JPS6071969A - 群遅延測定装置 - Google Patents
群遅延測定装置Info
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- JPS6071969A JPS6071969A JP18164483A JP18164483A JPS6071969A JP S6071969 A JPS6071969 A JP S6071969A JP 18164483 A JP18164483 A JP 18164483A JP 18164483 A JP18164483 A JP 18164483A JP S6071969 A JPS6071969 A JP S6071969A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は測定対象に試験信号を供給し、その測定対象
の入力信号及び出力信号を高速フーリエ変換し、その位
相周波数特性をめ、その位相周波数特性の差分から群遅
延量をめる群遅延測定装置に関する。
の入力信号及び出力信号を高速フーリエ変換し、その位
相周波数特性をめ、その位相周波数特性の差分から群遅
延量をめる群遅延測定装置に関する。
〈従来技術〉
従来アナログ的手法により群遅延を測定するには測定対
象にバースト状の振幅変調波を供給し、その入出力間の
包絡線のずれ時間からその搬送波周波数の群遅延時間を
測定していた。このようにして成る周波数範囲内におけ
る群遅延を測定するにはいちいち搬送波周波数を変化さ
せて行う必要があり、測定時間が長くなる。このような
点より入出力信号を高速フーリエ変換して伝達関数をめ
て位相差をめ、その位相差を周波数に対して微分して群
遅延をめることが行われていた。しかし例えば第１図Ａ
に曲線１に示すように得られた伝達関数の振幅周波数特
性が周波数軸に対して急激に変化し、共振点１ａや反共
振点１ｂが存在すると、第１図Ｂに示すようにその位相
特性曲線２はこれら共振点１ａや反共振点１ｂと対応し
て位相特性が急激に変化する部分２ａ、２ｂが生じ、こ
のためこの位相特性の差分をとり、つまり周波数で微分
しても群遅延量を正しく得ることができない。
象にバースト状の振幅変調波を供給し、その入出力間の
包絡線のずれ時間からその搬送波周波数の群遅延時間を
測定していた。このようにして成る周波数範囲内におけ
る群遅延を測定するにはいちいち搬送波周波数を変化さ
せて行う必要があり、測定時間が長くなる。このような
点より入出力信号を高速フーリエ変換して伝達関数をめ
て位相差をめ、その位相差を周波数に対して微分して群
遅延をめることが行われていた。しかし例えば第１図Ａ
に曲線１に示すように得られた伝達関数の振幅周波数特
性が周波数軸に対して急激に変化し、共振点１ａや反共
振点１ｂが存在すると、第１図Ｂに示すようにその位相
特性曲線２はこれら共振点１ａや反共振点１ｂと対応し
て位相特性が急激に変化する部分２ａ、２ｂが生じ、こ
のためこの位相特性の差分をとり、つまり周波数で微分
しても群遅延量を正しく得ることができない。
〈発明の概要〉
この発明の目的は高速フーリエ変換によって位相特性を
めて群遅延を測定するもので、高い精度で誤まることな
く正しく群遅延を測定することができる群遅延測定装置
を提供することにある。
めて群遅延を測定するもので、高い精度で誤まることな
く正しく群遅延を測定することができる群遅延測定装置
を提供することにある。
この発明によれば、高速フーリエ変換によって位相周波
数特性をめ、その位相周波数特性の位相軸を展開し、そ
の際に隣接する位相データの差がはソπの近傍にある場
合は、その位相展開が不定となるが、この不定をはつき
りさせるため、その附近の周波数軸を拡大し、いわゆる
ズーミングして高速フーリエ変換し、高分解の位相特性
をめ、これより不定点の位相展開を誤シなくめ、位相展
開された位相周波数特性の差分をとって群遅延量をめる
。
数特性をめ、その位相周波数特性の位相軸を展開し、そ
の際に隣接する位相データの差がはソπの近傍にある場
合は、その位相展開が不定となるが、この不定をはつき
りさせるため、その附近の周波数軸を拡大し、いわゆる
ズーミングして高速フーリエ変換し、高分解の位相特性
をめ、これより不定点の位相展開を誤シなくめ、位相展
開された位相周波数特性の差分をとって群遅延量をめる
。
〈実施例〉
第２図はこの発明による群遅延測定装置の一例を示す。
試験信号発生器１１からの試験信号は測定対象１２へ供
給されると共に増幅器１３に供給され、更に測定対象１
２の出力は増幅器１４に供給される。増幅器１３．１４
の各出力は低域通過済波器１５．１６でＡＤ変換器１７
．１８でそれぞれデジタル信号に変換され、これら変換
されたデジタル信号は切替器２１．２２をそれぞれ通じ
てバッファメモＩＪ ２３ 、２４と、周波数軸拡大処
理部２５．２６とに切替供給される。この周波数軸拡大
処理部２５．２６は同一構成であシ、その処理部２６に
ついて説明すると、スイッチ２２よりのデジタル信号は
乗算器２７．２８によりそれぞれ囲２πｆｅｎ△ｔ、ｄ
ｉ２πｆａｎ△ｔがそれぞれ乗算され、その乗算出力は
デジタル低域通過フィルタ３１．３２を通じ、更にサン
プルスイッチ３３゜３４を通じてバッファメモリ２４に
供給される。
給されると共に増幅器１３に供給され、更に測定対象１
２の出力は増幅器１４に供給される。増幅器１３．１４
の各出力は低域通過済波器１５．１６でＡＤ変換器１７
．１８でそれぞれデジタル信号に変換され、これら変換
されたデジタル信号は切替器２１．２２をそれぞれ通じ
てバッファメモＩＪ ２３ 、２４と、周波数軸拡大処
理部２５．２６とに切替供給される。この周波数軸拡大
処理部２５．２６は同一構成であシ、その処理部２６に
ついて説明すると、スイッチ２２よりのデジタル信号は
乗算器２７．２８によりそれぞれ囲２πｆｅｎ△ｔ、ｄ
ｉ２πｆａｎ△ｔがそれぞれ乗算され、その乗算出力は
デジタル低域通過フィルタ３１．３２を通じ、更にサン
プルスイッチ３３゜３４を通じてバッファメモリ２４に
供給される。
バッファメモリ２４に取込まれたデータの一定量、例え
は１０２４個のサンプル値は高速フーリエ解析器（ＦＦ
Ｔ解析器と称する）３５に供給されて高速フーリエ変換
が行われ、更にパワースペクトラムが演算され、これよ
り伝達関数や遅延量が測定され、その測定結果は表示器
３６に表示される。
は１０２４個のサンプル値は高速フーリエ解析器（ＦＦ
Ｔ解析器と称する）３５に供給されて高速フーリエ変換
が行われ、更にパワースペクトラムが演算され、これよ
り伝達関数や遅延量が測定され、その測定結果は表示器
３６に表示される。
即ち第３図に示すようにＦＦＴ解析器３５においては、
まず各チャネルつまシ入力信号系と出力信号系に対する
各１０２４個のサンプルについて高速フーリエ変換を行
い、それぞれ得られたスペクトラムの各周波数成分につ
いての実部の二乗と虚部の二乗との和からパワースペク
トラムをめ、即ち入力信号に対する各周波数成分のパワ
ースペクトラムＱａａと出力信号に対する各周波数成分
のパワースペクトラムＧｂｂと、更にこれら入力信号の
周波数成分と出力信号の周波数成分と対応するものとの
共範の積から相互スペクトラムＧａｂをステップＳ２に
おいて演算する。
まず各チャネルつまシ入力信号系と出力信号系に対する
各１０２４個のサンプルについて高速フーリエ変換を行
い、それぞれ得られたスペクトラムの各周波数成分につ
いての実部の二乗と虚部の二乗との和からパワースペク
トラムをめ、即ち入力信号に対する各周波数成分のパワ
ースペクトラムＱａａと出力信号に対する各周波数成分
のパワースペクトラムＧｂｂと、更にこれら入力信号の
周波数成分と出力信号の周波数成分と対応するものとの
共範の積から相互スペクトラムＧａｂをステップＳ２に
おいて演算する。
このような各１０２４個のサンプルについてスペクトラ
ムをめるが、更に各１０２４個のサンプルについて次々
とパワースペクトラムを演算するととを行い、得られた
複数個のパワースペクトラムを各周波数成分について平
均して平均パワースペクトラム＜ Ｇ ａ ａ ＞＜
Ｇ ｂ ｂ ＞、平均相互スペクトラム＜Ｇａｂ＞を演
算する。ステップＳ４において伝達関数は＜Ｇａａ＞で
相互スペクトラム＜Ｇａｂ＞を割算してめられる。これ
よりステップＳ５において位相周波数特性を演算する。
ムをめるが、更に各１０２４個のサンプルについて次々
とパワースペクトラムを演算するととを行い、得られた
複数個のパワースペクトラムを各周波数成分について平
均して平均パワースペクトラム＜ Ｇ ａ ａ ＞＜
Ｇ ｂ ｂ ＞、平均相互スペクトラム＜Ｇａｂ＞を演
算する。ステップＳ４において伝達関数は＜Ｇａａ＞で
相互スペクトラム＜Ｇａｂ＞を割算してめられる。これ
よりステップＳ５において位相周波数特性を演算する。
この位相周波数特性は得られた伝達関数又は相互スペク
トラム＜Ｇａｂ＞からめる。この位相周波数特性を位相
展開するが、その際不定となる点が存在する。
トラム＜Ｇａｂ＞からめる。この位相周波数特性を位相
展開するが、その際不定となる点が存在する。
例えば第３図Ａに示すように位相軸が±πで表わされた
位相周波数特性曲線２７を、第４図Ｂに示すようにその
位相軸を例えば３倍とした±３πで表わすように展開す
る。この場合に第４図Ａの周波数ｆ１で示すように隣接
するサンプルデータの位相差がはソπである場合におい
て、この位相差の発生は増加してπとなったのか、減少
してπとなったか、不明であり、展開した位相特性は第
４図Ｂにおいて実線の曲線２８と点線の曲線２９との何
れが正しいものか不明である。
位相周波数特性曲線２７を、第４図Ｂに示すようにその
位相軸を例えば３倍とした±３πで表わすように展開す
る。この場合に第４図Ａの周波数ｆ１で示すように隣接
するサンプルデータの位相差がはソπである場合におい
て、この位相差の発生は増加してπとなったのか、減少
してπとなったか、不明であり、展開した位相特性は第
４図Ｂにおいて実線の曲線２８と点線の曲線２９との何
れが正しいものか不明である。
このように不定となる部分についてはＦＦＴ解析の周波
数軸を拡大して分解能を上げて測定し直し、位相特性を
得て、これから何れが正しい位相であるかを判定する。
数軸を拡大して分解能を上げて測定し直し、位相特性を
得て、これから何れが正しい位相であるかを判定する。
即ち、まだ高分解能解仇前の測定データが第５図Ａに示
すようにφ（ｋ−１）とφ（ｋｌとの差がはソπである
場合は位相展開は第５図Ｂに示すように位相θ１を選ぶ
べきかθ２を選ぶべきか不定となる。これに対して周波
数軸を拡大した、いわゆるズーミングによって高分解能
の解析をした結果のデータが第５図Ｃに示すように前の
データφ（ｋ−１）とφ（ｋ）との間に複数の位相デー
タφ（ｔ−１）、φ（ｔ）、更にφ（ｔｌ１）、φ（ｔ
ｌ２）が得られ、これら位相データの変化状態から正し
い位相展開膚を知ることができる。即ちこの例において
は１φ（ｔ）−φ（ｚ−ｔ）ｌがπより小さくかつφ（
ｔ）よりもφ（ｔ−１）が小さい場合はθ２の側であり
、ｌφ（ｚ−ｔ）−φ（ｔ）１がπより小さくかつφＩ
ｔ））がφ（ｚ−ｉ）より小ならばθ１が正しいもので
ある。
すようにφ（ｋ−１）とφ（ｋｌとの差がはソπである
場合は位相展開は第５図Ｂに示すように位相θ１を選ぶ
べきかθ２を選ぶべきか不定となる。これに対して周波
数軸を拡大した、いわゆるズーミングによって高分解能
の解析をした結果のデータが第５図Ｃに示すように前の
データφ（ｋ−１）とφ（ｋ）との間に複数の位相デー
タφ（ｔ−１）、φ（ｔ）、更にφ（ｔｌ１）、φ（ｔ
ｌ２）が得られ、これら位相データの変化状態から正し
い位相展開膚を知ることができる。即ちこの例において
は１φ（ｔ）−φ（ｚ−ｔ）ｌがπより小さくかつφ（
ｔ）よりもφ（ｔ−１）が小さい場合はθ２の側であり
、ｌφ（ｚ−ｔ）−φ（ｔ）１がπより小さくかつφＩ
ｔ））がφ（ｚ−ｉ）より小ならばθ１が正しいもので
ある。
第３図においてステップＳ６において位相展開における
不定があるか否かを調べ、不定がある場合はステップＳ
７において周波数軸の拡大、いわゆるズーム解析を行っ
てステップＳ８に移り、位相展開の不定が存在しない場
合は直ちにステップＳ８に移って位相展開を行い、その
位相展開された位相特性についてステップＳ９において
位相差分、つまり周波数に対する微分を行って群遅延量
をめる。
不定があるか否かを調べ、不定がある場合はステップＳ
７において周波数軸の拡大、いわゆるズーム解析を行っ
てステップＳ８に移り、位相展開の不定が存在しない場
合は直ちにステップＳ８に移って位相展開を行い、その
位相展開された位相特性についてステップＳ９において
位相差分、つまり周波数に対する微分を行って群遅延量
をめる。
この測定結果は表示器３６に表示する。
先に述べた位相展開処理及び不定検出、更にその周波数
軸の拡大処理を含む位相展開の処理の具体的な処理動作
を第６図を参照して説明する。即ちステップＳ１におい
てまずＦＦＴ変換された時に得られるスペクトラム数、
いわゆるライン数をｋｅとする。例えばサンプル数が１
０２４の場合ｋｅは４００となる。処理するに番目の周
波数スペクトラム（ライン）を初期設定でｋをＯに設定
し、またφ（０）を０とし、φ（−１）、Ｃ（０）、更
にｃ（−ｉ）をそれぞれＯに設定する。ステップＳ２に
おいて隣接する位相データ間の絶対値がはソπに等しい
かどうか検出し、即ち１φ（ｋ）−φ（ｋ−１）ｌキπ
をチェックし、等しくない場合はステップＳ３において
φ（ｋ）−φ（ｋ−１）がπより大きいか否かチェック
し、大きい場合はステップＳ４においてＣ（ｋ）をＣ（
ｋ−１）−２πと設定し、ステップＳ３においてπより
大きくない場合はステップＳ５においてφ（ｋ−１）−
φ（ｋ）がπより大きいか否かをチェックし、πより大
きい場合はステップＳ６でＣ（ｋ）をＣ（ｋ（）＋２π
とおき、ステップＳ５でπより大きくない場合はステッ
プＳ７でＣ（ｋ）をＣ（ｋ−１）とする。
軸の拡大処理を含む位相展開の処理の具体的な処理動作
を第６図を参照して説明する。即ちステップＳ１におい
てまずＦＦＴ変換された時に得られるスペクトラム数、
いわゆるライン数をｋｅとする。例えばサンプル数が１
０２４の場合ｋｅは４００となる。処理するに番目の周
波数スペクトラム（ライン）を初期設定でｋをＯに設定
し、またφ（０）を０とし、φ（−１）、Ｃ（０）、更
にｃ（−ｉ）をそれぞれＯに設定する。ステップＳ２に
おいて隣接する位相データ間の絶対値がはソπに等しい
かどうか検出し、即ち１φ（ｋ）−φ（ｋ−１）ｌキπ
をチェックし、等しくない場合はステップＳ３において
φ（ｋ）−φ（ｋ−１）がπより大きいか否かチェック
し、大きい場合はステップＳ４においてＣ（ｋ）をＣ（
ｋ−１）−２πと設定し、ステップＳ３においてπより
大きくない場合はステップＳ５においてφ（ｋ−１）−
φ（ｋ）がπより大きいか否かをチェックし、πより大
きい場合はステップＳ６でＣ（ｋ）をＣ（ｋ（）＋２π
とおき、ステップＳ５でπより大きくない場合はステッ
プＳ７でＣ（ｋ）をＣ（ｋ−１）とする。
一方、ステップＳ２においてφ（ｋ）−φ（ｋ−１）の
絶対値がπとはソ等しい場合はステップＳ８において、
いわゆるズーム拡大を行うことになり、その時のｋつま
りライン番号から拡大中心周波数ｋを決定し、更に拡大
率をＰとし、ズームに設定する。ステップＳ９において
試験信号発生器（第１図中の１１）に対して、中心周波
数に１ズームであること、振幅Ｖ１更に発生する信号の
種類、例えば多重正弦波、ランダム雑音などを示す試験
データを転送し、試験信号発生器１１より試験信号をこ
れらデータに応じて発生させ、その試験信号を測定対象
に与えてＦＦＴ解析を行い、ステップＳ１０において平
均回数ｍが０の場合は前記ズーム試験信号に対するＦ’
ＦＴ解析を行うとステップ８１１に移り、ｍが０でない
場合はｍ組のデータをサンプルしてｍ個の各スペクトラ
ムについての平均パワーをめ、更に位相特性をめること
をステップ８１２で行か。
絶対値がπとはソ等しい場合はステップＳ８において、
いわゆるズーム拡大を行うことになり、その時のｋつま
りライン番号から拡大中心周波数ｋを決定し、更に拡大
率をＰとし、ズームに設定する。ステップＳ９において
試験信号発生器（第１図中の１１）に対して、中心周波
数に１ズームであること、振幅Ｖ１更に発生する信号の
種類、例えば多重正弦波、ランダム雑音などを示す試験
データを転送し、試験信号発生器１１より試験信号をこ
れらデータに応じて発生させ、その試験信号を測定対象
に与えてＦＦＴ解析を行い、ステップＳ１０において平
均回数ｍが０の場合は前記ズーム試験信号に対するＦ’
ＦＴ解析を行うとステップ８１１に移り、ｍが０でない
場合はｍ組のデータをサンプルしてｍ個の各スペクトラ
ムについての平均パワーをめ、更に位相特性をめること
をステップ８１２で行か。
ステップＳｌｌにおいてはに番目とに一１番目との間に
入っている拡大によシ得られたｔ番目のデータφ（ハと
ｔ−１番目のデータφ（ｔ−１）との差の絶対値がπよ
り小さいかどうかがチェックされる。πよシ小さい場合
はステップＳ１３において拡大率Ｐを＋１してステップ
Ｓ９に戻る。ステップＳ１１においてπより小さい場合
はステップ８１４においてφ（ｔ）がφ（ｚ−ｔ）より
大きいかが判定され、φ（ｔｌの方が大きい場合はステ
ップ８１５に移ってＣ（ｋ−１）＋２πをＣ（ｋ）とし
、ステップ８１４においてφ（ｔ）の方が小さい場合は
ステップ８１６においてＣ（ｋ−１）−２πをＣ（ｋ）
とする。
入っている拡大によシ得られたｔ番目のデータφ（ハと
ｔ−１番目のデータφ（ｔ−１）との差の絶対値がπよ
り小さいかどうかがチェックされる。πよシ小さい場合
はステップＳ１３において拡大率Ｐを＋１してステップ
Ｓ９に戻る。ステップＳ１１においてπより小さい場合
はステップ８１４においてφ（ｔ）がφ（ｚ−ｔ）より
大きいかが判定され、φ（ｔｌの方が大きい場合はステ
ップ８１５に移ってＣ（ｋ−１）＋２πをＣ（ｋ）とし
、ステップ８１４においてφ（ｔ）の方が小さい場合は
ステップ８１６においてＣ（ｋ−１）−２πをＣ（ｋ）
とする。
このようにしてあらゆる場合についてのＣ（ｋ）が決定
され、つ捷システップＳ ４＋ Ｓ ６＋ Ｓ ”ｔ
＋ Ｓ 】５．Ｓ１６よシステップＳ１７に移り、φ（
ｋ）＋Ｃ（ｋ）をθ（ｋ）とし、つまり展開された位相
が得られる。
され、つ捷システップＳ ４＋ Ｓ ６＋ Ｓ ”ｔ
＋ Ｓ 】５．Ｓ１６よシステップＳ１７に移り、φ（
ｋ）＋Ｃ（ｋ）をθ（ｋ）とし、つまり展開された位相
が得られる。
ステップＳ１８においてｋが＋１され、これよりステッ
プＳ１９に移シ、ｋが最終ライン数ｋｅより大きいかど
うかチェックされ、小さい場合はステップＳ２に戻って
再び次のラインスペクトラムについて同様のことが行わ
れ、すべてのラインスペクトラムについて位相展開を行
うと終了する。
プＳ１９に移シ、ｋが最終ライン数ｋｅより大きいかど
うかチェックされ、小さい場合はステップＳ２に戻って
再び次のラインスペクトラムについて同様のことが行わ
れ、すべてのラインスペクトラムについて位相展開を行
うと終了する。
尚上述において位相展開表示において不安定点が発生す
る場合はズームプロセッサ部２５．２６で高分解能のス
ペクトラムを得て判定したが、例えばバッファメモリ２
３．２４の容量を大きくし、例えば１回の高速フーリエ
変換に必要とするデータ数が１にワードの場合に１６に
ワードのメモリとし、その１６にワードのデータを取込
み、１にワードの高速フーリエ変換を行い、位相展開で
不定の部分はメモリ２３．２４中の多くのデータを用い
て分解能を向上した位相特性を得るようにし、いわゆる
ホールドズーミングを行ってもよい。捷た測定対象１２
に対する入力信号と出力信号との間に位相差がある場合
は、その位相特性は第７図に示すように伝達関数の位相
特性か直線的な変化をしてしまう。このような場合はそ
の入出力の時系列の時間遅れ分だけ位相をずらし、つま
りバッファメモリ２３．２４のデータの読出しの位相を
ずらして位相特性を第７図Ｂに示すように補正したもの
を得ることによって正しい群遅延の測定が可能となり、
この場合群遅延は測定された位相差分から得られた群遅
延に、補正した時間遅れを加えることによって正しいも
のが得られる。尚このように位相特性を展開して群遅延
を得ることはアナログのスペクトルアナライザにおいて
局部発振周波数による周波数範囲の変化をゆっくり行う
ことによって表示軸を拡大したことになる。
る場合はズームプロセッサ部２５．２６で高分解能のス
ペクトラムを得て判定したが、例えばバッファメモリ２
３．２４の容量を大きくし、例えば１回の高速フーリエ
変換に必要とするデータ数が１にワードの場合に１６に
ワードのメモリとし、その１６にワードのデータを取込
み、１にワードの高速フーリエ変換を行い、位相展開で
不定の部分はメモリ２３．２４中の多くのデータを用い
て分解能を向上した位相特性を得るようにし、いわゆる
ホールドズーミングを行ってもよい。捷た測定対象１２
に対する入力信号と出力信号との間に位相差がある場合
は、その位相特性は第７図に示すように伝達関数の位相
特性か直線的な変化をしてしまう。このような場合はそ
の入出力の時系列の時間遅れ分だけ位相をずらし、つま
りバッファメモリ２３．２４のデータの読出しの位相を
ずらして位相特性を第７図Ｂに示すように補正したもの
を得ることによって正しい群遅延の測定が可能となり、
この場合群遅延は測定された位相差分から得られた群遅
延に、補正した時間遅れを加えることによって正しいも
のが得られる。尚このように位相特性を展開して群遅延
を得ることはアナログのスペクトルアナライザにおいて
局部発振周波数による周波数範囲の変化をゆっくり行う
ことによって表示軸を拡大したことになる。
〈効 果〉
以上述べたようにこの発明によれば、ＦＦＴ解析によっ
て群遅延量を測定することができ、短時間で測定するこ
とが可能となシ、シかも位相表示を展開し、その際に生
じる不定部分をＦＦＴ解析における分解能を上げること
によって解消し、これによシ正しい群遅延量を測定する
ことができる。
て群遅延量を測定することができ、短時間で測定するこ
とが可能となシ、シかも位相表示を展開し、その際に生
じる不定部分をＦＦＴ解析における分解能を上げること
によって解消し、これによシ正しい群遅延量を測定する
ことができる。
−第１図は伝達関数の振幅特性と伝達関数の位相特性を
示す図、第２図はこの発明による群遅延測定装置の一例
を示すブロック図、第３図はその動作例を示す流れ図、
第４図Ａは測定した位相周波数特性を示す図、第４図Ｂ
は第４図Ａの位相展開を行った例を示す図、第５図は位
相展開による不定部分の判定を説明するだめの図、第６
図は位相展開処理の動作例を示す流れ図、第７図は入出
力間の時間遅れを伴う位相特性と、その補正した位相特
性を示す図である。 １１：試験信号発生器、１２：測定対象、１７．１８：
ＡＤ変換器、２３，２４：バッファメモＩＪ、２５，２
６：周波数軸拡大処理部、３５： ＦＦＴ解析器、３６
：表示器。 特許出願人 タケダ理研工業株式会社 代理人草野 卓 く ｍ Ｎ ｌ ロ ー−へ 未 壮 東 手続補正書（自発） 昭和５９年１０月１７日 １事件の表示 特願昭５８−１８１６４４２発明の名称
群遅延測定装置 ３補正をする者 事件との関係 特許出願人 タケダ理研工業株式会社 ４代 理 人 東京都新宿区新宿４−２−２１ 相撲ビ
ルを「Ｅ波器１５．１６’ｅ通された後、」と訂正する
。 （２）同書第５頁−１５−’−１６行目「周波数成分・
・・・・・・・・の積から」を［周波数成分の共役と対
応する出力信号の周波数成分との積から］と訂正する。 （３） 同書第６頁１１行目「第３図Ａ」を１第４図Ａ
」と訂正する。 （４）同書第１１頁１０行目「不安定点」を「不定点」
と訂正する。 （５）同書第１２頁６行目１位相」を「番地」と訂正す
る。 （６） 同書同頁１３行目「スペクトルアナライザにお
いて」を「スペクトルアナライザにおいては」と訂正す
る。 （７）同書第１３頁１行目「における分解能を」を「に
おける周波数分解能を」と訂正する。 （８）添附コピー図に未配で示すように第４図Ａ中に符
号「２７」を加入する。 以上
示す図、第２図はこの発明による群遅延測定装置の一例
を示すブロック図、第３図はその動作例を示す流れ図、
第４図Ａは測定した位相周波数特性を示す図、第４図Ｂ
は第４図Ａの位相展開を行った例を示す図、第５図は位
相展開による不定部分の判定を説明するだめの図、第６
図は位相展開処理の動作例を示す流れ図、第７図は入出
力間の時間遅れを伴う位相特性と、その補正した位相特
性を示す図である。 １１：試験信号発生器、１２：測定対象、１７．１８：
ＡＤ変換器、２３，２４：バッファメモＩＪ、２５，２
６：周波数軸拡大処理部、３５： ＦＦＴ解析器、３６
：表示器。 特許出願人 タケダ理研工業株式会社 代理人草野 卓 く ｍ Ｎ ｌ ロ ー−へ 未 壮 東 手続補正書（自発） 昭和５９年１０月１７日 １事件の表示 特願昭５８−１８１６４４２発明の名称
群遅延測定装置 ３補正をする者 事件との関係 特許出願人 タケダ理研工業株式会社 ４代 理 人 東京都新宿区新宿４−２−２１ 相撲ビ
ルを「Ｅ波器１５．１６’ｅ通された後、」と訂正する
。 （２）同書第５頁−１５−’−１６行目「周波数成分・
・・・・・・・・の積から」を［周波数成分の共役と対
応する出力信号の周波数成分との積から］と訂正する。 （３） 同書第６頁１１行目「第３図Ａ」を１第４図Ａ
」と訂正する。 （４）同書第１１頁１０行目「不安定点」を「不定点」
と訂正する。 （５）同書第１２頁６行目１位相」を「番地」と訂正す
る。 （６） 同書同頁１３行目「スペクトルアナライザにお
いて」を「スペクトルアナライザにおいては」と訂正す
る。 （７）同書第１３頁１行目「における分解能を」を「に
おける周波数分解能を」と訂正する。 （８）添附コピー図に未配で示すように第４図Ａ中に符
号「２７」を加入する。 以上
Claims (1)
- （１）試験信号発生器から試験信号を測定対象物へ供給
し、その測定対象物の入力信号及び出力信号を高速フー
リエ変換し、これら高速フーリエ変換信号より測定対象
物の位相周波数特性を測定する手段と、その測定した位
相周波数特性の位相の変化範囲を展開する位相展開手段
と、前記位相周波数特性における隣接データの位相差が
πの近傍にあるとき、その周波数をはソ中心として周波
数軸を拡大して高速フーリエ変換を行う手段と、その周
波数軸を拡大した高速フーリエ変換信号より得られた位
相特性から前記位相差がπ近傍附近における前記位相展
開における位相を決定する手段と、位相展開された位相
特性の差分を算出して群遅延をめる手段とを具備する群
遅延測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18164483A JPS6071969A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | 群遅延測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18164483A JPS6071969A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | 群遅延測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6071969A true JPS6071969A (ja) | 1985-04-23 |
| JPH0426066B2 JPH0426066B2 (ja) | 1992-05-06 |
Family
ID=16104349
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18164483A Granted JPS6071969A (ja) | 1983-09-28 | 1983-09-28 | 群遅延測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6071969A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2413855A (en) * | 2004-05-04 | 2005-11-09 | Agilent Technologies Inc | System and method for analyzing an electrial network |
| WO2009022697A1 (ja) * | 2007-08-15 | 2009-02-19 | Advantest Corporation | 測定装置、試験装置および測定方法 |
-
1983
- 1983-09-28 JP JP18164483A patent/JPS6071969A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2413855A (en) * | 2004-05-04 | 2005-11-09 | Agilent Technologies Inc | System and method for analyzing an electrial network |
| WO2009022697A1 (ja) * | 2007-08-15 | 2009-02-19 | Advantest Corporation | 測定装置、試験装置および測定方法 |
| JP5225994B2 (ja) * | 2007-08-15 | 2013-07-03 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、試験装置および測定方法 |
| US8581571B2 (en) | 2007-08-15 | 2013-11-12 | Advantest Corporation | Measuring apparatus, testing apparatus and measuring method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0426066B2 (ja) | 1992-05-06 |
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