JPS6055589A - Control system of memory - Google Patents

Control system of memory

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Publication number
JPS6055589A
JPS6055589A JP58162868A JP16286883A JPS6055589A JP S6055589 A JPS6055589 A JP S6055589A JP 58162868 A JP58162868 A JP 58162868A JP 16286883 A JP16286883 A JP 16286883A JP S6055589 A JPS6055589 A JP S6055589A
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JP
Japan
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signal
sent
data
address
storage device
Prior art date
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Pending
Application number
JP58162868A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsune Morioka
森岡 常
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Priority to JP58162868A priority Critical patent/JPS6055589A/en
Publication of JPS6055589A publication Critical patent/JPS6055589A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store

Abstract

PURPOSE:To obtain a memory of a nibble mode which has a normal actuation even with a single clock by validating just one of control signals sent successively and permiting the writing of just a data to a small area in case the cycle for successive transmission of data is larger than the cycle for successive transmission of control signals. CONSTITUTION:When the 1st memory start signal MGO which is sent to a terminal 13 from a CPU (not shown in the figure) is set at ''1'', ''1'' is delivered successively from DFF1-9 every time a single clock advances by a clock. While the 2nd memory start signal SMGO is delivered from a terminal 16 so that ''1'' is set only at T0-T1. A counter 37 is reset with the signal MGO and adds +1 to its value with reception of the signal SMGO. A selector 38 selects WE0, WE1, WE2 and WE3 when the value of the counter 37 is set at ''1'', ''2'', ''3'' and ''4'' respectively.

Description

【発明の詳細な説明】 a8発明の技術分野 本発明はニブルモードで動作する記憶装置に関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION a8 TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The present invention relates to a storage device operating in nibble mode.

b、技術の背景 従来、記憶装置にデータを書き込んだり、記憶装置から
データを読み出したりする場合は、記憶素子ごとにつけ
られたアドレス(行アドレス、及び9列アドレスで構成
される)を指定し、その記憶素子にデータを書き込んだ
り、その記憶素子からデータを読み出したりする。
b. Background of the technology Conventionally, when writing data to or reading data from a storage device, an address assigned to each storage element (consisting of a row address and 9 column addresses) is specified, Data is written to or read from the memory element.

ところで、最近ニブルモードで動作する記憶装置が提案
されている。
Incidentally, storage devices that operate in nibble mode have recently been proposed.

このニブルモードで動作する記憶装置は、例えば記憶領
域が256kw(キロワード)の容量を有する記憶装置
であれば、その記憶領域を4分割する。そして4分割さ
れた各小領域は、54kwの容量を有し、かつ、同一の
アドレス構成を有するものとする。記憶装置にあるタイ
ミングで一つのアドレスが送られると、ある周期のクロ
ックパルスに同期して、4つの小領域に、先に送られた
アドレスを順次指定する。そして、書き込みが指定され
れば、クロックパルスに同期して順次記憶装置に送られ
るデータを、アト1/スを受けた小領域のそのアドレス
に対応する記憶素子に書き込む。
For example, if a storage device that operates in this nibble mode has a storage area of 256 kW (kiloword) capacity, the storage area is divided into four. It is assumed that each of the four divided small areas has a capacity of 54 kW and has the same address configuration. When one address is sent to the storage device at a certain timing, the previously sent address is sequentially designated to four small areas in synchronization with a certain cycle of clock pulses. If writing is specified, the data sequentially sent to the storage device in synchronization with the clock pulse is written into the storage element corresponding to the address in the small area that received the AT1/S.

又、読み出しがIけ示されれば、アトlメスを受りた小
領域のそのアドレスに対応する記憶素子から、クロック
パルスに同期してデータを377 tljI目°。
Also, if reading is indicated, the data is read from the memory element corresponding to the address in the small area that received the atl bit in synchronization with the clock pulse.

領域からデータを読み出したりする。Read data from the area.

C0従来技術と問題点 第1図番オニプルモードで動作する記憶装置を示し、1
は記憶領域、2はアドレスレジスタ、3はエンコーダ、
4はアト1/ス変更レジスタ、5はデータレジスタを示
す。記11領域1は(0)、(1)、(2)、(3)の
4つの小領域に分割されている(以下、小領域(0)、
(1)、(2)、(3)とする)。又、データレジスタ
5も記憶領域1の各小領域に対応して4分割されている
(以下、レジスタ(0)、(1)、(2)、(3)とす
る)。
C0 Prior Art and Problems Figure 1 shows a storage device that operates in on-pull mode.
is a storage area, 2 is an address register, 3 is an encoder,
4 indicates an at 1/s change register, and 5 indicates a data register. Note 11 Area 1 is divided into four small areas (0), (1), (2), and (3) (hereinafter referred to as small areas (0),
(1), (2), and (3)). The data register 5 is also divided into four parts corresponding to each small area of the storage area 1 (hereinafter referred to as registers (0), (1), (2), and (3)).

第2図は第1図のような記憶装置に書き込みを行う場合
の各信月のタイミングチャートを示し、上からフリーラ
ンクロックのタイミング(CLOCK)、記憶装置起動
信号(MC;O)、アドレス信号(ADH)、書き込み
データ信号(DIN)。
Fig. 2 shows a timing chart for each signal when writing to the storage device as shown in Fig. 1, and from the top it shows the free run clock timing (CLOCK), the storage device activation signal (MC; O), and the address signal. (ADH), write data signal (DIN).

書き込み読み出し選択信号(WT)、列アドレス指定信
号(RAS)、行アドレス指定信号(CAS)1行アド
レス列アドレス選択信号(SEL)。
Write/read selection signal (WT), column addressing signal (RAS), row addressing signal (CAS), 1 row address column address selection signal (SEL).

書き込み可能信号(WE)を示す。Indicates a write enable signal (WE).

記憶領域の容量が今256kwとすると各小領域(0)
〜(3)の容量は64kwとなる。CPUより送られる
アドレス信号(ADH)は記憶領域1の容量が256k
wの場合、18ビツトで構成されている(行アドレス9
ビット列アドレス9ビットの合計18ビツト)。
If the capacity of the storage area is now 256kW, each small area (0)
The capacity of ~(3) is 64kw. The address signal (ADH) sent from the CPU has a capacity of 256k in storage area 1.
In the case of w, it consists of 18 bits (row address 9
(9 bits of bit string address, 18 bits in total).

ところで、記憶領域1にアドレスを与える場合、記憶領
域1としては、その容量は256kwであるが、各小領
域としては、その容量は64kwである。そのため、各
小領域の記憶素子のアドレスを指定しようとすると、ア
ドレスは16ビツト(行アドレス8ビット列アドレス8
ビット)テ十分となる。そごで、CPLJから一■、レ
ジスタに送られ、更にエンコーダ3を介してレジスタ4
に送られる行アドレス9ビット列アドレス9ビットそれ
ぞれの最終ビットを小領域(0)〜(3)の指定用アド
レスとする。
By the way, when an address is given to storage area 1, the capacity of storage area 1 is 256 kW, but the capacity of each small area is 64 kW. Therefore, when trying to specify the address of the storage element in each small area, the address is 16 bits (row address 8 bits column address 8 bits).
bit) is enough. Then, the signal is sent from CPLJ to register 4, and then sent to register 4 via encoder 3.
The final bit of each of the 9 bits of the 9-bit row address and the 9-bit column address sent to is used as the address for specifying the small areas (0) to (3).

例えば、行アドレスの最終ビットを82列アドレスの最
終ビットをbとして、両最終ビットを(a、b)で表わ
すとすると、(0,O)の場合は小領域(0)、(0,
1)の場合は小領域(1)。
For example, if the final bit of the row address is 82, and the final bit of the column address is b, and both final bits are represented by (a, b), in the case of (0, O), the small area (0), (0,
In case of 1), small area (1).

(1,0)の場合は小領域(2)、(1,I)の場合は
小領域(3)をそれぞれ指定するものとする。 レジス
タ4は一1エンコーダ3より行アドレス9ビツト、列ア
ドレス9ビツトを受けると、それぞれの最終ビットをク
ロックに同期しながら変化させる。例えば、エンコーダ
3より送られて来た行アドレス、列アドレスの最終ビッ
トが(0゜0)であれば、レジスタ4ば(0,0)→(
0゜1)−(1,0)−(1,1)という具合にクロッ
クに同期しながら最終ビットを更新し、指定する。
In the case of (1, 0), the small area (2) is specified, and in the case of (1, I), the small area (3) is specified. When register 4 receives 9 bits of row address and 9 bits of column address from encoder 3, it changes the final bit of each in synchronization with the clock. For example, if the last bit of the row address and column address sent from encoder 3 is (0°0), register 4 will be (0,0)→(
The last bit is updated and specified in synchronization with the clock, such as 0°1)-(1,0)-(1,1).

小領域を変更し、行アドレスの上位8ビット列アドレス
の上位8ビツトにより小領域の記憶素子を指定する。
The small area is changed, and the storage element of the small area is designated by the upper 8 bits of the row address and the upper 8 bits of the column address.

レジスタ5は小領域(0)〜(3)に対応させて分割し
である。
The register 5 is divided corresponding to small areas (0) to (3).

すなはち、小領域(0)に対してレジスタ5の(0)の
領域、小領域(1)に対してレジスタ5の(1)領域、
小領域(2)に対してレジスタ5の(2)領域、小領域
(3)に対してレジスタ5の(3)領域が対応している
That is, the (0) area of register 5 for the small area (0), the (1) area of register 5 for the small area (1),
The (2) area of the register 5 corresponds to the small area (2), and the (3) area of the register 5 corresponds to the small area (3).

CPUよりデータがレジスタ5へ送られると、レジスタ
5はレジスタ4より送らる行アドレス。
When data is sent from the CPU to register 5, register 5 receives the row address sent from register 4.

列アドレスの最終ビットの情報に基すき、指定される小
領域に対応したレジスタの領域にデータを記憶し、その
後、記憶領域1の小領域にデータを書き込む。例えば、
行アドレス、列アドレスの最終ビットが(0,O)であ
れば、レジスタ5にデータが送られると、領域(0)に
データが書き込まれる。
Based on the information of the last bit of the column address, data is stored in the area of the register corresponding to the designated small area, and then the data is written into the small area of storage area 1. for example,
If the final bits of the row address and column address are (0, O), when data is sent to register 5, the data is written to area (0).

第1図のような記憶装置の動作を第2図のタイミングチ
ャートを用いて説明する。
The operation of the storage device shown in FIG. 1 will be explained using the timing chart shown in FIG. 2.

CPUよりtoで起動信号(MGO>が送られると記憶
装置は書き込み、又は、読み出しを開始する。tIにお
いて18ビットのアドレス信号(ADH)がレジスタ2
へ送られる時点では選択信号(SF、L)は列アドレス
を示しているので、レジスタ2の18ビットのアドレス
のうら、列アドレスに対応する9ビツトをエンコーダ3
を介してレジスタ4へ送る。
When the start signal (MGO> is sent from the CPU at to, the storage device starts writing or reading. At tI, an 18-bit address signal (ADH) is sent to register 2.
Since the selection signal (SF, L) indicates the column address at the time it is sent to the encoder 3, the 9 bits corresponding to the column address of the 18-bit address in the register 2 are sent to the encoder 3.
to register 4 via .

tZ において選択信号(SET、)は行アドレスを示
しているので、同様にレジスタ2よりレジスタ4へ行ア
ドレスが送られる。今、レジスタ4の(a、b)は(0
,O)であるとする。tZにおいて最初のデータがレジ
スタ5へ送られると、レジスタ4は、(a、b)が(0
,O)となっているために、領域(0)に対応するレジ
スタ(0)に一旦書き込まれる。列アドレス指定信号(
RAS)はtl において立ち下るため、記憶領域1に
は継続的に列アドレスが指定される。更に、t3におい
て行アドレス指定信号(CAS)が立ち下ると、行アド
レスが記憶領域1に指定される。書き込み可能信号(W
E)はtq以後書き込み可能を示しているので、t3に
おいてレジスタ(0)から領域(0)にデータが送られ
、書き込みが行なわれる。書き込みが終了するとレジス
タ4の(a、b)は(0,1)に更新される。tl、t
6゜t8において新たなデータが記憶装置に送られるた
びに、領域(1)、(2)、(3)に同様の手順で書き
込みを行う。
Since the selection signal (SET, ) indicates a row address at tZ, the row address is similarly sent from register 2 to register 4. Now, (a, b) of register 4 is (0
, O). When the first data is sent to register 5 at tZ, register 4 shows that (a, b) is (0
, O), it is temporarily written to register (0) corresponding to area (0). Column addressing signal (
RAS) falls at tl, so column addresses are continuously specified in storage area 1. Furthermore, when the row address designation signal (CAS) falls at t3, the row address is designated to storage area 1. Writable signal (W
Since E) indicates that writing is possible after tq, data is sent from register (0) to area (0) at t3, and writing is performed. When writing is completed, (a, b) of register 4 is updated to (0, 1). tl,t
Each time new data is sent to the storage device at 6°t8, writing is performed in areas (1), (2), and (3) using the same procedure.

第3図は、記憶装置等の動作を調べるために、人為的に
パルスを1つづつ作成されたシングルクロック(CLO
CK)に同期した各信号を示し、上から記憶装置起動信
号(MGO)、アドレス信号(ADR)、データ信号(
DIN)、書き込み読み出し選択信号(WT)を示す。
Figure 3 shows a single clock (CLO) artificially created one pulse at a time in order to investigate the operation of storage devices, etc.
The signals synchronized with CK) are shown, starting from the top: memory device activation signal (MGO), address signal (ADR), and data signal (
DIN), which indicates the write/read selection signal (WT).

このシングルクロックの周期は第2図に示したフリーラ
ンクロックに比べ非常に大きい。
The period of this single clock is much larger than that of the free rank clock shown in FIG.

ところで、このような記憶装置においては、列アドレス
指定信号(RAS)、行アドレス指定信号(CAS)は
フリーランクロックに同期していなければ正常な動作を
行なわない。
Incidentally, in such a storage device, the column address designation signal (RAS) and row address designation signal (CAS) must be synchronized with the free rank clock to perform normal operation.

そこで、記憶装置の動作を調べるためにシングルクロッ
クを作成し、シングルタlコックに同町させてCPUよ
り記憶装置にアドレス信号(A D R)、データ信号
(D I N) 、書き込み読み出し選択信号(WT)
を送っても、ダはドレス指定信号(RAS)、行アドレ
ス指定信号(CAS)、行アドレス列アドレス選択信号
(SEI、)、l)き込み可能信号(WE)はフリーラ
ンクロックに同期周期に比べ非常に大きいため、一つの
データが送られて来る(D T N)の間に、行アドレ
ス1旨定信号が4度立ち下ってしまう。すなはち、一つ
のデータが送られて来る間に、領域(0)〜(3)の全
領域に行アドレス、列アドレスが[行定され、領域(0
)〜(3)に同一データが書き込まれてしまう。
Therefore, in order to investigate the operation of the storage device, a single clock was created and a single clock was used to send the address signal (ADR), data signal (DIN), write/read selection signal ( WT)
Even if the data is sent, the address designation signal (RAS), row address designation signal (CAS), row address column address selection signal (SEI, ), and l) write enable signal (WE) are synchronized to the free rank clock. Since it is very large in comparison, the row address 1 determination signal falls four times while one data is being sent (D T N). In other words, while one piece of data is being sent, the row address and column address are set in all areas (0) to (3), and the area (0) is
) to (3) are written with the same data.

41発明の目的 そこで本発明ではシングルクロック時においても正常な
データの書き込み、及び、読み出しの行なえるような記
憶装置を提案するものである。
41 OBJECTS OF THE INVENTION Accordingly, the present invention proposes a storage device that allows normal data writing and reading even during single clock operation.

00発明の構成 そのため本発明では、記憶領域が複数の小領域に分割さ
れ、上位装置より一つのアドレスが与えられるとともに
、ある周期で前記小領域の数だけ順次データが送られ、
前記周期に同期して前記小領域の数だけ順次制御信号が
送られると、前記制御信号が送られてくるタイミングご
とに前記小領域を変更して、前記小領域の前記アドレス
に対応する記憶素子に、前記タイミングに送られたデー
タを書き込む記憶装置において、データが順次送られる
周期が、制御信号が順次送られる周期よりも大きい場合
は、順次送られる制御信号の一つのみを有効とし、一つ
の小領域への一つのデータのみの書き込みを許可するこ
とを特徴とする記憶装置の制御方式を提案する。
00 Structure of the Invention Therefore, in the present invention, a storage area is divided into a plurality of small areas, one address is given from a host device, and data is sequentially sent by the number of the small areas in a certain period,
When control signals are sequentially sent as many times as the number of small areas in synchronization with the period, the small area is changed at each timing when the control signal is sent, and the storage element corresponding to the address of the small area is changed. In a storage device that writes data sent at the above-mentioned timing, if the period in which data is sent sequentially is larger than the period in which control signals are sent sequentially, only one of the control signals sent sequentially is valid, and one We propose a storage device control method that allows writing of only one piece of data into two small areas.

10発明の実施例 本実施例では第1図のような記憶装置(記憶領域を4分
割した)を対象とした制御方式を示す。
10 Embodiments of the Invention This embodiment shows a control method for a storage device as shown in FIG. 1 (storage area divided into four).

0 第4図は本発明の一実施例である記j!装置の■−制御
方式に使用する書き込み可能信号1行アドレス指定信号
1列アドレス指定信号を作成する回路を示し、第5図は
本発明のタイミングチャートを示す。
0 Figure 4 shows an embodiment of the present invention! A circuit for creating a write enable signal, a single row addressing signal, and a single column addressing signal used in the control method of the apparatus is shown, and FIG. 5 shows a timing chart of the present invention.

12.31.32はORゲー1−、 29. 30. 
33〜36はRSフリップフ11ツブ(以下R3FFと
する)、37はカウンター、38はセレクタを示す。
12.31.32 is OR game 1-, 29. 30.
33 to 36 are RS flip-flops 11 (hereinafter referred to as R3FF), 37 is a counter, and 38 is a selector.

第5図は上からシングルクロック、記憶装置駆動第一信
号(M G O) 、アドレス信号(ADR)。
FIG. 5 shows, from the top, a single clock, a first memory drive signal (MGO), and an address signal (ADR).

データ信号(DIN)、書き込め読み出し選択信号(W
T)、(’)Rゲート11への入力フリーランクロック
、ORゲート11への入力、端子15の出力、端子16
の出力、記憶装置第2駆動信号(SMGO)、行アドレ
ス指定信号(RAS)、列アドレス指定信号(cAs)
、行アドレス列アドレス選択信号(RAS)、行アドレ
ス列アドレス選択信号(SEL)、書き込み可能信号(
WEO〜WE3)を示す。
Data signal (DIN), write/read selection signal (W
T), (') Input free rank clock to R gate 11, input to OR gate 11, output of terminal 15, terminal 16
output, storage device second drive signal (SMGO), row addressing signal (RAS), column addressing signal (cAs)
, row address column address selection signal (RAS), row address column address selection signal (SEL), write enable signal (
WEO to WE3).

第6図は、通常の書き込み読み出し時に使用する書き込
み可能信号1行アドレス指定信号2列アドレス指定信号
を発生する回路41と、本発明の一実施例による書き込
み可能信号2行アドレス指定信号2列アドレス指定信号
の発生する回路42と、それらの信号を選択するセレク
タ43〜45を示す。又、回路42は、第4図に示すよ
うな構造となっている。
FIG. 6 shows a circuit 41 that generates a write enable signal, a 1-row address designation signal, and a 2-column address designation signal used during normal write/read operations, and a circuit 41 that generates a write enable signal, a 2-row address designation signal, and a 2-column address designation signal according to an embodiment of the present invention. A circuit 42 that generates designated signals and selectors 43 to 45 that select those signals are shown. Further, the circuit 42 has a structure as shown in FIG.

本実施例では、第5図に示すように列アドレス信号(C
AS)が一度立ち下る時にのみ書き込みを可能とするよ
うな4種類の書き込み可能信号(WEO〜WE3)を作
成する。そして、例えば、1つ目のデータが送られて来
るとWEOを、2つ目のデータが送られて来るとWEI
を、3つ目のデータが送られて来るとWB2を、4つ目
のデータが送られて来るとWB2を選択する。すると、
WEOは1回目CASの立ち下りに、WEIは2回目の
CASの立ち下りに、WB2は3回目のC1 Asの立ち下りに、WB2は4回目のCASの立ち下り
に対応する。そこで、データがシングルクロックに同期
して送られて来ても、1つ1」のデータは第1図の小領
域(0)に、2つ目のデータは小領域(1)に、3つ目
のデータは小領1112(2)に、4つ目のデータは小
領113i(3)に書き込まれる。
In this embodiment, the column address signal (C
Four types of write enable signals (WEO to WE3) are created that enable writing only when AS) falls once. For example, when the first data is sent, the WEO is set, and when the second data is sent, the WEI is set.
, when the third data is sent, WB2 is selected, and when the fourth data is sent, WB2 is selected. Then,
WEO corresponds to the first falling edge of CAS, WEI corresponds to the second falling edge of CAS, WB2 corresponds to the third falling edge of C1 As, and WB2 corresponds to the fourth falling edge of CAS. Therefore, even if the data is sent in synchronization with a single clock, the first data is sent to the small area (0) in Figure 1, the second data is sent to the small area (1), and the third data is sent to the small area (1) in Figure 1. The second data is written to the small area 1112(2), and the fourth data is written to the small area 113i(3).

第4図は以下に示すようにそれぞれ信号を作成する。In FIG. 4, signals are created as shown below.

第4図のDFFI〜9はシングルクロックに同期して動
作し、その他のDFF、及び、R3FFはフリーランク
ロックに同期して動作する。
DFFI-9 in FIG. 4 operate in synchronization with a single clock, and the other DFFs and R3FF operate in synchronization with a free rank clock.

τ 記憶装置起動第一信号(MGq)が“1”となると、以
後シンクルクロックが1クロック進むごとにDFF 1
〜9から順次“l”が出力される。
τ When the storage device activation first signal (MGq) becomes “1”, DFF 1 is activated every time the sinkle clock advances by 1 clock.
"l" is output sequentially from 9 to 9.

ORゲート11.DFFIO,ORゲート12゜では、
ORゲート11に“1″が入力されるごとにフリーラン
クロックに同期し1クロツクの間“1”となるような記
憶装置起動第二信号(SMGO)を作成する。
OR gate 11. At DFFIO, OR gate 12°,
Every time "1" is input to the OR gate 11, a second memory activation signal (SMGO) is generated which is synchronized with the free rank clock and remains "1" for one clock.

3 2 DFF17〜27はORゲート12より出力される記憶
装置〃起動第二信号(SMC;O)をフリーランクロッ
クに同期しながら遅延するものである。R3FF29は
DFF17.27の出力を用いて行アドレス指定信号(
RAS)を作成する。
3.2 DFFs 17 to 27 delay the storage device activation second signal (SMC; O) output from the OR gate 12 in synchronization with the free rank clock. R3FF29 uses the output of DFF17.27 to generate a row address designation signal (
RAS).

R3FF30ば記憶装置起動第二起動信号(SMGo)
、DFF 18〜25の出力を用いて列アドレス指定信
号(CAS)を作成する。R3FF33〜36はDFF
lB、20,22,24.26の出力を用いてR3FF
33はWEO,R3FF34はWEI、R3FF35は
WB2.R3FF36はWB2のような列アドレス指定
信号(CAS)が一度立ち下るときにのみ書き込み可能
を示す4種類の書き込み可能信号<wEo−WB2)を
作成する。
R3FF30 storage device activation second activation signal (SMGo)
, DFFs 18-25 are used to create a column addressing signal (CAS). R3FF33-36 are DFF
R3FF using the output of lB, 20, 22, 24.26
33 is WEO, R3FF34 is WEI, R3FF35 is WB2. The R3FF 36 creates four types of write enable signals <wEo-WB2) that indicate write enable only when a column address designation signal (CAS) such as WB2 falls once.

セレクタ38はカウンター37に基いて4種類の書き込
み可能信号(WEO〜WE3)のうちの4 CPU (図示・lず)より端子13へ送られる記憶装
置起動第一信号(MGO)が“1゛となると、シングル
クロックが1クロック進むごとにDFF1〜9から順次
“1”が出力される。そのうちDFF3,5,7.9の
出力がORゲート11への入力となっているために、そ
の入力は第5図ORゲート11への入力に示すよ・うに
データ(DIN)がシングルクロックパルスに同期して
1つ送られて来るごとに1″となる信号になる。ORゲ
ート11への入力がST3 CTo )で最初に“1”
となると、端子14からの出力は0″となる。
Based on the counter 37, the selector 38 selects four of the four types of write enable signals (WEO to WE3) when the first memory start signal (MGO) sent from the CPU (not shown) to the terminal 13 is "1". Then, each time the single clock advances by one clock, "1" is output from DFFs 1 to 9 in sequence. Among them, the outputs of DFFs 3, 5, and 7.9 are the inputs to the OR gate 11, so the inputs are As shown in the input to the OR gate 11 in FIG. 5, the signal becomes 1'' each time data (DIN) is sent in synchronization with a single clock pulse. The input to the OR gate 11 is “1” at first in ST3 (CTo)
Then, the output from the terminal 14 becomes 0''.

又、0FFIOはフリーランク11ツクに同期して動作
しているため、端子15からの出力はT1 において1
″となる。ORゲート12でLSI端子14と端子15
との出力の和が取られる。従って端子16からは’ro
−T、のみで“1″となるような記憶装置起動第二信号
(SMGO)が出力される。
Also, since 0FFIO operates in synchronization with free rank 11, the output from terminal 15 is 1 at T1.
''.The OR gate 12 connects the LSI terminal 14 and the terminal 15.
The sum of the outputs is taken. Therefore, from terminal 16, 'ro
-T, a second storage device activation signal (SMGO) which becomes "1" only is output.

端子28から記憶装置起動第二信号が入力されると、シ
ングルクロックが1クロック進むごとにDFF17〜2
7からは順次″1″が出力される(T、においてDFF
17の出力が1″、 T2においてDFFlBの出力が
l”−−m−−−−−−)。
When the second storage device activation signal is input from the terminal 28, the DFFs 17 to 2 are activated every time the single clock advances by one clock.
"1" is sequentially output from 7 (DFF at T
The output of DFF17 is 1'', and the output of DFFlB at T2 is l''--m----).

すなはち、その記憶装置起動第二信号(SMGO)がD
FF17〜27で遅延される。
In other words, the second storage device activation signal (SMGO) is D.
It is delayed by FFs 17-27.

行アドレス指定信号(RAS)はR3FF29人力、D
FF27の出力をR入力としているので、! 第a図に示すようにTlTl/間において“0”となる
ような信号になる。
Row addressing signal (RAS) is R3FF29 manual, D
Since the output of FF27 is used as the R input,! As shown in FIG. a, the signal becomes "0" between TlTl/.

列アドレス指定信号(CAS)は、R3FF30によっ
て作成される。R3FF30は、DFF19.21 2
3.25の出力の和をS入力、記憶装置第二起動信号(
SMGO)及び、DFFlB、20,22.24の出力
の和をR入力としている。そこで、R3FF30の出力
は第47図CASに示すような信号となる。
A column addressing signal (CAS) is produced by R3FF30. R3FF30 is DFF19.21 2
3. The sum of the outputs of 25 is input to S, and the storage device second activation signal (
The R input is the sum of the outputs of SMGO) and DFFlB, 20, 22.24. Therefore, the output of R3FF30 becomes a signal as shown in FIG. 47 CAS.

書き込み可能信号(WEO)はR3FF33によって作
成される。R3FF33は、DFF185 の出力(Tz−T、間で“l”となる。)をS入力、D
FF20の出力(Tψ〜T、間で“1″とでO”となる
A write enable signal (WEO) is created by R3FF33. R3FF33 receives the output of DFF185 (Tz-T, becomes "l") as S input and D
The output of the FF 20 (Tψ~T, becomes "1" and becomes "O".

同様に、書き込み可能信号(WEI)、(WB2)、(
WB2)も、各々R3FF34,35゜36で作成され
る。
Similarly, write enable signals (WEI), (WB2), (
WB2) is also created with R3FF34 and 35°36, respectively.

これらの記憶装置起動第二信号(SMGO)。These storage device activation second signals (SMGO).

行アドレス指定信号(T?AS)、列アドレス1旨定信
号(CAS)、書き込み可能信号(WEO〜WE3)は
、ORゲート11への出力が“1”となるたび、すなは
ち、データが1つ送られるたびに作成される。
The row address designation signal (T?AS), the column address 1 determination signal (CAS), and the write enable signal (WEO to WE3) each time the output to the OR gate 11 becomes "1", that is, the data is Created each time one is sent.

R3FF33〜36で作成された4種類の書き込み可能
信号(WEO〜WE3)は、カウンタ37の値に基づい
て、1つが選択される。
One of the four types of write enable signals (WEO to WE3) created by the R3FFs 33 to 36 is selected based on the value of the counter 37.

カウンタ37は記憶装置起動第一信号によってリセット
され、記憶装置起動第二信号を受けると、その値を+1
して行く。
The counter 37 is reset by the first storage device activation signal, and upon receiving the second storage device activation signal, increases its value by +1.
I'll go.

76 セ レクタ ればWEOを、カウンタ37の値が“2”であればWE
Iを、カウンタの値が“3”であればWB2を、カウン
タの値が“4″であればWB2を選択する。
76 If the selector is WEO, if the value of counter 37 is “2”, it is WEO.
If the counter value is "3", WB2 is selected; if the counter value is "4", WB2 is selected.

上記の様に第6図回路41で作成された書き込み可能信
号.行アドレス指定信号.列アドレス指定信号は、シン
グルクロック時にのみセレクタ43〜45で選択され使
用される。通常のフリーランクロック時においては第6
図のように通常時の書き込み可能信号.行アドレス指定
信号,列アドレス指定信号を発生する回路41によって
作成された信号をセレクタ43〜45で選択し使用する
The write enable signal created by the circuit 41 in FIG. 6 as described above. Row address specification signal. The column address designation signal is selected and used by selectors 43 to 45 only during a single clock. During normal free rank lock, the 6th
As shown in the figure, the normal write enable signal. Selectors 43 to 45 select and use the signals generated by the circuit 41 that generates the row address designation signal and the column address designation signal.

尚、第6図における回路41.42の選択は、選択信号
により人為的に行う。
Note that the selection of circuits 41 and 42 in FIG. 6 is performed artificially using a selection signal.

g.発明の効果 本発明によれば、シングルクロック時にも正常に動作す
るニブルモードの記憶装置を得ることができる。
g. Effects of the Invention According to the present invention, it is possible to obtain a nibble mode storage device that operates normally even when using a single clock.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

B 第1図はニブルモードで動作する記1a装置を示し、1
は記憶領域、2しオアドレスレジスタ、3&;t:エン
コーダ、イばアドレス変更l/ラスタ、5はデータレジ
スタを示す。 第2図は第1図の。Lうな記憶装置に1M、き込みを行
う場合の各信号のタイミングチャートを示し、」二から
フリーランクロックの夕・イミノジ(CI、0CK)、
記怜装置起IlI信号(MGO)、アドレス信号(AD
T?)、書き込みデータ信号(r)IN)書き込み読め
110〜選択信1−J(WT)1列アlj l/ス指定
信冒(RAS)、行アドレノ、Ili定信ワシ(CAS
)1行アドレス列アドレス選択信冒(S l’: L)
 。 書き込み可能信号(WTF、)を示す。 第3図は、記↑a装置等の動作を8;;4べるために、
人為的にパルス1つづつ作成されたシングルクロック(
C1,OCK ) に同量した8信号を示し、上から記
憶装置起動信5(Mco)、アドレス信号(ADR)、
データ信号(1)IN)、τ1:き込み読み出し選択信
’;l1−(WT)を示す。 第4図41本発明の一実施例である記憶装置の制御方式
に使用する書き込み可能信号1行アドレス指定信号1列
アドレス指定信号を作成する回路を示し、第5図は本発
明のタイミングチャートを示す。 第4図において1〜10.及び、17〜27はDフリッ
プフロップ(以下DFFとする)、11゜12.31.
32はORゲート、29. 30. 33〜36はRS
フリップフロップ(以下R3FFとする)、37はカウ
ンター、38はセレクタを示す。 第5図は上からシングルクロック、記憶装置駆動信号(
MGO)、アドレス信号(ADR)、データ信号(DI
N)、書き込み読み出し選択信号(WT)、ORゲート
11への入力フリーランクロック、ORゲート11への
入力、端子15の出力、端子16の出力、記憶装置第2
駆動信号(SMGO)、行アドレス指定信号(RAS)
、列アドレス指定信号(CAS)、行アドレス列アドレ
ス選択信号(RAS)、書き込み可能信号(WEO〜W
]F、3)を示す。 9 第6図は、通常の宵き込み読み出し時に使用する書き込
みt+T fi13信司2行ア1!L・ス1旨定信22
列アドレス指定信号を発生ずる回路41と、本発明の一
実施例による書き込み可能信号2行アドレス指定信号1
列ア1′1/スli?定信号の発生ずる回路42と、そ
れらの信−Jを選択するレレクタ43〜45を示す。 1 0 第 1 図 5Ttr 57+ 5T2 5T35T4 3T5 δ
rt sTy STa STY第6図 534−
B FIG. 1 shows the device 1a operating in nibble mode, 1
2 is a storage area, 2 is an address register, 3 &; t is an encoder, 2 is an address change l/raster, and 5 is a data register. Figure 2 is similar to Figure 1. The timing chart of each signal when writing 1M to a storage device is shown below.
Recording device start signal (MGO), address signal (AD
T? ), write data signal (r)IN) write/read 110~selection signal 1-J (WT) 1st column ALJ l/s specified information (RAS), row adreno, Ili specified information (CAS)
) 1st row address column address selection input (S l': L)
. Indicates a write enable signal (WTF, ). Figure 3 shows the operation of the equipment described in ↑a.
A single clock artificially created one pulse at a time (
8 signals with the same amount as C1, OCK) are shown, starting from the top: storage device activation signal 5 (Mco), address signal (ADR),
data signal (1) IN), τ1: write/read selection signal'; l1-(WT). FIG. 4 shows a circuit for creating a write enable signal, a one-row address designation signal, a one-column address designation signal used in a storage device control system according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 shows a timing chart of the present invention. show. 1 to 10 in Figure 4. and 17 to 27 are D flip-flops (hereinafter referred to as DFF), 11°12.31.
32 is an OR gate, 29. 30. 33-36 are RS
A flip-flop (hereinafter referred to as R3FF), 37 is a counter, and 38 is a selector. Figure 5 shows the single clock, storage device drive signal (from the top)
MGO), address signal (ADR), data signal (DI
N), write/read selection signal (WT), input free rank clock to OR gate 11, input to OR gate 11, output of terminal 15, output of terminal 16, memory device 2
Drive signal (SMGO), row address specification signal (RAS)
, column address designation signal (CAS), row address column address selection signal (RAS), write enable signal (WEO to W
]F, 3) is shown. 9 Figure 6 shows the write t+T fi13 Shinji 2 line A1! used during normal evening reading. L.S.1 statement 22
A circuit 41 for generating column addressing signals and a write enable signal 2 row addressing signal 1 according to an embodiment of the present invention.
Column a1'1/sli? A circuit 42 for generating constant signals and regulators 43 to 45 for selecting these signals -J are shown. 1 0 1st Figure 5Ttr 57+ 5T2 5T35T4 3T5 δ
rt sTy STa STYFigure 6 534-

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 記憶領域が複数の小領域に分割され、上位装置より一つ
のアドレスが与えられるとともに、ある周期で前記小領
域の数だけ順次データが送られ、前記周期に同期して前
記小領域の数だけ順次制御信号が送られると、前記制御
信号が送られてくるタイミングごとに前記小領域を変更
して、前記小領域の前記アドレスに対応する記憶素子に
、前記タイミングに送られたデータを書き込む記憶装置
において、データが順次送られる周期が、制御信号が順
次送られる周期よりも大きい場合は、順次送られる制御
信号の一つのみを有効とし、一つの小領域への一つのデ
ータのみの書き込みを許可することを特徴とする記憶装
置の制御方式。
The storage area is divided into a plurality of small areas, one address is given from the host device, and data is sequentially sent as many times as the number of the small areas in a certain cycle, and data is sequentially sent as many times as the number of the small areas in synchronization with the cycle. When a control signal is sent, the storage device changes the small area at each timing when the control signal is sent, and writes the data sent at the timing into a storage element corresponding to the address of the small area. If the period in which data is sent sequentially is greater than the period in which control signals are sent sequentially, only one of the sequentially sent control signals is valid, and writing of only one piece of data to one small area is permitted. A storage device control method characterized by:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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