитических конденсаторов | |
| JPS5825353Y2 (ja) | 微小抵抗変化量測定装置 | |
| JP3461258B2 (ja) | 導電率またはｐＨを測定する装置 | |
| JPH051824Y2 (ja) | ||
| SU1606115A1 (ru) | Реоплетизмограф | |
| SU1018044A1 (ru) | Устройство дл автоматического измерени параметров электрорадиоэлементов | |
| JPS6346850Y2 (ja) | ||
| JPH0112215Y2 (ja) | ||
| JPH0546090Y2 (ja) | ||
| SU558231A1 (ru) | Измеритель модул коэффициента передачи тока транзисторов в импульсном режиме | |
| JP3238867B2 (ja) | 電池電圧測定方法および装置 | |
| SU1397838A1 (ru) | Устройство дл возбуждени колебаний подвижной системы магнитоэлектрического прибора | |
| JP2687615B2 (ja) | 開閉器のアーク電圧測定装置 | |
| JPS608751B2 (ja) | 電流印加電圧測定回路 | |
| JPS62174664A (ja) | 抵抗測定回路 | |
| JPH09145748A (ja) | 電流測定装置 | |
| JPH10148652A (ja) | 電子式標準コンデンサ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010130 |