JPS6080400A - 水中超音波トランスデユ−サ試験装置 - Google Patents
水中超音波トランスデユ−サ試験装置Info
- Publication number
- JPS6080400A JPS6080400A JP58188776A JP18877683A JPS6080400A JP S6080400 A JPS6080400 A JP S6080400A JP 58188776 A JP58188776 A JP 58188776A JP 18877683 A JP18877683 A JP 18877683A JP S6080400 A JPS6080400 A JP S6080400A
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- JP
- Japan
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- transducer
- measured
- water tank
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- memory
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
- G01V13/00—Manufacturing, calibrating, cleaning, or repairing instruments or devices covered by groups G01V1/00 – G01V11/00
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Geophysics (AREA)
- Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Velocity Or Position Using Acoustic Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は水中で用いる超音波トランスデユーサの音圧
測定や指向角測定を行うだめの水中超音波トランスデユ
ーサ試験装置に関する。
測定や指向角測定を行うだめの水中超音波トランスデユ
ーサ試験装置に関する。
〈背 景〉
従来のこの種トランスデユーサ試験装置は被測定トラン
スデユーサを無残俵水槽内に測定受波器と対向して挿入
して測定していた。このためトランスデユーサ自身も比
較的大きなものであるため無残響水槽として太き々もの
を必要とし、無残響水槽の価格が著しく高いものとなり
、そのような無残響水槽を簡単に増刊けて測定を行うこ
とができす、従ってその測定のだめに無残響水槽が設け
られている限られた場所に被」１ｊ定トランスデユーサ
を運んで画定を行う必要があった。
スデユーサを無残俵水槽内に測定受波器と対向して挿入
して測定していた。このためトランスデユーサ自身も比
較的大きなものであるため無残響水槽として太き々もの
を必要とし、無残響水槽の価格が著しく高いものとなり
、そのような無残響水槽を簡単に増刊けて測定を行うこ
とができす、従ってその測定のだめに無残響水槽が設け
られている限られた場所に被」１ｊ定トランスデユーサ
を運んで画定を行う必要があった。
〈発明の概要〉
この発明の目的は反射波が発生する、つまり残響がある
反射水槽を用いて超音波トランスデユーサを試験するこ
とができる試駆・装置を提供することにある。
反射水槽を用いて超音波トランスデユーサを試験するこ
とができる試駆・装置を提供することにある。
この発明によれは被測定トランステユーザ及び狙］定受
波器が反射水槽内に配され、被測定トランスデユーサに
対する超音波信号の励振周期はその反射水槽の残響時間
よりも長く選定して残響時間に影響されない状態とし、
かつその測定受波器の出力をデジタル信号に変換し、そ
の被測定トランスデユーサの励振を基準として設定され
た測定受波器に直接波の受波されている期間、前記デジ
タル信号をメモリｒ（記憶し そのメモリを読出して各
種測定を行う。このようにして反射信号に影響されるこ
となく正しい測定を反射水槽内で行うことが可能となる
。
波器が反射水槽内に配され、被測定トランスデユーサに
対する超音波信号の励振周期はその反射水槽の残響時間
よりも長く選定して残響時間に影響されない状態とし、
かつその測定受波器の出力をデジタル信号に変換し、そ
の被測定トランスデユーサの励振を基準として設定され
た測定受波器に直接波の受波されている期間、前記デジ
タル信号をメモリｒ（記憶し そのメモリを読出して各
種測定を行う。このようにして反射信号に影響されるこ
となく正しい測定を反射水槽内で行うことが可能となる
。
〈実施例〉
以下この発明による水中超音波トランスデユーサ試験装
置の実施例を図面を参照して説明しよう。
置の実施例を図面を参照して説明しよう。
第１図において反射水槽１１内に被測定トランスデユー
サ１２及び測定受波器（ハイドロホン）１３が互に対向
して配される。この被測定トランスデユーサ１２に対し
超音波バースト信号を励振する。即ち例えは１０ｋＨｚ
乃至２５０ ｋＨ２の間で発振することができる発振器
１４が設けられ、その発振出力はバースト信号発生回路
１５に供給される。バースト信号発生回路１５にはスイ
ッチ１６を介してパルス発生器１７よりインパルスが与
えられ、このインパルスにより発振器１４の出力が断続
変調され、搬送波のバースト信号が得られる。このバー
スト信号は出力増幅器１８にて増幅されて整合回路１９
を通じ、更に純抵抗器２１を通じて被測定トランスデユ
ーサ１２に印加される。
サ１２及び測定受波器（ハイドロホン）１３が互に対向
して配される。この被測定トランスデユーサ１２に対し
超音波バースト信号を励振する。即ち例えは１０ｋＨｚ
乃至２５０ ｋＨ２の間で発振することができる発振器
１４が設けられ、その発振出力はバースト信号発生回路
１５に供給される。バースト信号発生回路１５にはスイ
ッチ１６を介してパルス発生器１７よりインパルスが与
えられ、このインパルスにより発振器１４の出力が断続
変調され、搬送波のバースト信号が得られる。このバー
スト信号は出力増幅器１８にて増幅されて整合回路１９
を通じ、更に純抵抗器２１を通じて被測定トランスデユ
ーサ１２に印加される。
々お発振器１４は例えば周波数設定器２２により設定し
た値に応じて周波数制御回路２３を通じて１０ｋＨｚ乃
至２！５０ ｋＨｚの間の設定された周波数の信号を発
生する。又パルス発生器１７は押釦スイッチ２４が制御
されるごとに一定幅のインパルス、っｔす１個のパルス
を発生する。或は連続パルス発生器２５側にスイッチ１
６を切換えて連続的にパルスを発生してもよく、ヤの場
合そのパルスの発生周期は反射水槽１１における残昏時
間よシも犬に選定される。更に指向角の測定においては
旋回制御装置２６よ多発生するトランスデユーサ１２を
一定角度、例えば１度回動するごとに端子２７にパルス
発生させ、その端子２７側にスイッチ１６を接続するこ
とによシトランスデー−サ係を一定角度回動するごとに
励振バーストを発生する。
た値に応じて周波数制御回路２３を通じて１０ｋＨｚ乃
至２！５０ ｋＨｚの間の設定された周波数の信号を発
生する。又パルス発生器１７は押釦スイッチ２４が制御
されるごとに一定幅のインパルス、っｔす１個のパルス
を発生する。或は連続パルス発生器２５側にスイッチ１
６を切換えて連続的にパルスを発生してもよく、ヤの場
合そのパルスの発生周期は反射水槽１１における残昏時
間よシも犬に選定される。更に指向角の測定においては
旋回制御装置２６よ多発生するトランスデユーサ１２を
一定角度、例えば１度回動するごとに端子２７にパルス
発生させ、その端子２７側にスイッチ１６を接続するこ
とによシトランスデー−サ係を一定角度回動するごとに
励振バーストを発生する。
被１ｉ１１１ｉ 定）ランスデューサ１２からの反射信
号と純抵抗器２１に得られた降下電圧とをノンクロスコ
ープ２８に−りえてそのリサージュ波形２９を観察しな
がら両信号の位相差がＯになるように整合ボックス１９
内を調整する。旋回制御装置２６によって旋回装部３１
を駆動して被測定トランスデユーサ１２の指向方向を例
えば１度ずつ回動させ、その１度ずつの回動周期が反射
水槽１１の残響時間よりも長くなるようにその周期を選
定する。旋回制御装置２６内にはその旋回中の角度を示
す表示、主軸方向の表示。
号と純抵抗器２１に得られた降下電圧とをノンクロスコ
ープ２８に−りえてそのリサージュ波形２９を観察しな
がら両信号の位相差がＯになるように整合ボックス１９
内を調整する。旋回制御装置２６によって旋回装部３１
を駆動して被測定トランスデユーサ１２の指向方向を例
えば１度ずつ回動させ、その１度ずつの回動周期が反射
水槽１１の残響時間よりも長くなるようにその周期を選
定する。旋回制御装置２６内にはその旋回中の角度を示
す表示、主軸方向の表示。
１度回動ごとにパルスを発生する回路、更に旋回制御信
号を発生する回路などが設けられている。
号を発生する回路などが設けられている。
被測定トランスデユーサ１２に対するバースト信号の励
振によって超音波パルスが反射水槽１１内を伝播して６
１１１定受波器１３で受波される。測定受波器１３の出
力はインピーダンス変換回路３２を通じ、更にレベル；
ｉｌ’Ｊ整回路３３で適当なレベルに設定されて直線増
幅器３４及び対数増幅器３５に供給される。増幅器３４
、３５の出力はスイッチ３６で切換えられてＡＤ変換
器３７に入力される。ＡＤ変換器３７においてその入力
は例えば１サンプル値が８ビツトのデジタル信号に変換
され、そのサンプル周期は例えば１００ｎｓに選定され
ている。このＡＤ変換器３７よりのデジタル信号はメモ
リ３８に記憶される。メモリ３８は例えば１ワード８ビ
ツトで６４ ＫＢの容岱を持つものが用いられる。
振によって超音波パルスが反射水槽１１内を伝播して６
１１１定受波器１３で受波される。測定受波器１３の出
力はインピーダンス変換回路３２を通じ、更にレベル；
ｉｌ’Ｊ整回路３３で適当なレベルに設定されて直線増
幅器３４及び対数増幅器３５に供給される。増幅器３４
、３５の出力はスイッチ３６で切換えられてＡＤ変換
器３７に入力される。ＡＤ変換器３７においてその入力
は例えば１サンプル値が８ビツトのデジタル信号に変換
され、そのサンプル周期は例えば１００ｎｓに選定され
ている。このＡＤ変換器３７よりのデジタル信号はメモ
リ３８に記憶される。メモリ３８は例えば１ワード８ビ
ツトで６４ ＫＢの容岱を持つものが用いられる。
メモリ３８に対する記憶期間は、被測定トランスデユー
サ１２に対する励振を基準に設定され、その期間は少く
とも測定受波器１３が直接波を受波している期間を含む
。即ちメモリ書込み開始設定スイッチ３９と鳶込み終了
設定スイッチ４１とが設けられ、これら設定は書込み制
御回路４２に供給され、代込み制御回路４２にはスイッ
チ１６の出力パルスも入力され、壱込み制御回路４２に
よりメモリ３８に対する１込みが行われる。
サ１２に対する励振を基準に設定され、その期間は少く
とも測定受波器１３が直接波を受波している期間を含む
。即ちメモリ書込み開始設定スイッチ３９と鳶込み終了
設定スイッチ４１とが設けられ、これら設定は書込み制
御回路４２に供給され、代込み制御回路４２にはスイッ
チ１６の出力パルスも入力され、壱込み制御回路４２に
よりメモリ３８に対する１込みが行われる。
即ち第２図Ａに示すように被測定トランスデユーサ１２
に対し、バースト信号４３が時点ｔ１に供給される。こ
のバースト信号４３の前縁からｔ時間を経過したｌＪｉ
点ｔ２に第２図Ｂに示すように測定受波器１３にトラン
スデユーサ１２よシの直接波４４が受波され、その後時
点ｔ３ｙｃおいて第２図Ｃに示すように最も速い反射波
４５が受波される。バースト信号４３の発生時点１．か
ら直接波４４の受波までの時間ｔは約ａｘ ６６５μｓ
（ａは被測定トランスデユーサ１２と測定受波器１３と
の間の距陪、単位メートル）であ見反射波４５は水穂］
１１の底からの反射が最も速いとするとトランステユー
ザ１２の中心より水杷１１の底までの距肉１ｔをｂｍと
すれ―：バースト（３号４３の発生から反射波４５が受
波されるまでの時間を十Δｔは２ 、％”−Ｘ ６６５
ｐｓ となる。時点ｔ２からｔ３の間の画定受波器１３の出力
をメモリ３８に糊込むようにする。これは水槽１１に対
するトランステユーザ１２．測定受波器１３の配置によ
って、バースト信号４３の発生に対する時刻ｔ２゜ｔ３
は割算で捷り、これらの時刻ｔ２ ＋ ｊ３を書込み開
始設定スイッチ３９．書込み終了スイッチ４１に設定し
ておき、又バースト信号発生回路１５の入カ即ちスイッ
チ１６の出力側を分岐して送信開始パルスを１込み制御
回路４３に与えておくことによってメモリ３８に対する
書込みを時点ｔ２がらｔ３の間だけ行うように書込み制
御回路４２で行う。
に対し、バースト信号４３が時点ｔ１に供給される。こ
のバースト信号４３の前縁からｔ時間を経過したｌＪｉ
点ｔ２に第２図Ｂに示すように測定受波器１３にトラン
スデユーサ１２よシの直接波４４が受波され、その後時
点ｔ３ｙｃおいて第２図Ｃに示すように最も速い反射波
４５が受波される。バースト信号４３の発生時点１．か
ら直接波４４の受波までの時間ｔは約ａｘ ６６５μｓ
（ａは被測定トランスデユーサ１２と測定受波器１３と
の間の距陪、単位メートル）であ見反射波４５は水穂］
１１の底からの反射が最も速いとするとトランステユー
ザ１２の中心より水杷１１の底までの距肉１ｔをｂｍと
すれ―：バースト（３号４３の発生から反射波４５が受
波されるまでの時間を十Δｔは２ 、％”−Ｘ ６６５
ｐｓ となる。時点ｔ２からｔ３の間の画定受波器１３の出力
をメモリ３８に糊込むようにする。これは水槽１１に対
するトランステユーザ１２．測定受波器１３の配置によ
って、バースト信号４３の発生に対する時刻ｔ２゜ｔ３
は割算で捷り、これらの時刻ｔ２ ＋ ｊ３を書込み開
始設定スイッチ３９．書込み終了スイッチ４１に設定し
ておき、又バースト信号発生回路１５の入カ即ちスイッ
チ１６の出力側を分岐して送信開始パルスを１込み制御
回路４３に与えておくことによってメモリ３８に対する
書込みを時点ｔ２がらｔ３の間だけ行うように書込み制
御回路４２で行う。
このようにしてメモリ３８に書込まれたテークを用いて
各種の測定を行う。即ち読出し制御回路４６が設けられ
、読出し制御回路４６に対してはモードスイッチ４７に
よ）シンクロスコープ４８にょル音圧測定は設定位置を
■とし、ＸＹレコーダ４９にょる音圧測定は設定位置を
■とし、葺レコーダ４９による指向角測定は設定位置を
■とする。また８秘に応じて読出１−速度設定スイッチ
５１を制御してその読出し速度を設定することができる
。この読出しモードスイッチ４７と読出し速度設定スイ
ッチ５１との設定状態に応じて読出し制御回路４６はメ
モリ３８に対するアドレスを力えて読出しを行う。
各種の測定を行う。即ち読出し制御回路４６が設けられ
、読出し制御回路４６に対してはモードスイッチ４７に
よ）シンクロスコープ４８にょル音圧測定は設定位置を
■とし、ＸＹレコーダ４９にょる音圧測定は設定位置を
■とし、葺レコーダ４９による指向角測定は設定位置を
■とする。また８秘に応じて読出１−速度設定スイッチ
５１を制御してその読出し速度を設定することができる
。この読出しモードスイッチ４７と読出し速度設定スイ
ッチ５１との設定状態に応じて読出し制御回路４６はメ
モリ３８に対するアドレスを力えて読出しを行う。
メモリ３８より読出された出力はＤＡ変換器５２でアナ
ログ信号に変換され、ＤＡ変換器５２の出力はスイッチ
５３を通じてノンクロスコープ４８に供給されると共に
ピーク保持回路５４を通じ、更にスイッチ５３を通じて
ＸＹレコーダ４９のＸ入力端子に供給される。
ログ信号に変換され、ＤＡ変換器５２の出力はスイッチ
５３を通じてノンクロスコープ４８に供給されると共に
ピーク保持回路５４を通じ、更にスイッチ５３を通じて
ＸＹレコーダ４９のＸ入力端子に供給される。
一方読出し制御回路４６から音圧測定用鋸歯状波発生回
路５６が駆動され、これよりの鋸歯状波はスインｆ５７
を通ＵてＸＹレコーダ４９のＸ入力端子に供給される。
路５６が駆動され、これよりの鋸歯状波はスインｆ５７
を通ＵてＸＹレコーダ４９のＸ入力端子に供給される。
ＸＹレコーダ４９で音圧測定を行う場合はそのＸＹレコ
ータ４９の動作速度に応じた速度でメモリ３８が読出さ
れ、その大きさがＸ方向とし、時間経過がＹ、方向とし
て音圧波形が記録測定される。
ータ４９の動作速度に応じた速度でメモリ３８が読出さ
れ、その大きさがＸ方向とし、時間経過がＹ、方向とし
て音圧波形が記録測定される。
一方指向角度１１１１１定のために指向角度測定用鋸歯
状波発生回路５８が設けられ、この鉱山状波発生回路５
８には旋回制御装置２６から１度ごとのパルスが内えら
れ、例えば３６０度、つま９３６０個のパルスでＯＶよ
りＩＯＶに立上る鋸歯状波が発生される。
状波発生回路５８が設けられ、この鉱山状波発生回路５
８には旋回制御装置２６から１度ごとのパルスが内えら
れ、例えば３６０度、つま９３６０個のパルスでＯＶよ
りＩＯＶに立上る鋸歯状波が発生される。
この鋸歯状波はスイッチ５７を通じてＸＹレコーダ４９
のＸ入力端子に与えられる。一方各角度に対応して荏ら
れた直接波４４は−Ｈメモリ３８内に記憶され、メモリ
３８の読出し出力はピーク保持回路５４でその角度ごと
にピーク（Ｋが検出され、これがスィッチ５３ヲ通じて
ＸＹレコータ４９のＸ端子に与えられる。
のＸ入力端子に与えられる。一方各角度に対応して荏ら
れた直接波４４は−Ｈメモリ３８内に記憶され、メモリ
３８の読出し出力はピーク保持回路５４でその角度ごと
にピーク（Ｋが検出され、これがスィッチ５３ヲ通じて
ＸＹレコータ４９のＸ端子に与えられる。
従ってＸＹレコーダ４９には曲線５９として示すように
Ｙ方向が角度、Ｘ方向が受信レベルを示す指向特性が配
録測定される。なお音圧測定においてはスイッチ３６は
直線増幅器３４側に切換え、指向角測定においてはスイ
ッチ３６は対数増幅器３５側に切換える。
Ｙ方向が角度、Ｘ方向が受信レベルを示す指向特性が配
録測定される。なお音圧測定においてはスイッチ３６は
直線増幅器３４側に切換え、指向角測定においてはスイ
ッチ３６は対数増幅器３５側に切換える。
〈効 果〉
以上述べたようにこの発明によるトランスデユーサ試験
装置においては測定受波器１３において直接波を受信し
ている期間のみその測定受波器１３の出力を一旦メモリ
３８に記憶し、その後そのメモリを読出して例えば音圧
測定や指向角測定を行うため、反射水槽１１を用いてそ
の反射波に影響されることなく正しい測定を行うことが
できる。反射水槽１１は比較的簡単に設けることができ
、高価々無残響水槽を用いることなく、又その無残響水
槽の設けられた場所に出掛けて行って測定する必要もな
い。シンクロスコープ４８による測定時に、メモリ３８
を繰返上読出せばよく、被測定トランスデユーサ１２を
繰返し励振する必要がなく反射信号の影響を受けない。
装置においては測定受波器１３において直接波を受信し
ている期間のみその測定受波器１３の出力を一旦メモリ
３８に記憶し、その後そのメモリを読出して例えば音圧
測定や指向角測定を行うため、反射水槽１１を用いてそ
の反射波に影響されることなく正しい測定を行うことが
できる。反射水槽１１は比較的簡単に設けることができ
、高価々無残響水槽を用いることなく、又その無残響水
槽の設けられた場所に出掛けて行って測定する必要もな
い。シンクロスコープ４８による測定時に、メモリ３８
を繰返上読出せばよく、被測定トランスデユーサ１２を
繰返し励振する必要がなく反射信号の影響を受けない。
なおトランスデユーサ１２に対する印加電圧は回路５９
（ｃて検出し、その出力で発振器１４の発振出力を制御
して一定出力を得ている。
（ｃて検出し、その出力で発振器１４の発振出力を制御
して一定出力を得ている。
第１図はこの発明によるトランスデユーサ試験装館の一
例を示すブロック図、第２図はその動作の説明に供する
ためのタイムチャートである。 １１：反身」水（曹、１２：＃６川定トランステユーサ
、１３：渉１１定受汲器、１４：発振器、１７ 、２５
：パルス発ａｌ＝ Ｚ：ｉ、１５ ”、 バー スト
信号発生器、３７ ： ＡＤ変換器、３８：メモリ、４
２：書込み制御回路、４６：読出し制御回路、５４：ピ
ークケト１−回路、４８ニシンクロスコープ、４９ ：
ＸＹレコーダ、５６：音圧測定用鋸葭状波発半回路、
５８：指向角測定用鋸歯状波発生回路、２９：トランス
テユーサ旋回制御装置。 勃許出１ｉｑ人 株式会社光電製作所 代理人 草野 卓 ７１′７２ 図 ／、１ 手続補正書（自発） １、小作の表示 特許［′！昭５８−１−８８７７６２
発明の名称 水中超音波トランスデユーサ試験装置８補
正をする者 事件との関係 特許出願人 株式会社 光電製作所 ４代 理 人 東京都新宿区新宿４−２−２１ 相極ビ
ル５補正の７１象 明細再生発明の詳細な説明の桐１及
び図面６袖正の内容 （１）明細書８貢３行「制御回路４３」を「制御面を加
入する。
例を示すブロック図、第２図はその動作の説明に供する
ためのタイムチャートである。 １１：反身」水（曹、１２：＃６川定トランステユーサ
、１３：渉１１定受汲器、１４：発振器、１７ 、２５
：パルス発ａｌ＝ Ｚ：ｉ、１５ ”、 バー スト
信号発生器、３７ ： ＡＤ変換器、３８：メモリ、４
２：書込み制御回路、４６：読出し制御回路、５４：ピ
ークケト１−回路、４８ニシンクロスコープ、４９ ：
ＸＹレコーダ、５６：音圧測定用鋸葭状波発半回路、
５８：指向角測定用鋸歯状波発生回路、２９：トランス
テユーサ旋回制御装置。 勃許出１ｉｑ人 株式会社光電製作所 代理人 草野 卓 ７１′７２ 図 ／、１ 手続補正書（自発） １、小作の表示 特許［′！昭５８−１−８８７７６２
発明の名称 水中超音波トランスデユーサ試験装置８補
正をする者 事件との関係 特許出願人 株式会社 光電製作所 ４代 理 人 東京都新宿区新宿４−２−２１ 相極ビ
ル５補正の７１象 明細再生発明の詳細な説明の桐１及
び図面６袖正の内容 （１）明細書８貢３行「制御回路４３」を「制御面を加
入する。
Claims (1)
- （１）反射水槽内に被測定トランスデユーサ及び測定受
波器を配し、その被測定トランスデユーサに超音波パル
スを与え、その時の測定受波器の出力をＩｆ！１１定す
る水中超音波トランスデユーサ試、験装僅であって、上
記反射水槽の残響時間よりも長い周期をもって上記被測
定トランスデユーサに超音波パルスを与える駆動手段と
、上記測定受波器の出力をテジタル信号に変換するＡＤ
変換器と、上記被測定トランスデユーサに対する励振を
基準として上記測定受波器に直接波の愛情期間を設定す
る設定手段と、その設定された肋間の間上記ＡＤ変換器
の出力が記憶されるメモリと、そのメモリを読出して読
出し出力から必要なｄｌ、１定を行う４１１１定手段と
を具備する水中超音波トランスデユーサ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58188776A JPS6080400A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 水中超音波トランスデユ−サ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58188776A JPS6080400A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 水中超音波トランスデユ−サ試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6080400A true JPS6080400A (ja) | 1985-05-08 |
Family
ID=16229583
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58188776A Pending JPS6080400A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 水中超音波トランスデユ−サ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6080400A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6225888U (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-17 | ||
| JPH0879898A (ja) * | 1994-09-06 | 1996-03-22 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 水中送受波器用感度試験器 |
-
1983
- 1983-10-07 JP JP58188776A patent/JPS6080400A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6225888U (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-17 | ||
| JPH0879898A (ja) * | 1994-09-06 | 1996-03-22 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 水中送受波器用感度試験器 |
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