JPS605952B2

JPS605952B2 - 発光表示装置の試験装置

Info

Publication number: JPS605952B2
Application number: JP53011194A
Authority: JP
Inventors: 彰会田
Original assignee: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1978-02-03
Filing date: 1978-02-03
Publication date: 1985-02-14
Also published as: JPS54104778A

Description

【発明の詳細な説明】この発明は発光表示装置の電気的特性および光学的特性
を測定して特性の良否を総合判定する発光表示装置の試
験装置に関する。

ＩＣ（集積回路装置）等半導体装置のＤＣパラメータを
測定試験する試験装置としては、一般に汎用の試験装置
が用いられている。

上記汎用の試験装置には例えば第１図に示すようなもの
がある。これはまず測定試験に際し予め紙テープリーダ
やキーボード等に入力機器１からメモリ２へ、被測定半
導体袋鷹（ＤＵＴ）３における測定試験条件、分類条件
等を入力する。そして測定試験開始の指命を受けると予
めメモリ２に記憶されている上記各条件が読み出されて
条件設定回路４に入力される。条件設定回路４は、この
後試験信号発生回路５およびマトリクス回路６に夫々制
御信号を出力する。この制御信号を応受して試験信号発
生回路５は、測定試験に必要な試験信号を発生しマトリ
クス回路６に出力する。１方条件設定回路４から出力さ
れる制御信号を応受して、マトリクス回路６は被測定半
導体装置３の任意のピンを選択動作する。

そして試験信号発生回路５から出力される試験信号は、
上記マトリクス回路６で選択されたピンを介して被測定
半導体装置８に入力される。上記試験信号に応じた被測
定半導体装置３のＤＣ特性は、条件設定回路４によって
測定レンジが設定される測定回路７によって測定される
。さらに測定回路７の出力信号に応じ、前記条件設定回
路４によって判定条件が指定される比較判定回路８１こ
おいて、測定回路７の測定結果が比較判定されるように
なっている。そして上記比較判定回路８における判定結
果は表示器９で表示されるようになつている。上記汎用
の試験装置において、被測定半導体装置３の測定試験は
１項目毎に順次シーケンシャルに行なわれ、表示器９に
おけるＧＯ／ＮＯＧＯの判定表示の過程を経て各特性毎
の分類がプログラムに従って行なわれていく。

このような汎用の試験装置では、試験信号発生回路５お
よび測定回路７等が非常に高精度であると共に、直接電
子計算機等の演算処理装置に入力可能な判定結果データ
出力機能を有しているので、試験装置自体の価格は高価
となっている。このため汎用の試験装置は標準試験装置
として特に品質管理用等に使用されるのが一般的であり
、半導体装置の製造ライン用としては価格面からみても
好適であるとはいい難い。第２図は日の字型に配列され
た発光セグメントを有する発光表示装置の斜視図である
。

図示するように発光表示装置には発光セグメントを幾何
平面に日の字型に並べた７つの発光セグメントａ〜ｇと
、ドットポイント用の発光セグメントｈとが設けられて
いる。さらに上記発光セグメント設置面の反対面にはＩ
Ｃ等と同様に、複数のピンＰ，，Ｐ２，・・・が設けら
れている。このような構成の発光表示装置のＤＣパラメ
ータを測定試験する場合には、個々の発光セグメントの
ＤＣパラメータをセグメントの数だけ繰り返し行なうよ
うにすれば良い。すなわち、測定試験の条件はピンの指
定が代わるだけで他は同じ条件の繰り返しである。さら
に発光表示装置の測定条件範囲もさほど広くする必要が
ない。例えば各セグメントに供給する順方向電流の値は
３０（肌Ａ）以下であり、このときの順方向降下電圧の
値は２（Ｖ）以下が普通である。さらに逆方向電流の値
が１０（舷Ａ）程度であるときに、逆方向降下電圧の値
が６（Ｖ）を越えれば良品とみなされる。このような発
光表示装置の製造ラインで前記高価な汎用の試験装置を
用いると、必然的に発光表示装置の製造価格は高価とな
ってしまう。さらに汎用の試験装置を用いた場合、各発
光セグメントを順次切替えながらシリアルに測定するの
で試験期間が長くなってしまう。ところで一部前述した
が発光表示装置の測定試験に必要な試験項目は、順方向
特性の順方向降下電圧ＶＦ、逆方向特性の逆耐電圧ＶＲ
、逆方向電流ＩＲ、各発光セグメントａ〜ｂ夫々の発光
量ｌｖ、各発光セグメントａ〜ｈ相互間の発光量のバラ
ッキＩＭがある。ただしＶＲとＩＲは条件設定が電流、
電圧のいずれかであるだけのちがし、であり、逆方向電
流ＩＲは小さな値で測定エラーする確率が大きいため電
流通電によるＶＲ測定で逆方向特性を測定試験する方法
が一般的である。また逆方向特性の測定試験は耐圧試験
であるので、その試験精度は高精度である必要はない。
しかし順方向特性の測定試験は発光特性にも関連がある
ので、逆方向特性の試験精度よりも高精度でなければな
らない。この発明は上記のような事情を考慮してなされ
たもので、その目的とするところは装置自体が安価に製
造が可能であると共に、発光表示装置の特性試験期間の
短縮化が実現できかつ試験精度も十分に高い発光表示装
置の試験装置を提供することにある。

以下図面を参照してこの発明の１実施例を説明する。

第３図はこの発明の発光表示装置の試験装置の原理構成
図である。試験装置は基本的には数字表示装置の各発光
セグメントａ（〜ｈ）夫々に高精度の定電流供給源を設
けることなく、正負両極性の高圧電源１１，１２と夫
々直列に抵抗１３を接続して各発光セグメントａ（〜ｈ
）に電流を供孫舎するようにしている。そして抵抗１３
の抵抗値を図示しない切替設定手段により切替設定する
ことにより供給電流の値を設定するようにしている。各
発光セグメントａ（〜ｈ）に夫々供給される電流の精度
は、厭方向降下電圧ＶＦおよび逆方向耐電圧ＶＲに比ら
べて高圧電源１１，１２の出力値を十分に大きくすれ
ば、実用上十分に高い精度とすることができる。ここで
順方向特性測定試験における許容誤差ごを±１％〔ｌご
ｌ＝２（％）〕と設定しさらにＶＦを３（Ｖ）とすると
、正極性の高圧電源１１の出力値は１５０（Ｖ）あれば
良い。また逆方向特性測定試験における許容誤差ごを士
２．５（％）〔ｌごｌ＝５（％）〕と設定しＶＲを
６（Ｖ）とすると、負極性の高圧電源１２の出力値は１
２０（Ｖ）あれば良い。したがって高圧電源１１，１２
の出力値は高々２００（Ｖ）あれば十分な測定精度が得
られる。また各発光セグメントａ（〜ｈ）夫々と並列的
に、逆方向に直列接続された２つの定電圧ダイオード１
４，１５が接続されている。上記ダイオード１４，１５
は前記２つの高圧電源１１，１２に対するクランプ用の
ダイオードであり、高圧電源１１，１２の出力が直接各
発光セグメントａ（〜ｈ）に印加されるのを防止するた
めのものである。そして上記定電圧ダイオード１４，１
５のッェナー電圧ＶｚＦ，Ｖ２Ｒは夫々Ｖ２Ｆ＞ＶＦ，
Ｖ２Ｒ〉ＶＲなる関係を満足していれば良い。さらに発
光セグメントａ（〜ｈ）への供給電流は、この各セグメ
ントａ（〜ｈ）と並列的に接続されたスイッチ１６の操
作によって断続制御される。すなわち非測定試験時には
上記スイッチ１６は開成しており、測定試験開始後に開
放される。そして測定試験開始後の各発光セグメントａ
（〜ｈ）の両端電圧は、バッファ増幅器１７により増幅
され比較器１８に入力される。この比較器１８には基準
電圧発生器１９の出力すなわち基準電圧が供給されてい
る。そして比較器１８は、バッファ増幅器１７の出力と
基準電圧発生器１９の出力とを比較することにより、各
セグメントａ（〜ｈ）の順方向および逆方向特性を判定
する。ただし日頃方向特性と逆方向特性を比較する際は
、高圧電源１１，１２を切替る必要がある。また発光特
性の測定試験は発光セグメントａ（〜ｈ）に夫々対応し
て設けられた光センサ２０によって発光量を検出するこ
とにより行なわれる。光センサ２０の出力は増幅器２１
によって増幅された後比較器１８に供給される。そして
比較器１８は増幅器２１の出力と前記基準電圧発生器１
９の出力とを比較することにより、各セグメントａ（〜
ｈ）の発光特性を判定するようになっている。ｒ第４図
は発光表示装置の試験装置の具体的な回路構成図である
。

３１は特性の測定試験が行なわれる発光表示装置で、前
述したように８個の発光セグメントａ〜ｈを有している
。

上記各発光セグメントａ〜ｈのアノードは任意のセグメ
ントを選択するためのスイッチ３２・〜３２８夫々を介
してｎｐｎ型のトランジスタ３３，〜３３８の夫々の
コレクタに接続されている。またセグメントａ〜ｈのカ
ソードは一括して上記トランジスタ３３・〜３３８のヱ
ミッタに接続されている。このトランジスタ３３１〜３
３８は夫々前記第３図に示す原理構成図のスイッチ１６
に対応している。上記トランジスタ３３，〜３３８夫々
のベースには駆動回路３４，〜３４８の出力信号が供給
されるようになっていて、さらに駆動回路３４，〜３４
８には駆動回路操作信号が供給されるようになっている
。そして、この駆動回路操作信号に応じて任意の駆動回
路が作動しさるにトランジスタが導適するようになって
いる。上記トランジスタ３３，〜３３８夫々のコレクタ
・ェミツ夕闇には、互いに逆方向に直列接続された２つ
の定電圧ダイオード３５，と３６．、３５２と３６２、
・・・３５８と３６８が夫々接続されている。この２つ
の定電圧ダイオードは前記第３図において定電圧ダイオ
ード１４，１５と対応している。またトランジスタ３３
，〜３３８夫々のコレクタと定電圧ダイオード３５，〜
３５８夫々のカソードとの接続点には、前記抵抗１３と
対応する抵抗３７・〜３７８夫々の一端と接続されてい
る。さらにこの抵抗３７・〜３７８の他端は一括して
切替スイッチ３８の可動接点３８ａ，に接続されている
。そしてもう１つの可動接点３８ａ２は前記トランジス
タ３３，〜３３６夫々のェミッタに並列的に接続されて
いる。またさらに上記切替スイッチ３８の１組の固定接
点３８０，３８広間には接点３８０側が正極となるよう
に高圧電源３９が接続されている。切替スイッチ３８の
もう１組の固定接点３８ｃ，，３８ｃ２は上記固定接点
３８ｂ，，３８ｂ２とたすきがけ接続されている。すな
わち切替スイッチ３８を固定接点３８０，３８Ｑ側に倒
したときには可動接点３８ａ，が正極となり、１方固定
接点３８ｃ，，３８ｃ２側に倒したときには可動接点３
８もが正極となる。前記発光表示装置３１の各発光セグ
メントａ〜ｈのアノード順位は、並列的に電気的特性／
光学的様性切替スイッチ（以下Ｅ／Ｐスイッチと略称す
る）４１，〜４１８の固定接点４１，ａ，４１２ａ，
・・・４１８ａおよび可動接点４１，ｂ，４１２ｂ・・
・４１８ｂを介して比較器４２，〜４２８に供給され
るようになっている。前記発光表示装置３１の各発光セ
グメントａ〜ｈ夫々の発光面に対向して、発光量を検出
するための光センサ４３，〜４３３が設けられている。

光センサ４３，〜４３８は発光セグメントａ〜ｈ夫々に
おける発光量を電気信号に変換するためのもので、変換
された電気信号は増幅器４４，〜４４８によって適度に
増幅されるようになっている。上記各増幅器４４，〜４
４８の出力信号は夫々Ｅ／Ｐスイッチ４１，〜４１８
の固定接点４１１Ｃ，４１２Ｃ，…４１やおよび可動接
点４１，ｂ，４１２ｂ，・・・４１８ｂを介して比較器
４２，〜４２８に供給されるようになっている。さらに
増幅器４４，〜４４８の出力信号は並列的に演算処理部
４５にて供給されるようになっている。上記演算処理部
４５は増幅器４４，〜４４８の出力信号の平均値ＩＭ
Ｒ８Ｆを算出するためのもので、この平均値ＩＭＲＢ
Ｆは夫々Ｅ／Ｐスイッチ４１・〜４１６の固定接点４１
，ｄ，４１２ｄ，・・・４１８ｄおよび４１１ｅ，４１
２ｅ，・・・４１ギを介して比較器４２，〜４２８に
供給されるようになっている。スイッチ４６は発光セグ
メントａ〜ｈの所定の順方向降下電圧および逆方向耐電
圧夫々に応じた電気信号ＶＲＲ８Ｆ，ＶＦ細Ｆを切替
るためのもので、２つの固定接点４６ａ，，４６ａ２に
は夫夫信号ＶＲＲ８Ｆ，ＶＦＲＢＦが印加されてい
る。またスイッチ４６の可動接点４６ｂに導出されるＶ
ＲＲ８Ｆ，ＶＦＲ８Ｆいずれかの信号は、夫々Ｅ／
Ｐスイッチ４１，〜４１８の固定接点４１，ｆ，４１２
ｆ，…４１８ｆおよび可動接点４１，ｅ，４１２ｅ，・
・・４１８ｅを介して比較器４２，〜４２８に供給さ
れるようになっている。前記演算処理部４５から出力さ
れる信号ＩＭＲ８Ｆはまた所定の発光量に応じた電気信
号ｌｖＲ８Ｆが供給される比較器４７に供給されている
。前記比較器４２，〜４２８はＥ／Ｐスイッチ４１，
〜４１８夫々の可動接点４１，ｂ，４１，ｅ，４１２ｂ
，４１２ｅ，・・・４１８ｂ，４１８ｅが固定接点４１
，ａ，４１，ｆ，４１２ａ，４１２ｆ，・・・４１８ａ
，４１８ｆ側に接続されているとき、各発光セグメント
ａ〜ｈにおける順方向降下電圧および逆方向耐電圧夫々
に応じた電気信号と所定の順方向降下電圧および逆方向
耐電圧夫々に応じた電気信号ＶＲＲ８Ｆ，ＶＦＲＥＦ
とを比較してその比較結果を出力するようになっている
。さらに可動接点４１，ｂ，４１，ｅ，４１２ｂ，４１
２ｅ，・・・４１３ｂ，４１ぷが固定接点４１，ｃ，４
１．ｄ，４１２ｃ，４１よ，・・・４１８ｃ，４１ぷ側
に接続されているとき、比較器４２，〜４２８は各発光
セグメントａ〜ｈにおける発光量に応じた電気信号と、
この電気信号の平均値ＩＭＲＥＦとを比較してその比凶
鱗結果を出力するようになっている。比較器４７は演算
処理部４５から出力される信号ＩＭＲＢＦと所定の平
均発光量に応じた電気信号ｌｖＲＥＦとを比較してそ
の比較結果を出力するようになっている。比較器４２，
〜４２８の比較結果および比較器４７の比較結果は並列
的に判定器４８に供聯合されるようになっている。判定
器４８には順万向特性、逆方向特性等を判定するための
判定モード指定信号ＭＶＲ，ＭＶＦ，Ｍ１ｗ，肌ｖが夫
々供孫舎されるようになっていて、判定器４８はこの判
定モード指定信号で指定されるモード‘こ応じ比較器４
２，〜４２８および比較器４７の比較結果に基ずし、て
順次判定操作を行ない前記発光表示装置３１の良否を総
合判定するようになっている。さらに前記スイッチ３２
・〜３２８、Ｅ／Ｐスイッチ４１，〜４１８等は図示し
ない制御回路によって順次シーケンシヤルに制御される
ようになっている。次に上記のように構成された装置の
動作を説明する。

先ずスイッチ４６の可動接点４６ｂが固定接点４６ａ，
に接続すると共にＥ／Ｐスイッチ４１，〜４１８の可動
接点４１，ｂ，４１２ｂ，…４１８ｂが固定接点４１，
ａ，４１２ａ，・・・４１８ａに、可動接点４１，ｅ，
４１２ｅ，…４１８ｅが固定接点４１，ｃ，４１よ，・
・・４１８ｃに夫々接続する。そしてさらに判定器４８
に順方向特性を判定するための判定モード指定信号ＭＶ
Ｒが入力する。次に切替スイッチ３８が操作して可動接
点３８ａ，が固定接点３８０に接続すると共に、可動接
点３８ａ２が固定接点３８Ｑに接続する。このときスイ
ッチ３２１〜３２８は全て閉成状態になっていると共
に、抵抗３７，〜３７８の抵抗値を所定の値に設定して
おく。またこれまでトランジスタ３３，〜３３８は、導
適状態となるように、駆動回路３４，〜３４８全てに駆
動回路操作信号が供聯合されている。次に駆動回路操作
信号の供Ｖ給動作が停止する。供給停止後トランジスタ
３３，〜３３８が全て非導通となり、各発光セグメント
ａ〜ｈには抵抗３７，〜３７８夫々を介して所定の順方
向電流が流れる。順方向電流が流れている際の各発光セ
グメントａ〜ｈのア／一ド電位すなわち瓶方向降下電圧
は、夫々Ｅ／Ｐスイッチ４１，〜４１８を介して比較
器４２，〜４２８に入力する。この後比較器４２，〜
４２８は各発光セグメントａ〜ｈの順方向降下電圧と
スイッチ４６およびＥ／Ｐスイッチ４１，〜４１８を介
して入力する所定の順方向降下電圧に応じた電気信号Ｖ
ＲＲＥＦとを比較し、発光セグメントａ〜ｈの順方向
降下電圧の値が信号ＶＲＲＥＦの許容値内にあれば“１
”レベル信号を出力する。次に判定モード指定信号ＭＶ
Ｒが入力している判定器４８は、比較器４２，〜４２８
の出力が全て“１’’レベルであれば、発光表示装置３
１の全発光セグメントａ〜ｈの順方向特性は良であると
して「良一（特性良）の判定を行なう。１方比較器４２
，〜４２８の出力のいくつかが“０”レベルである場合
、判定器４８は「否」（特性不良）の判定を行なう。

次に各発光セグメントａ〜ｈに順方向電流が流れている
ままでＥ／Ｐスイッチ４１・〜４１８の可動接点４１
，ｂ，４１２ｂ，．・・４１８ｂが固定接点４１，ｃ，
４１２ｃ，・・・４１８ｃに、可動接点４１，ｅ，４１
２ｅ，…４１８ｅが可動接点４１，ｄ，４１２ｄ，…４
１８ｄに夫々切替わる。発光セグメントａ〜ｈに日頃方
向電流が流れることによって各発光セグメントａ〜ｈ‘
ま発光する。次に光センサ４３，〜４３８は発光時の
光量を夫々電気信号に変換して出力する。さらに次に増
幅器４４，〜４４８は変換された電気信号を適度に増
幅する。増幅器４４，〜４４８の出力信号はＢ／Ｐスイ
ッチ４１１〜４１８を介して比較器４２，〜４２８
に入力すると共に、演算処理部４５に入力する。次に演
算処理部４５は増幅器４４，〜４４８の出力信号の平均
値ＴＭＲＥＦを算出する。この平均値ＩＭＲＥＦは
Ｅ／Ｐスイッチ４１・〜４１８を介して比較器４２，〜
４２２に入力すると共に比較器４７に入力する。この
後比較器４２，〜４２８は各発光セグメントａ〜ｈの
発光量に応じた電気信号と、演算処理部４５で算出され
た平均値ＩＭＲ６ｐとを比較し、発光セグメントａ〜
ｈ‘こおける発光量に応じた電気信号の値が平均値ＩＭ
Ｒ８Ｆの許容値内にあれば“１”レベル信号を出力する
。次に判定器４８に各発光セグメントの発光量の良否を
判定するための判定モード指定信号肌ｗを入力する。判
定モード指定信号ＭＩＭ入力後判定器４８は比較器４２
，〜４２８の出力が全て“１”レベルであれば、発光
表示装置３１の全発光セグメントａ〜ｈ夫々単独の発光
特性は良であるとして「良一の判定を行なう。１方比較
器４２，〜４２８の出力のいくつかが“０”レベルであ
る場合、判定器４８は「否」の判定を行なう。

１方比較器４７は演算処理部４５で算出された平均値Ｉ
ＭＲＥＦと所定の平均発光量に応じた電気信号ｌｖ
Ｒ８Ｆとを比較する。そして平均値ＩＮＲ８Ｆがｌｖ
Ｒ８Ｆの許容値内にあれば“１”レベル信号を出力し
、１方許容値外であれば“０”レベル信号を出力する。
次に判定器４８に発光表示装置３１の平均発光特性の良
否を判定するための判定モード指定信号Ｍ１ｖを入力す
る。判定モード指定信号肌ｖ入力後判定器４８は比較器
４７の出力が“１”レベルであれば、発光表示装置３１
の全発光セグメントａ〜ｈの平均発光量は適正であると
して良特性の判定を行なう。次にスイッチ３８が開放す
ると共にＥ／Ｐスイッチ４１１〜４１８の可動接点４１
，ｂ，４１２ｂ，・・・４１８ｂが夫々固定接点４１，
ａ，４１え，・・・４１８ａ側に、可動接点４１１ｅ，
４１２ｅ，…４１８ｅが夫々固定接点４１，ｆ，４１２
ｆ，・・・４１８ｆ側に切替わる。さらにスイッチ３８
の可動接点３８ａ．，３８ａ２が夫々固定接点３８ｃ，
，３８ｃ２側に接続すると共に、スイッチ４６の可動接
点４６ｂが固定懐点４６ａ２側に切替わる。スイッチ３
８が功替わることにより発光表示装置３１の各発光セグ
メントａ〜ｈには抵抗３７，〜３７８夫々を介して所定
の逆方向電流が流れる。逆方向電流が流れている際の各
発光セグメントａ〜ｈのアノード電位すなわち逆方向耐
電圧（逆方向降下電圧）は、夫々Ｅ／Ｐスイッチ４１，
〜４１８を介して比較器４２，〜４２８に入力する。
この後比較器４２，〜４２８は各発光セグメントａ〜
ｈの逆万向耐電圧と、スイッチ４６およびＥ／Ｐスイッ
チ４１，〜４１８を介して入力する所定の逆方向耐電圧
に応じた電気信号ＶＦＲ８Ｆとを比較し、発光セグメ
ントａ〜ｈ‘こおける逆方向耐電圧の値がＶＦＲ８Ｆ
の許容値内にあれば“１”レベル信号を、許容値外であ
れば“０”レベル信号を出力する。次に判定器４８に逆
方向特性を判定するための判定モード指定信号ＭＶＦが
入力する。判定モード指定信号ＭＶＦが入力する判定器
４８は、比較器４２，〜４２８の出力が全て“１”レベ
ルであれば、発光セグメントａ〜ｈの各逆方向特性は良
であると判定する。逆方向特性判定後判定器４８は順方
向特性、逆方向特性、発光量、発光量のバラッキの総合
判定を行なって最終的に発光表示装置３１の良否判定を
行なう。このようにこの発明における装置では、従来の
ように比較的高精度を必要とする試験信号発生回路で試
験信号を発生する代わりに、高圧電源３９および抵抗３
７，〜３７８によって順方向電流および逆方向電流を
各発光セグメントａ〜ｈ‘こ供給するようにしたので、
比較的安価に製造することができる。また高圧電源３９
と抵抗３７，〜３７８によって電流を流すようにしたの
で十分なる精度で各特性試験を行なうことができる。ま
たさらに各発光セグメントａ〜ｈの各特性試験を並列に
行なうようにしたので従来に比較して試験期間が短縮化
される。なおこの発明は上記の１実施例に限定されるも
のではなく、特性試験を行な別項序は例えば日頃方向特
性を測定した後スイッチ３８を切替えて発光セグメント
ａ〜ｈに逆方向電流を供Ｖ給して逆方向特性を測定し、
しかる後発光特性を測定するようにしても良い。

以上説明したようにこの発明によれば、装置自体が安価
に製造できると共に、発光表示装置の特性試験期間の短
縮化が実現できかつ試験精度も十分に高い発光表示装置
の特性試験期間の短縮化が実現できかつ試験精度も十分
に高い発光表示装置の試験装置を提供することができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は汎用の試験装置の構成図、第２図は発光表示装
置の斜視図、第３図はこの発明の発光表示装置の試験装
置の原理構成図、第４図はこの発明の１実施例の構成図
である。３１・・・・・・発光表示装置、３７，〜３７８・・・
・・・抵抗、３８・・・・・・スイッチ、３９…・・・
高圧電源、４１，〜４１８・・・・・・電気的特性／光
学的特性切替スイッチ、４２・〜４２８，４７…・・・
比較器、４３，〜４３８・・・・・・光センサ、４４，
〜４４８・・・・・・増幅器、４５・…・・演算処理部
、４８・・・・・・判定器。第１図第２図第３図図寸滋

Claims

【特許請求の範囲】

１複数の発光セグメントを有する発光表示装置と、上
記発光表示装置の複数の各発光セグメントに同時に順方
向または逆方向電圧を印加する電圧印加手段と、上記発
光表示装置の複数の各発光セグメントに対応した数だけ
設けられ、各発光セグメントにおける順方向降下電圧お
よび逆方向耐電圧夫々に応じた電気信号を検出する第１
の検出手段と、上記発光表示装置の複数の各発光セグメ
ントに対応した数だけ設けられ、各発光セグメントにお
ける発光量に応じた電気信号を検出する第２の検出手段
と、上記第２の検出手段で検出される上記複数の発光セ
グメントにおける発光量に応じた電気信号の平均値を算
出する平均値算出手段と、上記発光表示装置の複数の各
発光セグメントに対応した数だけ設けられ、上記複数の
各第１の検出手段で検出される順方向降下電圧および逆
方向耐電圧夫々に応じた電気信号と所定の順方向降下電
圧および逆方向耐電圧夫々に応じた電気信号とを比較し
各第１の検出手段で検出される電気信号が所定の順方向
降下電圧および逆方向耐電圧夫々に応じた電気信号の許
容値内にあるか否かを発光セグメント毎に検出するとと
もに、上記複数の各第２の検出手段で検出される発光量
に応じた電気信号と所定の発光量に応じた電気信号とを
比較し各第２の検出手段で検出される電気信号が所定の
発光量に応じた電気信号の許容値内にあるか否かを発光
セグメント毎に検出し、各検出結果に応じた論理信号を
出力する第１の比較検出手段と、上記平均値算出手段で
算出される平均値と所定の発光量に応じた電気信号とを
比較し平均値が所定の発光量に応じた電気信号の許容値
内にあるか否かを検出し、この検出結果に応じた論理信
号を出力する第２の比較検出手段と、上記複数の第１の
比較検出手段ですべての発光セグメントに対応した検出
信号が所定の電気信号の許容値内にあると検出されたと
きにのみ上記発光表示装置の順方向降下電圧および逆方
向耐電圧、発光量を良と判定するとともに、上記第２の
比較検出手段で上記平均値が所定の発光量に応じた電気
信号の許容値内にあると検出されたときにのみ上記発光
表示装置の平均発光量を良と判定し、この判定結果に応
じた論理信号を出力する判定手段とを具備したことを特
徴とする発光表示装置の試験装置。