JPS6048076B2 - 装置間インタフェ−ス方式 - Google Patents
装置間インタフェ−ス方式Info
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- JPS6048076B2 JPS6048076B2 JP53028685A JP2868578A JPS6048076B2 JP S6048076 B2 JPS6048076 B2 JP S6048076B2 JP 53028685 A JP53028685 A JP 53028685A JP 2868578 A JP2868578 A JP 2868578A JP S6048076 B2 JPS6048076 B2 JP S6048076B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- read
- time
- read data
- signal
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
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- Information Transfer Systems (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、装置間インタフェース方式、例えばリフレ
ッシュを必要としリフレッシュ発生回路を内蔵した半導
体記憶装置と該半導体記憶装置に対し情報の読出し、書
込みを制御する演算制御装置間のインタフェース方式に
関するものである。
ッシュを必要としリフレッシュ発生回路を内蔵した半導
体記憶装置と該半導体記憶装置に対し情報の読出し、書
込みを制御する演算制御装置間のインタフェース方式に
関するものである。
処理装置の主記憶装置として、リフレッシュを必要とし
リフレッシュ回路を内蔵した半導体記憶装置を使用した
データ処理システムにおいては、演算制御装置で発生し
前記半導体記憶装置に送信されて情報の読出し、書込み
動作を起動するアクセス起動信号と、半導体記憶装置内
のリフレッシュ回路で発生しリフレッシュ動作を起動す
るリフレッシュ起動信号が互いに非同期で発生し、読出
し動作とリフレッシュ動作の組合せにより半導体記憶装
置の動作状態は第1図に示すごとく3つの動作状態があ
る。第1図aは、アクセス制御信号1のみが発生して、
この時半導体記憶装置はリフレッシュ動作を実行してお
らず、直ちにアクセス起動信号1を受付け読出し動作を
実行できる状態で、読出しデータ3はアクセス起動信号
1からTaa時間後のTaM、Nに半導体記憶装置より
出力される。
リフレッシュ回路を内蔵した半導体記憶装置を使用した
データ処理システムにおいては、演算制御装置で発生し
前記半導体記憶装置に送信されて情報の読出し、書込み
動作を起動するアクセス起動信号と、半導体記憶装置内
のリフレッシュ回路で発生しリフレッシュ動作を起動す
るリフレッシュ起動信号が互いに非同期で発生し、読出
し動作とリフレッシュ動作の組合せにより半導体記憶装
置の動作状態は第1図に示すごとく3つの動作状態があ
る。第1図aは、アクセス制御信号1のみが発生して、
この時半導体記憶装置はリフレッシュ動作を実行してお
らず、直ちにアクセス起動信号1を受付け読出し動作を
実行できる状態で、読出しデータ3はアクセス起動信号
1からTaa時間後のTaM、Nに半導体記憶装置より
出力される。
このTaaは半導体記憶装置がアクセス起動信号1を受
付けけてから読出しデータ3を出力する迄の最小時間で
、一般に半導体記憶装置のアクセスタイムと呼ばれ半導
体記憶装置固有の値となる。第1図をは、アクセス起動
信号1が発生し、半導体記憶装置に送信された時刻では
、半導体記憶装置がリフレッシュ動作を実行中の状態で
、このリフレッシュ動作の残存時間Tw後のリフレッシ
ュ動作が終了した時刻にアクセス起動信号1が半導体記
憶装置に受付けられ読出し動作を実行する。
付けけてから読出しデータ3を出力する迄の最小時間で
、一般に半導体記憶装置のアクセスタイムと呼ばれ半導
体記憶装置固有の値となる。第1図をは、アクセス起動
信号1が発生し、半導体記憶装置に送信された時刻では
、半導体記憶装置がリフレッシュ動作を実行中の状態で
、このリフレッシュ動作の残存時間Tw後のリフレッシ
ュ動作が終了した時刻にアクセス起動信号1が半導体記
憶装置に受付けられ読出し動作を実行する。
この為、半導体記憶装置から読出される読出しデータ3
はアクセス起動信号1からTw+Taa時間経過した時
間Tanに出力される。
はアクセス起動信号1からTw+Taa時間経過した時
間Tanに出力される。
第1図cは、アクセス起動信号1とリフレッシュ起動信
号2が同時に発生した状態である。
号2が同時に発生した状態である。
この状態では、一般に半導体記憶装置は先にリフレツノ
シユ起動信号2を受付け、リフレッシュ動作を終了した
後にアクセス起動信号1を受付け読出し動作を実行する
。この時の半導体記憶装置から読出される読出しデータ
3は、リフレッシュ動作時間TR+アクセスタイムTa
a時間経過した時間7TaMAXとなる。以上示したご
とく上記データ処理システムでは、演算制御装置からの
アクセス起動信号1に対して読出しデータ3の出力時間
が一定とならぬ為、演算制御装置に読出しデータ3を取
込むインタフエース方式は従来下記の2つがあつた。
シユ起動信号2を受付け、リフレッシュ動作を終了した
後にアクセス起動信号1を受付け読出し動作を実行する
。この時の半導体記憶装置から読出される読出しデータ
3は、リフレッシュ動作時間TR+アクセスタイムTa
a時間経過した時間7TaMAXとなる。以上示したご
とく上記データ処理システムでは、演算制御装置からの
アクセス起動信号1に対して読出しデータ3の出力時間
が一定とならぬ為、演算制御装置に読出しデータ3を取
込むインタフエース方式は従来下記の2つがあつた。
まず第1の方法は、第1図に示したごとく、灘算制御装
置で読出しデータ3を取込むストローブ信号4を1番遅
く読出されるcの読出しデータのTaMAX+TS後に
発生させて、時間Td後のTAMAXに読出しデータ3
を取込みデータ5として取込む方法である。時間Tsは
読出しデータ3を演算制御装置内の読出しデータ回路に
ストローブ信号4で取込む時に必要なデータセットアッ
プ時間で、読出しデータ回路固有の値である。この方法
では、読出しデータ3がTaMONで出力されるaの状
態でもストローブ信号4はTaMAX+T,、すなわち
TR+Taa+Tsとなつているので、リフレッシュ動
作を実行していないにもかかわらずリフレッシュ動作時
間TRだけ余分に読出しデータ3の取込みが遅れる欠点
を持つ。上記データ処理システムでは状態aの発生頻度
が一番多く、この欠点は大きい問題である。
置で読出しデータ3を取込むストローブ信号4を1番遅
く読出されるcの読出しデータのTaMAX+TS後に
発生させて、時間Td後のTAMAXに読出しデータ3
を取込みデータ5として取込む方法である。時間Tsは
読出しデータ3を演算制御装置内の読出しデータ回路に
ストローブ信号4で取込む時に必要なデータセットアッ
プ時間で、読出しデータ回路固有の値である。この方法
では、読出しデータ3がTaMONで出力されるaの状
態でもストローブ信号4はTaMAX+T,、すなわち
TR+Taa+Tsとなつているので、リフレッシュ動
作を実行していないにもかかわらずリフレッシュ動作時
間TRだけ余分に読出しデータ3の取込みが遅れる欠点
を持つ。上記データ処理システムでは状態aの発生頻度
が一番多く、この欠点は大きい問題である。
この問題を解決する為に次の従来の第2の方法がある。
次に従来の第2の方法を第2図を用いて説明する。
次に従来の第2の方法を第2図を用いて説明する。
半導体記憶装置が演算制御装置からのアクセス起動信号
1を受信しアクセス起動信号1を受付けて読出し動作を
開始した時に、読出し動作を開始し一定時間後に読出し
データ3を送信すること,を示すアクセプト信号6を半
導体記憶装置内で発生し演算制御装置に送信する。演算
制御装置ではこのアクセプト信号6を一定時間遅延させ
てストローブ信号4を発生し、これにより読出しデータ
3の取込みを行なうインタフェース方式である。3この
ようにすれば、演算制御装置は半導体記憶装置の各動作
状態に対応した時刻に読出しデータ3を取込むことがで
きる。
1を受信しアクセス起動信号1を受付けて読出し動作を
開始した時に、読出し動作を開始し一定時間後に読出し
データ3を送信すること,を示すアクセプト信号6を半
導体記憶装置内で発生し演算制御装置に送信する。演算
制御装置ではこのアクセプト信号6を一定時間遅延させ
てストローブ信号4を発生し、これにより読出しデータ
3の取込みを行なうインタフェース方式である。3この
ようにすれば、演算制御装置は半導体記憶装置の各動作
状態に対応した時刻に読出しデータ3を取込むことがで
きる。
第2図において、Tcは半導体記憶装置がアクセス起動
信号1を受取り読出し動作を開始てきる時刻からアクセ
プト信号63を発生する迄に要する時刻迄の時間で、ア
クセス起動信号1とリフレッシュ起動信号2のどちらを
先に受付けるかの優先処理に要する時間で最小値は固有
の値となる。Taはアクセプト信号6に対する読出しデ
ータ3の出力時間である。Tcを4(Taaに設定すれ
ばTaは零となる。Teは演算制御装置がアクセプト信
号6を受取つてからストローブ信号4を発生する迄の時
間でTa+Tsとなる。このようにすれば、演算制御装
置はアクセプト信号6を受信することにより半導体記憶
装置の動作状態を判別できるので、各動作状態に対応し
て読出しデータ3の取込みを行なうことができる。各動
作状態に於けるアクセス起動信号1から取込み5データ
5迄の時間を以下に示す。これは演算制御装置のアクセ
スタイムとなる。動作状態ATAMIN=Tc+Ta+
T,+Td= シウO
ア〜従つてこの第2の方法によれば、従来の第1方法に
よる問題点はなくなる訳であるがこの第2の方法では、
装置間インタフェース信号にアクセプト信号6を追加し
なければならず、このアクセプト信号6を発生するアク
セプト発生回路を半導体記憶装置内に設ける必要が生ず
る。
信号1を受取り読出し動作を開始てきる時刻からアクセ
プト信号63を発生する迄に要する時刻迄の時間で、ア
クセス起動信号1とリフレッシュ起動信号2のどちらを
先に受付けるかの優先処理に要する時間で最小値は固有
の値となる。Taはアクセプト信号6に対する読出しデ
ータ3の出力時間である。Tcを4(Taaに設定すれ
ばTaは零となる。Teは演算制御装置がアクセプト信
号6を受取つてからストローブ信号4を発生する迄の時
間でTa+Tsとなる。このようにすれば、演算制御装
置はアクセプト信号6を受信することにより半導体記憶
装置の動作状態を判別できるので、各動作状態に対応し
て読出しデータ3の取込みを行なうことができる。各動
作状態に於けるアクセス起動信号1から取込み5データ
5迄の時間を以下に示す。これは演算制御装置のアクセ
スタイムとなる。動作状態ATAMIN=Tc+Ta+
T,+Td= シウO
ア〜従つてこの第2の方法によれば、従来の第1方法に
よる問題点はなくなる訳であるがこの第2の方法では、
装置間インタフェース信号にアクセプト信号6を追加し
なければならず、このアクセプト信号6を発生するアク
セプト発生回路を半導体記憶装置内に設ける必要が生ず
る。
この為アクセプト発生回路追加による信頼度の低下とい
う問題が発生する。またアクセプト信号6を設けること
により、アクセス起動信号1に対する演算制御装置のア
クセスタイムは第1式〜第3式の真中に示すようになり
、アクセプト信号6を使用しない場合の第1式〜第3式
の右に示す式より1項目増加することから、アクセプト
信号6を発生する迄の時間Tcのバラツキが取込みデー
タ5の時間に影響を及ぼし、演算制御装置のアクセスタ
イムのバラツキを増加させる欠点を持つ。そこで、本発
明の目的とするところは、前記の如き従来の問題点を除
去するものであり、アクセプト信号という装置間インタ
ーフェース信号を追加することなく、データ送信装置か
ら送信されてくるデータのみを使用してデータを取込み
得る装置間インタフェース方式を提供することにある。
う問題が発生する。またアクセプト信号6を設けること
により、アクセス起動信号1に対する演算制御装置のア
クセスタイムは第1式〜第3式の真中に示すようになり
、アクセプト信号6を使用しない場合の第1式〜第3式
の右に示す式より1項目増加することから、アクセプト
信号6を発生する迄の時間Tcのバラツキが取込みデー
タ5の時間に影響を及ぼし、演算制御装置のアクセスタ
イムのバラツキを増加させる欠点を持つ。そこで、本発
明の目的とするところは、前記の如き従来の問題点を除
去するものであり、アクセプト信号という装置間インタ
ーフェース信号を追加することなく、データ送信装置か
ら送信されてくるデータのみを使用してデータを取込み
得る装置間インタフェース方式を提供することにある。
この発明では、データ送信装置からの送信データの論理
値をその確定時間帯と不確定時間帯で相j(させておき
、この相異点をデータ受信装置で判ゾlすることにより
送信データの取込みを行なうようにすることを特徴とし
ている。次に本発明の一実施例につき図面を用いて詳細
に説明する。
値をその確定時間帯と不確定時間帯で相j(させておき
、この相異点をデータ受信装置で判ゾlすることにより
送信データの取込みを行なうようにすることを特徴とし
ている。次に本発明の一実施例につき図面を用いて詳細
に説明する。
第3図は本発明の一実施例である装置間インタフェース
方式を使用したデータ処理システムのブロックダイアグ
ラムを示すものである。
方式を使用したデータ処理システムのブロックダイアグ
ラムを示すものである。
第3図において、7は演算制御装置で、半導体記憶装置
8に対し情報の読出し、書込みを起動する。書込みデー
タ71は演算制御装置7から半導体記憶装置8に記憶さ
せる情報である。チェックデータ発生回路72は書込み
データ71に対する書込みチェックデータ721を発生
する回路で、書込みデータ71と書込みチェックデータ
721のうち少なくとも1つは“1゛となるように書込
みチェックデータ721を発生する。このチェックデー
タ発生回路72は従来の演算制御装置で使用されている
奇数パリテイチェック信号発生回路もしくはハミングチ
エツク信号発生回路で代用してもよい。読出しデータ回
路74は半導体記憶装置8からの読出しデータ88と読
出しチェックデータ89を演算制御装置7に取込む機能
を持つ。読出しデーータチエツク回路744は半導体記
憶装置8より読出され読出しデータ88と読出しチェッ
クデータ89に誤りがないかチェックする機能を持ち、
従来の演算制御装置て使用されているパリテイチェック
回路あるいはハミングチエツク回路と同じである。74
1はオアゲート、742は遅延回路743はバツフアゲ
ートで、これの出力は読出しデータが到着したことを示
し、またDタイプエッジトリガフリップフロップ(以下
FFと略す。
8に対し情報の読出し、書込みを起動する。書込みデー
タ71は演算制御装置7から半導体記憶装置8に記憶さ
せる情報である。チェックデータ発生回路72は書込み
データ71に対する書込みチェックデータ721を発生
する回路で、書込みデータ71と書込みチェックデータ
721のうち少なくとも1つは“1゛となるように書込
みチェックデータ721を発生する。このチェックデー
タ発生回路72は従来の演算制御装置で使用されている
奇数パリテイチェック信号発生回路もしくはハミングチ
エツク信号発生回路で代用してもよい。読出しデータ回
路74は半導体記憶装置8からの読出しデータ88と読
出しチェックデータ89を演算制御装置7に取込む機能
を持つ。読出しデーータチエツク回路744は半導体記
憶装置8より読出され読出しデータ88と読出しチェッ
クデータ89に誤りがないかチェックする機能を持ち、
従来の演算制御装置て使用されているパリテイチェック
回路あるいはハミングチエツク回路と同じである。74
1はオアゲート、742は遅延回路743はバツフアゲ
ートで、これの出力は読出しデータが到着したことを示
し、またDタイプエッジトリガフリップフロップ(以下
FFと略す。
)745,746のT入力端子に加えられる。FF74
5,746はT入力端子に加わる信号の“0゛から“1
゛へ変る立上りエッジでそのD入力端子に加わる信号を
セットする機能を持つ。半導体記憶装置8は、リフレッ
シュ回路81、受付制御回路82、タイミング回路83
、アドレス選択回路8牡書込みレジスタ85、半導体記
憶素子86、読出しレジスタ87から構成されている。
5,746はT入力端子に加わる信号の“0゛から“1
゛へ変る立上りエッジでそのD入力端子に加わる信号を
セットする機能を持つ。半導体記憶装置8は、リフレッ
シュ回路81、受付制御回路82、タイミング回路83
、アドレス選択回路8牡書込みレジスタ85、半導体記
憶素子86、読出しレジスタ87から構成されている。
リフレッシュ回路81ではリフレッシュ起動信号2とリ
フレッシュアドレス811を発生する。受付制御回路8
2は演算制御装置7より送信されるアクセス起動信号1
とリフレッシュ回路81からのリフレッシュ起動信号2
が同時に発生した場合、どちらの起動信号を受付けるか
を判断し、この受付け状態を示す受付制御信号821を
出力する。タイミング回路83は半導体記憶素子86を
動作させるのに必要な各種タイミング信号831を発生
させる。アドレス選択回路84は受付制御信号821に
より読出し動作時にはアドレス73を、リフレッシュ動
作時にはリフレッシュアドレス811を選択し、アドレ
ス841として半導体記憶素子86に出力する。書込み
レジスタ85は演算制御装置7より送信される書込みデ
ータ71および書込みチェックデータ721を一時記憶
する機能を持つ。半導体記憶素子86はアドレス841
で指定された番地に書込みデータ851又は書込みチェ
ックデータ852を記憶、またはアドレス841で指定
された番地より読出しデータ861又は読出しチェック
データ862を出力するもので、読出しと書込み動作の
制御をする信号については省略してある。読出しレジス
タ87は半導体記憶素子86より読出された読出しデー
タ861又は読出しチェックデータ862を一時記憶す
る回路で、読出し動作の初期に受付制御信号821の゜
“O゛から゜“1゛への立上りエッジで(全て“0゛に
)リセットされる。なお一般には、書込みデータといえ
ば書込みチェックデータを読出しデータといえば読出し
チェックデータを包含する。第4図は本発明の装置間イ
ンターフェース方式における動作を表わすタイミングチ
ャートてある。
フレッシュアドレス811を発生する。受付制御回路8
2は演算制御装置7より送信されるアクセス起動信号1
とリフレッシュ回路81からのリフレッシュ起動信号2
が同時に発生した場合、どちらの起動信号を受付けるか
を判断し、この受付け状態を示す受付制御信号821を
出力する。タイミング回路83は半導体記憶素子86を
動作させるのに必要な各種タイミング信号831を発生
させる。アドレス選択回路84は受付制御信号821に
より読出し動作時にはアドレス73を、リフレッシュ動
作時にはリフレッシュアドレス811を選択し、アドレ
ス841として半導体記憶素子86に出力する。書込み
レジスタ85は演算制御装置7より送信される書込みデ
ータ71および書込みチェックデータ721を一時記憶
する機能を持つ。半導体記憶素子86はアドレス841
で指定された番地に書込みデータ851又は書込みチェ
ックデータ852を記憶、またはアドレス841で指定
された番地より読出しデータ861又は読出しチェック
データ862を出力するもので、読出しと書込み動作の
制御をする信号については省略してある。読出しレジス
タ87は半導体記憶素子86より読出された読出しデー
タ861又は読出しチェックデータ862を一時記憶す
る回路で、読出し動作の初期に受付制御信号821の゜
“O゛から゜“1゛への立上りエッジで(全て“0゛に
)リセットされる。なお一般には、書込みデータといえ
ば書込みチェックデータを読出しデータといえば読出し
チェックデータを包含する。第4図は本発明の装置間イ
ンターフェース方式における動作を表わすタイミングチ
ャートてある。
時刻ちから時刻T,O迄は第1図に示した動作状態aと
同じで、アクセス起動信号1が半導体記憶装置8に送信
され直ちに読出し動作を実行できるノ動作状態を示し、
時刻TlOから時刻T2l以後は第1図に示した動作状
態Cと同じで、アクセス起動信号1とリフレッシュ起動
信号2が同時に発生し、時刻TlOから時刻Tl4迄の
間にリフレッシュ動作を実行し、時刻Tl4以後に読出
し動作を実行する。″ まず時刻ちにアクセス起動信号
1が半導体記憶装置8に送信されると、リフレッシュ起
動信号2が発生しておらず、かつリフレッシュ動作を実
行していない為直ちに受付制御回路82で受付けられ、
時刻T2に受付制御信号821を゜゜1゛にすクる。受
付制御信号821は読出しレジスタ87に送信されて読
出しレジスタに一時記憶されている過去のデータをリセ
ットすると同時に、タイミング回路83に送信され読出
し動作に必要な各種のタイミング信号831を発生させ
、それを半導体記憶素子86に送信させる。半導体記憶
素子86は時刻ちに読出しデータ861および読出しチ
ェックデータ862を出力する。ここで読出しデータ8
61ぱ4F′、読出しチェックデータ862は“0゛と
する。この読出しデータ861および読出しチェックデ
ータ862は時亥!It6で読出しレジスタ87にセッ
トされ演算制御装置7に送付される。読出しデータ回路
74に送信された読出しデータ88および読出しチェッ
クデータ89はFF745,746のD入力端子に送信
されると共に、オアゲート741に加わりオアをとられ
る。読出しデータ88と読出しチェックデータ89は正
しく読出されていれば、これらのうち少なくとも1つは
“゜F゛であり、従つてオアゲート741の出力は“゜
1゛となる。この出力は遅延回路742、バツフアゲー
ト743を経由して時刻T7にFF745,746のT
入力端子に゜60″から“l゛への立上りエッジのある
信号を加える。さらにまた演算制御装置内の他の回路に
読出しデータが到着したことを連絡する。これにより読
出しデータ88および読出しチェックデータ89は時刻
T8にセットされFF745,746の゜゜1゛出力端
子に出力される。時刻T8にタイミング信号831がオ
フとなり時刻TlOで読出し動作は終了する。時刻ち。
同じで、アクセス起動信号1が半導体記憶装置8に送信
され直ちに読出し動作を実行できるノ動作状態を示し、
時刻TlOから時刻T2l以後は第1図に示した動作状
態Cと同じで、アクセス起動信号1とリフレッシュ起動
信号2が同時に発生し、時刻TlOから時刻Tl4迄の
間にリフレッシュ動作を実行し、時刻Tl4以後に読出
し動作を実行する。″ まず時刻ちにアクセス起動信号
1が半導体記憶装置8に送信されると、リフレッシュ起
動信号2が発生しておらず、かつリフレッシュ動作を実
行していない為直ちに受付制御回路82で受付けられ、
時刻T2に受付制御信号821を゜゜1゛にすクる。受
付制御信号821は読出しレジスタ87に送信されて読
出しレジスタに一時記憶されている過去のデータをリセ
ットすると同時に、タイミング回路83に送信され読出
し動作に必要な各種のタイミング信号831を発生させ
、それを半導体記憶素子86に送信させる。半導体記憶
素子86は時刻ちに読出しデータ861および読出しチ
ェックデータ862を出力する。ここで読出しデータ8
61ぱ4F′、読出しチェックデータ862は“0゛と
する。この読出しデータ861および読出しチェックデ
ータ862は時亥!It6で読出しレジスタ87にセッ
トされ演算制御装置7に送付される。読出しデータ回路
74に送信された読出しデータ88および読出しチェッ
クデータ89はFF745,746のD入力端子に送信
されると共に、オアゲート741に加わりオアをとられ
る。読出しデータ88と読出しチェックデータ89は正
しく読出されていれば、これらのうち少なくとも1つは
“゜F゛であり、従つてオアゲート741の出力は“゜
1゛となる。この出力は遅延回路742、バツフアゲー
ト743を経由して時刻T7にFF745,746のT
入力端子に゜60″から“l゛への立上りエッジのある
信号を加える。さらにまた演算制御装置内の他の回路に
読出しデータが到着したことを連絡する。これにより読
出しデータ88および読出しチェックデータ89は時刻
T8にセットされFF745,746の゜゜1゛出力端
子に出力される。時刻T8にタイミング信号831がオ
フとなり時刻TlOで読出し動作は終了する。時刻ち。
でアクセス起動信号1とリフレッシュ起動信号2が同時
に受付制御回路82に加わると、受付制御回路82では
先にリフレッシュ起動信号2を先に受付け受付制御信号
821を゜゛0゛にし、タイミング回路83とアドレス
選択回路834に送信し、半導体記憶素子86のリフレ
ッシュ動作を実行する。このリフレッシュ動作では、一
般の半導体記憶素子は読出しデータを出力しないように
なつており、読出しデータ861と読出しチェックデー
タ862は“゜0゛レベルとなつてい3る。もしくは出
力されても読出しレジスタを書替えしないので演算制御
装置7に送信される読出しデータ88と読出しチェック
データ89に切替りエッジは存在しない。従つて読出し
データ回路74のオアゲート741の出力ば0゛レベル
状態4(を保ち、゜゛1゛への立上りエッジがない為F
F745,746の状態は変らない。時刻TlOからリ
フレッシュ動作に必要な時間TR経過後の時刻Tl4で
は、TlOより待たされていたアクセス起動信号1を受
付け、以後はt1からの動作と同じ動作を行なう。すな
わち時亥11t15で残存していた読出しデータ88を
“6r゛から“6『゛にリセットして全て゛0゛の状態
にし、時刻Tl8で読出しデータ86S1、読出しチェ
ックデータ862が出力される。この楊合、読出しデー
タを“゜0゛とすると読出しチェックデータは“゜1゛
であり、これにより時刻T2Oでのバツフアゲート74
3の出力信号に6゜0゛2から66r゛の立上りエッジ
を生じさせるたθめに読出しデータ回路74に読出しデ
ータをセットできる。以上述べたごとく、時刻ちから時
刻TlO迄の動作状態aでは、演算制御装置側からみた
アクセスタイムは、TAュ、=Taa+T,+Tdl時
刻TlOからの7動作状態cでは、T,AMAX=TR
+Taa+Ts+Tdとなり、動作状態に対応したアク
セスタイムマ読出しデータの取込みが可能となつている
。
に受付制御回路82に加わると、受付制御回路82では
先にリフレッシュ起動信号2を先に受付け受付制御信号
821を゜゛0゛にし、タイミング回路83とアドレス
選択回路834に送信し、半導体記憶素子86のリフレ
ッシュ動作を実行する。このリフレッシュ動作では、一
般の半導体記憶素子は読出しデータを出力しないように
なつており、読出しデータ861と読出しチェックデー
タ862は“゜0゛レベルとなつてい3る。もしくは出
力されても読出しレジスタを書替えしないので演算制御
装置7に送信される読出しデータ88と読出しチェック
データ89に切替りエッジは存在しない。従つて読出し
データ回路74のオアゲート741の出力ば0゛レベル
状態4(を保ち、゜゛1゛への立上りエッジがない為F
F745,746の状態は変らない。時刻TlOからリ
フレッシュ動作に必要な時間TR経過後の時刻Tl4で
は、TlOより待たされていたアクセス起動信号1を受
付け、以後はt1からの動作と同じ動作を行なう。すな
わち時亥11t15で残存していた読出しデータ88を
“6r゛から“6『゛にリセットして全て゛0゛の状態
にし、時刻Tl8で読出しデータ86S1、読出しチェ
ックデータ862が出力される。この楊合、読出しデー
タを“゜0゛とすると読出しチェックデータは“゜1゛
であり、これにより時刻T2Oでのバツフアゲート74
3の出力信号に6゜0゛2から66r゛の立上りエッジ
を生じさせるたθめに読出しデータ回路74に読出しデ
ータをセットできる。以上述べたごとく、時刻ちから時
刻TlO迄の動作状態aでは、演算制御装置側からみた
アクセスタイムは、TAュ、=Taa+T,+Tdl時
刻TlOからの7動作状態cでは、T,AMAX=TR
+Taa+Ts+Tdとなり、動作状態に対応したアク
セスタイムマ読出しデータの取込みが可能となつている
。
なお第3図、第4図は説明を簡単にする為に、読出しデ
ータ861のビット数を1としている。
ータ861のビット数を1としている。
ビット数を増加した場合は第3図のオアゲート741は
2入力から多入力になる。さて、上記実施例では、書込
みデータと読出しデータのチェックデータ発生回路、読
出しデータチェック回路を演算制御装置のみに設けてあ
るが、これらの回路を半導体記憶装置に内蔵、もしくは
両装置に内蔵させていても良い。
2入力から多入力になる。さて、上記実施例では、書込
みデータと読出しデータのチェックデータ発生回路、読
出しデータチェック回路を演算制御装置のみに設けてあ
るが、これらの回路を半導体記憶装置に内蔵、もしくは
両装置に内蔵させていても良い。
また読出しデータ回路74において、読出しデータチェ
ック回路744は読出しデータ88と読出しチェックデ
ータ89とのパリテイチェックあるいはハミングチエツ
クを行なつており、この読出しデータチェック回路74
4の出力をFF745,746のT入力に加えることに
して、オアゲート741からバツフアゲート743まで
の径路を省略することも可能である。
ック回路744は読出しデータ88と読出しチェックデ
ータ89とのパリテイチェックあるいはハミングチエツ
クを行なつており、この読出しデータチェック回路74
4の出力をFF745,746のT入力に加えることに
して、オアゲート741からバツフアゲート743まで
の径路を省略することも可能である。
また読出しデータ回路74のFF745,746は、読
出しデータの使用後リセットする方法にしておけば、D
,T入力端子を使用することなく、セット入力端子Sと
リセット入力端子Rのみを使用し、読出しデータ88、
読出しチェックデータ89ををS入力に直接送信しで゜
1゛がきたらセットするようにしてもよい。
出しデータの使用後リセットする方法にしておけば、D
,T入力端子を使用することなく、セット入力端子Sと
リセット入力端子Rのみを使用し、読出しデータ88、
読出しチェックデータ89ををS入力に直接送信しで゜
1゛がきたらセットするようにしてもよい。
このとき読出しアータが演算制御装置7に送信されたこ
とを判別rる為、オアゲート741からバツフアゲート
743までの径路は必要である。また読出しレジスタ8
7のリセットを読出し動作の初期に行なつているが、こ
れを読出しデータ88、読出しチェックデータ89の送
出後の読出し動作の終了時刻に行なつても良い。
とを判別rる為、オアゲート741からバツフアゲート
743までの径路は必要である。また読出しレジスタ8
7のリセットを読出し動作の初期に行なつているが、こ
れを読出しデータ88、読出しチェックデータ89の送
出後の読出し動作の終了時刻に行なつても良い。
また読出しデータが確定していない時間帯は読出しデー
タを全て“0゛の状態としているが、これを全て゜゜1
゛の状態にしても良く にの場合はオアケート741を
排他的オアゲートとする必要がある。
タを全て“0゛の状態としているが、これを全て゜゜1
゛の状態にしても良く にの場合はオアケート741を
排他的オアゲートとする必要がある。
)要は読出しデータの確定している時間帯と確定してい
ない時間帯の判別がつくような意味を持たせて、読出し
データの値を決めれば良い。以上述べたごとき方式であ
るから本発明にあつては、次の如き効果が得られる。
ない時間帯の判別がつくような意味を持たせて、読出し
データの値を決めれば良い。以上述べたごとき方式であ
るから本発明にあつては、次の如き効果が得られる。
1装置間インタフェース信号である読出しデータ(読出
しチェックデータを含む)を、読出しデータの確定時間
帯と不確定時間帯で相異させ、この相異をオアゲートて
判別するだけで半導体記憶装置の動作状態を判別できる
ので、動作状態に対応した無駄のないアクセスタイムで
記憶システムを動作させることができる効果をもつ。
しチェックデータを含む)を、読出しデータの確定時間
帯と不確定時間帯で相異させ、この相異をオアゲートて
判別するだけで半導体記憶装置の動作状態を判別できる
ので、動作状態に対応した無駄のないアクセスタイムで
記憶システムを動作させることができる効果をもつ。
2半導体記憶装置の動作状態を読出しデータのみを使用
して判別しており、特に装置間インタフェース信号を追
加していないので、信頼度の低下を招くことはない効果
をもつ。
して判別しており、特に装置間インタフェース信号を追
加していないので、信頼度の低下を招くことはない効果
をもつ。
第1図および第2図は、従来の装置間インタフェース方
式での動作を示すタイミングチャートを示す。 第3図は、本発明の一実施例てある装置間インタフェー
ス方式を使用したデータ処理システムの構成を示すブロ
ックダイアグラムである。第4図は、本発明の一実施例
である装置間インタフェース方式での動作を示すタイミ
ングチャートである。第3,4図において、1・・・ア
クセス起動信号、2・・・リフレッシュ起動信号、7・
・・演算制御装置、8・・・半導体記憶装置、821・
・・受付制御信号、831・・・タイミング信号、84
・・・アドレス選択回路、85・・・書込みレジスタ、
86・・・半導体記憶素子、87・・・読出しレジスタ
、88,861・・・読出しデータ、89,862・・
・読出しチエツクデー1夕、74・・・読出しデータ回
路、741・・・オアゲート、742・・・遅延回路、
743・・・バツフアゲート、744・・・読出しデー
タチェック回路、745,746・・・FF。
式での動作を示すタイミングチャートを示す。 第3図は、本発明の一実施例てある装置間インタフェー
ス方式を使用したデータ処理システムの構成を示すブロ
ックダイアグラムである。第4図は、本発明の一実施例
である装置間インタフェース方式での動作を示すタイミ
ングチャートである。第3,4図において、1・・・ア
クセス起動信号、2・・・リフレッシュ起動信号、7・
・・演算制御装置、8・・・半導体記憶装置、821・
・・受付制御信号、831・・・タイミング信号、84
・・・アドレス選択回路、85・・・書込みレジスタ、
86・・・半導体記憶素子、87・・・読出しレジスタ
、88,861・・・読出しデータ、89,862・・
・読出しチエツクデー1夕、74・・・読出しデータ回
路、741・・・オアゲート、742・・・遅延回路、
743・・・バツフアゲート、744・・・読出しデー
タチェック回路、745,746・・・FF。
Claims (1)
- 1 データ送信装置において送信データの論理値を当該
データの確定時間帯と不確定時間帯で相異するように構
成し、またデータ受信装置において前記時間帯の相異を
検出することにより送信データの確定時刻を検出して送
信データの取込みを行なうようにしたことを特徴とする
装置間インタフェース方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53028685A JPS6048076B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | 装置間インタフェ−ス方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP53028685A JPS6048076B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | 装置間インタフェ−ス方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54121630A JPS54121630A (en) | 1979-09-20 |
JPS6048076B2 true JPS6048076B2 (ja) | 1985-10-25 |
Family
ID=12255334
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53028685A Expired JPS6048076B2 (ja) | 1978-03-15 | 1978-03-15 | 装置間インタフェ−ス方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6048076B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6252871U (ja) * | 1985-09-20 | 1987-04-02 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4831594A (en) * | 1986-09-25 | 1989-05-16 | Texas Instrument, Inc. | Process and device for refreshing an array of dynamic memory cells during precharge of the column lines |
-
1978
- 1978-03-15 JP JP53028685A patent/JPS6048076B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6252871U (ja) * | 1985-09-20 | 1987-04-02 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS54121630A (en) | 1979-09-20 |
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