JPS6079656A - 大気圧イオン化質量分析計 - Google Patents

大気圧イオン化質量分析計

Info

Publication number
JPS6079656A
JPS6079656A JP58186742A JP18674283A JPS6079656A JP S6079656 A JPS6079656 A JP S6079656A JP 58186742 A JP58186742 A JP 58186742A JP 18674283 A JP18674283 A JP 18674283A JP S6079656 A JPS6079656 A JP S6079656A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
solution
pressure ionization
atmospheric
ionization mass
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58186742A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Sakairi
実 坂入
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58186742A priority Critical patent/JPS6079656A/ja
Publication of JPS6079656A publication Critical patent/JPS6079656A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/10—Ion sources; Ion guns
    • H01J49/16—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission
    • H01J49/168—Ion sources; Ion guns using surface ionisation, e.g. field-, thermionic- or photo-emission field ionisation, e.g. corona discharge
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
    • H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
    • H01J49/0454—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples with means for vaporising using mechanical energy, e.g. by ultrasonic vibrations
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02—Details
    • H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/061—Ion deflecting means, e.g. ion gates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、大気圧イオン化質量分析計に係り、特に溶液
中の試料を大気圧イオン化源に導入するのに好適な試料
導入系を有する大気圧イオン化質量分析計に関する。
〔発明の背景〕
従来の大気圧イオン化質量分析計では、測定対象は気体
に限られており、溶液中の試料をそのまま導入して測定
することはできなかった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、溶液中の試料であっても大気圧イオン
化質量分析法を用いて測定できるような大気圧イオン化
質量分析計を提供することにある。
〔発明の概要〕
溶液中の試料を大気圧イオン化質量分析法を用いて測定
できるように、溶液をマイクロインクジェット法と同じ
方法で霧化し、さらに加熱して液粒径を小さくして、大
気圧イオン化質量分析削のイオン源に導入するようにし
た。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例を図により説明する。
この試料導入法の動作を分解すると次のようになる。（
１）溶液を加圧し、ノズル径６０〜７０μｍφのノ形を
おこさせる。ノズルと超音波振動子は接地電位にある。
（３）噴流の切断直前に、荷゛Ｋ　電極６に重圧−４０
０Ｖ程度を与え、噴流の先端部に電荷を誘起させ噴流の
粒子化現象を用い、荷電粒子を形成する。このとき小さ
なもので粒子径２０〜３０μｍφ程度のものができる。
（４）偏向電極８のつくる静電場の作用により電荷の大
きさに従ってその飛行軌道を上方向に偏向させる。偏向
板の大きさは１０配×３咽ギャップ１ｒｎｍ程度である
。無荷電粒子や大きな粒子は回収板９により回収する。
この（１）から（４）までを含んだ部分をマイクロイオ
ンジェット部という。＋５１回収板９により回収されな
かった２０〜３０μｍφの小さな粒子は１ｏのヒータ一
部を通り、さらに液粒径を小さくする。通常、１５０〜
２００Ｃ程度とする。（６）このように、霧化された試
料と溶媒は１１のコロナ放電用針電極でイオン化され、
１４の対向電極の細孔（１００μｍφ程厩）からサンプ
リングされ、その後質量分析される。これにより、溶液
中の試料でも測定できるようになる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、溶液中の試料を大気圧イオン化質量分
析計を用いて測定できるようになるので大気圧イオン化
質量分析法を用いた液体クロマトグラフと躍景分析計結
合装置のインターフェイスとして使用できる。
【図面の簡単な説明】
図面は、マイクロインクジェット法を用いた試料導入系
をそなえた大気圧イオン化質量分析計のイオン源の説明
図である。 １・・・超音波振動子、２・・・ノズル、３・・・ガラ
ス／くイブ、４・・・ガス導入口、５・・・端子、６・
・・荷電電極、７・・・端子、８・・・偏向板、９・・
・溶液回収板、１０・・・ヒーター、１１・・・コロナ
放電用釧醒極、１２・・・両電極支持用絶縁体、１３・
・・大気圧イオン源用ブロック、１４・・・対向電極。 代理人　弁理士　高橋明を　： 又−一。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. コロナ放電用針電極と対向電極より成る大気圧イオン化
    質景分析計において、溶液中の試料をも測定できるよう
    に超音波振動子を有するノズル部と荷電電極部と偏向電
    極部及び溶液回収部よりなるマイクロインクジェット法
    を用いた試料導入系を設けたことを特徴とする大気圧イ
    オン化質量分析計。
JP58186742A 1983-10-07 1983-10-07 大気圧イオン化質量分析計 Pending JPS6079656A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58186742A JPS6079656A (ja) 1983-10-07 1983-10-07 大気圧イオン化質量分析計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58186742A JPS6079656A (ja) 1983-10-07 1983-10-07 大気圧イオン化質量分析計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6079656A true JPS6079656A (ja) 1985-05-07

Family

ID=16193853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58186742A Pending JPS6079656A (ja) 1983-10-07 1983-10-07 大気圧イオン化質量分析計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6079656A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62102256U (ja) * 1985-12-18 1987-06-29
EP0715337A1 (en) * 1994-11-28 1996-06-05 Hitachi, Ltd. Mass spectrometry of solution and apparatus therefor
JP2007033388A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Canon Inc 情報取得方法及び情報取得装置
WO2012145039A1 (en) * 2011-04-20 2012-10-26 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Sample introduction method and system for atomic spectrometry
CN104867806A (zh) * 2014-02-24 2015-08-26 岛津分析技术研发（上海）有限公司 用于解吸附样品的进样方法和装置
CN105588872A (zh) * 2016-03-02 2016-05-18 中国科学技术大学 一种用于复杂基质中有效成分的快速在线大气压光电离质谱装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62102256U (ja) * 1985-12-18 1987-06-29
JPH0427084Y2 (ja) * 1985-12-18 1992-06-29
EP0715337A1 (en) * 1994-11-28 1996-06-05 Hitachi, Ltd. Mass spectrometry of solution and apparatus therefor
US6121608A (en) * 1994-11-28 2000-09-19 Hitachi, Ltd. Mass spectrometry of solution and apparatus
US6252225B1 (en) 1994-11-28 2001-06-26 Hitachi, Ltd. Mass spectrometry of solution and apparatus therefor
US6437327B2 (en) 1994-11-28 2002-08-20 Hitachi, Ltd. Mass spectrometry of solution and apparatus therefor
JP2007033388A (ja) * 2005-07-29 2007-02-08 Canon Inc 情報取得方法及び情報取得装置
WO2012145039A1 (en) * 2011-04-20 2012-10-26 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Sample introduction method and system for atomic spectrometry
US8642954B2 (en) 2011-04-20 2014-02-04 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Sample introduction method and system for atomic spectrometry
CN104867806A (zh) * 2014-02-24 2015-08-26 岛津分析技术研发（上海）有限公司 用于解吸附样品的进样方法和装置
CN104867806B (zh) * 2014-02-24 2018-05-01 岛津分析技术研发（上海）有限公司 用于解吸附样品的进样方法和装置
CN105588872A (zh) * 2016-03-02 2016-05-18 中国科学技术大学 一种用于复杂基质中有效成分的快速在线大气压光电离质谱装置
CN105588872B (zh) * 2016-03-02 2018-09-07 中国科学技术大学 一种用于复杂基质中有效成分的快速在线大气压光电离质谱装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3415682B2 (ja) キャピラリー電気泳動・質量分析計
CA2181040C (en) Ion spray with intersecting flow
JP4560656B2 (ja) 質量分析計及び質量分析方法
US6147345A (en) Method and apparatus for increased electrospray ion production
Hong et al. Generating electrospray from solutions predeposited on a copper wire
JPH0982269A (ja) 溶液の質量分析に関する方法と装置
JPS6079656A (ja) 大気圧イオン化質量分析計
Hallen et al. Preliminary investigation of ion mobility spectrometry after capillary electrophoretic introduction
EP0362813B1 (en) Ion analyzer
JP4023056B2 (ja) 液体クロマトグラフ質量分析計
TWI267891B (en) A microspray column with a mass spectrometer, and a mass spectrometry method
JPH06310088A (ja) 質量分析装置イオン源
JP2872746B2 (ja) エレクトロスプレー式質量分析装置
JP2003217503A (ja) 質量分析装置及び質量分析方法
JPH10185876A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JP3242264B2 (ja) イオン源及びこれを用いる質量分析装置
JPH07306193A (ja) イオン源及びこれを用いる質量分析装置
JP3691312B2 (ja) キャピラリー電気泳動・質量分析計
JP3870870B2 (ja) 溶液の質量分析に関する方法と装置
JPH09178705A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置
JPH05180802A (ja) 液体サンプルを分析するための方法及び装置
JPH09243600A (ja) 質量分析計
JPH077660B2 (ja) 大気圧イオン化質量分析計
JP2000208093A (ja) 質量分析計
JPH04206135A (ja) 液体クロマトグラフ質量分析装置および分析法