JPS6075907A - サ−ボ回路のル−プゲイン測定方法 - Google Patents

サ−ボ回路のル−プゲイン測定方法

Info

Publication number
JPS6075907A
JPS6075907A JP58183527A JP18352783A JPS6075907A JP S6075907 A JPS6075907 A JP S6075907A JP 58183527 A JP58183527 A JP 58183527A JP 18352783 A JP18352783 A JP 18352783A JP S6075907 A JPS6075907 A JP S6075907A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
amplifier circuit
circuit
servo circuit
loop gain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP58183527A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0452482B2 (ja
Inventor
Hideyuki Baba
馬場 秀幸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP58183527A priority Critical patent/JPS6075907A/ja
Publication of JPS6075907A publication Critical patent/JPS6075907A/ja
Publication of JPH0452482B2 publication Critical patent/JPH0452482B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B23/00Testing or monitoring of control systems or parts thereof
    • G05B23/02Electric testing or monitoring
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G3/00Gain control in amplifiers or frequency changers without distortion of the input signal
    • H03G3/20Automatic control
    • H03G3/30Automatic control in amplifiers having semiconductor devices

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はテープレコーダ、VTR,レコードプレイヤー
、コンパクトディスクプレイヤー等のサーボ回路を量産
する場合等に於けるサーボ回路の特性測定、調整等に使
用して好適なサーボ回路のループゲイン測定方法に関す
る。
背景技術とその問題点 テープレコーダ、VTR,レコードプレイヤー、コンパ
クトディスクプレイヤー等に於いてはモータ等の駆動手
段を制御するのに第1図に示す如きサーボ回路が使用さ
れている。この第1図に於いて、(1)はモータ等の駆
動手段(2)を駆動する駆動信号を発生する駆動増幅回
路、(3)はモータ等の駆動手段(2)が所定の駆動例
えば所定の回転速度であるかどうかを検出し、その誤差
に応じた制御信号を発生する誤差増幅回路である。貼る
第1図に於いては誤差増幅回路(3)の出力の制御信号
により駆動増幅回路(1)を制御して、この制御信号に
応じた。駆動信号を発生して、この駆動信号によりモー
夕等の駆動手段(2)を駆動するものである。
従来斯るサーボ回路の開ループ及び閉ループ特性(ダイ
ン、位相)測定は第2図に示す如く誤差増幅回路(3)
の出力側と駆動増幅回路(1)の入力側との間を切断し
、この誤差増幅回路(3)の出力端子を所定の抵抗値R
の抵抗器Rを介して演算増幅回路(4)の非反転入力端
子■に接続し、この非反転入力端子■を抵抗値Rの抵抗
器I(を介して接地し、外乱信号源(8)よシの外乱信
号vGを抵抗値I(の抵抗器1(を介して演算増幅回路
(4)の反転入力端子○に供給し、この演算増幅回路(
4)の出力端子を抵抗値Rの抵抗器Rを介してこの反転
入力端子θに接続し、この演算増幅回路(4)の出力端
子を駆動増幅回路(1)の入力端子に接続し、誤差増幅
回路(3)の出力端子と大地との間の電圧Vyを測定す
ると共に演算増幅回路(4)の出力端子即ち駆動増幅回
路(1)の入力端子と大地との間の電圧■Xを測定して
行っていた。
この場合駆動増幅回路(1)のケ゛インを01.i差増
幅回路(3)のケ゛インを02、モータ等の駆動手段(
2)のダインをGTとしたときこのサーボ回路の開ルー
プのトータルダインGoは GO−G1°G2°GT であシ、又外乱信号の電圧を■Gとするとである。従っ
てこの開ループゲインGOはであり、この閉ループケ゛
インGCは である。従って上述の如くサーボ回路に与える外乱信号
Vc及びそれによる誤差信号Vyと外乱信号■G及び誤
差信号■Yの差(Vc −Vy )によってサーが回路
のゲイン及び位相を測定できる。
然しなから斯る従来のサーボ回路のルーフケ9イン測定
方法にあってはサーボ回路の誤差増幅回路(3)の出力
側と、駆動増幅回路(1)の入力側との間を切断しなけ
ればならず、プリント基板上等に形成したサーボ回路の
如くこの切断か不可能なものにあっては、特別に予めこ
のループゲイン測定用だけにサーボ回路が切断でき且つ
上述演算回路(4)等が接続できる様な構成とすること
が必要であった。
発明の目的 本発明は斯る点に鑑みサーボ回路を切断することなくル
ープゲインを測定できる様にすることを目的とする。
発明の概要 本発明はサー?回路の誤差増幅回路及び駆動増幅回路の
間に接続された第1の抵抗器の駆動増幅回路側を第2の
抵抗器を介して接地すると共にこの第1の抵抗器の駆動
増幅回路側に第3の抵抗器を介して外乱信号を供給し、
この第1の抵抗器の誤差増幅回路側と大地との間の第1
の電圧及びこの第1の抵抗器の駆動増幅回路側と大地と
の間の第2の電圧を夫々測定し、この第1及び第2の電
圧、外乱信゛号の電圧、第1.第2及び第3の抵抗器ノ
夫々の抵抗値よシループケ゛インを得る様にしたもので
、本発明に依ればサーが回路を切断することなくループ
ゲインを測定できる。
実施例 以下第3図を参照しながら本発明サーボ回路のループダ
イン測定方法の一実施例につき説明しよう。この第3図
に於いて第2図に対応する部分には同一符号を付し、そ
の詳細説明は省略する。
本例に於いてはサーボ回路の誤差増幅回路(3)及び駆
動増幅回路(1)の間に接続されている所定の抵抗値を
有する抵抗器(5)の両端に接続端子(6a)及び(6
b)を設ける。
このサーボ回路のループゲインを測定するときはこの抵
抗器(5)の駆動増幅回路(1)側の接続端子(6b)
を所定の抵抗値の抵抗器(7)を介して接地すると共に
測定用の外乱信号# (81よりの外乱信号■Gを抵抗
器(9)を介してこの接続端子(6b)に供給する。
との抵抗器(7)及び(9)は外部よシこのサーボ回路
に外乱信号VCを供給する為のもので、この抵抗器(9
)の抵抗値を外乱信号源(8)の信号源インピーダンス
に比較し充分大きい値とする。又この場合駆動増幅回路
(1)の入力インピーダンスは充分高く、誤差増幅回路
(3)の出力インピーダンスは充分低いものとする。
そしてこの抵抗器(5)の誤差増幅回路(3)側の接続
端子(6a)と大地との間の電圧Vy及び接続端子(6
b)と大地との間の電圧Vxを夫々インピーダンスが充
分高い電圧計を使用して測定する。
この第3図に於ける開ルーゾグインGoは抵抗器(9)
の抵抗値をR1、抵抗器(5)の抵抗値をR2、抵抗器
(力の抵抗値をR3としたとき つまシ となり、定数Kがまっていればサーボ回路を切断しなく
とも電圧vx、vY’を測定することにょシ開ルーググ
インGoをめることができる。
又閉ルーツダインGcについては次の通シである。ここ
で であシ、 とすると であシ、閉ルーツゲインGcは となる。
従って第3図に於いて定数K1.Kがまれば電圧■Y及
び外乱信号の電圧■Gを測定することにょシサーボ回路
の閉ループヶ゛インGcをサーボ回路を切断することな
くめることができる。
尚本発明は上述実施例に限ることなく本発明の要旨を逸
脱することなくその他種々の構成が取り得ることは勿論
である。
発明の効果 本発明に依ればサーボ回路のループを切断することなく
、このループダインを測定できる。従って本発明をサー
ボ回路の量産する場合の特性の測定、調整等に使用して
極めて有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図はサーボ回路の例を示す構成図、第2図は従来の
サーボ回路のループゲイン測定方法の例の説明に供する
構成図、第3図は本発明サーボ回路のループゲイン測定
方法の一実施例の説明に供する構成図である。 (])は駆動増幅回路、(2)は駆動手段、(3)は誤
差増幅回路、(5)、(力及び(9)は夫々抵抗器、(
8)は外乱信号源である。 同 松隈秀盛、7:(、。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. サーボ回路の誤差増幅回路及び駆動増幅回路の間に接続
    された第1の抵抗器の上記駆動増幅回路側を第2の抵抗
    器を介して接地すると共に上記第1の抵抗器の上記駆動
    増幅回路側に第3の抵抗器を介して外乱信号を供給し、
    上記第1の抵抗器の誤差増幅回路側と大地との間の第1
    の電圧及び上記第1の抵抗器の駆動増幅回路側と大地と
    の間の第2の電圧を夫々測定し、該第1及び第2の電圧
    、上記外乱信号の電圧、上記第1.第2及び第3の抵抗
    器の夫々の抵抗値よシループrインを得る様にしたこと
    を特徴とするサーボ回路のループゲイン測定方法。
JP58183527A 1983-09-30 1983-09-30 サ−ボ回路のル−プゲイン測定方法 Granted JPS6075907A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58183527A JPS6075907A (ja) 1983-09-30 1983-09-30 サ−ボ回路のル−プゲイン測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58183527A JPS6075907A (ja) 1983-09-30 1983-09-30 サ−ボ回路のル−プゲイン測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6075907A true JPS6075907A (ja) 1985-04-30
JPH0452482B2 JPH0452482B2 (ja) 1992-08-24

Family

ID=16137393

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58183527A Granted JPS6075907A (ja) 1983-09-30 1983-09-30 サ−ボ回路のル−プゲイン測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6075907A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62264442A (ja) * 1986-05-12 1987-11-17 Olympus Optical Co Ltd ル−プゲイン測定装置
JPH04133114U (ja) * 1992-04-27 1992-12-10 ヤンマー農機株式会社 田植機
US5408387A (en) * 1991-11-30 1995-04-18 Meitaku System Co., Ltd. Edge light panel and its production
US5775791A (en) * 1992-08-31 1998-07-07 Copal Company Limited Surface emission apparatus

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62264442A (ja) * 1986-05-12 1987-11-17 Olympus Optical Co Ltd ル−プゲイン測定装置
US5408387A (en) * 1991-11-30 1995-04-18 Meitaku System Co., Ltd. Edge light panel and its production
JPH04133114U (ja) * 1992-04-27 1992-12-10 ヤンマー農機株式会社 田植機
US5775791A (en) * 1992-08-31 1998-07-07 Copal Company Limited Surface emission apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0452482B2 (ja) 1992-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5103353A (en) Low noise amplifier with short circuit protection for signals from magnetoresistive element
JPH03187002A (ja) 磁気抵抗エレメントが発生する信号の増幅回路
EP0197663A2 (en) Methods of and apparatus for controlling a bimorph distortion detection device
JPS6075907A (ja) サ−ボ回路のル−プゲイン測定方法
US4922160A (en) Impedance load driving circuit
JPS6049969B2 (ja) 信号再生装置
JP2748145B2 (ja) 差動増幅回路
JPS59226907A (ja) 閉ル−プ制御系のサ−ボ特性評価装置
JPH03222600A (ja) ボイスコイル温度上昇測定器
JP3012281B2 (ja) 混成集積回路の機能トリミング方法
JPH0548270Y2 (ja)
JP3109685B2 (ja) 磁気再生装置
US4424537A (en) Magnetic recording device
JPS58186812A (ja) 速度制御回路
JP3012280B2 (ja) 混成集積回路の機能トリミング方法
JPH025419Y2 (ja)
JPS61155762A (ja) 回転速度検出装置
JPH025422Y2 (ja)
JPH0426963Y2 (ja)
JPS61169716A (ja) 磁気エンコ−ダ装置
EP0082024A1 (en) Improvements in and relating to electrical amplifier arrangements
JPS62182674A (ja) サ−ボ回路の特性測定回路
JPS6374101A (ja) 回転ヘツド型磁気記録再生装置
JPH01238207A (ja) 温度補償増幅回路
JPS5913041B2 (ja) サ−ボ機構