JPS6071934A - 単一モ−ドフアイバのスポツトサイズ測定方法 - Google Patents
単一モ−ドフアイバのスポツトサイズ測定方法Info
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- JPS6071934A JPS6071934A JP58181318A JP18131883A JPS6071934A JP S6071934 A JPS6071934 A JP S6071934A JP 58181318 A JP58181318 A JP 58181318A JP 18131883 A JP18131883 A JP 18131883A JP S6071934 A JPS6071934 A JP S6071934A
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は単一モードファイバのスポットサイズ（或はモ
ード界半径）の測定方法に関する。
ード界半径）の測定方法に関する。
従来、スポットサイズの測定法は種々提案されている。
その一つは、第１図（α）に示すように、光（１）
源１から光学系２を介して光ファイバ３に測定光を入射
さ、せ、該光ファイバ端における近端異強度分布（Ｎｅ
ａｒ Ｆｉｅｌｔｌ Ｐａｔｔｅｒｎ：以下ＮＦＰと略
す）を直接光学系４および赤外ビジコンカメラ５を用い
て測定しく測定例を第１図（ｂ）に示す）、成る定義式
例えば １）ＮＦＰが最大値からＶ、ｔに低下するまでの半径方
向距離Ｗ。（但し、ｅは自然対数の底）或いは で定義されるスポットサイズＷ。をめるものである（但
し１７ｉ！（ｒ）１２はＮＦＰ、ｒはファイバ中心から
の半径）。なお、図中６はカメラ制御部、７は計算機を
示す。しかしながら、この方法は赤外ビジコンカメラの
光電変換特性の非直線性やビジコン感度の不均一性によ
って測定誤差を生じ易く、また光学系５として像を拡大
するためのレンズ系が不可欠であるためレンズの収差に
よる測定誤差（２） も免れ得す、精度良い測定をなし得ない欠点がある。一
方、遠方界強度分布（Ｆａｒ Ｆｉｅｌｄ Ｐａｔｔｅ
ｒｎ：以下ＦＦＰと略す）からスポットサイズをめる方
法として刊行物「英国電気学会マイクロ波光波音波ジャ
ーナル」（第１巻、１３ページ、 １９７６年） （Ｉ
ＥＥ Ｊ、Ｍｉｃｒｏｗａｖｅ Ｏｐｔ、Ａｃｏｕｓｔ
、Ｖｏｌ。
さ、せ、該光ファイバ端における近端異強度分布（Ｎｅ
ａｒ Ｆｉｅｌｔｌ Ｐａｔｔｅｒｎ：以下ＮＦＰと略
す）を直接光学系４および赤外ビジコンカメラ５を用い
て測定しく測定例を第１図（ｂ）に示す）、成る定義式
例えば １）ＮＦＰが最大値からＶ、ｔに低下するまでの半径方
向距離Ｗ。（但し、ｅは自然対数の底）或いは で定義されるスポットサイズＷ。をめるものである（但
し１７ｉ！（ｒ）１２はＮＦＰ、ｒはファイバ中心から
の半径）。なお、図中６はカメラ制御部、７は計算機を
示す。しかしながら、この方法は赤外ビジコンカメラの
光電変換特性の非直線性やビジコン感度の不均一性によ
って測定誤差を生じ易く、また光学系５として像を拡大
するためのレンズ系が不可欠であるためレンズの収差に
よる測定誤差（２） も免れ得す、精度良い測定をなし得ない欠点がある。一
方、遠方界強度分布（Ｆａｒ Ｆｉｅｌｄ Ｐａｔｔｅ
ｒｎ：以下ＦＦＰと略す）からスポットサイズをめる方
法として刊行物「英国電気学会マイクロ波光波音波ジャ
ーナル」（第１巻、１３ページ、 １９７６年） （Ｉ
ＥＥ Ｊ、Ｍｉｃｒｏｗａｖｅ Ｏｐｔ、Ａｃｏｕｓｔ
、Ｖｏｌ。
１、ｐ１８，１９７６年）に示されたＧａｍｂ ｌ ｉ
ｎｇらによる方法が知られている。しかしながら、この
方法はＮＦＰがガウス分布と仮定した場合の簡便法であ
り、実際に製造される単一モードファイバのＮＦＰはフ
ァイバ横断面内の屈折率分布によって変化しガウス分布
からずれることが多いため大きな測定誤差を生ずる危険
がある。また、この方法はＮＦＰを直接水めるものでは
ないので式（１）等で示した定義式でスポットサイズを
める場合には原理的には適用できないという欠点を有す
る。
ｎｇらによる方法が知られている。しかしながら、この
方法はＮＦＰがガウス分布と仮定した場合の簡便法であ
り、実際に製造される単一モードファイバのＮＦＰはフ
ァイバ横断面内の屈折率分布によって変化しガウス分布
からずれることが多いため大きな測定誤差を生ずる危険
がある。また、この方法はＮＦＰを直接水めるものでは
ないので式（１）等で示した定義式でスポットサイズを
める場合には原理的には適用できないという欠点を有す
る。
本発明は上記従来の欠点を除去すべくなされたもので、
このため本発明は単一モードファイバのファイバ端から
放射された光波の遠方界強度分布を、その最大値を示す
放射角から２５ ｄＢ以上低（３） 下する放射角までの範囲に亘って測定し、該測定された
遠方界強度分布から・・ンケル変換を用いて近端異強度
分布を計算し、該近端異強度分布から所定の定義式によ
りスポットサイズをめることにより、光電変換特性の非
直線性やビジコン感度の不均一性等の種々の問題点をも
つ赤外ビジコンカメラや収差が問題となるレンズ系を用
いることなく高精度な測定を可能とし、しかもあらゆる
スポットサイズの定義式にも適用可能としたことを特徴
とする。
このため本発明は単一モードファイバのファイバ端から
放射された光波の遠方界強度分布を、その最大値を示す
放射角から２５ ｄＢ以上低（３） 下する放射角までの範囲に亘って測定し、該測定された
遠方界強度分布から・・ンケル変換を用いて近端異強度
分布を計算し、該近端異強度分布から所定の定義式によ
りスポットサイズをめることにより、光電変換特性の非
直線性やビジコン感度の不均一性等の種々の問題点をも
つ赤外ビジコンカメラや収差が問題となるレンズ系を用
いることなく高精度な測定を可能とし、しかもあらゆる
スポットサイズの定義式にも適用可能としたことを特徴
とする。
以下、本発明方法の具体例について説明する。
シングルモードファイバのＮＦＰとＦＦＰの電界分布の
関係はキルヒホッフの回折理論を用いる但し、ここでＦ
（の、Ｒ（ｒ）は各々ＦＦＰ、ＮＦＰの電界分布、ｋ＝
／λ （λ：波長）、ＪＯは０次のベッセル関数、θ
は放射角を示す。これらの関係を構図的に表わしたもの
が第２図である。なお同図において８はファイバ、９は
コア、１０はフ（４） アイバの出射端面、１１はＦＦＰの観測面を示す。
関係はキルヒホッフの回折理論を用いる但し、ここでＦ
（の、Ｒ（ｒ）は各々ＦＦＰ、ＮＦＰの電界分布、ｋ＝
／λ （λ：波長）、ＪＯは０次のベッセル関数、θ
は放射角を示す。これらの関係を構図的に表わしたもの
が第２図である。なお同図において８はファイバ、９は
コア、１０はフ（４） アイバの出射端面、１１はＦＦＰの観測面を示す。
上記式（２）よりバンケル変換を用いて次式が導かれる
。
。
すなわち、Ｆ（θ）をめることによりＲ（ｒ）をめるこ
とができる。従って、ＦＦＰであるＩＦ（０月２を測定
することによりＦ（のがまり、式（３）を用いることに
よりＲ（ｒ）が１すＮＦＰであるＩ Ｒ（ｒ） Ｉ ２
が計算によって得られ、このＮＦＰから種々の定義によ
るスポットサイズ、特に式（１）で定義されるスポット
サイズＷｏ をめることができる。
とができる。従って、ＦＦＰであるＩＦ（０月２を測定
することによりＦ（のがまり、式（３）を用いることに
よりＲ（ｒ）が１すＮＦＰであるＩ Ｒ（ｒ） Ｉ ２
が計算によって得られ、このＮＦＰから種々の定義によ
るスポットサイズ、特に式（１）で定義されるスポット
サイズＷｏ をめることができる。
但し、ＦＦＫ＋ＦＣθ）１２）の測定は測定系の受信感
度の関係から有限の放射角θの範囲でしか測定すること
ができない。従って式（３）から明らかなようにＲ（ｒ
）ツまりはＮＦＰ （ｌ Ｒ（ｒ）Ｉりは完全に逆算す
ることができない。そこで、本発明では有限の放射角θ
の範囲（０≦θ≦θｒｒＬａ、ｘ）で測定したＦＦＰか
らＮＦＰを逆算し、スポットサイズＷ。
度の関係から有限の放射角θの範囲でしか測定すること
ができない。従って式（３）から明らかなようにＲ（ｒ
）ツまりはＮＦＰ （ｌ Ｒ（ｒ）Ｉりは完全に逆算す
ることができない。そこで、本発明では有限の放射角θ
の範囲（０≦θ≦θｒｒＬａ、ｘ）で測定したＦＦＰか
らＮＦＰを逆算し、スポットサイズＷ。
をめたときの測定誤差について検討を行い、該スポット
サイズの測定誤差が許容範囲内に収まるようにＦＦＰの
測定範囲を定める。これを第３図乃至第４図について説
明するに、第３図には比屈折率差Δ＝０．３％、コア径
２ ａ ＝ ９．０μｍのシングルモードファイバに波
長λ＝１．８０μｍの測定光を適用した場合のＦＦＰの
計算値を示す。該計算は次のスカラー波動方程式 Ｆ（のをめることによりＦＦＰ（ＩＦψ）１２）を得る
ことができる。
サイズの測定誤差が許容範囲内に収まるようにＦＦＰの
測定範囲を定める。これを第３図乃至第４図について説
明するに、第３図には比屈折率差Δ＝０．３％、コア径
２ ａ ＝ ９．０μｍのシングルモードファイバに波
長λ＝１．８０μｍの測定光を適用した場合のＦＦＰの
計算値を示す。該計算は次のスカラー波動方程式 Ｆ（のをめることによりＦＦＰ（ＩＦψ）１２）を得る
ことができる。
この第３図からＦＦＰ測定範囲０≦θ≦θｎＬａＣの中
θ７ｒＬａＺを種々変化させた場合のスポットサイズＷ
。を逆算する。すなわち、まず第３図から成る値のθに
対応するＩＦＣθ月２をめ、これからＦ（のをめ、さら
に前記式（３）によりＲ（ｒ）をめ、これからｌ Ｒ（
ｒ） ＋ ２をめ、このＩＲ（γ）１２を定義式（１）
に代入してＷ。をめる。この手順を種々のθｍｔｔｘ値
に対して行う。
θ７ｒＬａＺを種々変化させた場合のスポットサイズＷ
。を逆算する。すなわち、まず第３図から成る値のθに
対応するＩＦＣθ月２をめ、これからＦ（のをめ、さら
に前記式（３）によりＲ（ｒ）をめ、これからｌ Ｒ（
ｒ） ＋ ２をめ、このＩＲ（γ）１２を定義式（１）
に代入してＷ。をめる。この手順を種々のθｍｔｔｘ値
に対して行う。
一方、スポットサイズの厳密な値？／ＩＱ’は前記スカ
ラー波動方程式（４）よりＲ（ｒ）をめ、これからｌ
Ｒ（ｆ−＞ １ ”をめ、この＋７ｉ！（ｒ）ｌ”を定
義式（１）ニ代入することによって得られる。
ラー波動方程式（４）よりＲ（ｒ）をめ、これからｌ
Ｒ（ｆ−＞ １ ”をめ、この＋７ｉ！（ｒ）ｌ”を定
義式（１）ニ代入することによって得られる。
第４図（ｂ）は、上記θｍｚを種々変化させた場合の’
ＩＩＪＱ を厳密値Ｗｏ′と比較してこれをスポットサ
イズ計算誤差（％）として示したものである。１だ、第
４図（、ｚ）はθｍａｘを変化式せた場合のＦＦＰの相
対強度の最小値をスポットサイズ計算誤差と対応して示
したものである。
ＩＩＪＱ を厳密値Ｗｏ′と比較してこれをスポットサ
イズ計算誤差（％）として示したものである。１だ、第
４図（、ｚ）はθｍａｘを変化式せた場合のＦＦＰの相
対強度の最小値をスポットサイズ計算誤差と対応して示
したものである。
しかしてスポットサイズの測定誤差としては通常約±２
％以内であることが必要であり、従ってＦ’ Ｆ Ｐか
らスポットサイズを逆算するときに発生する計算誤差は
約±２％以内にする必要がある。
％以内であることが必要であり、従ってＦ’ Ｆ Ｐか
らスポットサイズを逆算するときに発生する計算誤差は
約±２％以内にする必要がある。
第４図（ａ）よりＦＦＰの最大値を示す放射角から２５
ｄＢ以上低下する放射角１での範囲に亘ってＦＦＰを
測定することにより、スポットサイズの計算誤差を±２
チ以内に抑えることが判る。
ｄＢ以上低下する放射角１での範囲に亘ってＦＦＰを
測定することにより、スポットサイズの計算誤差を±２
チ以内に抑えることが判る。
第５図に本発明方法による測定系の構成例を示す。図に
おいて、１２は光源、１３は光学系、（７） １４は被測定ファイバ、１５はＧｅ−ＡＰＤ、 １６は
信号増幅部、１７は計算機をそれぞれ示す。光源１２と
しては測定系のダイナミックレンジを上げるために、可
能な限り高出力で且つ安定な出力をもつ光源を使用する
ことが好ましく、この点からレーザ光源が好ましい。光
源として半導体レーザを使用した構成例では８６ ｄＢ
のダイナミックレンジを得ることができた。計算機１７
では、上述したように、ＦＦＰの最大値を示す放射角か
ら２５ｄＢ以上低下する放射角壕での範囲に亘るＦＦＰ
ＣＩＦ（θ）１２）よりＦ（のをめ、式（３）によりＲ
（ｔ−）をめさらにＮＦＰであるＩＲ（ｒ）＋２をめ、
さらに例えば式（ｉ）のごとき定義式を用いてスポット
サイズＷ。を計算する。
おいて、１２は光源、１３は光学系、（７） １４は被測定ファイバ、１５はＧｅ−ＡＰＤ、 １６は
信号増幅部、１７は計算機をそれぞれ示す。光源１２と
しては測定系のダイナミックレンジを上げるために、可
能な限り高出力で且つ安定な出力をもつ光源を使用する
ことが好ましく、この点からレーザ光源が好ましい。光
源として半導体レーザを使用した構成例では８６ ｄＢ
のダイナミックレンジを得ることができた。計算機１７
では、上述したように、ＦＦＰの最大値を示す放射角か
ら２５ｄＢ以上低下する放射角壕での範囲に亘るＦＦＰ
ＣＩＦ（θ）１２）よりＦ（のをめ、式（３）によりＲ
（ｔ−）をめさらにＮＦＰであるＩＲ（ｒ）＋２をめ、
さらに例えば式（ｉ）のごとき定義式を用いてスポット
サイズＷ。を計算する。
次に、本発明の測定例について述べる。第１表は、第１
図（ａ）に示した従来法による測定結果と第５図に示し
た本発明の構成例による測定結果とを比較して示すもの
である。該測定では２本のシングルモードファイバのス
ポットサイズを各測定法によりそれぞれ１０回測定し、
その平均値と標準（８） 偏差σとをめた。第１表より明らかなごとく、本発明方
法によれば従来法に比べ標準偏差σを約×〜イに小さく
でき、測定誤差を大巾に減少できることが明白である。
図（ａ）に示した従来法による測定結果と第５図に示し
た本発明の構成例による測定結果とを比較して示すもの
である。該測定では２本のシングルモードファイバのス
ポットサイズを各測定法によりそれぞれ１０回測定し、
その平均値と標準（８） 偏差σとをめた。第１表より明らかなごとく、本発明方
法によれば従来法に比べ標準偏差σを約×〜イに小さく
でき、測定誤差を大巾に減少できることが明白である。
第１表
以上のように、本発明によれげ光電変換特性の非直線性
やビジコン感度の不均一性等の問題を有する赤外ビジコ
ンカメラや収差が問題となるレンズ系を必要としないの
で高精度な測定が可能となり、かつＮＦＰを計算によっ
てめるのでいかなるスポットサイズの定義式にも適用で
きるという利点が得られる。
やビジコン感度の不均一性等の問題を有する赤外ビジコ
ンカメラや収差が問題となるレンズ系を必要としないの
で高精度な測定が可能となり、かつＮＦＰを計算によっ
てめるのでいかなるスポットサイズの定義式にも適用で
きるという利点が得られる。
第１図（α）は従来のＮＦＰ測定法の構成例を示す図、
第１図（ｂ）は該測定法による測定例を示す図、（９） 第２図はＮＦＰとＦＦＰの関係を構図的に示す図、第３
図はステップ形シングルモードファイバのＦＦＰの計算
例を示すグラフ、第４図はＦＦＰ測定時の最大放射角を
変えたときのスポットサイズの計算誤差とＦＦＰ相対パ
ワー最小値との関係を示すグラフで、第４図６ｚ）は最
大放射角を変えたときのＦＦＰ最小パワー値を示すグラ
フ、第４図（ｂ）は同最大放射角を変えたときのスポッ
トサイズ計算誤差を示すグラフ、第５図は本発明方法の
測定系の構成例を示す図である。 特許出願人 住友電気工業株式会社 同 日本電信電話公社 （外４名） ＃／ＶＪ（σン ス２０ １ 秦３０ 出 １Ｒ由 θ 〔ヒσｄ）
第１図（ｂ）は該測定法による測定例を示す図、（９） 第２図はＮＦＰとＦＦＰの関係を構図的に示す図、第３
図はステップ形シングルモードファイバのＦＦＰの計算
例を示すグラフ、第４図はＦＦＰ測定時の最大放射角を
変えたときのスポットサイズの計算誤差とＦＦＰ相対パ
ワー最小値との関係を示すグラフで、第４図６ｚ）は最
大放射角を変えたときのＦＦＰ最小パワー値を示すグラ
フ、第４図（ｂ）は同最大放射角を変えたときのスポッ
トサイズ計算誤差を示すグラフ、第５図は本発明方法の
測定系の構成例を示す図である。 特許出願人 住友電気工業株式会社 同 日本電信電話公社 （外４名） ＃／ＶＪ（σン ス２０ １ 秦３０ 出 １Ｒ由 θ 〔ヒσｄ）
Claims (2)
- （１）単一モードファイバのファイバ端から放射された
光波の遠方界強度分布を、その最大値を示す放射角から
２５ ｄＢ以上低下する放射角までの範囲に亘って測定
し、該測定された遠方界強度分布からバンケル変換を用
いて近端異強度分布を計算し、該近端異強度分布から所
定の定義式によりスポットサイズをめる単一モードファ
イバのスポットサイズ測定方法。 - （２）測定用光源として半導体レーザを使用することを
特徴とする特許請求の範囲第１項の測定方法。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58181318A JPS6071934A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 単一モ−ドフアイバのスポツトサイズ測定方法 |
| KR1019840005865A KR890001930B1 (ko) | 1983-09-29 | 1984-09-25 | 단일 모우드 파이버의 스폿 사이즈 측정방법 |
| DE8484111473T DE3466283D1 (en) | 1983-09-29 | 1984-09-26 | Method of measuring a spot size of a single-mode fiber |
| EP84111473A EP0141251B1 (en) | 1983-09-29 | 1984-09-26 | Method of measuring a spot size of a single-mode fiber |
| AU33638/84A AU3363884A (en) | 1983-09-29 | 1984-09-28 | Method of measuring a sport size of a single-mode fiber |
| CA000464304A CA1213056A (en) | 1983-09-29 | 1984-09-28 | Method of measuring a spot size of a single-mode fiber |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58181318A JPS6071934A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 単一モ−ドフアイバのスポツトサイズ測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6071934A true JPS6071934A (ja) | 1985-04-23 |
| JPH0317292B2 JPH0317292B2 (ja) | 1991-03-07 |
Family
ID=16098580
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58181318A Granted JPS6071934A (ja) | 1983-09-29 | 1983-09-29 | 単一モ−ドフアイバのスポツトサイズ測定方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0141251B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6071934A (ja) |
| KR (1) | KR890001930B1 (ja) |
| AU (1) | AU3363884A (ja) |
| CA (1) | CA1213056A (ja) |
| DE (1) | DE3466283D1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014009956A (ja) * | 2012-06-27 | 2014-01-20 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバ測定方法 |
| JP2018063149A (ja) * | 2016-10-12 | 2018-04-19 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ特性評価方法および光ファイバ特性評価装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1245072A (en) * | 1985-11-05 | 1988-11-22 | Richard S. Lowe | Method and apparatus for measuring single mode fiber mode field radius |
| US5663798A (en) * | 1995-05-08 | 1997-09-02 | Dr. Khaled Karrai Und Dr. Miles Haines Gesellschaft Burgerlichen Rechts | Far-field characterization of sub-wavelength sized apertures |
| KR100434542B1 (ko) * | 2001-09-18 | 2004-06-05 | 삼성전자주식회사 | 근접장용 광 프로브 개구 측정장치 및 방법 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5478156A (en) * | 1977-12-05 | 1979-06-22 | Hitachi Ltd | Detector of break point of optical fibers |
| DE2842316A1 (de) * | 1978-09-28 | 1980-04-17 | Siemens Ag | Bestimmung des brechzahlprofils und/oder der numerischen apertur von lichtwellenleitern |
| FR2514493A1 (fr) * | 1981-10-12 | 1983-04-15 | Alard F | Procede et dispositif de mesure du diametre effectif du mode guide dans une fibre optique monomode |
-
1983
- 1983-09-29 JP JP58181318A patent/JPS6071934A/ja active Granted
-
1984
- 1984-09-25 KR KR1019840005865A patent/KR890001930B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1984-09-26 EP EP84111473A patent/EP0141251B1/en not_active Expired
- 1984-09-26 DE DE8484111473T patent/DE3466283D1/de not_active Expired
- 1984-09-28 AU AU33638/84A patent/AU3363884A/en not_active Abandoned
- 1984-09-28 CA CA000464304A patent/CA1213056A/en not_active Expired
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2018063149A (ja) * | 2016-10-12 | 2018-04-19 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ特性評価方法および光ファイバ特性評価装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0141251A1 (en) | 1985-05-15 |
| KR850002319A (ko) | 1985-05-10 |
| JPH0317292B2 (ja) | 1991-03-07 |
| EP0141251B1 (en) | 1987-09-16 |
| CA1213056A (en) | 1986-10-21 |
| AU3363884A (en) | 1985-04-18 |
| DE3466283D1 (en) | 1987-10-22 |
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