JPS606272B2 - 電子系クリヤラの機能を制御する電子装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、移動する糸の横断方向寸法または横断方向寸
法の偏差を表わす検出信号を発生する検出装置、糸欠陥
を検出しかつ評価しかつ不都合に大きな糸欠陥の生じた
際に糸切断パルスを発生しかつ前記検出装置に接続され
た評価回路、および評価回路に接続された糸切断装置を
含む「電子糸クリャラのクリャ機能を制御する電子装置
に関する。

。電子糸クリャラは、糸の太さの太い位置のような不都
合な糸欠陥を糸から除去するため、糸製造機械に、特に
自動巻取り機に使用される。

このような太い位置は、所定の太さまたは長さおよび太
さを上回る糸部分である。設定装置は、糸欠陥の評価の
ため必要なパラメータを供給するために設けられており
、これらの設定装置は、糸クリャラの構造に依存して１
つまたは複数の制御電圧を供給できる。複数の信号チャ
ネルとクリャラの機能を試験しかつ設定する電子回路と
を含む電子糸クリヤラは、スイス国特許第５３１４５ｙ
号明細書、米国特許第３７５８２１６号明細書および同
様なその他の特許明細書に記載されている。

この電子回路によれば「電子糸クリャラの非常に簡単な
設定が可能であるが、１つつつの信号チャネルを順に設
定しなければならないので、いくらかの熟練と比較的多
くの時間消費とが必要である。本発明の目的は、クリャ
ラュニットの監視および制御を簡単にし、かつ未熟な人
でもこれらの操作を行うことができるようにする点にあ
る。

本発明のさらに明確な目的は、電子糸クＩＪャラまたは
この電子糸クリャラのクリヤラュニットのクリャ機能を
、自動監視およびまたは制御する装置を提供することに
ある。本発明によればこの目的は次のようにして達成さ
れる。

すなわちこの電子装置が、入力端子から検出信号を受取
りかつ糸欠陥の大きさを表わす欠陥測定信号を発生する
欠陥測定装置、入力端子から欠陥測定信号を受取りかつ
所定の限界値を越える大きさの欠陥測定信号の生じた際
にだけ出力信号を供給する欠陥擬択装置、制御信号が生
じて糸切断パルスが生じない場合にはいつでも修正パル
スを生じるように制御信号と評価回路の否定出力信号を
論理結合するＡＮＤゲート、およびＡＮＤゲートの出力
端子に接続された修正パルス応答装置を含む。

本発明の実施例を以下図面によって説明する。

第１図によれば、通常の構成のものでよい電子糸クリャ
ラは、部品１なし、し５で表わされており、これらの部
品は、中央設定装置５、および複数のクリャラュニット
ーないし４の１つ、すなわち糸検出装置１、前層増幅器
２、評価回路３および糸切断装置４を含んでいる。検出
装置１は〜糸の横断方向寸法、例えば瞬時的な直径、断
面燈または単位長あたりの質量を表わす電気検出信号を
発生するため、光電または容量変換器を含んでいてもよ
い。

検出信号は、ＤＣまたはＡＣ前層増幅器２において増幅
され、かつ２つまたはそれ以上の並列信号チャネルを含
む測定または評価回路３に供給される。信号チャネルに
おいて、振幅が所定の閥値を越える（太い位置）か、ま
たは別の閥値より小さい（細い位置）検出信号は、欠陥
測定信号になるように処理される。糸欠陥が不都合に大
きい場合評価回路３は出力信号を発生し、すなわち糸を
切断するため切断装置４を駆動するいわゆる糸切断パル
スを発生する。クリャすべき種々の糸に関して糸クリャ
ラを設定するため、評価回路３の応答は、設定装置５に
より供給される制御電圧によって調節できる。この場合
第１図の実施例において、設定される３つの制御電圧は
、太い位置に対する既述の閥値を定め、更にクリャ限界
を規定するパラメータを定める。但しクリャ限界とは「
除去されるべき大きな欠陥から許容される小さな欠陥を
区別する線であって「長さ対太さのダイヤグラムにプロ
ツトしたものである。なおクリヤ限界については「レッ
プフェレビュー６」１９６７年６月、第１５頁・第１刀
頁に記載されている。第１図において部品６〜１３を含
む制御装置または回路は、破線１−１によって糸クリャ
ラ１〜５から分離されている。

制御装置６〜１３によれば、第１に糸クリャラ１〜５ま
たはこの糸クリャラのいずれかのクリヤラュニツト１〜
４の監視が可能であり、かつ第２に、監視とともに又は
監視に代えて糸切断装置４の起動による制御が可能であ
る。クリャラュニットｉ〜４の応動特性従ってクリャ効
果が一般的にいって長時間にわたる連続運転の間に低下
し、そのために切断パルスを発生すべき若しくは除去さ
れるべき不所望な糸欠陥でありながら切断パルスを発生
しないまま若しくは除去されないまま糸切断装置を通過
してしまうケースが多発するようになるので、上記のよ
うな制御は糸クリャを行なう上で重要である。制御回路
６〜１３は、閥値段６および直列接続された測定回路７
から成る欠陥測定装置６，７を含んでいる。闇値段６は
、差動増幅器を含む比較器として構成でき、かつ前層増
幅器２の出力端子に接続されている。測定回路７に対し
て直列に、欠陥またはクリャ限界選択装置８が接続され
ており、この選択装置は、制御可能な応答閥値を有する
単安定マルチパイプレータであってもよい。部品６，７
および８の直列接続は、糸クリャラ１〜５の評価回路３
と同じものでよく、または別な方法で構成してもよい。
設定装置９は、それぞれ回路６，７および８に３つの制
御電圧または信号Ｓ，ＡおよびＧを供給する。回路６〜
９の構造および機能を、さらに第２図により詳細に説明
する。クリャ限界選択器８は、不都合に大きな糸欠陥の
生じた際にだけ制御パルスを供給する。

ＡＮＤゲートを含む第１のゲート回路１０は２つの入力
端子を有し、これら入力端子のうち一方は、反転入力端
子であり、かつ糸クリヤラの評価回路３の出力端子に接
続されており、その際他方の入力端子は、クリャ限界選
択器８の出力端子に接続されている。

第１のゲート回路１０の出力端子は、第１に第１の計数
装置１１に、また第２に糸クリャラの糸切断装置４に接
続されている。電子糸クリャラが、正しく設定されかつ
動作しており、かつ制御回路と、特に制御回路の回路６
〜９と正確に対応して動作するならば、いかなる場合に
も評価回路３からの糸切断パルスとクリャ限界選択器８
の出力端子における制御パルスとは同時に生じる。この
場合第１のゲート回路１０は出力パルスを生じない。し
かし電子糸クリヤラ１〜５のクリャ効果が、老化等によ
って低下すると、切断パルスを生じずに、制御パルスが
生じることがある。この時第１のゲート回路１０は、出
力導線Ｋに修正パルスを供給し、このパルスが、糸切断
装置４を起動し、かつ糸の切断を行わせる。修正パルス
は、同時に第１の計数装置１１によって記録される。一
定の期間の間、例えば１時間の間、またはボビンまたは
クロスコイルが巻終るまでの期間の間、計数装置１１を
投入することが望ましい。記録された修正パルスの数に
よって操作者は、一方において糸クリャラの回路３およ
び５の機能と、他方において制御装置の回路６〜９の機
能との間の相違に気付くことができる。第２のゲート回
路１２は、２入力ＡＮＤゲートとして構成されており、
これら入力端子のうち第１のものは、クリャ限界選択器
８の出力端子に接続されており、かつ第２のものは、糸
クリャラの評価回路３の出力端子に接続されている。第
２のゲート回路１２に対して直列に、第２の計数装置１
３が接続されており、この計数装置は、制御パルスが切
断パルスと同様に発生されたすべての糸欠陥を記録する
。両方のカウンタ１１および１３の計数値を比較すれば
、操作者は、糸クリャラ１〜５によって除去されなかっ
た不都合な糸欠陥の数と、実際に糸クリャラによって切
断されたこのような欠陥の数との間の関係を見積ること
ができる。

第２図は、詳細な測定回路７を含む回路６，７および８
と「制御電圧または信号Ｓ，ＡおよびＧの接続関係を示
している。

閥値段６に、設定装置９から閥値制御電圧Ｓが供給され
る。

この電圧Ｓは、前層増幅器２により供給される検出信号
に対し、糸欠陥を検出するための下限値又は関値を定め
る。すなわち闇値段６は、検出信号の振幅がこの限界値
より大きい信号だけを通過させる。以下においてこの信
号は欠陥信号と称する。闇値段６の次の測定回路７は、
信号分離回路７一１およびこれに直列接続されたアナロ
グ結合段７一２を含む。

信号分離回路７−１は、太さ測定回路１４，１５および
これに並列にした長さ測定回路１６，１７を含み、この
長さ測定回路は、信号整形器１６および直列接続された
積分器１７を含む。信号整形器１６、例えば０閥値シュ
ミットトリガは、閥値段６からの欠陥信号を同一幅であ
るが欠陥信号振幅に無関係な振幅の方形パルスに変換す
る。積分器１７は、方形パルスを３角パルスに変換し、
この３角パルスの振幅は、大体において欠陥信号の幅に
比例しており、かっこの３角パルスは、長さ測定信号と
呼んでもよい。太さ測定回路１４，１５は、ピーク検出
器１４およびこれに直列接続された可制御増幅器１５を
含んでおり、この増幅器に、設定装置９から振幅制御電
圧Ａが供給される。

ピーク検出器１４は、傾斜した前緑および平らな頂部を
有する単一パルスを供給し、このパルスの高さは、欠陥
信号の振幅に対応している。この単一パルスは、多かれ
少なかれ振幅制御信号Ａに関連して増幅器１５により増
幅され、かつ太さ測定信号に変換される。太さおよび長
さ測定信号は、後続のアナログ組合せ段７−２において
組合わされまたは加算され、その際この組合せ段は加算
増幅器であってもよく、その結果振幅が糸欠陥の大きさ
または「重みＪの尺度であるアナログ欠陥測定信号が生
じる。アナログ欠陥測定信号は、クリャ限界選択器８に
供給され、この選択器は、設定装置９からの限界制御電
圧Ｇに依存して欠陥測定信号に対する下限を設定する。
欠陥測定信号の振幅がこの下限を越えた場合、制御パル
スが発生され、この制御パルスは、前に述べたように処
理される。第１図および第２図に示す装置によれば、欠
陥長さ信号および欠陥太さ信号（士および主と称する）
は、信号分離回路７−１により発生され、かつ組合せ段
７一２において加算される。

ｌｏおよび広は分離回路７−１の太さチャネル１６，１
７および長さチャネル１４，１５における増幅度に関す
る定数である。第５図においてＧで示すような組合せ段
７一２の出力がクリャ限界選択器８に供給され、このク
リャ限界選択器は、段７−２の出力の振幅が第５図に破
線で示すような所定の閥値に達するかまたは越えた場合
、応答しかつ第５図に示す方形パルス日を発生する。長
さおよび太さ信号は段７−２で加算されるので、士＋を
Ｇ の形の不等式が満たされた場合、閥値に達しまたはこれ
を越える。

この場合クリャ限界は次式によって定義される。三十朱
Ｇ その際この式は、直交座標系において傾斜した線によっ
てグラフ表示される。

欠陥測定装置６，７およびクＩＪャ限界選択器８の組合
せ動作の結果、ブロック８の枠内に略示したような形の
クリャ限界線を得る。

次に第１図及び第２図の実施例の動作を具体的に説明す
る。

第５図Ａは、検出装置１から生じ前贋増幅器２で増幅さ
れた太い個所の糸欠陥信号の波形を示す。即ち第５図Ａ
は糸の太い個所の発生の際の前層増幅器２の出力信号を
示す。第５図Ｂは、制御装置６〜１３の闇値段６の出力
信号を示す。閥値段６の出力信号は、第５図Ａ，Ｂから
明らかなように、第５図Ａに示す前層増幅器２の出力信
号から閥値Ｓのレベル分だけ取り除いた波形である。但
し信号波形のほぼ中央に示す○印は、闇値段６の出力信
号の零しベルを示す。また０印の時間軸上の位置は信号
波形の最大値が存在する位置である。第５図Ｃは「信号
整形器１６の出力波形を示し、第５図Ｄは積分器１７の
出力波形を示す。第５図Ｄに示すように、積分器１７の
出力信号の振幅は長さを示す。第５図Ｅはピーク検出器
１４の出力信号を示し、第５図日ま可制御増幅器１５の
出力信号を示す。第５図Ｆに示すように、可制御増幅器
１５の出力信号の振幅は糸欠陥の太さを示す。第５図Ｄ
の信号と第５図Ｆの信号とはアナログ結合段７−２で加
算されて、第５図Ｇの信号を得る。クリャ限界選択器８
では、闇値Ｇを越える第５図Ｇの信号部分が矩形パルス
に変換される。この矩形パルスを第５図日に示す。この
矩形パルスのパルス幅は、閥値Ｇを越える第５図Ｇの信
号部分の幅に等しい。第６図Ａ〜Ｃは、前層増幅器２の
出力側に糸欠陥信号が生ずる際、糸クリャラ１〜５の評
価回路３が出力パルスを発生する場合を例示して示す。

第６図Ａに示す評価回路３の出力パルスは、ゲート回路
１０の反転入力側で反転される。これを第６図Ｂに示す
。第６図Ｂの出力パルスがゲート回路１０で論理結合さ
れた結果、ゲート回路１０の出力側には値０の信号が生
ずる（第６図Ｃ）。但し第６図において・印は零しベル
を示し、またその時間位置はクリャ限界選択器８の出力
パルスの立上り点にある。第６図Ｄ〜Ｆは、第６図Ａ〜
Ｃの場合とは反対に、クリャ限界選択器８の出力側に信
号が生ずる際、評価回路３の出力が生じない場合を示す
。評価回路３の露信号はゲート回路１０の反転入力側で
第６図Ｅの信号に反転される。そしてゲート回路１０で
クリャ限界選択器８の信号と第６図Ｅの信号とが論理結
合され、第６図Ｆのパルスが生ずる。第６図Ｆのパルス
は修正パルスＫである。修正パルスＫにより糸クリヤラ
１〜５の糸切断装置４が動作する。このようにして制御
装置６〜１３は糸クリャラ１〜５の制御を行なう。また
修正パルスＫは計数装置１１でカウントされる。制御装
置６〜１３に関して、加算増幅器の代りに別の組合せ段
７−２、例えば長さと太さの測定信号の積としてアナロ
グ欠陥測定信号を発生する掛算段を設けてもよいことを
指摘しておく。

あるいは測定回路７を低域通過フィルタ回路から構成し
、この低域通過フィルタ回路のＲＣ回路のＲ又はＣを調
節可能又は電圧により制御可能とすることもできる。第
３図に示した制御装置の実施例は、アナログ欠陥測定信
号がディジタル信号に変換されかつディジタル信号とし
て処理される点において、第１図および第２図により説
明したものと相違している。

電子糸クリャラ１〜５は、前記のように構成できる。第
３図に制御装置は、機能部分６，７一３，７−４および
１８〜２４を含んでいる。

欠陥測定装置６，７一３，７一４は、閥値段６、これに
直列接続された信号分離回路７−３および分類装置７−
４から成り、この信号分離回路は、第４図に詳細に示さ
れており、かつ２つの出力線にディジタル欠陥測定信号
を供給し、またこの分類装置は、これら２つの出力線に
接続されており、かっこの分類装置の入力は、ディジタ
ル欠陥測定信号である。分類装置７一４に対して直列に
、ｎ個のクラスを含みかつｎ個の出力線を有する欠陥ク
ラス選択器１８が接続されている。次に分類装置７−４
の構成及び動作について説明する。

この種の分類装置は例えば米国特許第１２２０６３６号
明細書・図面に記載されている。特に岡持許第２図には
、糸の太さ欠陥を長さ及び太さの関数として分類する装
置が図示されている。同第２図において、太さチャネル
には構成部分４５〜５３が配属されており、長さチャネ
ルには構成部分２５〜３９が配属されている。太さチャ
ネルの回路群４９〜５２は入力の太さ信号をパルスに変
換する。長さチャネルの回路群２６〜３７は入力の長さ
信号をパルスに変換する。従って回路群４９〜５２，２
６〜３７はそれぞれＡ・Ｄ変換器として働く。これは本
願第４図のＡ・Ｄ変換器２５一２，２５ーーに対応する
。太さ信号から変換されたパルスは分類系５４〜５６で
分類され、他方長さ信号から変換されたパルスは分類系
４０〜４３で分類される。分類系５４〜５６，４０〜４
３はシフトレジスタから成る。“長さ”のシフトレジス
タからの信号及び“太さ’’のシフトレジスタからの信
号はゲートＧＭＬ印Ｄ３〜ＧＬ９Ｄ１の２つの入力側に
加わる。以上のようにして、太さ欠陥が３つの太さのク
ラスと４つの長さのクラス（従って合計１２のクラス）
に分類される。糸の太さ欠陥分類のための分類装置が得
られる。無論４×４＝１６分類の分類装置も同じ要領で
構成できる。設定装置１９は、閥値段６に閥値制御電圧
Ｓを、また信号分離回路７一３に振幅制御電圧Ａを供給
し、この信号分離回路は、糸欠陥の生じた際にディジタ
ル長さ測定信号およびディジタル面積測定信号を発生す
る。対になって生じるこれら欠陥測定信号は、糸欠陥の
長さおよび断面積に依存して、分類装置７一４において
分類され、またはｎ個のクラスの１つに対応付けられる
。糸欠陥または相当する欠陥測定信号が生じた際、分類
された欠陥測定信号は、当該のクラスを表わす分類装置
７−４の出力線に生じる。分類された欠陥測定信号の形
および大きさは、信号分離回路７一３によって供給され
るディジタル欠陥測定信号の大きさに無関係である。ク
ラスの数ｎは任意に選ぶことができ、公知のいまいま適
用される分類方法に応じて、長さ分類に対して４つのク
ラスおよび断面積分類に対しても４つのクラスを選ぶこ
とができ、すなわち全体で４×４＝１６のクラスを選ぶ
ことができる。

欠陥クラス選択器１８の後に、直列接続された第１のゲ
ート回路２０およびｎ童の第１の計数装置２１が接続さ
れている。ゲート回路２０は、並列配置されたｎ個のＡ
ＮＤゲートから成り、それぞれのＡＮＤゲートの第１の
入力端子は、個別的に欠陥クラス選択器１８のｎ個の出
力端子のうちの１つに接続されている。他方においてゲ
ート回路２０の第２の入力端子は、ィンバータを介して
糸クリャラ１〜５の評価回路３の出力端子に接続されて
いる。計数装置２１は、ｎ個の単一カウン夕を含み、そ
れぞれのカウン外ま、ゲート回路２０のｎ個の出力端子
のうち１つに接続されており、かっこのようにして分類
装置７−４のｎ個のクラスのうち１つに結合されている
。さらにｎ個の出力線は、ワイヤードＯＲ回路２４へ通
じ、このＯＲ回路の出力線Ｋは、糸切断装置４に接続さ
れている。並列配置されたｎ個のＡＮＤ回路を含む第２
のゲート回路２２の第１の入力端子は、分類装置７一４
のｎ個の出力端子に接続されている。

第２のゲート回路２２のｎ個の出力線は、ｎ個の単一カ
ゥンタを含む第２の計数装置２３に通じており、それぞ
れの単一カゥン夕は、前記ｎ個の出力線のうち１つに結
合されている。第２のゲート回路２２の第２の入力端子
は、評価回路３の出力端子に接続されている。第１のゲ
ート回路２川ま、欠陥クラス選択器１８から分類された
欠陥測定信号が生じた際に、同時に評価回路３によって
糸切断パルスが発生されない時にだけ応答する。

すなわち第１のゲート２０は、電子糸クリャラ１〜５に
よって検出されずかつ除去されなかったすべての無視で
きない糸欠陥に対して分類された計数パルスを発生する
。これらの分類された欠陥信号は、それぞれのクラス内
で独立に第１の計数装置２１に記録される。計数装置２
１は、糸クリャラ１〜５によって検出されなかった無視
できない糸欠陥だけを記録するので、このような記録に
よって操作者は、糸クｌｊャラのクリャ機能を判定する
ことができる。計数装置２１のそれぞれの応答と同時に
糸切断装置４は、糸クリャラ１〜５によって検出されな
かった糸欠陥を除去するために駆動される。欠陥クラス
選択器１８は例えば次のように簡単に構成することがで
きる。

即ち分類装置１８からのｎ本の線にそれぞれ機械接点又
は電子的接点を設ける。そしてｎ個のキーを有するキー
ボードを設け、このキーボードのキーで各個接点を閉威
できるようにするのである。欠陥クラス選択器１８の出
力側は前記接点の出側端子であり、第１のゲート回路２
０１こ接続されたｎ本の出力線に接続される。キーボー
ドのどのキーを押圧するかによって、糸切断装置４によ
り切断される糸欠陥のクラスが定まる。糸欠陥の分類お
よび不都合な糸欠陥のクラスの選択は、一般に糸クリャ
ラの制御電圧を相応して設定するために導入されたので
、糸クリャ制御の本発明による方法は、通常のアナログ
糸クリャラに対して特に重要なものである。

しかしながらアナログ方式をベースにした糸クリャラで
は連続的なクリャ限界線が得られるのに対し、上記の方
法では、分類により規定される不連続なクリヤ限界線（
例えばブロック１８の枠内で階段状の線により示すよう
に）が得られる。第２のゲート回路２２と第２の計数装
置２３は、糸クリャラ１〜５が糸切断パルスを発生する
すべての糸欠陥（クラスに分類されている）を記憶する
。

即ち許容できない不都合に大きな糸欠陥の数を記憶する
。不都合に大きな糸欠陥を分類して計数することにより
、まれな糸欠陥に関連付けて糸の品質を判定することが
できる。第４図は、信号分離回路７一３の実施例を示し
ており、この信号分離回路は、第２図の信号分離回路７
一１と同様に「測定回路の並列な２つの列、すなわち長
さ測定回路１６，１７，２５一１および面積測定回路１
４Ａ，１５，２５一２を含んでいる。

これら回路列のそれぞれは、前の回路からのアナログ測
定信号をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器２５−
１および２５−２でそれぞれ終っている。第１の回路列
の回路１６および１７は、第２図に示した長さ測定チャ
ネル１６，１７と同様に構成できる。

第２の回路列において、第２図で示すようにＯＡ／Ｄ変
換器出力段で終端された太さ測定回路１４，１５を設け
ることができる。

しかし第４図は、変形として面積測定回路を示しており
「 この面積測定回路は「第１の回路として積分器１４
Ａを含み、この積分器は、闇値段６により供給され夕た
欠陥信号の時間積分値を形成し、この積分値は、信号の
面積を表わしている。次に第３図及び第４図の実施例に
ついて説明する。

糸の太さ欠陥が生ずる場合、信号分離装置７一３は第７
図ＡのＤ及びＬに示すように２つのパｏルス列を送出す
る。分類装置了−４は、信号分離装置７−３から供給さ
れる２つのパルス列Ｄ，Ｌに依存して、第７図Ｂに示す
ようにｎ本の出力線のうちの１本から単一パルスを発生
する。クリャ限界選択器１８において、分類装置７−４
からのｎ本の出力線のうち単一パルスが供給される出力
線に接続された機械接点又は電子接点がキーにより閉成
されている場合には、その単一パルスはそのまま送出さ
れる（第７図Ｃ）。第６図Ｄ〜Ｆで図示したように、評
価回路３に出力パルス（第６図Ｄ）が生じない場合に第
６図Ｆのように修正パルスＫが生ずる。ＯＲゲート２４
はｎ本の入力線を単一出力線にまとめる。分類装置７−
４および欠陥クラス選択装置１８の構成は、例として第
８図に示されている。

分類装置７一４は、長さシフトレジスタＬ１，Ｌ２，Ｌ
３を有し、このシフトレジスタの入力端子は、第４図に
示す信号分離回路７−３の第１のまたは長さ出力端子Ｌ
に援競されており、かっこらに装置７−４は、太さシフ
トレジスタＤ１，Ｄ２，Ｄ３を有し、このシフトレジス
タの入力端子は、信号分離回路７−３の第２のまたは太
さ出力端子Ｄに援続されている。それぞれのシフトレジ
ス夕は、直列接続された３つの段Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３また
はＤ１，Ｄ２，Ｄ３から成る。第１の段ＬＩまたはＤＩ
は、わずかな欠陥長または欠陥太さを表わす１つまたは
小数のパルスによってセットされ、第２段Ｌ２またはＤ
２は、中間またはそれより多数のパルスによってセット
され、かつ第３段Ｌ３またはＤ３は、さらに多数のこの
ようなパルスによってセットされる。従ってこれらシフ
トレジスタは、３つの長さ群および３つの太さ群に、す
なわち全体で３×３＝９のクラスに糸欠陥を分類するよ
うになっている。従って９つのＡＮＤゲートＴＩ１，Ｔ
１２・・・Ｔ２３，Ｔ３３が設けられており、これらＡ
ＮＤゲートのそれぞれは、２つの信号入力端子を持ち、
すなわち第１の信号入力端子は、個々に段Ｌ１，Ｌ２，
Ｌ３の１つの出力端子に接続されており、また第２の信
号入力端子は、個々に段Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３の１つの出力
端子に接続されている。

ＡＮＤゲートは第３の入力端子、すなわちェネ−ブル入
力端子を持っている。通常ＡＮＤゲートは禁止されてい
る。入力端子ＬおよびＤに示すようなディジタル長さお
よび太さ信号によってシフトレジスタをセットした後だ
けに同じものをェネーブルするため、単安定マルチパイ
プレータ２６が設けられており、このマルチパイプレー
夕の入力端子は、第４図の信号整形器１６の出力端子に
薮続されている。単安定マルチパイプレータ２６の出力
端子は、前記ＡＮＤゲートのすべてのェネーブル入力端
子に接続されている。信号整形器１６の出力パルスの後
縁は、信号ェネーブルパルスを発生するように単安定マ
ルチパイプレータ２６をトリガする。

従ってディジタル欠陥信号が、例えば段Ｌ２と○３をセ
ットした時、ＡＮＤゲートＴ２３だけが、この世力線２
３の２進出力信号を発生する。

さらに単安定マルチパイプレータ２６の前記出力パルス
が消えた際にシフトレジスタをリセットするため装置が
設けられている（図示せず）。欠陥クラス選択装置１８
は、クラス数に相応した数のメータおよびブレークスイ
ッチ、すなわちこの場合９つのスイッチＳＩＩ……Ｓ３
３を有する。スイッチＳＩ Ｉは、ＡＮＤゲートＴＩ
Ｉの出力線１１のところに配置され、かっこのようにし
てそれぞれその他のスイッチは、番号または指標のよう
にＡＮＤゲートに接続されている。それぞれのスイッチ
は、キーによって手動で閉じてもよい。例えばスイッチ
Ｓ２３を閉じた際ＡＮＤゲートＴ２３の前記の２進出力
信号は、第３図の第１のゲート回路２０に達することが
できる。この時同時に評価回路３から設定パルスが生じ
ない場合、導線Ｋ上に制御パルスが発生され、かつ糸設
定装置５が動作する。例えば第８図に示すように、スイ
ッチＳＩ１，ＳＩ２およびＳ２１は開き、かつその他す
べてのスイッチは閉じている。

すなわちわずかな糸欠陥により生じる２進欠陥信号は、
欠陥クラス選択器１８を通過でき、または設定パルスを
発生できる。しかしながら別のスイッチはすべて閉じて
いるので、場合によっては大きな糸欠陥を表わす２進糸
欠陥信号が、場合によっては設定装置５を起動するため
欠陥クラス選択装置１８を通過することがある。第８図
において階段状破線ＣＬによって、開いたスイッチが閉
じたものから区別され、または換言すれば除去すべき欠
陥のクラスが、許容すべきものから区別されている。

従って線ＣＬは、第３図に示す制御装置Ｇ−２４のクリ
ャ限界またはクリャ特性を表わしている。本発明の有利
な実施例を図示しかつ説明したが、本発明はこの点に限
定されるものではなく、その他に特許請求の範囲に記載
した枠内で種々に実施することができることは明らかで
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による制御装置および制御すべき電子
糸クリャラの第１の実施例を示すブロック図、第２図は
、第１図の１つのブロックを詳細に示すブロック図、第
３図は、第２の実施例のブロック図、第４図は、第３図
の１つのブロックを詳細に示す図、第５図および第６図
は、第１図および第２図の実施例の動作を説明する信号
波形図、第７図は、第３図および第４図の実施例の動作
を説明する信号波形図、第８図は、分類装置および欠陥
クラス選択装置の実施例を示す図である。 １〜５・・・・・・電子糸クリヤラ、１−４・・・・・
・クリヤフュニット、１・・…・検出装置、２……前層
増幅器、３…・・・評価回路、４・・・・・・糸切断装
置、５…・・・設定装置、６〜１３・・・・・・制御回
路、６，７・・・…欠陥測定装置、６・・・・・・閥値
段、７・…。 ・測定回路、８・・・・・・欠陥またはクリャ限界選択
器、９…・・。設定装置、１０，１２，２０，２２……
ゲート回路、１１，１３，２１，２３……計数装置。第
１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 移動する糸の横断方向寸法または横断方向寸法の偏
   差を表わす検出信号を発生する検出装置、糸欠陥を検出
   しかつ評価しかつ不都合に大きな糸欠陥の生じた際に糸
   切断パルスを発生しかつ前記検出装置に接続された評価
   回路、および評価回路に接続された糸切断装置を含む、
   電子糸クリヤラのクリヤ機能を制御する電子装置におい
   て、この電子装置が、入力端子から検出信号を受取りか
   つ糸欠陥の大きさを表わす欠陥測定信号を発生する欠陥
   測定装置、入力端子から欠陥測定信号を受取りかつ所定
   の限界値を越える大きさの欠陥測定信号の生じた際にだ
   け出力信号を供給する欠陥選択装置、制御信号が生じて
   糸切断パルスが生じない場合にはいつでも修正パルスを
   生じるように制御信号と評価回路の否定出力信号を論理
   結合するＡＮＤゲート、およびＡＮＤゲートの出力端子
   に接続された修正パルス応答装置を含むことを特徴とす
   る、電子糸クリヤラの機能を制御する電子装置。 ２ 欠陥測定装置が、閾値応答段と２つの並列測定チヤ
   ネルを含む測定回路とを含み、これら測定チヤネルのう
   ち一方が糸欠陥の太さを、また他方が長さを測定するよ
   うになっている、特許請求の範囲第１項記載の装置。 ３ 欠陥測定装置と欠陥撰択装置がアナログ回路として
   構成されている、特許請求の範囲第１項記載の装置。 ４ 欠陥測定装置が、アナログ欠陥測定信号をデイジタ
   ル欠陥測定信号に変換する装置を含み、かつ欠陥撰択装
   置が、分類された欠陥測定信号を発生するように変換装
   置の出力端子に接続された分類装置と、不所望な長さの
   糸欠陥のクラスを手動選択する装置を備えかつ分類装置
   の出力端子に接続された欠陥クラス選択装置とを含む、
   特許請求の範囲第１項記載の装置。 ５ 修正パルス応答装置が、糸切断装置を含む、特許請
   求の範囲第１項記載の装置。 ６ 修正パルス応答装置が、パルス計数装置を含む、特
   許請求の範囲第１項記載の装置。