JPS6085385A - 検出器のための自動感度調整装置 - Google Patents

検出器のための自動感度調整装置

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JPS6085385A
JPS6085385A JP58193188A JP19318883A JPS6085385A JP S6085385 A JPS6085385 A JP S6085385A JP 58193188 A JP58193188 A JP 58193188A JP 19318883 A JP19318883 A JP 19318883A JP S6085385 A JPS6085385 A JP S6085385A
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 この発明は投光素子と受光素子とを備え、同両者間に被
検出物体を導入して同ネ茨検出物体を検出する検出器に
係り、詳しくはその検出器の検出感度を調整する調整装
置に関するものである。
従来技術 従来、被検出物体の通過状態を検出づる投光素子と受光
素子とからなる被検出物体検出器は受光素子の受光の有
無若しくは受光量の多少に基づいて検出していた。そし
て、被検出物体の厚さが変わった場合、検出レベルも変
わるため、その都度感度を再調整しなければならなかっ
た。殊に受光量の多少に基づいて検出する場合にはその
感度調整は非常に難しく熟練を必要としていた。
例えば、この種の検出器を備えたミシンにおいて、第1
図A、Bに示−り加工布(身頃)1の側縁に沿って本縫
い縫い目を形成したい場合にお(プる布終了端検知、又
は第2図A、Bに示ず身頃1にポケット布片2を重ね合
せ周布片2を身頃1に縫い合せをづる場合におけるポケ
ット布片2の布端(段差部W2)検知ではその都度作業
者は手作業で感度調整を行なっていた。特にボケツ1−
布片2を縫い合せる際、その布片2のイD端を検知Jる
場合、その重ね合せ部W1と壬ね合せていない一枚部分
との光の透過量の多少ずなわら受光素子の受光部の多少
に基づいて市ね含せ部W1かどうかを検出していた。
従って、身頃1及びポケット布片2の厚さが変わった場
合、その光の透過量も変わることになるため、その感度
調整は熟練を要し、かつ、非常に面倒なものとなってい
た。
目的 この発明は前記問題点を解消するためになされたもので
あって、その目的は被検出物体の厚さに応じてその光の
透過量が変動しても検出器の検出感度を自動的に最適な
感度に調整することができ、その調整作業の労力を軽減
することのできる自動感度調整装置を提供するにある。
実施例 以下この発明を具体化した一実施例を図面【こ従って説
明する。
第3図にa3いて、ミシンフレーム11はアーム部12
とベット部13とを備え、そのアーム部12の頭部内に
上下動可能に装着された釘棒14に針15が取着されて
いる。そして、この針15とベット部13内に設けた釜
(図示μず)との協働により加工布1に本縫い縫い目が
形成されるようになっている。アーム部12の頭部前8
面には検出器を構成づ゛る投光器16が取着され、第4
図に示すように発光ダイオードよりなる投光索子17を
内蔵したケース18が前記頭部前面に固設されたホルダ
ー19の収容筒部19a内にビス止めされている。ケー
ス18の下端部には透明の保護板18aが取りイ」りら
れ投光索子17にゴミが(=J着するのを防止する。
前記ベット部13には滑板20及び針板21が配設され
ていて、その針板21に(よ針穴22から送り込側へ所
定の間隔をおいた位冒に形成した嵌合孔23に受光器2
4の上部が嵌合されている。
受光器24のケース25は第4図に示すように基端部が
前記ベット部13に対してビス止めされているとともに
上端に透明の保護板25aが取イζ1けられている。前
記ケース25内に設(プられたホトトランジスタよりな
る受光素子26は前記投光索子17と相対自重るように
配設されて(Xて同1α光累了17からの光を直接受光
する゛とともに、7JO工布1が送り込み側から縫合位
置へ送り込まれ1司7JO工布1によって遮られたとき
、その加エイUi1を透過してくる投光素子17からの
光く透過光)を受光づ−る。
次に、前記投光素子17及び受光素子26等力1らイj
る検出器の電気回路について説明する。
第6図において、投光素子17は抵抗R1、増幅器31
を介して発振器32から出力されるチョッパ信号SGI
 (第7図参照)を同増幅器32で増幅反転させて整形
したパルス信号SG2が印7111され、同信号SG2
に塁づいて発光される。トランジスタHrはそのコレク
タ端子に前記投光素子17の一端が接続されているとと
もにコレクターエミッタ端子間に抵抗R2が接続されて
いる。そして、トラジスタTrがオフ状態の時、電流制
限抵抗は前記抵抗R1だけとなり同投光素子174こ流
れる電流は人となって投光素子17の発光量が大きくな
る。反対にトランジスタTrがオフ状態の時、電流制限
抵抗は抵抗R1、R2となり、投光素子17に流れる電
流は小となって投光素子17の発光量が小さくなる。
前記受光素子26は投光素子17から出力される光の受
光量に比例したレベルの出力電圧V1を出力し、その出
力電圧V1がバンドパスフィルター33を介して可変減
衰器34レニ出力される。可変減衰器34は前記出力電
圧V1をOdBから−60(1Bの範囲で減衰し増幅器
35を介して減衰出力電圧V2としてコンパレータ36
に出力するようになっていて、この減衰量は後記1Jる
入出力インターフェイス46を介して中央処、T!!!
装jff’!3から出力される制御信号SG3に基づい
て段階的(本実施例では2dB毎)に可変制御されるよ
うになっている。
前記コンパレータ36はこの減衰出力電圧v2と基準電
圧変更手段としての基準電圧設定器37からの基準電圧
VSとを比較し、減衰出力電圧V2より基準電圧VSが
大きいとぎHレベル(プラス電位)の、又その反対の場
合にはl−レベル(O電位)の検出信号SG4を出力覆
る。前記基準電圧設定器37は基¥=雷電圧Sを本実施
例では3Vから5Vの範囲で変更でき、後記する入出力
インターフェイス46を介して中央処理装置43から出
力される制御信号SG5に基づいて段階的(本実施例で
は±1dB毎)に可変制御されるようになっている。
前記コンパレータ36から出力される検出信号SG4を
入力する第1のフリップフロップ回路(以下、第1のF
F回路という)38はしレベルの検出信号S G 4の
立ち下がりによって反転され同回路38のQ端子の出力
がHレベルからLレベルとなる。第2のフリップフロッ
プ回路(以下、第2のFF回路という)39は前記第1
のFF回路38の1−ルベルからLレベルの立ち下がり
に応答してそのQ端子の出力SG6を1ルベルからLレ
ベルに反転させる。又、両筒1及び第2のFF回路38
.39は前記発振器32のヂョッパ信号SG1の立ち下
がりでそれぞれリセットされるようになっている。
EXOR回路40は第1及び第2のFF回路38.39
のQ端子の出力を入力するようになっていて、両Q端子
が互いに同じレベルのときLレベルの出力SG7を、両
Q端子が互いに異なるときHレベルの出力SG7を出力
する。
感度調整スイッチ41は検出器を作動さけるためのスイ
ッチであって、同スイッチ41のオン信号は入出力イン
ターフェイス46を介して中央処理装置4邸に出力され
る。モニタ用発光ダイオード42は中央処理装置43の
制御信号に基づいて点灯制御される。尚、感度調整スイ
ッチ41及び発光ダイオード42はミシンフレーム11
の所定の位置、例えばアーム部12の頭部前面の操作及
び視認可能な位置に設けている。
中央処理装置(以下、CI) LJという)43は読み
出し専用のメモリ(以下、ROMという)44と読み出
し及び書き替え可能なメモリ(以下、RAMという)4
5を備え、前記可変減衰器34の減衰量を段階的に変更
するための制御信号SG3を入出力インターフェイス4
6を介して同減衰器3/Iに出力するとともに、前記基
準電圧設定器37の基準電圧Vsを段階的に変更するた
めの制御信号SG5を同インターフェイス26を介して
同設定器37に出力する。又、CP U 4.3は前記
トランジスタTrをオン、オフ制御するとともに、第2
のFFI!!l路39のQ端子出力レベールを検知して
基11も電圧Vsより減衰出力電圧V2が大きくなった
かどうかを判定し、同判定結果に基づいて可変減衰器3
4及び基準電圧設定器37に出力する制御信号SG3、
SG5の制御量を決定するようになっている。
次に前記のように構成した検出器の作用を第9図に示す
CPU43の動作を示すフローチャト図に従って説明づ
る。
今、第2図A、Bに示すようにポケット布片2を加工布
1に縫い合せる場合における検出器の感度FA整を行う
べく、まず、加工布1℃みを受光素子26上に載−けた
後、感度調整スイッチ41をオンさせると、CPU43
はモニタ用発光ダイオード42を消づステップ1の処理
動作を行うとともにトランジスタTrをオンさけるステ
ップ2の処理動作を行う。次にCP LJ 43は基準
電圧設定器37から出ノjされる基準電圧VSを最小(
3・V)にずべく同設定器37に制御信号SG5を出力
するステップ3の処理動作を行うとともに、可変減衰器
34の減衰量を最大<−6odB)にすべく同減衰器3
4に制御信号SG3を出力するステップ4の処理動作を
行う。一方、これど同時に発振器32からヂョッパ信号
SGIが出力される。
従って、投光素子17はこの発振器32の発振動作に基
づいて点滅動作が開始される。この時、トランジスタT
rはオン状態なので電流制限抵抗は抵抗R1だ(プなの
で投光索子17は発光量が犬の状態となる。一方、第1
及び第2の「F回路38.39は発振器32のヂョッパ
信号SG1の最初の立ち下がりによってリセット・状態
となり、EXOR回路40からの出力SG7はLレベル
の状態になっている。
CPU43はこのLレベルに基づいて両FF回路38.
39が単発ノイズ信号で誤動作し−Cいないことを判別
するステップ5の処理動作を行う。
尚、コノ時、E X OR回路40(7)出力s07が
Hレベルのとき両FF回路38.39が誤動作している
ど判断して同回路40の出力SG7がLレベルになるま
で、即ち、両FF回路38.39がリヒットされるまで
待機する。
さて、投光素子17から出力された光は加工布1を透過
して受光素子26に受光される。この透過光を受光した
受光素子26はその透過光量に比例した出力電圧V1を
バンドパスフィルター33を介して可変減衰器34に出
力する。可変減衰器34はこの出力電圧V1を減衰(−
60dB)させて増幅器35を介して減衰出力電圧V2
としてコンパレータ36に出力する。この時、減衰出力
電圧V2は最大に減衰された値なので、最初は第8図に
示すように基準電圧Vsより逃かに小さくその結果コン
パレータ36の検出信号SG4は1ルベルとなる。この
Hレベルの検出信号SG4に基づいて第1及び第2のF
F回路38.39は反転ゼず、第2のFF回路39のQ
端子の出力SG6はHレベルのままとなる。
CP U 43はこの出力に基づいてステップ6の処理
動作を行う。この時、CP U 4.3は出ノl5G6
がLレベルということに基づいて減衰出力電圧V2が基
準電圧Vsより小さいことを判定する。
この判定結果に基づいてCI) U 43は可変減衰器
34の減衰量が最小がどうかの判別を覆るステップ7の
処理動作を行う。そして、この時、減衰用は最大である
ことに基づいてCP U 4.3は減衰量を1段階小さ
くするだめの制御信号SG3を出力するステップ8の処
理動作を行う。従って、この時点で可変減衰器34の減
衰量は1段小さくなった状態となる。
この状態から次の第2番目のヂョッパ信号SG1が出力
されると、第1及び第2のFF回路38.39がリヒッ
トされるとともに投光素子17が再び点滅する。そして
、この発光により受光素子26は透過光量が前記と同じ
であることがら前記と同じレベルの出力電圧V1を可変
減衰器34に出力する。可変減衰器34の減衰量が1段
小さくなつだことにより、コンパレータ36に出力され
る減衰出力電圧V2ば第8図に示すように減衰量が小さ
くなった分大きくなる。
コンパレータ36はこの減衰出力電圧v2と基準電圧V
sとを前記と同様に比較検出する。この時、第8図に示
すようにいまだ基準電圧Vsが大きいことから前記と同
様に第1及び第2のFF回路38.39が動作すること
になり、CPLI43は前記と同じ処理動作を行い減衰
器34の減衰量を1段階下げる。以後、CP LJ 4
3は減衰出力電圧V2が基準電圧ysより大ぎくなるま
で(越えるまで)減衰器34の減衰量を段階的に小さく
して減衰出力電圧V2のレベルを順次大ぎくして行く。
尚、前記動作を繰り返している途中に、可変減衰器34
の減衰量が最小になった時、CPU43はモニタ用発光
ダイオード42を10回点滅動作させるステップ18の
処理動作を行い作業者に検出不能を知らせる1、そして
、次にCPU43は同発光ダイオード42をオフするス
テップ19の処理動作を行って終了する。
やがて、投光素子17が5回目の点滅動作が行われ、コ
ンパレータ36に出力される減衰出力電圧V2がM8図
に示ずよ、うにM準電圧Vsより大きくなると、同コン
パレータ36はLレベルとなり第1及び第2のFl:回
路38.39を反転させ、第2のFF回路39のQ出力
端子の出力SG6をLレベルにする。CPt、143は
このLレベルにより、基準電圧VSを減衰出力電圧V2
が越えたことを判定してステップ9の処理動作に移る。
CP U 4.3は現在の可変減衰器34の減衰量が予
め定めた基準減衰ff1Pより大きいかどうかの判別を
行う。基準減衰量Pは被検出物体どしての加工布1が厚
物か薄物かを判別、リ−なりち、加工布1が透過性の悪
いもの又は良いものかを判定し、当該減衰器34の減衰
量で加工布検知を行う際、透過性の良いものであれば投
光素子17の発光量を小さくし、反対に透過性の悪いも
のであれば発光量を大きくして最適な状態で布検知をす
るための目安となる値であって、ここで当該加重「布1
とポケット布片2との縫い合せる場合における投光素子
17の最適な光量hヌ決定される。
そして、透過性のある例えば薄物の加工布1の場合には
CPU43は1ヘランジスタ゛「rをオフして投光素子
17の発光量を下げるステップ10の処理動作を行った
後、この投光素子17の発光量の条件のもとて再び前記
と同様の処理動作が実行される。
一方、透過性の悪い例えば厚物の場合にはCPU43は
前記基準電圧VSのレベルを第8図に示すように1段階
上げるべく制御信号SG5を基準電圧設定器37に出力
するステップ11の処理動作を行う。
この状態で次のチョッパ信号SGIが出力されると、第
1及び第2のFF回路38.39がリセットされEXO
R回路40(7)出力SG7カーLレベルとなる。そし
て、CPtJ43は前記ステップ5と同じ内容のステッ
プ12の処理動作を行なう。
一方、これと同時に投光素子17が点滅動作されるど、
コンパレータ36には前回と同じレベルの減衰出力電圧
V2が入力され同減衰出力電圧V2は1段階下がっ、た
基準電圧VSと同コンパレータ36とで比較される。こ
の時、第8図に示すように、減衰出力電圧v2は基準電
圧V s J:り大きいので、コンパレータ36の検出
信号SG4はLレベルとなり、第1及び第2のF「回路
38.39は反転し、第2のFF回路39のQ端子の出
力SG6はLレベルとなる。CP U 43はこのLレ
ベルに基づいて、減衰出力電圧V2が基準電圧Vsより
大きいことを判定するステップ11の処理動作を行う。
この判定信号に基づいてCPtJ43は基準電圧Vsを
1段上げるための前記ステップ11の処理動作を再び行
う。
従って、この時点で基準電Jt V Sのレベルはさら
に1段上げられる。そして、以後CI” U 43は減
衰器34の減衰量を一定のままに保持した状態で、前記
基準電圧Vsが減衰器ツノ電圧V2より大きくなるまで
基準電圧設定器34の減衰量を段階的に順次大きくして
行く。
やがて、投光素子17が9回目の点滅動作を行い、コン
パレータ36に入力される基準電圧Vsが第8図に示す
ように、減衰出力電圧V2より大きくなると、同コンパ
レータ36はHレベルとなり、第1及び第2のFF回路
38.39は反転せず、第2のFF回路39のQ出力端
子の出力SG6を1ルベルのままとなる。CPU43は
このレベルにより、基準電圧Vsが減衰出力電圧v2を
越えたことを判定してステップ14の処理動作に移る。
CPU43はこの判定結果に基づいてトランジスタT 
r b<オンかオーツかどうかを判断し、トランジスタ
Trがオンの場合には厚物用のための最適基準電圧値■
Saの設定のための処理動作(ステップ15)を行い、
反対にオフの場合には博物用のR適基準電圧値VSUの
設定のための処理動作(ステップ16)をおこなう。
この場合、トランジスタ丁rは前記したようにオン状態
なので、CPU43はステップ15の処理動作を行い坦
在の基準電圧VSから予め設定した厚物マージン値(基
準電圧V、sを若干下げ厚物の布検知を確実に行うため
に余裕をもたせるための値)Klを引き粋して厚物用最
適基準電圧設定値ysaを算出し、RAM45に記憶す
るとともに、その時の可変減衰器34の減衰間及びトラ
ンジスタTrのオン、オフ状態を同RAM45に記憶J
る。
尚、前記ステップ16の処理動作においてトランジスタ
l’−rがオフの場合にはCPU43は現在の基準電圧
VSから予め設定した薄物マージン値(基準電圧Vsを
若干下げて薄物の加工布検知を確実に行うために余裕を
もたIるための値)K2を引き算して薄物用最適基準電
圧設定値Vsuを算出し、RAM45に記憶−するどと
もに、その11ミの可変減衰器34の減衰量及びトラン
ジスタTrのオン、オフ状態を同RAM45に記憶Jる
ことになる。
RAM45に上記した厚物最適基準電圧値Vsa及び可
変減衰器34の減衰間等が記憶されると、CPU43は
前記モニタ用発光ダイオード42を点灯させるステップ
17の処理動作を行い検出器の感度調整が完了したこと
を作業者に知らUた後、一連の加工布1の感度調整作業
を終える。
調整作業が終了し、作業者がこの加工布1とポケット布
片2を重ね合i!縫製位置に案内して縫製を開始すると
、CPU43は前記感度調整モードから加工布検知モー
ドに変る。CPU43は前記RΔIVI 45に記憶さ
せた最適基準電圧値vSa及び1〜ランジスタTrをオ
ン状態にしたときにおりる減衰器34の減衰器のデータ
を読み出す。そして、CPU43はこのデータに基づい
て基準電圧設定器37から厚物最適基準電圧設定値Vs
aを出力さけるための制御信号SG5を出力するととも
に、トランジスタTrをオンさせ、かつ、減衰器34の
減衰mを前記した減衰量となるように制御信号SG3を
出力する。
そして、輸出器が第1図已に示す2枚重なった部分W1
を検出しているときには投光素子17からの光はポケッ
ト布片2及び加工布1を通って受光素子26に到達する
ため、前記加工布1だけで行った感度調整処理動作のと
ぎより投光素子17が受光する量は少なくなる。従って
、減衰出力電圧V2は最適基準電圧設定値Vsaより通
かに小さくなることからコンパレータ36の検出器48
G4は1」レベルとなり、この1−ルベルに基づいてC
PU43は今2枚重なった部分W1が受光素子26上を
通過していることを判断づる。
縫製が進み受光素子26上にポケット布片2の布端が来
た時、すなわち段差部W2が来た時、投光素子17の光
は加工布1のみを通って受光素子26に到達するため、
前記加工布1だけで行った感度調整処理動作のときと同
じ受光量を受光素子26が受光することになる。従って
、減衰出力電圧V2は最適基準電圧設定値Vsaより大
きくなることからコンパレータ36の検出信号SG4は
トルベルとなり、この1−レベルに基づいてCPU43
は今般差部分W2が受光素子26上を通過していること
を判断する。
このように本実施例において、加工布1を予め受光素子
26上に置くだけで同加工布1の厚さ及び材質等に応じ
てこの2枚重ね合lて縫い合せる場合の検出器の検出感
度が常に最適な感度に自動的に設定されることになる。
尚、第1図△、Bに示ずように1枚の加工布1の側縁に
沿って縫い目形成する場合には加工布1を受光素子26
上に置くことなく直接投光素子17の光を受光素子26
に照射させることによって感度調整処理が行われる。そ
して、前記と同様な感度処理動作が行われ、加工布1の
側縁に沿って縫い目形成する場合にお(プる検出器の最
適感度が設定される。
そして、この場合の調整作業が終了し、作業者がこの加
工布1を縫製位置に案内して縫製を開始づ−ると、CP
U43は前記感度調整モードから加工布検知モードに変
る。CPU43は前記RAM45に記憶さゼた最適基準
電圧値Vsu若しくはVsu及び1〜ランジスタTrを
オン、オフ状態にしたとぎにおける減衰器34の減衰量
のデータを読み出ず。そして、CPU43はこのデータ
に基づいて基準電圧設定器37がら最適基準電圧設定値
Vsu若しくはVsuを出力させるための制御信号SG
5を出力するとともに、トランジスタTrをオン若しく
はオフさせ、かつ、減衰器34の減衰量をこの場合の減
衰量となるように制御信号SG3を出力する。
そして、検出器が第2図Bに示す加エイ[1を検出して
いるときには投光素子17からの光は加工布1を通って
受光素子26に到達するため、受光素子26が直接投光
素子17から光を受光して感度調整処理動作を行ったど
きより投光素子17が受光づる量は少なくなる。従って
、減衰出力電圧V2は最適基準電圧設定値Vsu若しく
はVsuより逼かに小さくなることから二]ンパレータ
36の検出信号S04はトルベルとなり、この1」レベ
ルに基づいてCPU43は今加]重布1が受光素子26
上を通過していることを判断する。
縫製が進み受光素子26上に加工布1の加工布終了端が
来た時、投光素子17の光は直接受光素子26に到達リ
−るため、前記加工布1なしで行った感度調整処理動作
のときと同じ受光量を受光素子26が受光することにな
る。従って、減衰出力電圧V2は最適基準電圧設定値V
sa若しくはVSUより大きくなることからコンパレー
タ36の検出信号SG4はLレベルとなり、このLレベ
ルに基づいてCPU43は今加工部終了端が受光素子2
6上を通過していることを判断する。
尚、この発明は前記実施例に限定されるものではなく、
例えば、前記実施例ではステップ8の処理動作で減衰器
34の減衰量を小さくした後、ステップ11の処理動作
で基準電圧設定器37から出力される基準電圧Vsを下
げることにより、感度調整を行ったが、これを第10図
に示すように基準電圧VSは常に一定状態に保持させ、
ステップ5〜ステツプ8の処理動作で基準電圧VSより
人ぎくなった減衰出力電圧v2を次に基準電圧VSより
小さくなるまで可変減衰器34の減衰量を大きくして最
適基準電圧設定値VSa若しくは■SU及び減衰量を設
定するようにして実施してもよい。この場合、第9図に
示すCPU43のステップ11の処理動作は第11図に
示寸ように可変減衰器34の減衰量を1段大きくするス
テップ11の処理動作となる。
発明の効果 以上詳述したように、この発明は被検出物体の厚みの変
化を検出する検出手段と、その検出手段からの検m信号
に基づぎ前記投光素子からの先部を調節づ−るための調
節手段とを設りたことにより、被検出物体の厚さに応じ
てその光の透過量が変動しても検出器の検出感度を自動
的に最適な感度に調整することができ、その調整作業の
労力を軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図A、Bは加工布の一部破断正面図及び側断面図、
第2図A、Bは加工布とポケッ1〜布片の一部破断正面
図及び側断面図、第3図はミシンの側面図、第4図は投
光素子と受光素子の取りイ」り状態を示す正面図、第5
図(Jミシンのベラ1〜部の一部平面図、第6図は検出
器の電気ブロック回路図、第7図はチョッパ信号とパル
ス信号の出力波形図、第8図は減衰出力電圧と基準電圧
の関係を示す図、第9図はCPtJの処理動作を示づフ
ローチャート図、第10図はこの発明の詳細な説明する
だめの減衰出力電圧と基準電圧の関係を示J−図、第1
1図は同じ<CPUの処理動作を示すフローチャー1〜
図である。 被検出物体としての加工布1、ボケツ1〜布片2、ミシ
ンフレーム11、アームB+s 12、ベット部13、
投光素子17、受光素子26、可変減衰器34、コンパ
レータ36、基準電圧設定器37、感度調整スイッチ4
1、中央処理袋@ (CPU)43゜ 特 治 出 願 人 ブラザー工業株式会社代 理 人
 弁理士 恩1)博實 第8図 第1O図 時 間□

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、投光素子(17)と受光素子(26)とを備え、両
    者間に導入される被検出物体(1)の厚みの変化を光の
    透過量に基づき検出する検出器において、 前記被検出物体(1)の厚みの変化を検出する検出手段
    (43ニステツプ9)と、 その検出手段(43)からの検出信号に基づき前記投光
    索子(17)からの光間を調節するだめの調節手段(T
    r 、R1,R2,43;ステップ2、ステップ10)
    と、 を設(プたことを特徴とする自動感度調整装置。
JP58193188A 1983-10-15 1983-10-15 検出器のための自動感度調整装置 Granted JPS6085385A (ja)

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