JPH07134159A - Semiconductor device - Google Patents
Semiconductor deviceInfo
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- JPH07134159A JPH07134159A JP5282449A JP28244993A JPH07134159A JP H07134159 A JPH07134159 A JP H07134159A JP 5282449 A JP5282449 A JP 5282449A JP 28244993 A JP28244993 A JP 28244993A JP H07134159 A JPH07134159 A JP H07134159A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路に内蔵された
アナログスイッチのオン抵抗値を測定可能な半導体装置
に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device capable of measuring the on resistance value of an analog switch incorporated in an integrated circuit.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図２はアナログスイッチのオン抵抗値を
測定可能な従来の半導体装置の構成を示す回路図であ
る。同図中、１は入力端子、２は出力端子、３は一端が
入力端子１に接続されたアナログスイッチで、他の一端
はコンデンサ５及び出力アンプ（増幅器）６に接続され
ている。７は上記アナログスイッチ３の内部回路側の一
端と接続されたオン抵抗値測定用のテスト端子である。2. Description of the Related Art FIG. 2 is a circuit diagram showing the configuration of a conventional semiconductor device capable of measuring the on-resistance value of an analog switch. In the figure, 1 is an input terminal, 2 is an output terminal, 3 is an analog switch whose one end is connected to the input terminal 1, and the other end is connected to a capacitor 5 and an output amplifier (amplifier) 6. Reference numeral 7 is a test terminal for measuring an ON resistance value, which is connected to one end of the analog switch 3 on the internal circuit side.
【０００３】上記の回路は例えばサンプルホールド回路
として構成されたものであり、このようなアナログスイ
ッチ３が内蔵されたＩＣ（集積回路）において、アナロ
グスイッチ３のオン抵抗値がある一定の規格値内にある
ことを保証するためにそのオン抵抗値を測定する必要が
ある場合がある。そこで、従来では図２に示すように、
アナログスイッチ３の両端に外部端子（入力端子１とテ
スト端子７）を設けており、その２端子間の抵抗値を測
定するようにしている。The above circuit is configured as, for example, a sample and hold circuit. In an IC (integrated circuit) in which such an analog switch 3 is built in, the ON resistance value of the analog switch 3 is within a certain standard value. It may be necessary to measure its on-resistance to ensure that Therefore, conventionally, as shown in FIG.
External terminals (input terminal 1 and test terminal 7) are provided at both ends of the analog switch 3, and the resistance value between the two terminals is measured.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の半導体装置にあっては、通常動作に必要な
外部端子の他にアナログスイッチのオン抵抗値測定用の
外部端子を設ける必要があり、端子数が増加するという
問題点があった。また、端子数に余裕がない場合には、
オン抵抗値の測定ができず、動作の保証ができないとい
う問題点があった。However, in the conventional semiconductor device as described above, it is necessary to provide an external terminal for measuring the ON resistance value of the analog switch in addition to the external terminal required for normal operation. There was a problem that the number of terminals increased. Also, if there is no margin in the number of terminals,
There is a problem that the on-resistance value cannot be measured and the operation cannot be guaranteed.
【０００５】本発明は、上記のような問題点に着目して
なされたもので、端子数を増加することなくアナログス
イッチのオン抵抗値を高精度で測定することができ、常
に安定した動作を保証することが可能な半導体装置を提
供することを目的としている。The present invention has been made by paying attention to the above problems, and it is possible to measure the ON resistance value of an analog switch with high accuracy without increasing the number of terminals, and always perform stable operation. It is an object to provide a semiconductor device that can be guaranteed.
【０００６】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置は、
一端が外部端子に接続され、他の一端が内部回路に接続
された第１のアナログスイッチと、一端が前記第１のア
ナログスイッチの内部回路側の一端に接続され、他の一
端が内部定電圧源に接続された第２のアナログスイッチ
とを備え、前記第２のアナログスイッチはテストモード
時のみ導通し、前記第１のアナログスイッチと第２のア
ナログスイッチはオン抵抗値の比が一定の値となるよう
に構成したものである。The semiconductor device of the present invention comprises:
A first analog switch having one end connected to an external terminal and the other end connected to an internal circuit, and one end connected to one end on the internal circuit side of the first analog switch and the other end having an internal constant voltage A second analog switch connected to a power source, the second analog switch conducts only in a test mode, and the first analog switch and the second analog switch have a constant ratio of ON resistance values. It is configured so that
【０００７】[0007]
【作用】本発明によれば、例えば被測定のアナログスイ
ッチの一端が高入力インピーダンスのアンプの入力端子
に接続され、そのアンプの出力側が外部端子に出力され
ている構成をもった回路（サンプルホールド回路など）
において、上記被測定のアナログスイッチのアンプ入力
側端子と内部基準電圧源との間に、測定時のみにオン
（導通）するアナログスイッチを設けることにより、被
測定のアナログスイッチの他の一端に入力する電圧を変
化させた時の上記アンプの出力電圧の値から、被測定の
アナログスイッチのオン抵抗値を算出することができ
る。According to the present invention, for example, a circuit having a configuration in which one end of an analog switch to be measured is connected to the input terminal of an amplifier having a high input impedance and the output side of the amplifier is output to an external terminal (sample hold) Circuit etc.)
In the above, by providing an analog switch that is turned on (conductive) only during measurement between the amplifier input side terminal of the measured analog switch and the internal reference voltage source, input to the other end of the measured analog switch. The ON resistance value of the measured analog switch can be calculated from the value of the output voltage of the amplifier when the voltage to be changed is changed.
【０００８】[0008]
【実施例】図１は本発明の一実施例の構成を示す回路図
である。図において、１，２は外部端子である入力端子
及び出力端子、３は被測定の第１のアナログスイッチ
で、一端が入力端子１に接続され、他の一端が内部回路
を構成するコンデンサ５及び出力アンプ６に接続されて
おり、また制御端子３ａ，３ｂを有している。1 is a circuit diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In the figure, 1 and 2 are input and output terminals which are external terminals, and 3 is a first analog switch to be measured, one end of which is connected to the input terminal 1 and the other end of which is a capacitor 5 and an internal circuit. It is connected to the output amplifier 6 and has control terminals 3a and 3b.
【０００９】４は上記第１のアナログスイッチ３のオン
抵抗値を測定するテストモード時のみオンする第２のア
ナログスイッチで、一端が上記第１のアナログスイッチ
３の内部回路側の一端に接続され、他の一端が内部定電
圧源に接続されており、制御端子４ａ，４ｂを有してい
る。そして、これらの第１のアナログスイッチ３と第２
のアナログスイッチ４は、オン抵抗値の比が一定の値と
なるように構成されている。Reference numeral 4 is a second analog switch which is turned on only in a test mode for measuring the ON resistance value of the first analog switch 3, and one end thereof is connected to one end on the internal circuit side of the first analog switch 3. The other end is connected to an internal constant voltage source and has control terminals 4a and 4b. Then, these first analog switch 3 and second analog switch 3
The analog switch 4 is configured so that the ratio of the ON resistance values becomes a constant value.
【００１０】本実施例は、図２の回路と同様サンプルホ
ールド回路に適用したものであり、通常の動作時には、
アナログスイッチ３の制御端子３ａ，３ｂに印加される
サンプルホールドパルスにより該アナログスイッチ３が
オンし、端子１に入力された電圧がコンデンサ５に蓄積
され、出力アンプ６により増幅されて端子２に出力され
る。この時、テスト用のアナログスイッチ４は閉じたま
た（オフ）の状態であり、またこのアナログスイッチ３
と４はオン抵抗値の比が一定の値となるよう設計されて
いる。This embodiment is applied to a sample and hold circuit similar to the circuit of FIG. 2, and in normal operation,
The sample-hold pulse applied to the control terminals 3a and 3b of the analog switch 3 turns on the analog switch 3, the voltage input to the terminal 1 is accumulated in the capacitor 5, is amplified by the output amplifier 6, and is output to the terminal 2. To be done. At this time, the test analog switch 4 is in the closed (off) state, and the analog switch 3
And 4 are designed so that the ratio of the ON resistance values is a constant value.
【００１１】ここで、アナログスイッチ３のオン抵抗値
を測定する場合には、まず内部のテストモード設定信号
によりアナログスイッチ３及びスイッチ４を導通状態に
する。この状態で入力端子１に電圧Ｖ１（≠ＶＲ）を印
加すると、アナログスイッチ３と４の接続点の電圧Ｖ２
は、アナログスイッチ３と４のオン抵抗値の分圧値とな
る。この時、アナログスイッチ３と４のオン抵抗値の比
を１：ｎとすれば、アナログスイッチ３による電圧降下
は、Here, when measuring the on-resistance value of the analog switch 3, first, the analog switch 3 and the switch 4 are turned on by an internal test mode setting signal. When voltage V1 (≠ VR) is applied to input terminal 1 in this state, voltage V2 at the connection point of analog switches 3 and 4 is applied.
Is a divided voltage value of the ON resistance value of the analog switches 3 and 4. At this time, if the ratio of the ON resistance values of the analog switches 3 and 4 is 1: n, the voltage drop due to the analog switch 3 is
【００１２】[0012]
【数１】 [Equation 1]
【００１３】となる。また、入力端子１の入力電流の値
をＩ１とすれば、アナログスイッチ３のオン抵抗値Ｒ３
は、[0013] Further, if the value of the input current of the input terminal 1 is I1, the on-resistance value R3 of the analog switch 3 is
Is
【００１４】[0014]
【数２】 [Equation 2]
【００１５】から求めることができる。Can be obtained from
【００１６】これより明らかなように、被測定のアナロ
グスイッチ３と直列にテスト用のアナログスイッチ４を
接続し、このアナログスイッチ４の一方の端子を電圧Ｖ
Ｒの内部定電圧源に接続することにより、端子数を増加
することなく、テストモード時に入力端子１に印加する
電圧と入力電流から、アナログスイッチ３のオン抵抗値
を容易に高精度で測定することができる。したがって、
常に安定した動作を保証することができる。As is apparent from this, a test analog switch 4 is connected in series with the measured analog switch 3 and one terminal of this analog switch 4 is connected to the voltage V.
By connecting to the internal constant voltage source of R, the ON resistance value of the analog switch 3 can be easily and accurately measured from the voltage and the input current applied to the input terminal 1 in the test mode without increasing the number of terminals. be able to. Therefore,
It is possible to guarantee stable operation at all times.
【００１７】なお、アナログスイッチ３とアナログスイ
ッチ４のオン抵抗値の比を所望の一定値にすることは容
易であり、周知の事実である。It is easy and known that it is easy to set the ratio of the ON resistance values of the analog switch 3 and the analog switch 4 to a desired constant value.
【００１８】[0018]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
オン抵抗値を測定したいアナログスイッチと直列にテス
トモード時のみ導通するアナログスイッチを設け、その
他方の一端を内部定電圧源と接続することにより、被測
定の上記アナログスイッチへの入力電圧と入力電流値と
から、容易にそのアナログスイッチのオン抵抗値を算出
することができ、被測定のアナログスイッチの他端を外
部端子に出す必要がなく、したがって端子数を増加する
ことなく、高精度でアナログスイッチのオン抵抗値を測
定することができるという効果があり、常に安定した動
作を保証することができる。As described above, according to the present invention,
By providing an analog switch that conducts only in test mode in series with the analog switch whose on-resistance value you want to measure, and connecting the other end to the internal constant voltage source, input voltage and input current to the analog switch to be measured. The ON resistance value of the analog switch can be easily calculated from the value and the other end of the analog switch to be measured does not need to be output to the external terminal. There is an effect that the on-resistance value of the switch can be measured, and stable operation can always be guaranteed.
【図１】 本発明の一実施例の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.
【図２】 従来例の構成を示すブロック図FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a conventional example.
１ 入力端子（外部端子） ２ 出力端子（外部端子） ３ 第１のアナログスイッチ ４ 第２のアナログスイッチ ５ コンデンサ（内部回路） ６ 出力アンプ（内部回路） 1 Input Terminal (External Terminal) 2 Output Terminal (External Terminal) 3 First Analog Switch 4 Second Analog Switch 5 Capacitor (Internal Circuit) 6 Output Amplifier (Internal Circuit)
Claims (1)
内部回路に接続された第１のアナログスイッチと、一端
が前記第１のアナログスイッチの内部回路側の一端に接
続され、他の一端が内部定電圧源に接続された第２のア
ナログスイッチとを備え、前記第２のアナログスイッチ
はテストモード時のみ導通し、前記第１のアナログスイ
ッチと第２のアナログスイッチはオン抵抗値の比が一定
の値となるように構成したことを特徴とする半導体装
置。1. A first analog switch having one end connected to an external terminal and the other end connected to an internal circuit, and one end connected to one end on the internal circuit side of the first analog switch, A second analog switch whose one end is connected to an internal constant voltage source, wherein the second analog switch conducts only in a test mode, and the first analog switch and the second analog switch have ON resistance values. A semiconductor device characterized in that the ratio is set to a constant value.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5282449A JPH07134159A (en) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | Semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5282449A JPH07134159A (en) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | Semiconductor device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07134159A true JPH07134159A (en) | 1995-05-23 |
Family
ID=17652575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5282449A Withdrawn JPH07134159A (en) | 1993-11-11 | 1993-11-11 | Semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07134159A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019158573A (en) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | 株式会社東芝 | Semiconductor integrated circuit |
-
1993
- 1993-11-11 JP JP5282449A patent/JPH07134159A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019158573A (en) * | 2018-03-13 | 2019-09-19 | 株式会社東芝 | Semiconductor integrated circuit |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010130 |