JP2018063149A - 光ファイバ特性評価方法および光ファイバ特性評価装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(a) これらの式のうち fpolar=fr(r)cos(nθ) に関する式は、n=0の場合に上記(5)式と一致する。
(b) (9)式から、FFPの半径軸プロファイルの絶対レベル(式中のcos(nΘ)やsin(nΘ)に相当)は角度Θに依存するのに対して、FFPの半径軸プロファイルの形状(式中のFφ(φ)=Hn[fr](φ)に相当)は角度Θに依存しない。つまり、FFPの測定の際の走査をどの方向にしたとしても、プロファイルの絶対レベルは変わるが、プロファイル形状Fφ(φ)は変わらずに測定することができるので、(10)式の変換式のみを通常考慮すればよい。
(c) 方位角方向でのNFPの電界振幅がcos(nθ)で変化するEvenmodeは、FFPにおいても電界振幅がcos(nΘ)で変化するEven modeとなる。これに対して、方位角方向でのNFPの電界振幅がsin(nθ)で変化するOdd modeは、FFPにおいても電界振幅がsin(nΘ)で変化するOdd modeとなる。
10…光ファイバ特性評価装置、11…測定部、12…解析部。
Claims (16)
- 方位角モード次数nが0でない高次の空間モードを1つ以上有するマルチモード光ファイバの各空間モードの光学特性を評価する方法であって、
前記高次の空間モードのうちの一つを測定対象モードとして、遠視野走査法により遠視野における発散角φに対する前記測定対象モードの電界Fの依存性Fφ(φ)の測定を任意の一方向について行う測定ステップと、
kを真空中の光の波数とし、φmaxをFφ(φ)測定時の最大発散角、または、測定したFφ(φ)が有意である最大発散角とし、Fφ(φ)を用いた下記(1)式の計算により、前記マルチモード光ファイバの出射端におけるファイバ半径方向位置rに対する前記測定対象モードの電界の依存性fr(r)を得る解析ステップと、
を有する光ファイバ特性評価方法。
- 前記測定ステップにおいて、光強度測定装置を用いて遠視野における発散角φに対する前記測定対象モードの光強度の依存性|Fφ(φ)|2を測定した後に、この光強度の平方根をとることで電界の絶対値|Fφ(φ)|に変換し、更に測定雑音に起因せずに光強度が極小値となるφの前後で電界の符号を異ならせることで、遠視野における発散角φに対する前記測定対象モードの電界Fの依存性Fφ(φ)を測定する、
請求項1〜4の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価方法。 - 前記測定ステップにおいて、モード選択型モード合波器を用いて前記マルチモード光ファイバの前記測定対象モードに選択的に光を入力することで、前記測定対象モードの光を選択的に測定する、
請求項1〜5の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価方法。 - 前記測定ステップにおいて、非測定対象モードと前記測定対象モードとの干渉を解析することにより前記測定対象モードの成分を抽出することで、前記測定対象モードの光を選択的に測定する、
請求項1〜5の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価方法。 - 前記マルチモード光ファイバが回転対称なコアを有する、
請求項1〜7の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価方法。 - 前記マルチモード光ファイバが円筒対称なコアを有する、
請求項1〜7の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価方法。 - 方位角モード次数nが0でない高次の空間モードを1つ以上有するマルチモード光ファイバの各空間モードの光学特性を評価する装置であって、
前記高次の空間モードのうちの一つを測定対象モードとして、遠視野走査法により遠視野における発散角φに対する前記測定対象モードの電界Fの依存性Fφ(φ)の測定を任意の一方向について行う測定部と、
kを真空中の光の波数とし、φmaxをFφ(φ)測定時の最大発散角、または、測定したFφ(φ)が有意である最大発散角とし、Fφ(φ)を用いた下記(5)式の計算により、前記マルチモード光ファイバの出射端におけるファイバ半径方向位置rに対する前記測定対象モードの電界の依存性fr(r)を得る解析部と、
を備える光ファイバ特性評価装置。
- 前記測定部は、光強度測定装置を用いて遠視野における発散角φに対する前記測定対象モードの光強度の依存性|Fφ(φ)|2を測定した後に、この光強度の平方根をとることで電界の絶対値|Fφ(φ)|に変換し、更に測定雑音に起因せずに光強度が極小値となるφの前後で電界の符号を異ならせることで、遠視野における発散角φに対する前記測定対象モードの電界Fの依存性Fφ(φ)を測定する、
請求項10〜13の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価装置。 - 前記測定部は、モード選択型モード合波器を用いて前記マルチモード光ファイバの前記測定対象モードに選択的に光を入力することで、前記測定対象モードの光を選択的に測定する、
請求項10〜14の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価装置。 - 前記測定部は、基底モードと前記測定対象モードとの干渉を解析することにより前記測定対象モードの成分を抽出することで、前記測定対象モードの光を選択的に測定する、
請求項10〜14の何れか1項に記載の光ファイバ特性評価装置。
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