JPS6057802A - 一眼レフレツクスカメラ用ハ−フミラ− - Google Patents
一眼レフレツクスカメラ用ハ−フミラ−Info
- Publication number
- JPS6057802A JPS6057802A JP58167318A JP16731883A JPS6057802A JP S6057802 A JPS6057802 A JP S6057802A JP 58167318 A JP58167318 A JP 58167318A JP 16731883 A JP16731883 A JP 16731883A JP S6057802 A JPS6057802 A JP S6057802A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- refractive index
- substrate
- layer
- layers
- light
- Prior art date
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- Pending
Links
Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明はハーフミラ−に関し、史に詳しくは、撮影レン
ズを透過した光を測光及び測距に用いる一眼レフレック
スカメラに用いられるハーフミラ−に関する。
ズを透過した光を測光及び測距に用いる一眼レフレック
スカメラに用いられるハーフミラ−に関する。
従来技術
本願出願人が先に特許110幀した生!1羅1昭58−
26844号において、第1図のように撮影レンズ(′
比)をJh過した光をハーフミラ−からなる主ミラー(
Lllで二分割し、反射光を焦点板(Fl”)、ペンタ
プリズム(円り及びアイピース(Elつを有するファイ
ンダ光学か指向性を有する拡散反射面である副ミラーf
[11)で反射させて、測距用受光器(FD)及び測光
用受光器(LD)に導く構成の一眼レフレックスカメラ
が提案されている。(FS)は測距用受光器(FD)に
光を導く測距用光学系であり、副ミラーen+の中央部
(叫)及び主ミラー鯛の中央部を介して、撮影レンズ(
TL)のFS、6程度の開口径をにらむように構成され
ている。一方、(LS )は測光用受光器(LD)に光
を導< #I!1光用レンズで、副ミラー+l1l)の
全域を介して主ミラー凹及び撮影レンズをにらむように
構成されている。(1勺はフィルム面である。
26844号において、第1図のように撮影レンズ(′
比)をJh過した光をハーフミラ−からなる主ミラー(
Lllで二分割し、反射光を焦点板(Fl”)、ペンタ
プリズム(円り及びアイピース(Elつを有するファイ
ンダ光学か指向性を有する拡散反射面である副ミラーf
[11)で反射させて、測距用受光器(FD)及び測光
用受光器(LD)に導く構成の一眼レフレックスカメラ
が提案されている。(FS)は測距用受光器(FD)に
光を導く測距用光学系であり、副ミラーen+の中央部
(叫)及び主ミラー鯛の中央部を介して、撮影レンズ(
TL)のFS、6程度の開口径をにらむように構成され
ている。一方、(LS )は測光用受光器(LD)に光
を導< #I!1光用レンズで、副ミラー+l1l)の
全域を介して主ミラー凹及び撮影レンズをにらむように
構成されている。(1勺はフィルム面である。
目 的
本発明は上述の如き一眼レフレックスカメラの主ミラー
に適したハーフミラ−を提供することを1ヨ的とするも
のである。
に適したハーフミラ−を提供することを1ヨ的とするも
のである。
すなわち、」二連の如き一眼レフレックスカメラの主ミ
ラーにおいては、主ミラーの中央部はぼ10炉程度の領
域か測距用光学系(FS)かにらむ領域となり、測距用
受光器(FD)に測距に充分な光量を供給する為にはこ
の主ミラー中央部の透過率は約5゜%か必要である。更
に、主ミラーの周辺g1≦(まfll!l 3乙用受光
器(LD)に測光に充分な光量を供給するとともに、フ
ァインダ像を明るく見やすくする為に、透過率20〜3
0%及び反射率70〜80%力)必要となる。更に、撮
影レンズを透過した光を効率よくファインダ観察や測距
及び測光に用0る為にハーフミラ−自体による光吸収か
できるたけ少なく、かつ色つきかないように分光反射率
特性力)フラットであることが望ましい。本発明は、こ
のよ ゛うに吸収かほとんどなく、中央部におG)で透
過率及び反射率が共に約50%で周辺部におulて透過
率20〜30%・反射率70〜80%を11:i、Ji
nすZ)とともに分光反射率特性かフラ・ノドて製造力
)容易であり、従って、上述の如き一眼しフレ・ノクス
ノノメラの主ミラーに適したノ\−フミラーを提供する
ことを目的とするものである。
ラーにおいては、主ミラーの中央部はぼ10炉程度の領
域か測距用光学系(FS)かにらむ領域となり、測距用
受光器(FD)に測距に充分な光量を供給する為にはこ
の主ミラー中央部の透過率は約5゜%か必要である。更
に、主ミラーの周辺g1≦(まfll!l 3乙用受光
器(LD)に測光に充分な光量を供給するとともに、フ
ァインダ像を明るく見やすくする為に、透過率20〜3
0%及び反射率70〜80%力)必要となる。更に、撮
影レンズを透過した光を効率よくファインダ観察や測距
及び測光に用0る為にハーフミラ−自体による光吸収か
できるたけ少なく、かつ色つきかないように分光反射率
特性力)フラットであることが望ましい。本発明は、こ
のよ ゛うに吸収かほとんどなく、中央部におG)で透
過率及び反射率が共に約50%で周辺部におulて透過
率20〜30%・反射率70〜80%を11:i、Ji
nすZ)とともに分光反射率特性かフラ・ノドて製造力
)容易であり、従って、上述の如き一眼しフレ・ノクス
ノノメラの主ミラーに適したノ\−フミラーを提供する
ことを目的とするものである。
発明の要旨
」二記目的を達成する為に、ます、本発明におけるハー
フミラ−は、ノ\−フミラー自体1こおける光吸収をほ
とんどなくす為に基板」二に該基板よりも高い屈折率を
有する誘電体と基板よりも低い屈折率を有する誘電体と
を交互に積層した構成からなり、中央部及び周辺部にわ
たって少なくとも4層積層した後に、更に周辺部にのみ
積層して、中央部において反射率約50%及び透過率約
50%を得るとともに、周辺部において反射率70〜8
0%及び透過率20〜30%を得ることを特徴とするも
のである。
フミラ−は、ノ\−フミラー自体1こおける光吸収をほ
とんどなくす為に基板」二に該基板よりも高い屈折率を
有する誘電体と基板よりも低い屈折率を有する誘電体と
を交互に積層した構成からなり、中央部及び周辺部にわ
たって少なくとも4層積層した後に、更に周辺部にのみ
積層して、中央部において反射率約50%及び透過率約
50%を得るとともに、周辺部において反射率70〜8
0%及び透過率20〜30%を得ることを特徴とするも
のである。
更に好ましくは、基板に接する層の光学的膜厚を380
〜760nmの可視波長域内で選択される設計波長をλ
Oとするとき、050λ0とすることによって、分光特
性のフラットな帯域を広げることができ、ファインダ像
の色つきをより抑えることができる。
〜760nmの可視波長域内で選択される設計波長をλ
Oとするとき、050λ0とすることによって、分光特
性のフラットな帯域を広げることができ、ファインダ像
の色つきをより抑えることができる。
実施例
以下、図面に基づいて、本発明の種々実施例を訂−細に
説明する。
説明する。
第3図(a)tl)]は本発明の第1実施例のハーフミ
ラ−を示すものであり、第3図fatはその正面図、第
3図[b)はそのB −13断面図である。第3図にお
いて、(Ml)は測距用受光器(FD)に光を導く中央
部であり、ハーフミラ−からなる主ミラーN)は観察状
態では撮影レンズの光軸に対して45°傾けて配置され
ているので、撮影レンズ上への射影が円となるように、
撮影レンズの光軸に対して」二下方向に長い楕円状にな
っている。(M2)は測光用受光器(Ll))に光を尊
く為の周辺部である。
ラ−を示すものであり、第3図fatはその正面図、第
3図[b)はそのB −13断面図である。第3図にお
いて、(Ml)は測距用受光器(FD)に光を導く中央
部であり、ハーフミラ−からなる主ミラーN)は観察状
態では撮影レンズの光軸に対して45°傾けて配置され
ているので、撮影レンズ上への射影が円となるように、
撮影レンズの光軸に対して」二下方向に長い楕円状にな
っている。(M2)は測光用受光器(Ll))に光を尊
く為の周辺部である。
そして、ハーフミラ−は、第3図(I))に図示されて
いるように、基板ρ)」二に該基板C)よりも高い屈折
率を有する誘電体からなる高屈折率誘ηイ体層σ1)と
基板p)よりも低い屈折率を有する誘電体からなる低屈
折率誘電体層(L)との交互積層構成からなり、周辺部
(M2)は11層構成、中央部(Ml)は5層構成であ
る。中央部(Ml)において約50%の反射率を得る為
には高・低屈折率半導体層σ−It tl−1を4層り
、」二積層する必要があるか、7層以上積層しても層数
が増すわりには分光特性かよりフラットにはならない。
いるように、基板ρ)」二に該基板C)よりも高い屈折
率を有する誘電体からなる高屈折率誘ηイ体層σ1)と
基板p)よりも低い屈折率を有する誘電体からなる低屈
折率誘電体層(L)との交互積層構成からなり、周辺部
(M2)は11層構成、中央部(Ml)は5層構成であ
る。中央部(Ml)において約50%の反射率を得る為
には高・低屈折率半導体層σ−It tl−1を4層り
、」二積層する必要があるか、7層以上積層しても層数
が増すわりには分光特性かよりフラットにはならない。
従って中央部(Ml)は4〜6層か好ましい。
空気側から基板0)側へIIMに第1層(1)、第2層
(II)、・・。
(II)、・・。
第11層[Xllとしたとき、各層の屈折率と光学的+
+t・厚とを第1表に示す。
+t・厚とを第1表に示す。
第1表
表中、λOは設計波長を示し、本実施例においては、2
o=515nmであ°る。第3図+1)lから明らかな
ように、周辺部(Ml)は第1ノi’411)〜第1J
Ji’!jlXllの11層構成であるのに対し、中央
部(Ml)は第7層(1’i)〜第11層(XI+の5
層構成である。本実施例において、高屈折率誘電体層[
111、すなわち、第1.3,5,7,9.11層は全
てZrO2からなり、低屈折率誘電体層(l、)、すな
わち、第2.4.(fi、8,10層はMgFzからな
る。基板ρ)に接する第11層tXl+の光学的膜厚は
0.50λ0てあり、このように構成すると分光特性か
フラットな領域を広くすることかできる。
o=515nmであ°る。第3図+1)lから明らかな
ように、周辺部(Ml)は第1ノi’411)〜第1J
Ji’!jlXllの11層構成であるのに対し、中央
部(Ml)は第7層(1’i)〜第11層(XI+の5
層構成である。本実施例において、高屈折率誘電体層[
111、すなわち、第1.3,5,7,9.11層は全
てZrO2からなり、低屈折率誘電体層(l、)、すな
わち、第2.4.(fi、8,10層はMgFzからな
る。基板ρ)に接する第11層tXl+の光学的膜厚は
0.50λ0てあり、このように構成すると分光特性か
フラットな領域を広くすることかできる。
本実施例の製造方法を第4図を用いて説明する。
第4図は、その製造方法を示す工程図であり、ます、■
のように、基板9)の全面にZrO2とMgl’2とを
それぞれ所定膜厚となるように交互に真空蒸着して積層
し、第11層(Xll〜第7層01)を形成する。次に
■のように、中央部(Ml)にマスク(Slをする。マ
スク(S)は浮いたりしないように固定しておく必要が
あり、マスク[51の代わりに銅やアルミニウムなどの
金属を中央部(Ml)に蒸着しても良い。次に、■のよ
うに再びMgF2とZr0zとを交互に所定11分厚と
なるまで真空蒸着して積層し、第61曽(11)〜第】
層+1+を形成する。このときに中央)出においてはマ
スク(S)」二にMgFzとZr0zとか積層される。
のように、基板9)の全面にZrO2とMgl’2とを
それぞれ所定膜厚となるように交互に真空蒸着して積層
し、第11層(Xll〜第7層01)を形成する。次に
■のように、中央部(Ml)にマスク(Slをする。マ
スク(S)は浮いたりしないように固定しておく必要が
あり、マスク[51の代わりに銅やアルミニウムなどの
金属を中央部(Ml)に蒸着しても良い。次に、■のよ
うに再びMgF2とZr0zとを交互に所定11分厚と
なるまで真空蒸着して積層し、第61曽(11)〜第】
層+1+を形成する。このときに中央)出においてはマ
スク(S)」二にMgFzとZr0zとか積層される。
最後にマスク[51を取り除いて@のように本実施例が
完成される。
完成される。
一般に、本発明の目的とする光学特性を747る為には
、各部分jこ各所望の反射率lこ応じた誘電体層を積層
すれば良く、第5図のように中央部(Ml)と周辺部(
Ml)とをそれぞれ別々に真空蒸着による積層で構成す
るものか考えられるが、この構成では、製造工程か複雑
になる上に中央部(Ml)の積層構成と周辺部(Ml)
の積層構成との間にすき間かできたり重なったりするの
で、ファインダ像に黒い線かできたり分光特性がフラッ
トでなくなって色ついて見えたりすることが考えられ好
ましくない。第5図の構成の製造工程を第6図を用いて
説明すると、まず、■のように周辺部(Ml)をおおう
マスク(S2)を基板fc;IJ:に固定し、■のよう
に、高低屈折率物質iH) tL+を順に真空蒸着する
。次に、■のようにマスク(S2)を取り除いて、@の
ように中央部(N4+)に形成された積層構成の上にマ
スク(Sl)を固定し、その上に高・低屈折率物質([
11(1−1を交互に順に11層真空蒸名゛する。■の
ようにこの真空蒸着か完了したら、マスク(Sl)を取
り除いてΦのよう1こハーフミラ−か完成されるのであ
る。しかしなから、このような構成においては、マスク
(Sl)とマスク(S2)との形状を精度良く製造し精
度良く位置設定を行なわないと、中央部(Ml)と周辺
部(Ml)との間にすき間かできたり重なったりする」
二に、第4図の本実施例の製造方法に比へて著しく蝮賄
となる。
、各部分jこ各所望の反射率lこ応じた誘電体層を積層
すれば良く、第5図のように中央部(Ml)と周辺部(
Ml)とをそれぞれ別々に真空蒸着による積層で構成す
るものか考えられるが、この構成では、製造工程か複雑
になる上に中央部(Ml)の積層構成と周辺部(Ml)
の積層構成との間にすき間かできたり重なったりするの
で、ファインダ像に黒い線かできたり分光特性がフラッ
トでなくなって色ついて見えたりすることが考えられ好
ましくない。第5図の構成の製造工程を第6図を用いて
説明すると、まず、■のように周辺部(Ml)をおおう
マスク(S2)を基板fc;IJ:に固定し、■のよう
に、高低屈折率物質iH) tL+を順に真空蒸着する
。次に、■のようにマスク(S2)を取り除いて、@の
ように中央部(N4+)に形成された積層構成の上にマ
スク(Sl)を固定し、その上に高・低屈折率物質([
11(1−1を交互に順に11層真空蒸名゛する。■の
ようにこの真空蒸着か完了したら、マスク(Sl)を取
り除いてΦのよう1こハーフミラ−か完成されるのであ
る。しかしなから、このような構成においては、マスク
(Sl)とマスク(S2)との形状を精度良く製造し精
度良く位置設定を行なわないと、中央部(Ml)と周辺
部(Ml)との間にすき間かできたり重なったりする」
二に、第4図の本実施例の製造方法に比へて著しく蝮賄
となる。
これlと対し、本実施例の構成では第4図の如き簡単な
製造方法か適用でき、かつ」二連の如きすき間や重なり
か生じることもない。
製造方法か適用でき、かつ」二連の如きすき間や重なり
か生じることもない。
本実施例のハーフミラ−における入射角45°の光に対
する中央部(Ml)の分光反射率特性を曲線穴で、周辺
部のそれを曲線(13)でそれぞれ第71Z目こ示す。
する中央部(Ml)の分光反射率特性を曲線穴で、周辺
部のそれを曲線(13)でそれぞれ第71Z目こ示す。
第7図から明らかなように、本実施例によれば、中央部
(Ml)において可視波長全域(約400〜7oonm
)にわたって約50%の反射率を得ることかでき、誘
電体層の積層構成である為に吸収はほとんど生じないの
で約50%の透過率を得ることかでき、かつ、分光特性
もフラ・ノドである。一方、周辺部(Pv■z)におい
ては可視波長域において平均して70〜80%の反射率
と20〜30%の透過率を得ることができ、分光特性も
比較的フラットてある。更に、周辺部(Ml)の反射率
と中央部(Ml)の反射率との差も比較的小さいので、
ファインダ像のの中央か特に暗く目立つこともなく、見
やすいファインダ像が得られ、上述の如き一眼レフレッ
クスカメラの主ミラーに適している。
(Ml)において可視波長全域(約400〜7oonm
)にわたって約50%の反射率を得ることかでき、誘
電体層の積層構成である為に吸収はほとんど生じないの
で約50%の透過率を得ることかでき、かつ、分光特性
もフラ・ノドである。一方、周辺部(Pv■z)におい
ては可視波長域において平均して70〜80%の反射率
と20〜30%の透過率を得ることができ、分光特性も
比較的フラットてある。更に、周辺部(Ml)の反射率
と中央部(Ml)の反射率との差も比較的小さいので、
ファインダ像のの中央か特に暗く目立つこともなく、見
やすいファインダ像が得られ、上述の如き一眼レフレッ
クスカメラの主ミラーに適している。
尚、第8図に示すように、まず基板O)上の周辺部(M
l)のみに高・低屈折率誘電体層1111i1−1を交
互に積層して第11〜6誘電体層(則〜(11)をまず
形成し、その上に中央部(Ml)及び周辺部(Ml)の
全面にわたって更に高・低屈折率誘電体層t■ll t
L)を交互に積層して第5〜1誘電体層+V+〜i1+
を形成すると、中央部(Ml)に比べて周辺部(Mりの
反射率が高くなるか、第9図の分光反射率特性を示すグ
ラフから明らがなように、周辺部(Ml)における分光
反射率特性(13)かフラットでないので、ファインダ
像か色づいて見え、好ましくない。第8図の膜構成を第
2表に示しておく。
l)のみに高・低屈折率誘電体層1111i1−1を交
互に積層して第11〜6誘電体層(則〜(11)をまず
形成し、その上に中央部(Ml)及び周辺部(Ml)の
全面にわたって更に高・低屈折率誘電体層t■ll t
L)を交互に積層して第5〜1誘電体層+V+〜i1+
を形成すると、中央部(Ml)に比べて周辺部(Mりの
反射率が高くなるか、第9図の分光反射率特性を示すグ
ラフから明らがなように、周辺部(Ml)における分光
反射率特性(13)かフラットでないので、ファインダ
像か色づいて見え、好ましくない。第8図の膜構成を第
2表に示しておく。
第 2 表
次に、本発明の第2実施例を第10図に示し、その膜構
成を第3表に示す。本実施例は、中央H’4(S(Ml
)か4層構成であり、周辺部(Ml)かその」二に史に
6層を積層した10層構成である。
成を第3表に示す。本実施例は、中央H’4(S(Ml
)か4層構成であり、周辺部(Ml)かその」二に史に
6層を積層した10層構成である。
第 3 表
本実施例において、高屈折率誘電体層帥すなわち第1.
3,5,7.9層はZr0zからなり、低屈折率誘電体
層+L+すなわち′fJ2,4,6,8.10層はMg
F2からなる。
3,5,7.9層はZr0zからなり、低屈折率誘電体
層+L+すなわち′fJ2,4,6,8.10層はMg
F2からなる。
尚、本実施例においては、λO= 5501聞である。
本実施例は、基板ρ)上の全面にMg F 2とZ1°
02とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着し
て第10層[Xl〜第7層(■)を順次形成し、中央部
(M+)にマスクを固定して更にMgF2とZ ro2
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着して6
層を形成した後に、マスクを取り除いて第6層()1)
〜第1層(1)を形成することによって製造される。
02とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着し
て第10層[Xl〜第7層(■)を順次形成し、中央部
(M+)にマスクを固定して更にMgF2とZ ro2
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着して6
層を形成した後に、マスクを取り除いて第6層()1)
〜第1層(1)を形成することによって製造される。
第11図は、本実施例における入射角45°の光に対す
る中央部(Ml)の分光反射率特性(Alと周辺部(M
l)の分光反射率特性fB+とを示すグラフである。
る中央部(Ml)の分光反射率特性(Alと周辺部(M
l)の分光反射率特性fB+とを示すグラフである。
同グラフから明らかなように、本実施例によれば、第1
実施例に比べて層数が1つ少ないにもかかわらず第1実
施例とほぼ同等の光学性能を得ることができ、製造がよ
り容易である。
実施例に比べて層数が1つ少ないにもかかわらず第1実
施例とほぼ同等の光学性能を得ることができ、製造がよ
り容易である。
第12図は本発明の第3実施例の断面図であり、その膜
構成を第4表に示す。本実−施例は中央部(Ml)が5
層構成であり、周辺部(Ml)を更にその」二に8層を
積層して計13層構成としたものである。
構成を第4表に示す。本実−施例は中央部(Ml)が5
層構成であり、周辺部(Ml)を更にその」二に8層を
積層して計13層構成としたものである。
本実施例においても、高屈折率誘電体層σ−1)すなわ
ち第1’、3,5,7,9,11.13層はZr0zか
らなり、低屈折率誘電体層tLlすなわち第2.4,6
.8,10,1.2層は、MgFzからなる。λ0=
535nmである。
ち第1’、3,5,7,9,11.13層はZr0zか
らなり、低屈折率誘電体層tLlすなわち第2.4,6
.8,10,1.2層は、MgFzからなる。λ0=
535nmである。
本実施例は、基板tGl上の全面にZr0zとMgF2
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着して第
13層(Xl11)〜第9層(IXIを順次形成し、中
央部(Ml)にマスクを固定して更にMgFzとZrO
2とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで、真空蒸着し
て8層を形成した後に、マスクを取り除いて第8層01
1〜第1層fi+を形成することによって製造される。
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着して第
13層(Xl11)〜第9層(IXIを順次形成し、中
央部(Ml)にマスクを固定して更にMgFzとZrO
2とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで、真空蒸着し
て8層を形成した後に、マスクを取り除いて第8層01
1〜第1層fi+を形成することによって製造される。
第13図は、本実施例における入射角45°の光に対す
る中央部(Ml)の分光反射率特性(勺と周辺部(M2
)の分光反射率特性tBlとを示すグラフである。
る中央部(Ml)の分光反射率特性(勺と周辺部(M2
)の分光反射率特性tBlとを示すグラフである。
第13図と第7図とを比べると明らかなように、本実施
例によれば、第1実施例に比べて中央部においても周辺
部においても長波長側の反射率の低下を改善し、よりフ
ラットな分光特性を得ることができる。
例によれば、第1実施例に比べて中央部においても周辺
部においても長波長側の反射率の低下を改善し、よりフ
ラットな分光特性を得ることができる。
第14図は本発明の第4実施例の断面図であり、その膜
構成を第5表に示す。本実施例は中央部(Ml)か5層
構成であり、周辺部(M2)を史にその上に10層積層
して計15層構成としたものである。
構成を第5表に示す。本実施例は中央部(Ml)か5層
構成であり、周辺部(M2)を史にその上に10層積層
して計15層構成としたものである。
第 5 表
本実施例においても、高屈折率誘電体層σ−1)すなわ
ち第1.3,5,7,9,11,13.15層はZr0
zからなり、低屈折率誘電体層tL)す赴わち第2.4
.6,8,10,12.14層はMgF2からなる。λ
0は6160mである。
ち第1.3,5,7,9,11,13.15層はZr0
zからなり、低屈折率誘電体層tL)す赴わち第2.4
.6,8,10,12.14層はMgF2からなる。λ
0は6160mである。
本実施例は、基板ρ)上の全面にMgFzとZ roz
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着して第
15層(xv)〜第11(組を順次形成し、中央部(M
l)にマスクを固定して更にMgFzとZrO2とを交
互にそれぞれ所定膜厚となるまで一真空茅着して10層
を形成した後に、マスクを取り除いて第10層tel〜
第1層(Ilを形成することによって製造される。
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着して第
15層(xv)〜第11(組を順次形成し、中央部(M
l)にマスクを固定して更にMgFzとZrO2とを交
互にそれぞれ所定膜厚となるまで一真空茅着して10層
を形成した後に、マスクを取り除いて第10層tel〜
第1層(Ilを形成することによって製造される。
第15図は、本実施例における入射角45°の光に対す
る中央部(Ml)の分光反射率特性+A+と周辺部(M
2)の分光反射率特性+B)とを示すグラフである。
る中央部(Ml)の分光反射率特性+A+と周辺部(M
2)の分光反射率特性+B)とを示すグラフである。
第7図と比べると明らかなように、本実施例においては
、第1実施例に比べて、中央部(Ml)の分光特性を史
にフラットにするとともに、周辺部(M2)の反射率を
全体に」二けることができる。
、第1実施例に比べて、中央部(Ml)の分光特性を史
にフラットにするとともに、周辺部(M2)の反射率を
全体に」二けることができる。
第16図は本発明の第5実施例の断面図であり、その膜
41&成を第6表に示す。本実施例は中央部(Ml)が
6層構成であり、周辺部(M2)は史にその上に7層を
積層した計13層構成である。
41&成を第6表に示す。本実施例は中央部(Ml)が
6層構成であり、周辺部(M2)は史にその上に7層を
積層した計13層構成である。
第 6 表
本実施例においても、高屈折率誘電体層I’llすなわ
ち第1.3,5,7,9,11.13層はZr0zから
なり、低屈折率誘電体層(I、)すなわち第2.4,6
,8,10.12層は、MgF2からなる。λ0は15
50nmである。
ち第1.3,5,7,9,11.13層はZr0zから
なり、低屈折率誘電体層(I、)すなわち第2.4,6
,8,10.12層は、MgF2からなる。λ0は15
50nmである。
本実施例は、基板IGj上の全面にZrO2とMgFz
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着してf
ff137箇(xlll) 〜第81m (Illを1
10次形成し、中央部(至))にマスクを固定して更に
Zr0zとMgF2とを交互にそれぞれ所定膜厚となる
まで真空蒸着して7層を形成した後に、マスクを取り除
いて第71ω(11)〜第1層telを形成することに
よって製造される。
とを交互にそれぞれ所定膜厚となるまで真空蒸着してf
ff137箇(xlll) 〜第81m (Illを1
10次形成し、中央部(至))にマスクを固定して更に
Zr0zとMgF2とを交互にそれぞれ所定膜厚となる
まで真空蒸着して7層を形成した後に、マスクを取り除
いて第71ω(11)〜第1層telを形成することに
よって製造される。
第17図は、本実施例における入射率45°の光に対す
る中央部(Ml)の分光反射率特性+A+と周辺部(M
z)の分光反射率特性(13)とを示すグラフである。
る中央部(Ml)の分光反射率特性+A+と周辺部(M
z)の分光反射率特性(13)とを示すグラフである。
第17図を、同じ13層構成の第3実施例の分光反射率
特性を示す第13図と比べると、本実施例の方か周辺部
(Mz)における長波長側の反射率の低下をより改善し
て分光特性をよりフラットにすることかできる。
特性を示す第13図と比べると、本実施例の方か周辺部
(Mz)における長波長側の反射率の低下をより改善し
て分光特性をよりフラットにすることかできる。
尚、」二記実施例においては、中央部(Ml)の反射率
は約50%であるのに対し周辺部(λ42)の反射率は
70〜80%であり、反則イAに若干の差かある。
は約50%であるのに対し周辺部(λ42)の反射率は
70〜80%であり、反則イAに若干の差かある。
これをファインダ像でなるへく目立たな、くする為には
、第18図の主ミラー閂の正面図に示すように中央部(
Mz)と周辺部(Mz)との境界を目立たなくする為に
、中央部(Ml)を半径方向に長く延ひるように構、成
ずれは良い。このようζこイ1η成することによって中
央部(Mz 、)の反射率か周辺部(Mz)よりも低い
ことによるファインダ像の劣化をより一層抑えるこさが
できる。
、第18図の主ミラー閂の正面図に示すように中央部(
Mz)と周辺部(Mz)との境界を目立たなくする為に
、中央部(Ml)を半径方向に長く延ひるように構、成
ずれは良い。このようζこイ1η成することによって中
央部(Mz 、)の反射率か周辺部(Mz)よりも低い
ことによるファインダ像の劣化をより一層抑えるこさが
できる。
尚、高屈折率誘電体層t’−1)としてはZrO2の6
」がにTiO2,ZnS 、 CeO2,Ti0zとZ
r0zとの混合物などが適用可能であり、低屈折率誘電
体層+1−JとしてはMgFzのほかにAl 203か
適用可能である。
」がにTiO2,ZnS 、 CeO2,Ti0zとZ
r0zとの混合物などが適用可能であり、低屈折率誘電
体層+1−JとしてはMgFzのほかにAl 203か
適用可能である。
効 果
以上のように本発明は、撮影レンズを透36りした光を
分割し、反射光をファインダ光学系に、Jメ)過充を測
光用受光器及び測距用受光器にそれぞれ導<為の一眼レ
フレックスカメラのハーフミラ−において、該ハーフミ
ラ−は、基板」二に該基板よりも潤い屈折率を有する誘
電体からなる旨屈折率誘電体層と該基板よりも低い屈折
率を有する誘電体からなる低屈折率銹?1)、体J+>
1とか交ll’に46層された一→〒−====−−−
−−−−−==−測光用受光器に光を導く為の周辺部と
の両方にわたって上記高・低屈折率誘電体層を4〜6層
積層し、その上に周辺部1このみ更に高・低屈折率誘電
体層か交互に積層されていることを特徴とするものであ
り、このように構成することによって、中央部で反射率
及び透過率を共に約50%とし、周辺部で反射率70〜
80%及び透過率20〜30%とすることができ、吸収
が少なく分光特性がフラットである」二に1回のみのマ
スキングで製造できるので著しく製造か容易であり、」
一連の一眼レフレックスカメラに適したハーフミラ−を
得ることかできる。
分割し、反射光をファインダ光学系に、Jメ)過充を測
光用受光器及び測距用受光器にそれぞれ導<為の一眼レ
フレックスカメラのハーフミラ−において、該ハーフミ
ラ−は、基板」二に該基板よりも潤い屈折率を有する誘
電体からなる旨屈折率誘電体層と該基板よりも低い屈折
率を有する誘電体からなる低屈折率銹?1)、体J+>
1とか交ll’に46層された一→〒−====−−−
−−−−−==−測光用受光器に光を導く為の周辺部と
の両方にわたって上記高・低屈折率誘電体層を4〜6層
積層し、その上に周辺部1このみ更に高・低屈折率誘電
体層か交互に積層されていることを特徴とするものであ
り、このように構成することによって、中央部で反射率
及び透過率を共に約50%とし、周辺部で反射率70〜
80%及び透過率20〜30%とすることができ、吸収
が少なく分光特性がフラットである」二に1回のみのマ
スキングで製造できるので著しく製造か容易であり、」
一連の一眼レフレックスカメラに適したハーフミラ−を
得ることかできる。
史に、実施態扛のように、基板に接する層の光学的膜厚
を0.50λ0とすることにより、分光特性かフラット
な2;1域を広けることができる。
を0.50λ0とすることにより、分光特性かフラット
な2;1域を広けることができる。
第1図は本発明が適用される一眼しフレ・ノクスカメラ
の断面図、第2図はその副ミラー画の正面図、第3図(
a)[blは本発明の@11実施のハーフミラ−の正面
図及び断面1ヌ1、第4図はその製造工程を示す工程図
、第5図1は比較例の断面1り(、第6陳1はその製造
工程を示す工程図、第7図は第1実施例の入射角45°
の光に対する分光反射率特性を示す図、第8図は比較例
の断面1ンI、第9図はその分光反射率特性を示すグラ
フ、第10.12,14.16図はそれぞれ第2.3,
4.5実施例の断面図、第11.]:う、15ラーの中
央部の別の形状を示す正1f11図である。 (TL);4最影レンズ、(Fl)) (1’P) (
El’) ;ファインダ光学系、(Ll));測光用受
光器、(I・1〕);測距用受光器、P);ハーフミラ
−1(G);基板、[”l ; l’::J Jli
折>’f′誘牝体層、(L);低屈折率誘電体11′・
J、(Mz ) ;中央)′Aζ、(Mz);周辺部。 以 1 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1頁の続き ■Int、C1,’ 識別記号 庁内整理番号手続補正
書 1、事件の表示 昭和58年特許願第167318号 2、発明の名称 バ ー眼レフレックスカメラ用号−フミラー3、補正をする
者 事件との関係 出 願 人 住所 大阪市東区安土町2丁目30番地 大阪国際ピル
名称 (607) ミノルタカメラ株式会社6、 補正
の内容 明細書第18頁最下行「λ0は15501m で9 っ」を「λ0は550nmである。」と補正する。 (2) 明細書第20頁第10行目rA4203か適用
可能である。」を「SiO2か適用可能である。」と補
正する。 しl 1ニ
の断面図、第2図はその副ミラー画の正面図、第3図(
a)[blは本発明の@11実施のハーフミラ−の正面
図及び断面1ヌ1、第4図はその製造工程を示す工程図
、第5図1は比較例の断面1り(、第6陳1はその製造
工程を示す工程図、第7図は第1実施例の入射角45°
の光に対する分光反射率特性を示す図、第8図は比較例
の断面1ンI、第9図はその分光反射率特性を示すグラ
フ、第10.12,14.16図はそれぞれ第2.3,
4.5実施例の断面図、第11.]:う、15ラーの中
央部の別の形状を示す正1f11図である。 (TL);4最影レンズ、(Fl)) (1’P) (
El’) ;ファインダ光学系、(Ll));測光用受
光器、(I・1〕);測距用受光器、P);ハーフミラ
−1(G);基板、[”l ; l’::J Jli
折>’f′誘牝体層、(L);低屈折率誘電体11′・
J、(Mz ) ;中央)′Aζ、(Mz);周辺部。 以 1 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1頁の続き ■Int、C1,’ 識別記号 庁内整理番号手続補正
書 1、事件の表示 昭和58年特許願第167318号 2、発明の名称 バ ー眼レフレックスカメラ用号−フミラー3、補正をする
者 事件との関係 出 願 人 住所 大阪市東区安土町2丁目30番地 大阪国際ピル
名称 (607) ミノルタカメラ株式会社6、 補正
の内容 明細書第18頁最下行「λ0は15501m で9 っ」を「λ0は550nmである。」と補正する。 (2) 明細書第20頁第10行目rA4203か適用
可能である。」を「SiO2か適用可能である。」と補
正する。 しl 1ニ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、撮影レンズを透過した光を二分割し、反射光をファ
インダ光学系に導くとともに、中央部を透過した光を測
距用受光器に周辺部を透過した光を測光用受光器にそれ
ぞれ導く一眼レフレックスカメラ用ハーフミラ−におい
て、基板上に中央部及び周辺部の全面にわたって、基板
よりも高い屈折率を有する誘電体からなる高屈折率誘電
体層と、基板よりも低い屈折率を有する誘電体からなる
低屈折イ6誘電体jl′?iとを交互に積層し、川にそ
の上に周辺部のみに高・低屈折率誘電体層を交互に積層
またことを特徴とする一眼レフレックスカメラ用ハーフ
ミラ−0 2、高・低屈折率誘電体層が、基板上の全面にわたって
交互に4〜6層積層されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の一眼レフレックスカメラ用ハーフ
ミラ−0 6、基板に接する層の光学的膜厚は、38Qnnl〜7
00nmの可視波長域内で選択された設計波長をλ0と
するとき0.5λ0であることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の一眼レフレックスカメ、う用ハーフミ
ラ−0
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58167318A JPS6057802A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 一眼レフレツクスカメラ用ハ−フミラ− |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58167318A JPS6057802A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 一眼レフレツクスカメラ用ハ−フミラ− |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6057802A true JPS6057802A (ja) | 1985-04-03 |
Family
ID=15847522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58167318A Pending JPS6057802A (ja) | 1983-09-09 | 1983-09-09 | 一眼レフレツクスカメラ用ハ−フミラ− |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6057802A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6370835A (ja) * | 1986-09-13 | 1988-03-31 | Nikon Corp | 測光装置 |
JPH0219813A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-23 | Canon Inc | 焦点検出装置を有した一眼レフカメラ |
JP2010008788A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Nikon Corp | 光学部材と、これを有する光学系と光学装置 |
JP2014032330A (ja) * | 2012-08-03 | 2014-02-20 | Ricoh Imaging Co Ltd | ハーフミラー及びデジタル一眼レフカメラ |
-
1983
- 1983-09-09 JP JP58167318A patent/JPS6057802A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6370835A (ja) * | 1986-09-13 | 1988-03-31 | Nikon Corp | 測光装置 |
JPH0219813A (ja) * | 1988-07-07 | 1990-01-23 | Canon Inc | 焦点検出装置を有した一眼レフカメラ |
JP2010008788A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Nikon Corp | 光学部材と、これを有する光学系と光学装置 |
JP2014032330A (ja) * | 2012-08-03 | 2014-02-20 | Ricoh Imaging Co Ltd | ハーフミラー及びデジタル一眼レフカメラ |
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