JPS6059736B2 - 物品の位置検出方式 - Google Patents

物品の位置検出方式

Info

Publication number
JPS6059736B2
JPS6059736B2 JP6253078A JP6253078A JPS6059736B2 JP S6059736 B2 JPS6059736 B2 JP S6059736B2 JP 6253078 A JP6253078 A JP 6253078A JP 6253078 A JP6253078 A JP 6253078A JP S6059736 B2 JPS6059736 B2 JP S6059736B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
article
image
outer diameter
position detection
diameter dimension
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP6253078A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS54152965A (en
Inventor
俊夫 竹中
驍 井上
正博 長尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP6253078A priority Critical patent/JPS6059736B2/ja
Publication of JPS54152965A publication Critical patent/JPS54152965A/ja
Publication of JPS6059736B2 publication Critical patent/JPS6059736B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Of Position Or Direction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えば半導体組立時のダイボンディング工
程における半導体ペレットの位置合せ作業の自動化に応
用される物品の位置検出方式に関するものである。
従来この種の方式の一例としてICのダイボンディン
グ作業へ応用されたものについては以下説明する。
ICのダイボンディング作業においては第1図に示すよ
うに治具1上に略整列、即ち比較的規則的に並べられた
長方形状のICペレット2をハンドリング装置(図示せ
ず)により順次ピックアップするために個々のICペレ
ット2の中心位置を検出する必要がある。 第2図に従
来の位置検出方式の構成例を示す。
図において、治具1をXYテーブル3上に固定し、治具
1上のICペレット2群の拡大像をテレビカメラ4によ
つて撮像し、AD変換部5によつてディジタル図形を得
る。なお、テレビカメラ4とAD変換部5とて画像入力
手段を構成している。このようにして得たディジタル図
形(以下読取り図形と記す)の例として、特に2値図形
の場合を第3図に示す。このような読取り図形に対して
、第4図のようなICペレット2の角を表わす標準パタ
ーンPl,P2,P3,P4を用意し、各標準パターン
Pl,P2,P3,P4に対して、読取り図形内をスキ
ャンし、一致の度合が基準値より高い点(これを候補点
と呼ぶ)が存在するかどうかを調べ、存在するときはそ
の位置座標情報を出力する部分画像位置検出手段を構成
したパターンマッチング部6によつてICペレット2の
角の位置を求める。このようなことは局部メモリと一致
数をカウントする論理回路とで容易に構成できる。第3
図の図形の場合では、P1にはS6,S8,Sl4,S
l6が、P2にはS59S79Sl39Sl5が)P$
にはS29S49SlO?Sl2が、P4にはSl,S
3,S9,Sllがそれぞれ角位置候補点となる。制御
部7は、これらの候補点の位置関係から、長方形状を形
成するS6,S7,SlO,Sl2を選択し、4つの角
位置座標の平均から中心位置座標を計算する。このよう
にして得られた制御部7からの中心位置座標情報出力a
は他のハンドリング装置(図示せす)のデータとして使
われるか、あるいはXYテーブル3を直接動かしICペ
レット2を基準位置に合せることが可能である。
以上で述べたのは治具1上の個々のICペレット2につ
いての位置を検出する場合であり、更に治具1上のすべ
てのICペレット2の位置の検出を行なうように、制御
部7はあらかじめ定めた順序に従つてXYテーブル3を
移動し、各停止毎に前記の位置検出を行なうよう制御す
る。
この制御部7は比較的複雑な判定・処理を必要とするが
ミニコンピュータ又はマイクロコンピュータにより.容
易に実現できる。このような従来の方式においては、読
取り図形は少なくとも1つの物品が完全に含められる大
きさ(視野)であることが暗黙的に仮定されている。
従つて、ICペレット2のような例えば1辺!の長さが
1順から6wftどいつた広範囲にわたる対象に対して
は、例えばテレビカメラ4にズームレンズを取付け倍率
を変更できるようにし、常に読取り図形の状態を一定に
保つなどの手段が必要になる。しかし、この場合対象の
大きさによつて倍く率を変えることになり、図形の分解
能が変わるので一様な位置検出精度を得ることができな
くなる。本発明はこのように大きさが不明で広範囲にわ
たる対象に対して、倍率を変更することなく一様な精度
で位置検出できるようにするため、読取り図形が物品の
一部分しか含まないような限られた視野であつても位置
検出できるような物品の位置検出方式を提供するもので
ある。
第5図に本発明の方式による構成例を示す。
図において、XYテーブル3・テレビカメラ4・鳩変換
部5・パターンマッチング部6の働きは従来の方式によ
る構成と同様であり説明を省略する。以下の説明におい
ては、物品の大きさがテレビカメラの視野に比して大き
く、読取り図には物品の一部分像しか含まれない場合を
考える。なお全体像を含むような場合においても同様の
方式で位置検出できるのでICペレット2のように大き
さが多岐にわたる対象に対して同一方式で対応できるこ
とになる。第6図に読取り2値図形例を示す。このよう
なディジタル図形に対して外径寸法検出部8は、外径寸
法演算手段を構成し、従来の方法と同様にして4つの角
の位置を求めてICペレット2の外径寸法を求める。こ
こでは読取り図形に一部分像しか含まれない場合を考え
ているので各標準パターンPl,P2,P3,P4のそ
れぞれについて、候補点出力が得られるまでXYテーブ
ル3の微小移動を行ない、テレビカメラの視野を移動す
ることが必要である。第6図ないし第9図は、それぞれ
標準パターンPl,P2,P3,P4に対し、候補点が
見つかつたときの図形状態を示すものである。図に示し
たような候補点Sl7,Sl8,Sl9,S2Oが求ま
れば、その候補点の座標とXYテーブル3移動量から、
ICペレット2の大きさが算出できる。但し、角を探す
ときのXYテーブル3移動量はあまり大きくとると隣接
1Cペレット2の角と間違う恐れがあるので注意しなけ
ればならない。また、中心位置検出部9は、物品位置演
算手段を構成し、外径寸法検出部8て求めた大きさ情報
を使つてより少ない(最小限1つの)角の位置座標から
中心位置座標を計算するものである。
例えば、ICペレット2の左上の角の位置から位置検出
する場合においては、標準パターンP1をとり、得られ
た左上の角の位置座標にICペレット2の大きさの半分
の値を加えればよい。最後に、制御部10は、従来の方
式と同様にあらかじめ定めた順序に従つてXYテーブル
3を所定量送つては検出部8,9を働かせるということ
を繰返し、治具1上のすべてのICペレット2の位置検
出を行なう。
その際、最初に外径寸法検出部8によつてICペレット
2の大きさを求めておき、その後は、測定したICペレ
ット2の大きさを利用して中心位置検出部9によつて位
置検出するように制御する。中心位置検出部9はより少
ない角位置から位置検出するので全体としては高速処理
が期待できる。外径寸法検出部8、中心位置検出部9、
制御部10は比較的複雑な判断処理を含むが、従来の方
法と同様にミニコンピュータ又はマイクロコンピュータ
を用いれば容易に実現できる。
以上の説明においては、長方形状のICペレット2の位
置検出については述べたが、形状を特に限定するもので
はなく、一般の多角形物品に対しても略整列即ち比較的
規則的に並んでいて物品相互の傾きが小さい場合には、
パターンマッチング部6に用意する標準パターンPl,
P2,P3,P4を変えることにより位置検出できる。
この発明は以上のように、略整列して並んだ物品の位置
検出に際して、最初に物品の大きさを求め、以降はその
大きさ情報をもとに最小限1つの角の位置を求めるだけ
て位置検出できるようにしたので高速連続位置検出が可
能となる効果がある。また、移動手段による視野の移動
と部分画像位置検出手段を連動させて物品の大きさを求
めるようにしたので物品の大きさが画像入力手段の視野
に比して大きい場合でも位置検出が可能となり、広範囲
の大きさの物品について一定精度を確保できるなどの効
果をも有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は位置検出動作の説明に引用したICペレットを
多数並べた治具を示す平面図、第2図は従来の位置検出
方式を示すブロック図、第3図は従米の位置検出方式に
おけるICペレットの2値図形を示す図解図、第4図は
ICペレットの角を検出するための標準パターンを示す
図解図、第5図は本発明の一実施例を示すブロック図、
第6図ないし第9図は夫々本発明の位置検出方式におけ
る2値図形を示す図解図である。 図において1は治具、2はICペレット、3はXYテー
ブル、4はテレビカメラ、5はAD変換・部、6はパタ
ーンマッチング部、8は外径寸法検出部、9は中心位置
検出部、10は制御部、P1ないしP4は標準パターン
である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 XY方向に移動可能な移動手段に略整列して載置さ
    れた一定の平面形状の多数の物品を量子化画像として入
    力する画像入力手段と、この画像入力手段によつて得ら
    れた入力画像内の所定の形状部分の位置を検出する部分
    画像位置検出手段と、この部分画像位置検出手段からの
    信号により上記物品の1個における複数部分の部分画像
    位置を検出して物品の外径寸法を演算して記憶する外径
    寸法演算手段と、上記複数の部分画像のうち少なくとも
    単数の部分画像位置を検出し上記記憶した外径寸法とか
    ら物品の位置を演算する部品位置演算手段と、上記移動
    手段による移動と上記部分画像位置検出手段による画像
    位置検出の連動により移動手段上の全物品を順次位置検
    出するよう制御する制御手段とにより物品の位置検出を
    行なう物品の位置検出方式。 2 外径寸法演算手段として、物品の大きさが画像入力
    手段の視野よりも大きいとき、部分画像位置検出と移動
    手段による視野の移動とを連動して物品の外径寸法を求
    めるようにした特許請求の範囲第1項記載の物品の位置
    検出方式。
JP6253078A 1978-05-24 1978-05-24 物品の位置検出方式 Expired JPS6059736B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6253078A JPS6059736B2 (ja) 1978-05-24 1978-05-24 物品の位置検出方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6253078A JPS6059736B2 (ja) 1978-05-24 1978-05-24 物品の位置検出方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS54152965A JPS54152965A (en) 1979-12-01
JPS6059736B2 true JPS6059736B2 (ja) 1985-12-26

Family

ID=13202835

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6253078A Expired JPS6059736B2 (ja) 1978-05-24 1978-05-24 物品の位置検出方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6059736B2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01238422A (ja) * 1988-03-16 1989-09-22 Mitsubishi Electric Corp 配電系統の保護装置
JPH0241618A (ja) * 1988-07-27 1990-02-09 Chubu Electric Power Co Inc 配電線故障の高速切り離し・復旧方式

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58110051A (ja) * 1981-12-23 1983-06-30 Fujitsu Ltd 半導体素子の位置認識方法
PT77788B (en) * 1982-12-08 1986-03-20 Texas Instruments Inc Apparatus and method for pattern location

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01238422A (ja) * 1988-03-16 1989-09-22 Mitsubishi Electric Corp 配電系統の保護装置
JPH0241618A (ja) * 1988-07-27 1990-02-09 Chubu Electric Power Co Inc 配電線故障の高速切り離し・復旧方式

Also Published As

Publication number Publication date
JPS54152965A (en) 1979-12-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4334241A (en) Pattern position detecting system
US4435835A (en) Method and device for detecting the position of an object
US4744047A (en) Pattern test apparatus including a plurality of pattern generators
JP3242108B2 (ja) ターゲットマークの認識・追跡システム及び方法
JPS5959397A (ja) 特徴点のラベリング装置
JPH03294976A (ja) 基準マークパターン検出装置
JPH0810132B2 (ja) 対象パタ−ンの回転角検出方式
JPH08292014A (ja) パターン位置の計測方法および計測装置
JPS6059736B2 (ja) 物品の位置検出方式
US5986694A (en) Image processing apparatus for moving camera
JP2575848B2 (ja) 画像処理方法
KR19990088074A (ko) 디지탈이미지프로세싱으로물체위치를판정하는방법
EP0494635A2 (en) Pattern recognition method
JP3415868B2 (ja) 3次元物体の外形形状検出装置
JPH05113315A (ja) 円形画像データの中心位置検出方法
JPH0128994B2 (ja)
JPH01180075A (ja) パターン認識のための特徴点コーナーの位置計測方法
JP2780953B2 (ja) 線形相関回路
JPH08315147A (ja) テンプレートマッチング方法
JPH04238206A (ja) 多角形部品の多視野認識方法
JPS61198007A (ja) 撮像装置を用いた円形パタ−ンの中心位置計測方法
JPS61239147A (ja) 画像処理による欠け検査方法
JP2620094B2 (ja) 図形パタ−ンの計測方法
JPS624851B2 (ja)
JPH0199181A (ja) アフィン逆変換による図形パターンの姿勢角・位置の計測法