JPS6059317B2 - パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法 - Google Patents

パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法

Info

Publication number
JPS6059317B2
JPS6059317B2 JP21046982A JP21046982A JPS6059317B2 JP S6059317 B2 JPS6059317 B2 JP S6059317B2 JP 21046982 A JP21046982 A JP 21046982A JP 21046982 A JP21046982 A JP 21046982A JP S6059317 B2 JPS6059317 B2 JP S6059317B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aluminum layer
patterned
forming
layer
current density
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP21046982A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59100296A (ja
Inventor
勇次 今井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP21046982A priority Critical patent/JPS6059317B2/ja
Priority to US06/511,403 priority patent/US4629539A/en
Publication of JPS59100296A publication Critical patent/JPS59100296A/ja
Priority to US06/642,429 priority patent/US4642168A/en
Publication of JPS6059317B2 publication Critical patent/JPS6059317B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Weting (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、絶縁性基板上にパターン化されたアルミニウ
ム層を形成する方法に関し、特に半導体集積回路装置の
配線層を形成する場合に適用してフ好適なものである。
半導体集積回路装置の配線層は、種々の理由で、アルミ
ニウム層でなるのを普通としている。半導体集積回路装
置のアルミニウム層でなる配線層を形成するにつき、従
来は、半導体基板上に門パターン化されるべきアルミニ
ウム層を形成し、次に、そのアルミニウム層上にパター
ン化されたフォトレジストによるマスクを形成し、然る
後、パターン化されるべきアルミニウム層に対する、上
記マスクをマスクとした化学エッチングをする″ことに
よつて、パターン化されたアルミニウム層を、配線層と
して形成するのを普通としていた。然しながら、このよ
うな従来の方法の場合、パターン化せられるべきアルミ
ニウム層に対する、パターン化されたマスク層をマスク
とした化学エッチングをする工程において、パターン化
されたアルミニウム層が、側方からエッチングされたも
の即ち所謂サイドエッチングされたものとして得られる
のを余儀なくされる。このため、パターン化されたアル
ミニウム層が、マスク層のパターンよりサイドエッチさ
れた量だけ、一周り小さなパターンを有するものとして
形成される。ところで、パターン化されたアルミニウム
層は、マスク層のパターンと同じパターンで得られるの
が望ましい。
その理由は、マスク層を、形成せんとするパターン化さ
れたアルミニウム層の所期のパターンと同じパターンに
形成し置くだけで、パターン化されたアルミニウム層を
、所期のパターンを有するものとして形成することが出
来るからである。然しながら、パターン化されたアルミ
ニウム層が、マスク層のパターンよりサイドエッチング
された量だけ、一周り小さなパターンを有するものとし
て形成されても、上述した化学エッチングをする工程に
おいて、サイドエッチングされる量が、予測されていれ
ば、マスク層のパターンを、サイドエッチングされる量
を見込んで、形成せんとするパターン化されたアルミニ
ウム層の所期のパターンよソー周り大きなパターンに、
予め形成しておくことにより、パターン化されたアルミ
ニウム層を、所期のパターンを有するものとして形成す
ることが出来る。然しながら、上述した従来の方法によ
る場合、上述した化学エッチングをする工程において、
上述したサイドエッチングされる量を予測するのが極め
て困難であつた。
このため、上述した従来の方法の場合、パターン化され
たアルミニウム層を、所期のパターンを有するものとし
て、微細に、高精度に形成するのが極めて困難であつた
等の欠点を有していた。よつて本発明は、上述した欠点
のない新規なパターン化されたアルミニウム層を形成す
る方法を提供せんとするものである。本発明者は、第1
図Aに示すような、例えば、シリコンである基板1上に
例えば酸化シリコン(SO2)てある絶縁層2を形成し
ている絶縁性基板3を予め用意し、そして、その絶縁性
基板3の絶縁層2上に、第1図Bに示すように、パター
ン化されるべきアルミニウム層4を、それ自体は公知の
例えば蒸着によつて形成し、次に、そのパターン化され
るべきアルミニウム層4上に、第1図Cに示すように、
パターン化された例えばフォトレジストでなるマスク層
5を、絶縁性基板3上のアルミニウム層4上にフォトレ
ジスト層を形成し、そのフォトレジスト層に対するフォ
トマスクを用いた露光、続く現像をなすという、それ自
体は公知の方法によつて形成し、かくて、絶縁性基板3
上にパターン化されるべきアルミニウム層4が形成され
、そのアルミニウム層4上にパターン化されたマスク層
5が形成されている基板体6を得た。
そして、その基板体6を、第2図に示すように、水酸化
ナトリウム(Na(0H))を溶質の主体としている水
溶液でなる電解液11を収容している槽12内に、アル
ミニウム層4が略々垂直面上に延長するように、浸漬さ
せ、また、その槽12内に、例えば白金てなる電極13
を、基板体6のアルミニウム層4と対向するように、浸
漬させ、然して、基板体6におけるパターン化されるべ
きアルミニウム層4を、マスク層5によつてマスクされ
ていない領域において、直流電源14の正極側に接続し
、また、電極13を、直流電源14の負極側に接続して
、アルミニウム層4に対する。マスク層5をマスクとし
、且つ水酸化ナトリウムを溶質の主体としている水溶液
でなる電解液を用いた電解エッチングをなした。しかる
ときは、アルミニウム層4の、マスク層5によつてマス
クされていない領域が、第3図Aに示すエッチングされ
ていない状態から、第3図Bで一般的に示すような、票
面かなエッチングされつつある状態を経て、第3図Cで
一般的に示すように、全厚さに亘つてエッチングされて
、パターン化されたアルミニウム層7が、マスク層5下
に形成されることを確認するに到つた。
但し、この場合、電極13を白金でなるものとした。さ
らに、本発明者は、上述した電解エッチングを、パター
ン化されるべきアルミニウム層4と電極13との間に接
続している直流電源14を直流定電流源とし、そしてア
ルミニウム層4の、マスク層5によつてマスクされてい
ない領域と、電極13との間の電圧■(ボルト)を、電
圧計15を用いて測定しながら行つた。然るときは、時
間t(分)に対する電圧Vの関係が、第4図に示すよう
に、時点Taまでの間においては、電圧Vが時間tと共
に僅かつつ上昇するが、時点T。
から電圧■が急激に大になるものとして得られた。さら
に、本発明者は、上述した時間tに対する”電圧■の関
係と、アルミニウム層4の、マスク層5によつてマスク
されていない領域のエッチングの状態とを調べた結果、
電圧■が時間tと共に僅かづつ上昇している時点Taま
での間においては、アルミニウム層4の、マスク層5に
よつてマ.スクされていない領域が、時間tと共に表面
からエッチングされるが、時点Taに達すれば、アルミ
ニウム層4の、マスク層5によつてマスクされていない
領域が、その全厚さに亘つてエッチングされ、第3図C
で一般的に示すように、パターンl化されたアルミニウ
ム層7が得られていることを確認するに到つた。
なおさらに、本発明者は、上述した電解エッチングを、
上述した電圧vが、急激に大になる時点Ta即ちアルミ
ニウム層4の、マスク層5によつてマスクされていない
領域が、その全厚さに亘つてエッチングされる時点まで
行つて、上述したパターン化されたアルミニウム層7を
形成する場合、そのパターン化されたアルミニウム層7
は、一般に、その側面が、第3図Cでマスク層5の側面
より内側にあるものとして示されているように、サイド
エッチングされたものとして得られていることを確認す
るに到つた。
また、本発明者は、上述した電解エッチングを、パター
ン化されるべきアルミニウム層4と電極13との間に接
続している直流電源14を直流定電圧源とし、そしてそ
の直流定電圧源から、アルミニウム層4を通つて流れる
電流1(MA)を、電流計16を用いて測定しながら行
つた。
然るときは、時間t(分)に対する電流1の関係が、第
5図に示すように、時点T.,″までの間においては、
電流1が時間tと共に僅かづつ減少するが、時点Ta″
から電流1が急激に小になるものとして得られた。さら
に、本発明者は、上述した時間tに対する電流1の関係
と、アルミニウム層4の、マスク層5によつてマスクさ
れていない領域のエッチングの状態とを調べた結果、電
流1が時間tと共に僅かづつ減少している時点Ta″ま
での間においては、アルミニウム層4の、マスク層5に
よつてマスクされていない領域が、時間tと共に表面か
らエッチングされるが、時点Ta″に達すれば、アルミ
ニウム層4の、マスク層5によつてマスクされていない
領域の、その全厚さに亘つてエッチングされ、第3図C
で一般的に示すように、パターン.化されたアルミニウ
ム層7が得られていることを確認するに到つた。
なおさらに、本発明者は、上述した電解エッチングを、
上述した電流1が、急激に小になる時点Ta″即ちアル
ミニウム層4の、マスク層5によつjてマスクされてい
ない領域が、その全厚さに亘つてエッチングされる時点
まで行つて、上述したパターン化されたアルミニウム層
7を形成する場合、そのパターン化されたアルミニウム
層7は、一般に、その側面が、第3図Cでマスク層5の
側′面より内側にあるものとして示されているように、
サイドエッチングされたものとして得られていることを
確認するに到つた。
また、本発明者は、上述した電解エッチングを、電解液
11の温度TCC)を一定温度Te(℃)として、直流
電源14から基板体6におけるアルミニウム層牡及び電
極13を通つて、電解液11に流れる電流1を変え、従
つて、アルミニウム層4に流れる電流の密度J(MA/
Cl,)を変えて、直流電源14が直流低電流源である
場合、上述した電圧Vが、急激に大になる時点tまで、
また、直流電源14が直流定電圧源である場合、上述し
た電流1が、急激に小になる時点tノ.″まで、即ちア
ルミニウム層4の、マスク層5によつてマスクされてい
ない領域が、その全厚さに亘つてエッチングされる時点
まで行つて、上述したパターン化されたアルミニウム層
7を形成し、そして、そのアルミニウム層7がサイドエ
ツチンーグされている量即ちサイドエッチング量Y(μ
m)を測定した。
然るときは、電解液の温度Tをパラメータとする電流密
度Jに対する上述したサイドエッチング量Yの関係が、
第6図に示すように得られた。
但し、第6図か、電解液11が、水酸化ナトリウムのみ
を溶質とした水溶液でなり、また、電解液11の温度T
e(℃)が33.0℃であり、さらにアルミニウム層4
が、1μmの厚さを有している場合の測定結果てある。
よつて、第6図に示す測定結果から、電解液11の温度
Tを一定温度TeCC)とした場合、電流密度Jを大と
すれば、上述したサイドエッチング量Yが小になること
を確認するに到つた。
また、このように電流密度Jが大になるように、電解液
11に流れる電流を大とすれば、サイドエッチング量Y
が小となるものとして得られるのは、電流密度Jを大と
すれば、アルミニウム層4と、電極13との間の電界強
度が、主として、アルミニウム層4と、電極13とを結
ぶ方向に関し、他の方向に比し格段的に強くなり、この
ため、アルミニウム層4のマスク層5によつてマスクさ
れていない領域が厚さ方向にエッチングされる速度と、
面方向にエッチングされる速度との比が大になるからで
あることも確認するに到つた。さらに、電流密度Jを一
定とした場合、電解液11の温度Tを低くすれば、上述
したサイドエッチング量Yが小になることを確認するに
到つた。なおさらに、上述したサイドエッチング量Yを
同じ値て得るにつき、電解液11の温度Tを高くすれば
、これに応じて電流密度Jを大にすればよいことも確認
するに到つた。また、第6図に示す測定結果から、上述
したサイドエッチング量Yの値が零になるときの、電解
液11の温度Tに対する電流密度Jの関係が、第一7図
に示すように得られること、及び上述したように、電解
液11の温度Tを一定とした場合、電流密度Jを大とす
れば、上述したサイドエッチング量Yが小になることか
ら、上述した電解エッチングを、電解液11の温度Tを
温度TeCC)にし、また電流密度Jを、で与えられる
電流密胆e(MA/Clt)以上の電流密度にして行え
ば、上述したパターン化されたアルミニウム層7が、第
8図に示すように、上述したサイドエッチング量Yが略
々零であるものとして形成されることも確認するに到つ
た。
さらに、電解液11の温度に対する電流密度Jの関係が
、第7図に示すように得られること、及び、上述したよ
うに、電流密度Jを一定電流密度Je(MA/d)とし
た場合、電解液11の温度Tを低くすれば、上述したサ
イドエッチング量Yが小になることから、上述した電解
エッチングを、電流密度JをJe(MA/CTl)にし
、電解液11の温度Tを、て与えられる温度TeCC)
以下の温度にして行えば、上述したパターン化されたア
ルミニウム層7が、第8図に示すように、上述したサイ
ドエッチング量Yが略々零であるものとして形成される
ことも確認するに到つた。
よつて、本発明者は、特許請求の範囲記載の発明を、本
発明による発明として提案するに到つた。以上で、本発
明によるパターン化されたアルミニウム層を形成する方
法が明らかとなつた。
このような本発明による方法によれば、パターン化され
るべきアルミニウム層に対する、パターン化されたマス
ク層をマスクとした電解エッチングとする工程において
、形成されるパターン化されたアルミニウム層のサイド
エッチング量Yを、第6図で上述したところから明らか
なように、電解液の温度Tと電流密度Jとによつて、予
測することができる。このため、パターン化されるべき
アルミニウム層上にパターン化されたマスク層を形成す
る工程において、そのパターン化されたマスクを、予測
されるサイドエッチング量Yを見込んて形成することに
より、パターン化されたアルミニウム層を、所期のパタ
ーンを有するものとして、微細に、高精度に、容易に形
成することが出来る、という特徴を有する。
また、上述した電解エッチングをする工程において、そ
の電解エッチングを、電解液の温度Tを温度TeCC)
にし、電流密度Jを、上述した(1a)〜(1c)式で
与えられる電流密度Je(MA/d)以上の電流密度に
して行えば、または、電流密度Jを電流密度Je(MA
/Clt)にし、電解液の温度Tを、上述した(2a)
〜(2c)式で与えられる温度TeCC)以下の温度に
して行えば、パターン化されたアルミニウム層が、サイ
ドエッチング量Yが略々零であるものとして形成される
このため、パターン化されたマスク層を形成する工程に
おいて、そのマスク層を、形成せんとするパターン化さ
れたアルミニウム層の所期のパターンと同じパターンに
形成し、また、上述した電解エッチングの工程において
、電解液の温度Tを温度Teとするとき、電流密度Jを
上述したJ(1a)〜(1c)式で与えられる電流密度
Je以上の電流密度にし、または、電流密度Jを電流密
度Jeとするとき、電解液の温度Tを上述した(2a)
〜(2c)式で与えられる温度Te以下の温度にするこ
とによつて、パターン化されたアルミニウム層7を、所
期のパターンを有するものとして、微細に、高精度に容
易に形成することができるという特徴を有する。
さらに、上述した電解エッチングを、直流電源として直
流定電流源を用いて行なう場合、その電解エッチングを
する工程における、その電解エッチングの終了時点が、
陽極としてのパターン化されるべきアルミニウム層と、
これに対する陰極電極との間の電圧が急激に大になる時
点に対応しているので、上述した電解エッチングを、陽
極としてのパターン化されるべきアルミニウム層と、こ
れに対する陰極電極との間の電圧が急激に大になる時点
まで行うことによつて、パターン化されたアルミニウム
層を、所期のパターンを有するものとして、再現性良く
、微細に、高精度に、容易に形成することができる特徴
と有する。
なお、さらに、電解エッチングを、直流電源として直流
定電流源を用いて行なう場合、上述した、陽極としての
パターン化されるべきアルミニウム層と、これに対する
陰極電極との間の電圧が急激に大になる時点は、これを
、種々の電圧検出器によつて、容易に検出し得、また、
その電圧検出器の出力によつて、陽極としてのアルミニ
ウム層と、これに対する陰極電極との間に接続している
直流定電流源をオフしたり、直流定電流源と、陽極とし
てのアルミニウム層または陰極電極との間の線路を切断
したりするという簡易な手段によつて、上述した電解エ
ッチングを、陽極としてのパターン化されるべきアルミ
ニウム層と、これに対する陰極電極との間の電圧が急激
に大になる時点で、直ちに且つ容易に終了させることが
できる。
また、上述した電解エッチングを、直流電源として直流
定電圧源を用いて行なう場合、その電解エッチングをす
る工程における。
その電解エッチングの終了時点が、直流定電圧源から、
陽極としてのパターン化されるべきアルミニウム層を通
つて流れる電流が急激に小になる時点に対応しているの
で、上述した電解エッチングを、直流定電圧源から、陽
極としてのパターン化されるべきアル.ミニウム層を通
つて流れる電流が急激に小になる時点まで行うことによ
つて、パターン化されたアルミニウム層を、所期のパタ
ーンを有するものとして、再現性良く、微細に、高精度
に、容易に形成することがてきる特徴と有する。なおさ
らに、電解エッチングを、直流電源として直流定電流源
を用いて行なう場合、直流定電圧源から、上述した陽極
としてのパターン化されるべきアルミニウム層を通つて
流れる電流が急激に小になる時点は、これを、種々の電
流検出器によ・つて、容易に検出し得、また、その電流
検出器の出力によつて、陽極としてのアルミニウム層と
、これに対する陰極電極との間に接続している直流定電
圧源をオフにしたり、直流定電圧源と、陽極としてのア
ルミニウム層または陰極電極との間の線路を切断したり
するという簡易な手段によつて、上述した電解エッチン
グを、直流定電圧源から、陽極としてのパターン化され
るべきアルミニウム層を通つて流れる電流が急激に小に
なる時点で、直ちに且つ容易に終了させることができる
従つて、上述した本発明の特徴を、確実、容易に発揮す
ることができる、という特徴を有する。また、本発明に
よるパターン化されたアルミニ)ウム層を形成する方法
によつて形成される、パターン化されたアルミニウム層
は、配線層として機能する。従つて、本発明は、これを
、半導体集積回路装置の配線層を形成する場合に適用し
て、極めて好・適である、という特徴と有する。
次に、本発明の実施例を述べよう。
実施例1 第1図Aで上述したと同様に、基板1上に絶縁層2を形
成している絶縁性基板3を予め用意し”た。
但し、この場合、基板1を、表面積が約40.0dのシ
リコンでなるものとした。また、絶縁層2を酸化シリコ
ン(SiO2)でなるものとした。然して、絶縁性基板
3の絶縁層2上に、第1図Bで上述したと同様に、パタ
ーン化されるべきアルミニウム層4を形成した。但し、
この場合、アルミニウム層4を蒸着によつて、1μmの
厚さを有するものとして形成した。次に、アルミニウム
層4上に、第1図Cで上述したと同様に、パターン化さ
れたマスク層5を形成した。
但し、この場合、マスク層5と、アルミニウム層4上に
、フォトレジスト層を形成し、そのフォトレジスト層に
対するフォトマスクを用いた露光、続く現像処理をなす
ことによつて、フォトレジストでなるものとして形成し
た。このようにして、第1図Cで上述したと同様に、絶
縁性基板3上にパターン化されるべきアルミニウム層4
が形成され、そのアルミニウム層4上にパターン化され
たマスク層5が形成されている基板体6を得た。
次に、基板体6を、第2図で上述したと同様に、水酸化
ナトリウムを溶質とした水溶液でなる電解液11を収容
している槽12内に、アルミニウム層4が、略々垂直面
上に延長するように浸漬させ、また、その槽12内に、
白金でなる電極13を、基板体6のアルミニウム層4と
対向するように浸漬させ、然して、基板体6におけるパ
ターン化されるべきアルミニウム層4を、マスク層5に
よつてマスクされていない領域において、直流定電流源
でなる直流電源14の正極側に接続し、また、電極13
を、直流電源14の負極側に接続して、アルミニウム層
4に対する、水酸化ナトリウムを溶質としている水溶液
でなる電解液11を用いた電解エッチングを、アルミニ
ウム層4及び電極13間の電圧■が急激に大になる時点
までなし、パターン化されたアルミニウム層7を得た。
この場合、電解液11の温度を33.0とし、また電解
液11に通する電流を、180.0rT1Aとし、従つ
てアルミニウム層4に通する電流密度を、4.5(=1
80.0rr1A/40.0c1t)MA/dとした。
然るときは、パターン化されたアルミニウム層7が、サ
イドエッチング量が略々零であるものとして形成された
。実施例2 上述した本発明の実施例1の場合における直流電源14
を、直流定電圧源とし、これに応じて電解エッチングを
、直流定電圧源から、アルミニウム層を通つて流れる電
流1が、急激に小になる時点までなしたことを除いては
、上述した本発明の実施例1の場合と同様の工程をとつ
て、パターン化されたアルミニウム層7を得た。
然るときは、上述した本発明の実施例1の場合と同様に
、パターン化されたアルミニウム層7が、サイドエッチ
ング量が略々零であるものとして形成された。
【図面の簡単な説明】
第1図A,B及びCは、本発明によるパターン化された
アルミニウム層を形成する方法の説明に供する、パター
ン化されるべきアルミニウム層上に、パターン化された
マスク層を形成する順次の工程における、路線的断面図
である。 第2図は、同様に、本発明によるパターン化されたアル
ミニウム層を形成する方法の説明に供する、パターン化
されるべきアルミニウム層に対する電解エッチングによ
つて、パターン化されたアルミニウム層を形成する工程
を示す、路線図である。第3図は、同様に、本発明によ
るパターン化されたアルミニウム層を形成する方法の説
明に供する、パターン化されるべきアルミニウム層に対
する電解エッチングによつて、パターン化されたアルミ
ニウム層を形成する工程における、路線的断面図である
。第4図は、同様に、本発明によるパターン化されたア
ルミニウム層を形成する方法の説明に供する、直流定電
流源でなる直流電源を用いたパターン化されるべきアル
ミニウム層に対する電解エッチングによつて、パターン
化されたアルミニウム層を形成する工程における、時間
t(分)に対する、基板体における陽極としてのアルミ
ニウム層と、これに対する陰極電極との間の電圧V(ボ
ルト)の関係を示す図である。第5図は、同様に、本発
明によるパターン化されたアルミニウム層を形成する方
法の説明に供する、直流定電圧源でなる直流電源を用い
たパターン化されるべきアルミニウム層に対する電解エ
ッチングによつて、パターン化されたアルミニウム層を
形成する工程における、時間t(分)に対する、直流定
電圧源から、基板体における陽極としてのアルミニウム
層を通つて流れる電流1(MA)の関係を示す図てある
。第6図は、同様に、本発明によるパターン化されたア
ルミニウム層を形成する方法の説明に供する、パターン
化されるべきアルミニウム層に対する電解エッチングに
よつて、パターン化されたアルミニウム層を形成する工
程における、電解液の温度をパラメータとした、電流密
度J(MA/Clt)に対する、本発明によつて形成さ
れるパターン化されたアルミニウム層のサイドエッチン
グ量Y(μm)の関係を示す図である。第7図は、同様
に、本発明によるパターン化されたア)ルミニウム層を
形成する方法の説明に供する、パターン化されるべきア
ルミニウム層に対する電解エッチングによつて、パター
ン化されたアルミニウム層を形成する工程における、本
発明によつて形成されるパターン化されたアルミニウム
層のサ7イドエツチング量Yが零となるときの電解液の
温度TCC)に対する、電流密度J(MA/CTi)の
関係を示す図である。第8図は、本発明によるパターン
化されたアルミニウム層を形成する方法によつて得られ
る、パターン化されたアルミニウム層の一例を示す路線
的断面図てある。1・・・・・基板、2・・・・・・絶
縁層、3・・・・・・絶縁性基板、4・・・・・・パタ
ーン化されるべきアルミニウム層、5・・・・・・パタ
ーン化されたマスク層、6・・・・・・基板体、7・・
・・・・パターン化されたアルミニウム層、11・・・
・・・電解液、12・・・・・・槽、13・・・・・・
電極、14・・・・・・直流電源、15・・・・・・電
圧計、16・・・・・・電流計。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 絶縁性基板上にパターン化されるべきアルミニウム
    層を形成し、該アルミニウム層上にパターン化されたマ
    スク層を形成し、然る後、上記アルミニウム層に対する
    、上記マスク層をマスクとし、且つ水酸化ナトリウムを
    溶質の主体としている水溶液でなる電解液を用いた電解
    エッチングを行うことによつて、パターン化されたアル
    ミニウム層を形成することを特徴とするパターン化され
    たアルミニウム層を形成する方法。 2 特許請求の範囲第1項記載のパターン化されたアル
    ミニウム層を形成する方法において、上記電解エッチン
    グを、上記電解液の温度T(℃)をTe(℃)とし、電
    流密度J(mA/cm^2)を、Te=a・Je+ba
    =3.13(1±0.1) b=17.0(1±0.1) で与えられるJe(mA/cm^2)以上の電流密度で
    行うことを特徴とするパターン化されたアルミニウム層
    を形成する方法。 3 特許請求の範囲第1項記載のパターン化されたアル
    ミニウム層を形成する方法において、上記電解エッチン
    グを、電流密度J(mA/cm^2)をJe(mA/c
    m^2)とし、上記電解液の温度をT(℃)を、Te=
    a・Je+b a=3.13(1±0.1) b=17.0(1±0.1) で与えられるTe(℃)以下の温度で行うことを特徴と
    するパターン化されたアルミニウム層を形成する方法。 4 絶縁性基板上にパターン化されるべきアルミニウム
    層を形成し、該アルミニウム層上にパターン化されたマ
    スク層を形成し、然る後、上記アルミニウム層に対する
    、上記マスク層をマスクとし、且つ水酸化ナトリウムを
    溶質の主体としている水溶液でなる電解液を用いた電解
    エッチングを、上記パターン化されるべきアルミニウム
    層を陽極とし、該陽極としてのパターン化されるべきア
    ルミニウム層とこれに対する陰極電極との間に直流定電
    流源を接続して、上記陽極としてのパターン化されるべ
    きアルミニウム層と上記陰極電極との間の電圧が、急激
    に大になる時点まで行うことによつて、パターン化され
    たアルミニウム層を形成することを特徴とするパターン
    化されたアルミニウム層を形成する方法。5 特許請求
    の範囲第4項記載のパターン化されたアルミニウム層を
    形成する方法において、上記電解エッチングを、上記電
    解液の温度T(℃)をTe(℃)とし、電流密度J(m
    A/cm^2)を、Te=a・Je+ba=3.13(
    1±0.1) b=17.0(1±0.1) で与えられるJe(mA/cm^2)以上の電流密度で
    行うことを特徴とするパターン化されたアルミニウム層
    を形成する方法。 6 特許請求の範囲第4項記載のパターン化されたアル
    ミニウム層を形成する方法において、上記電解エッチン
    グを、電流密度J(mA/cm^2)をJe(mA/c
    m^2)とし、上記電解液の温度T(℃)を、Te=a
    ・Je+b a=3.13(1±0.1) b=17.0(1±0.1) で与えられるTe(℃)以下の温度で行うことを特徴と
    するパターン化されたアルミニウム層を形成する方法。 7 絶縁性基板上にパターン化されるべきアルミニウム
    層を形成し、該アルミニウム層上にパターン化されたマ
    スク層を形成し、然る後、上記アルミニウム層に対する
    、上記マスク層をマスクとし、且つ水酸化ナトリウムを
    溶質の主体としている水溶液でなる電解液を用いた電解
    エッチングを、上記パターン化されるべきアルミニウム
    層を陽極とし、該陽極としてのパターン化されるべきア
    ルミニウム層とこれに対する陰極電極との間に直流定電
    圧源を接続して、該直流定電圧源から上記陽極としての
    パターン化されるべきアルミニウム層を通つて流れる電
    流が、急激に小になる時点まで行うことによつて、パタ
    ーン化されたアルミニウム層を形成することを特徴とす
    るパターン化されたアルミニウム層を形成する方法。8
    特許請求の範囲第7項記載のパターン化されたアルミ
    ニウム層を形成する方法において、上記。 電解エッチングを、上記電解液の温度T(℃)をTe(
    ℃)とし、電流密度J(mA/cm^2)を、Te=a
    ・Je+ba=3.13(1±0.1)b=17.0(
    1±0.1) で与えられるJe(mA/cm^2)以上の電流密度で
    行うことを特徴とするパターン化されたアルミニウム層
    を形成する方法。 9 特許請求の範囲第7項記載のパターン化されたアル
    ミニウム層を形成する方法において、上記電解エッチン
    グを、電流密度J(mA/cm^2)をJe(mA/c
    m^2)とし、上記電解液の温度T(℃)を、Te=a
    ・Je+b a=3.13(1±0.1) b=17.0(1±0.1) で与えられるTe(℃)以下の温度で行うことを特徴と
    するパターン化されたアルミニウム層を形成する方法。
JP21046982A 1982-07-08 1982-11-30 パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法 Expired JPS6059317B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21046982A JPS6059317B2 (ja) 1982-11-30 1982-11-30 パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法
US06/511,403 US4629539A (en) 1982-07-08 1983-07-07 Metal layer patterning method
US06/642,429 US4642168A (en) 1982-07-08 1984-08-20 Metal layer patterning method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21046982A JPS6059317B2 (ja) 1982-11-30 1982-11-30 パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59100296A JPS59100296A (ja) 1984-06-09
JPS6059317B2 true JPS6059317B2 (ja) 1985-12-24

Family

ID=16589848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21046982A Expired JPS6059317B2 (ja) 1982-07-08 1982-11-30 パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6059317B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59100296A (ja) 1984-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Schmidt et al. Anodic formation of oxide films on silicon
US4629539A (en) Metal layer patterning method
US5096791A (en) Method for preparation of mask for x-ray lithography
US3723258A (en) Use of anodized aluminum as electrical insulation and scratch protection for semiconductor devices
US3616349A (en) Method for etching chromium oxide films
US4261792A (en) Method for fabrication of semiconductor devices
JPS59113626A (ja) パタ−ン化された金属層を形成する方法
JPS6059317B2 (ja) パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法
JPS5994438A (ja) パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法
JPH0228249B2 (ja) Pataankasaretadodenseisookeiseisuruhoho
JPS6059319B2 (ja) パタ−ン化されたクロム層を形成する方法
JPS6056798B2 (ja) パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法
US3728236A (en) Method of making semiconductor devices mounted on a heat sink
JPS6056440B2 (ja) パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法
JPS6058320B2 (ja) パタ−ン化されたAl−Si合金層を形成する方法
JPS6059316B2 (ja) パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法
JPS6059315B2 (ja) パタ−ン化されたアルミニウム層を形成する方法
JPS6056799B2 (ja) パタ−ン化された銅層を形成する方法
JPS6059318B2 (ja) パタ−ン化されたAl−Cu合金層を形成する方法
JPH0144014B2 (ja)
US3785937A (en) Thin film metallization process for microcircuits
US3568305A (en) Method for producing a field effect device
JPS59191315A (ja) パタ−ン化されたパ−マロイ層を形成する方法
Williams Electrical Effects of the Dissolution of n‐Type Zinc Oxide
JPH0645617A (ja) 単結晶薄膜部材の製造方法