JPS6079656A - 大気圧イオン化質量分析計 - Google Patents
大気圧イオン化質量分析計Info
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- JPS6079656A JPS6079656A JP58186742A JP18674283A JPS6079656A JP S6079656 A JPS6079656 A JP S6079656A JP 58186742 A JP58186742 A JP 58186742A JP 18674283 A JP18674283 A JP 18674283A JP S6079656 A JPS6079656 A JP S6079656A
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- JP
- Japan
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- electrode
- solution
- pressure ionization
- atmospheric
- ionization mass
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/10—Ion sources; Ion guns
- H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
- H01J49/168—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission field ionisation, e.g. corona discharge
-
- H—ELECTRICITY
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
- H01J49/0454—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for vaporising using mechanical energy, e.g. by ultrasonic vibrations
-
- H—ELECTRICITY
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- H01J49/061—Ion deflecting means, e.g. ion gates
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、大気圧イオン化質量分析計に係り、特に溶液
中の試料を大気圧イオン化源に導入するのに好適な試料
導入系を有する大気圧イオン化質量分析計に関する。
中の試料を大気圧イオン化源に導入するのに好適な試料
導入系を有する大気圧イオン化質量分析計に関する。
従来の大気圧イオン化質量分析計では、測定対象は気体
に限られており、溶液中の試料をそのまま導入して測定
することはできなかった。
に限られており、溶液中の試料をそのまま導入して測定
することはできなかった。
本発明の目的は、溶液中の試料であっても大気圧イオン
化質量分析法を用いて測定できるような大気圧イオン化
質量分析計を提供することにある。
化質量分析法を用いて測定できるような大気圧イオン化
質量分析計を提供することにある。
溶液中の試料を大気圧イオン化質量分析法を用いて測定
できるように、溶液をマイクロインクジェット法と同じ
方法で霧化し、さらに加熱して液粒径を小さくして、大
気圧イオン化質量分析削のイオン源に導入するようにし
た。
できるように、溶液をマイクロインクジェット法と同じ
方法で霧化し、さらに加熱して液粒径を小さくして、大
気圧イオン化質量分析削のイオン源に導入するようにし
た。
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
この試料導入法の動作を分解すると次のようになる。(
1)溶液を加圧し、ノズル径60〜70μmφのノ形を
おこさせる。ノズルと超音波振動子は接地電位にある。
1)溶液を加圧し、ノズル径60〜70μmφのノ形を
おこさせる。ノズルと超音波振動子は接地電位にある。
(3)噴流の切断直前に、荷゛K 電極6に重圧−40
0V程度を与え、噴流の先端部に電荷を誘起させ噴流の
粒子化現象を用い、荷電粒子を形成する。このとき小さ
なもので粒子径20〜30μmφ程度のものができる。
0V程度を与え、噴流の先端部に電荷を誘起させ噴流の
粒子化現象を用い、荷電粒子を形成する。このとき小さ
なもので粒子径20〜30μmφ程度のものができる。
(4)偏向電極8のつくる静電場の作用により電荷の大
きさに従ってその飛行軌道を上方向に偏向させる。偏向
板の大きさは10配×3咽ギャップ1rnm程度である
。無荷電粒子や大きな粒子は回収板9により回収する。
きさに従ってその飛行軌道を上方向に偏向させる。偏向
板の大きさは10配×3咽ギャップ1rnm程度である
。無荷電粒子や大きな粒子は回収板9により回収する。
この(1)から(4)までを含んだ部分をマイクロイオ
ンジェット部という。+51回収板9により回収されな
かった20〜30μmφの小さな粒子は1oのヒータ一
部を通り、さらに液粒径を小さくする。通常、150〜
200C程度とする。(6)このように、霧化された試
料と溶媒は11のコロナ放電用針電極でイオン化され、
14の対向電極の細孔(100μmφ程厩)からサンプ
リングされ、その後質量分析される。これにより、溶液
中の試料でも測定できるようになる。
ンジェット部という。+51回収板9により回収されな
かった20〜30μmφの小さな粒子は1oのヒータ一
部を通り、さらに液粒径を小さくする。通常、150〜
200C程度とする。(6)このように、霧化された試
料と溶媒は11のコロナ放電用針電極でイオン化され、
14の対向電極の細孔(100μmφ程厩)からサンプ
リングされ、その後質量分析される。これにより、溶液
中の試料でも測定できるようになる。
本発明によれば、溶液中の試料を大気圧イオン化質量分
析計を用いて測定できるようになるので大気圧イオン化
質量分析法を用いた液体クロマトグラフと躍景分析計結
合装置のインターフェイスとして使用できる。
析計を用いて測定できるようになるので大気圧イオン化
質量分析法を用いた液体クロマトグラフと躍景分析計結
合装置のインターフェイスとして使用できる。
図面は、マイクロインクジェット法を用いた試料導入系
をそなえた大気圧イオン化質量分析計のイオン源の説明
図である。 1・・・超音波振動子、2・・・ノズル、3・・・ガラ
ス/くイブ、4・・・ガス導入口、5・・・端子、6・
・・荷電電極、7・・・端子、8・・・偏向板、9・・
・溶液回収板、10・・・ヒーター、11・・・コロナ
放電用釧醒極、12・・・両電極支持用絶縁体、13・
・・大気圧イオン源用ブロック、14・・・対向電極。 代理人 弁理士 高橋明を : 又−一。
をそなえた大気圧イオン化質量分析計のイオン源の説明
図である。 1・・・超音波振動子、2・・・ノズル、3・・・ガラ
ス/くイブ、4・・・ガス導入口、5・・・端子、6・
・・荷電電極、7・・・端子、8・・・偏向板、9・・
・溶液回収板、10・・・ヒーター、11・・・コロナ
放電用釧醒極、12・・・両電極支持用絶縁体、13・
・・大気圧イオン源用ブロック、14・・・対向電極。 代理人 弁理士 高橋明を : 又−一。
Claims (1)
- コロナ放電用針電極と対向電極より成る大気圧イオン化
質景分析計において、溶液中の試料をも測定できるよう
に超音波振動子を有するノズル部と荷電電極部と偏向電
極部及び溶液回収部よりなるマイクロインクジェット法
を用いた試料導入系を設けたことを特徴とする大気圧イ
オン化質量分析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58186742A JPS6079656A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 大気圧イオン化質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58186742A JPS6079656A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 大気圧イオン化質量分析計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6079656A true JPS6079656A (ja) | 1985-05-07 |
Family
ID=16193853
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58186742A Pending JPS6079656A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 大気圧イオン化質量分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6079656A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62102256U (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-29 | ||
EP0715337A1 (en) * | 1994-11-28 | 1996-06-05 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry of solution and apparatus therefor |
JP2007033388A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Canon Inc | 情報取得方法及び情報取得装置 |
WO2012145039A1 (en) * | 2011-04-20 | 2012-10-26 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Sample introduction method and system for atomic spectrometry |
CN104867806A (zh) * | 2014-02-24 | 2015-08-26 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 用于解吸附样品的进样方法和装置 |
CN105588872A (zh) * | 2016-03-02 | 2016-05-18 | 中国科学技术大学 | 一种用于复杂基质中有效成分的快速在线大气压光电离质谱装置 |
-
1983
- 1983-10-07 JP JP58186742A patent/JPS6079656A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62102256U (ja) * | 1985-12-18 | 1987-06-29 | ||
JPH0427084Y2 (ja) * | 1985-12-18 | 1992-06-29 | ||
EP0715337A1 (en) * | 1994-11-28 | 1996-06-05 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry of solution and apparatus therefor |
US6121608A (en) * | 1994-11-28 | 2000-09-19 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry of solution and apparatus |
US6252225B1 (en) | 1994-11-28 | 2001-06-26 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry of solution and apparatus therefor |
US6437327B2 (en) | 1994-11-28 | 2002-08-20 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometry of solution and apparatus therefor |
JP2007033388A (ja) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Canon Inc | 情報取得方法及び情報取得装置 |
WO2012145039A1 (en) * | 2011-04-20 | 2012-10-26 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Sample introduction method and system for atomic spectrometry |
US8642954B2 (en) | 2011-04-20 | 2014-02-04 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Sample introduction method and system for atomic spectrometry |
CN104867806A (zh) * | 2014-02-24 | 2015-08-26 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 用于解吸附样品的进样方法和装置 |
CN104867806B (zh) * | 2014-02-24 | 2018-05-01 | 岛津分析技术研发(上海)有限公司 | 用于解吸附样品的进样方法和装置 |
CN105588872A (zh) * | 2016-03-02 | 2016-05-18 | 中国科学技术大学 | 一种用于复杂基质中有效成分的快速在线大气压光电离质谱装置 |
CN105588872B (zh) * | 2016-03-02 | 2018-09-07 | 中国科学技术大学 | 一种用于复杂基质中有效成分的快速在线大气压光电离质谱装置 |
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