JPS6039781A - 導通チエツク検査ソケツト - Google Patents

導通チエツク検査ソケツト

Info

Publication number
JPS6039781A
JPS6039781A JP58147739A JP14773983A JPS6039781A JP S6039781 A JPS6039781 A JP S6039781A JP 58147739 A JP58147739 A JP 58147739A JP 14773983 A JP14773983 A JP 14773983A JP S6039781 A JPS6039781 A JP S6039781A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
product
socket
continuity check
socket body
contact piece
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58147739A
Other languages
English (en)
Inventor
高市 進
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58147739A priority Critical patent/JPS6039781A/ja
Publication of JPS6039781A publication Critical patent/JPS6039781A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、複写機関係のヘッド部の導通チェックをする
際、チェック個所にキズを付けずに検査できる装置に関
するものである。
従来例の構成とその問題点 従来の導通チェック方法は、第1図に具体構成を示すよ
うに、ソケット本体3に一定のピッチで組込れたスプリ
ング形状の接触片2に上から、製品1を差し込んで導通
チェックを行なっていた・しかし、この方法では、製品
1がソケット本体3に差し込まれる際、接触片2と、こ
すられる為に表面にキズが付く事と、ソケット本体3に
製品1を強く押し込まないと入いらないという欠点を有
していた。
発明の目的 本発明は上記の欠点を解消して製品の品質確保を図りつ
つ導通チェックをするソケットを提供するものである。
発明の構成 本発明は、接触片が組込まれているソケット本体と、製
品を押える押え板を別にしており、これによシ、押え板
を開けておくと、製品をソケット本体に簡単に差し込む
ことができるようにしたものである。又、押え板にて製
品を接触片にて押し当てる為、製品の接触面にキズがつ
かないという特有の効果がある。
実施例の説明 以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。第4図において、3は絶縁体のソケット本体、
2はソケット本体3に一定のピッチで組込捷れだスプリ
ング接触片、1は製品、6はソケット本体を固定するブ
ラケット、6は製品1を一定の設定力で接触片2に押し
付ける押え板、4は押え板6に取シ付けた絶縁板、7は
製品1を接触片に押え板6にて押し付けるスプリング、
10はソケット本体を支点にして、押え板6が開閉する
支点軸、9は押え板6を開閉させる開閉軸、8はスプリ
ング70強弱を調整できるネジである。
そして、前記開閉軸9は、押え板6が開いた状態でロッ
クできる機構を備えている為、簡単に製品1がソケット
本体3に挿入することができる。そして、開閉軸9を長
くすることにより、導通ソケットユニットの連数を増す
ことができる。なおブラケット3とソケット本体3は一
体化してもよい。
まだ、押え板6を押し付けているスプリングの変りに、
押え板6に外部からカを加えてもよい。
発明の効果 このように本発明は製品の導通チェックを検査する際、
押え板が開いている為、接触片にてキズが付くことなく
簡単に挿入できる。そして、押え板を閉じて検査後、開
ける事により簡単に製品の取シはずしができる為、検査
所要時間の短縮化をはかることができ、その効果は、き
わめて大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の検査ソケットの断面図、第2図は同平面
図である。第3図は被検査用製品の一例であるフレキシ
ブル配線基板の平面図である。第4図は本発明の一実施
例における検査ソケットの断面図、第5図は同実施例に
おける検査ソケットの平面図、第6図は第5図の左側面
図である。 1・・・・・・製品、2・・・・−接触片、3・・・・
ソケット本体、5・・・・・・押え板、7〜1o・・・
・・開閉機構。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第2
図 @3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 一定のピッチからな9たっスプリング形状の接触片を取
    り付けるソケット本体と、製品を接触片に押し付ける押
    え板と、この押え板を開閉させる機構とを備えた導通チ
    ェック検査ソケット。
JP58147739A 1983-08-11 1983-08-11 導通チエツク検査ソケツト Pending JPS6039781A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58147739A JPS6039781A (ja) 1983-08-11 1983-08-11 導通チエツク検査ソケツト

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58147739A JPS6039781A (ja) 1983-08-11 1983-08-11 導通チエツク検査ソケツト

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6039781A true JPS6039781A (ja) 1985-03-01

Family

ID=15437044

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58147739A Pending JPS6039781A (ja) 1983-08-11 1983-08-11 導通チエツク検査ソケツト

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6039781A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000340325A (ja) 電気部品用ソケット
JPS6039781A (ja) 導通チエツク検査ソケツト
JP3722321B2 (ja) 検査治具
JPS61196170A (ja) スプリングコンタクトプロ−ブ
KR0142706B1 (ko) 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓
KR950006473A (ko) Ic핸들러에 있어서의 스페이싱 프레임 구조
JPS5937862A (ja) 小型モ−タ−のプ−リ−取付方法
KR0119741Y1 (ko) 반도체 디바이스 테스트용 소켓
JPH1151833A (ja) 引張試験用クランプ治具
JPH0694790A (ja) 電子部品の検査装置
JPS5923657U (ja) 超音波探触子装置
JPH01295183A (ja) 治具接続装置と接続手段
JP3135884B2 (ja) 回路基板検査装置のテストヘッド
JPH0653368A (ja) Icソケット
JP3454129B2 (ja) 半導体デバイスのリード端子接触方法およびソケット
JPS5947865U (ja) 超音波探傷装置
JPH0712889A (ja) 半導体検査装置
JPH01216279A (ja) Icの検査用ピン接続装置
JPS6130220Y2 (ja)
JPS5846146U (ja) 疲労試験装置
JPS6035271U (ja) 接続ボ−ドのフレキシブル継手機構
JPS6348165U (ja)
JPS6027377U (ja) 回路ユニツト検査用触針装置
JPS61294898A (ja) 部品保持装置
JPH0618612A (ja) 半導体検査方法