JP3135884B2 - 回路基板検査装置のテストヘッド - Google Patents
回路基板検査装置のテストヘッドInfo
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- JP3135884B2 JP3135884B2 JP10079630A JP7963098A JP3135884B2 JP 3135884 B2 JP3135884 B2 JP 3135884B2 JP 10079630 A JP10079630 A JP 10079630A JP 7963098 A JP7963098 A JP 7963098A JP 3135884 B2 JP3135884 B2 JP 3135884B2
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶パネルやＩＣ
等の回路基板を検査するための回路基板検査装置のテス
トヘッドに係り、とりわけ、コイルばねによって検査対
象物側へ付勢される接触ピンを備えた回路基板検査装置
のテストヘッドに関する。
等の回路基板を検査するための回路基板検査装置のテス
トヘッドに係り、とりわけ、コイルばねによって検査対
象物側へ付勢される接触ピンを備えた回路基板検査装置
のテストヘッドに関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、コイルばねによって検査対象物側
へ付勢される接触ピンを備えた回路基板検査装置のテス
トヘッドとしては、図１０又は図１１に示すような接触
ピン部分の構造を有するものが知られている（特開平６
−２０１７２５号公報、実開平６−５６７７９号公報
等）。
へ付勢される接触ピンを備えた回路基板検査装置のテス
トヘッドとしては、図１０又は図１１に示すような接触
ピン部分の構造を有するものが知られている（特開平６
−２０１７２５号公報、実開平６−５６７７９号公報
等）。
【０００３】図１０に示す回路基板検査装置のテストヘ
ッドは、接触ピン部分において、上下一対の導電性接触
ピン９１, ９２と、導電性コイルばね９３と、これらを
保持する絶縁性本体９４とを備えている。この本体９４
は、中間絶縁体９７と、この中間絶縁体９７の上下に分
離可能に積層締結された上側絶縁体９８及び下側絶縁体
９９とから構成されている。このうち、中間絶縁体９７
には支持孔９７ａが形成され、上側及び下側絶縁体９
８, ９９には、それぞれ支持孔９７ａより若干縮径され
た開口部９８ａ, ９９ａが形成されている。
ッドは、接触ピン部分において、上下一対の導電性接触
ピン９１, ９２と、導電性コイルばね９３と、これらを
保持する絶縁性本体９４とを備えている。この本体９４
は、中間絶縁体９７と、この中間絶縁体９７の上下に分
離可能に積層締結された上側絶縁体９８及び下側絶縁体
９９とから構成されている。このうち、中間絶縁体９７
には支持孔９７ａが形成され、上側及び下側絶縁体９
８, ９９には、それぞれ支持孔９７ａより若干縮径され
た開口部９８ａ, ９９ａが形成されている。
【０００４】また、各接触ピン９１, ９２は、それぞれ
開口部９８ａ, ９９ａを貫通する針状体９１ａ, ９２ａ
と、針状体９１ａ, ９２ａより拡径された胴体部９１
ｂ, ９２ｂと、胴体部９１ｂ, ９２ｂから内側に突出す
るばね受け部９１ｃ, ９２ｃとを有している。この場
合、各接触ピン９１, ９２の胴体部９１ｂ, ９２ｂは、
支持孔９７ａ内に軸線方向に摺動自在に支持されると共
に、上側及び下側絶縁体９８, ９９によって抜け止めさ
れている。
開口部９８ａ, ９９ａを貫通する針状体９１ａ, ９２ａ
と、針状体９１ａ, ９２ａより拡径された胴体部９１
ｂ, ９２ｂと、胴体部９１ｂ, ９２ｂから内側に突出す
るばね受け部９１ｃ, ９２ｃとを有している。この場
合、各接触ピン９１, ９２の胴体部９１ｂ, ９２ｂは、
支持孔９７ａ内に軸線方向に摺動自在に支持されると共
に、上側及び下側絶縁体９８, ９９によって抜け止めさ
れている。
【０００５】また、支持孔９７ａ内において、両接触ピ
ン９１, ９２同士の間に、両者９１, ９２を軸線方向外
側へ付勢するコイルばね９３が介設されている。両接触
ピン９１, ９２はまた、コイルばね９３によって電気的
に接続されている。
ン９１, ９２同士の間に、両者９１, ９２を軸線方向外
側へ付勢するコイルばね９３が介設されている。両接触
ピン９１, ９２はまた、コイルばね９３によって電気的
に接続されている。
【０００６】そして、この回路基板検査装置のテストヘ
ッドは、両接触ピン９１, ９２を、所定の検査手段との
電気的接続部（フレキシブルプリント基板等）、及び被
検査物に対して、それぞれ弾発的に接触させた状態で、
回路検査を行うように構成されている。
ッドは、両接触ピン９１, ９２を、所定の検査手段との
電気的接続部（フレキシブルプリント基板等）、及び被
検査物に対して、それぞれ弾発的に接触させた状態で、
回路検査を行うように構成されている。
【０００７】また、図１１に示す回路基板検査装置のテ
ストヘッドは、接触ピン部分において、図１０に示す上
側接触ピン９１に代えて、コイルばね９３の上部から上
側絶縁体９８の開口部９８ａを貫通して延びるピン状延
長部９５を設けたものであり、その他の構成は図１０に
示すものと同様である。
ストヘッドは、接触ピン部分において、図１０に示す上
側接触ピン９１に代えて、コイルばね９３の上部から上
側絶縁体９８の開口部９８ａを貫通して延びるピン状延
長部９５を設けたものであり、その他の構成は図１０に
示すものと同様である。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述したような従来の
回路基板検査装置のテストヘッドには、以下のような問
題点がある。すなわち、接触ピン９１, ９２に曲がりや
磨耗等の、またコイルばね９３にへたり等の不具合が発
生し、いずれかを単独で点検・交換する必要が生じた場
合、その点検・交換作業がかなり煩雑なものとる。
回路基板検査装置のテストヘッドには、以下のような問
題点がある。すなわち、接触ピン９１, ９２に曲がりや
磨耗等の、またコイルばね９３にへたり等の不具合が発
生し、いずれかを単独で点検・交換する必要が生じた場
合、その点検・交換作業がかなり煩雑なものとる。
【０００９】例えば、図１０に示すものでは、下側接触
ピン９２を点検・交換しようとする場合、本体９４の中
間絶縁体９７から下側絶縁体９９を取り外し、支持孔９
７ａから下側接触ピン９２を抜き出すが、その際、コイ
ルばね９３及び上側接触ピン９１も一緒に抜け落ちてし
まう。また、コイルばね９３を点検・交換しようとする
場合も、少なくとも接触ピン９１, ９２の一方を一緒に
抜き出す必要がある。
ピン９２を点検・交換しようとする場合、本体９４の中
間絶縁体９７から下側絶縁体９９を取り外し、支持孔９
７ａから下側接触ピン９２を抜き出すが、その際、コイ
ルばね９３及び上側接触ピン９１も一緒に抜け落ちてし
まう。また、コイルばね９３を点検・交換しようとする
場合も、少なくとも接触ピン９１, ９２の一方を一緒に
抜き出す必要がある。
【００１０】また、図１１に示すものでは、同様のやり
方で接触ピン９２を点検・交換しようとする場合、コイ
ルばね９３が一緒に抜け落ちてしまう。一方、中間絶縁
体９７から上側絶縁体９８を取り外してコイルばね９３
を点検・交換する場合は、コイルばね９３のみ抜き出す
ことは可能である（両者９２, ９３が互いに係止又は固
着されている場合を除く）。しかし、図１１に示す構造
を上下逆向きに用いる場合もあり、その場合は、コイル
ばね９３と一緒に接触ピン９２も抜け落ちてしまう。
方で接触ピン９２を点検・交換しようとする場合、コイ
ルばね９３が一緒に抜け落ちてしまう。一方、中間絶縁
体９７から上側絶縁体９８を取り外してコイルばね９３
を点検・交換する場合は、コイルばね９３のみ抜き出す
ことは可能である（両者９２, ９３が互いに係止又は固
着されている場合を除く）。しかし、図１１に示す構造
を上下逆向きに用いる場合もあり、その場合は、コイル
ばね９３と一緒に接触ピン９２も抜け落ちてしまう。
【００１１】本発明は、このような点を考慮してなされ
たものであり、接触ピンとコイルばねのいずれか一方を
内部に保持したままで、他方を容易に点検・交換するこ
とのできるような回路基板検査装置のテストヘッドを提
供することを目的とする。
たものであり、接触ピンとコイルばねのいずれか一方を
内部に保持したままで、他方を容易に点検・交換するこ
とのできるような回路基板検査装置のテストヘッドを提
供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】第１の手段は、先端部を
被検査物に接触させるための導電性の接触ピンと、この
接触ピンの基端部に対してその一端が接触し、前記接触
ピンを軸線方向に前記被検査物側へ付勢する導電性のコ
イルばねと、このコイルばねを所定の検査手段に対して
電気的に接続するための接続手段と、順次分離可能に積
層締結されたピンブロック、ばねブロック及び背面ブロ
ックを有し、前記被検査物に対して前記接触ピンの軸線
方向に相対的に離接可能となった絶縁性のブロック部と
を備え、前記ブロック部のピンブロックは、前記接触ピ
ンを軸線方向に摺動自在かつ前記ばねブロックに対応す
る側からのみ挿脱可能に保持するピン保持孔を有し、前
記ブロック部のばねブロックは、前記コイルばねを前記
背面ブロックに対応する側からのみ挿脱可能に収納する
ばね収納孔を有することを特徴とする回路基板検査装置
のテストヘッドである。
被検査物に接触させるための導電性の接触ピンと、この
接触ピンの基端部に対してその一端が接触し、前記接触
ピンを軸線方向に前記被検査物側へ付勢する導電性のコ
イルばねと、このコイルばねを所定の検査手段に対して
電気的に接続するための接続手段と、順次分離可能に積
層締結されたピンブロック、ばねブロック及び背面ブロ
ックを有し、前記被検査物に対して前記接触ピンの軸線
方向に相対的に離接可能となった絶縁性のブロック部と
を備え、前記ブロック部のピンブロックは、前記接触ピ
ンを軸線方向に摺動自在かつ前記ばねブロックに対応す
る側からのみ挿脱可能に保持するピン保持孔を有し、前
記ブロック部のばねブロックは、前記コイルばねを前記
背面ブロックに対応する側からのみ挿脱可能に収納する
ばね収納孔を有することを特徴とする回路基板検査装置
のテストヘッドである。
【００１３】この第１の手段によれば、ブロック部から
ピンブロックのみを分離することで、ブロック部内にコ
イルばねを保持したまま、ピンブロックのばねブロック
に対応する側において、ピン保持孔から接触ピンを挿脱
することができる。また、ブロック部から背面ブロック
を分離することで、ばねブロックの背面ブロックに対応
する側において、ばね収納孔からコイルばねを挿脱する
ことができる。
ピンブロックのみを分離することで、ブロック部内にコ
イルばねを保持したまま、ピンブロックのばねブロック
に対応する側において、ピン保持孔から接触ピンを挿脱
することができる。また、ブロック部から背面ブロック
を分離することで、ばねブロックの背面ブロックに対応
する側において、ばね収納孔からコイルばねを挿脱する
ことができる。
【００１４】第２の手段は、第１の手段において、前記
接触ピンは、大径部と、この大径部から基端側へ延び前
記大径部よりも径の小さい基端側小径部とを有し、前記
ばねブロックにおいて、前記ばね収納孔の前記ピンブロ
ックに対応する側にピン貫入孔が形成され、このピン貫
入孔は、前記接触ピンの基端側小径部を通し前記接触ピ
ンの大径部及び前記コイルばねを通さない大きさの内径
を有するものである。
接触ピンは、大径部と、この大径部から基端側へ延び前
記大径部よりも径の小さい基端側小径部とを有し、前記
ばねブロックにおいて、前記ばね収納孔の前記ピンブロ
ックに対応する側にピン貫入孔が形成され、このピン貫
入孔は、前記接触ピンの基端側小径部を通し前記接触ピ
ンの大径部及び前記コイルばねを通さない大きさの内径
を有するものである。
【００１５】この第２の手段によれば、第１の手段にお
いて、ブロック部から背面ブロックを分離しても、ばね
ブロックのばね収納孔を通して接触ピンが抜け出ること
はないので、ブロック部から背面ブロックのみを分離す
ることで、ブロック部内に接触ピンを完全に保持したま
ま、ばねブロックの背面ブロックに対応する側におい
て、ばね収納孔からコイルばねを挿脱することができ
る。
いて、ブロック部から背面ブロックを分離しても、ばね
ブロックのばね収納孔を通して接触ピンが抜け出ること
はないので、ブロック部から背面ブロックのみを分離す
ることで、ブロック部内に接触ピンを完全に保持したま
ま、ばねブロックの背面ブロックに対応する側におい
て、ばね収納孔からコイルばねを挿脱することができ
る。
【００１６】第３の手段は、第１又は第２の手段におい
て、前記接続手段を、前記ばねブロックと前記背面ブロ
ックとの間に挟持される回路基板としたものである。
て、前記接続手段を、前記ばねブロックと前記背面ブロ
ックとの間に挟持される回路基板としたものである。
【００１７】この第３の手段によれば、第１又は第２の
手段において、ばねブロックから背面ブロックを分離す
ることで、容易に接続手段としての回路基板を取り外し
て点検・交換することができる。
手段において、ばねブロックから背面ブロックを分離す
ることで、容易に接続手段としての回路基板を取り外し
て点検・交換することができる。
【００１８】第４の手段は、第１又は第２の手段におい
て、前記接続手段を、各コイルばねに対応して前記背面
ブロックを貫通すると共に、前記背面ブロックの前記ば
ねブロックに対応する側からのみ挿脱可能となった受け
ピンワイヤとしたものである。
て、前記接続手段を、各コイルばねに対応して前記背面
ブロックを貫通すると共に、前記背面ブロックの前記ば
ねブロックに対応する側からのみ挿脱可能となった受け
ピンワイヤとしたものである。
【００１９】この第４の手段によれば、第１又は第２の
手段において、ばねブロックから背面ブロックを分離し
て、受けピンワイヤを背面ブロックのばねブロックに対
応する側から挿脱することにより、接続手段としての受
けピンワイヤを容易に点検・交換するとができる。ま
た、各受けピンワイヤを個別に挿脱することができるの
で、特定の接触ピン及びコイルばねに対応する接続手段
毎に、必要に応じた点検・交換を行うことができる。
手段において、ばねブロックから背面ブロックを分離し
て、受けピンワイヤを背面ブロックのばねブロックに対
応する側から挿脱することにより、接続手段としての受
けピンワイヤを容易に点検・交換するとができる。ま
た、各受けピンワイヤを個別に挿脱することができるの
で、特定の接触ピン及びコイルばねに対応する接続手段
毎に、必要に応じた点検・交換を行うことができる。
【００２０】第５の手段は、第４の手段において、前記
受けピンワイヤは、前記コイルばねの他端に接触する円
盤状受け部と、この受け部に繋がるワイヤ部とを有する
と共に、このワイヤ部は、前記受け部の外径より小さい
外径を有し、前記背面ブロックは、前記受けピンワイヤ
の受け部とワイヤ部とにそれぞれ対応する、ばねブロッ
ク側凹部とワイヤ貫通孔とを有するものである。
受けピンワイヤは、前記コイルばねの他端に接触する円
盤状受け部と、この受け部に繋がるワイヤ部とを有する
と共に、このワイヤ部は、前記受け部の外径より小さい
外径を有し、前記背面ブロックは、前記受けピンワイヤ
の受け部とワイヤ部とにそれぞれ対応する、ばねブロッ
ク側凹部とワイヤ貫通孔とを有するものである。
【００２１】第６の手段は、第１乃至第５の手段のいず
れかにおいて、前記接触ピンを中実構造としたものであ
る。
れかにおいて、前記接触ピンを中実構造としたものであ
る。
【００２２】
【発明の実施の形態】次に、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。図１乃至図９は本発明によ
る回路基板検査装置のテストヘッドの実施の形態を示す
図である。
施の形態について説明する。図１乃至図９は本発明によ
る回路基板検査装置のテストヘッドの実施の形態を示す
図である。
【００２３】［第１の実施形態］まず、図１乃至図６に
より本発明の第１の実施形態について説明する。図１に
おいて、回路基板検査装置のテストヘッドＨは、先端部
を被検査物Ａに接触させるための複数の導電性接触ピン
１（図２参照）と、これらの接触ピン１を保持するピン
ブロック５を含むブロック部４とを備えている。このブ
ロック部４は、その上部に取付けられた押さえブロック
Ｂと共に、被検査物Ａに対して接触ピン１の軸線方向に
相対的に離接可能となっている。
より本発明の第１の実施形態について説明する。図１に
おいて、回路基板検査装置のテストヘッドＨは、先端部
を被検査物Ａに接触させるための複数の導電性接触ピン
１（図２参照）と、これらの接触ピン１を保持するピン
ブロック５を含むブロック部４とを備えている。このブ
ロック部４は、その上部に取付けられた押さえブロック
Ｂと共に、被検査物Ａに対して接触ピン１の軸線方向に
相対的に離接可能となっている。
【００２４】図２には、このようなテストヘッドＨが適
用される回路基板検査装置の一例が示されている。図２
において、検査装置は、支持台８０と、この支持台８０
上に立設された複数の案内支柱８２と、これらの案内支
柱８２に対して上下方向に移動可能に取り付けられた移
動台８４とを備えている。そして、支持台８０上に上記
被検査物Ａが載置され、移動台８４の下面側に上記テス
トヘッドＨが取り付けられている。また、テストヘッド
Ｈには、配線８６を介して所定の検査手段Ｔが接続され
ている。
用される回路基板検査装置の一例が示されている。図２
において、検査装置は、支持台８０と、この支持台８０
上に立設された複数の案内支柱８２と、これらの案内支
柱８２に対して上下方向に移動可能に取り付けられた移
動台８４とを備えている。そして、支持台８０上に上記
被検査物Ａが載置され、移動台８４の下面側に上記テス
トヘッドＨが取り付けられている。また、テストヘッド
Ｈには、配線８６を介して所定の検査手段Ｔが接続され
ている。
【００２５】そして、この回路基板検査装置は、支持台
８０に向かって移動台８４を下降させ、被検査物Ａに対
して各接触ピン１を弾発的に接触させることにより、検
査手段Ｔによる被検査物Ａの回路検査を行うようになっ
ている。この場合、各接触ピン１は、接触時に所定のス
トロークでテストヘッドＨ内に引っ込むように構成され
ているが、このストロークが過大になった場合の接触ピ
ン１のダメージを防止するための補助ばねが、図１に符
号４０で示されている。
８０に向かって移動台８４を下降させ、被検査物Ａに対
して各接触ピン１を弾発的に接触させることにより、検
査手段Ｔによる被検査物Ａの回路検査を行うようになっ
ている。この場合、各接触ピン１は、接触時に所定のス
トロークでテストヘッドＨ内に引っ込むように構成され
ているが、このストロークが過大になった場合の接触ピ
ン１のダメージを防止するための補助ばねが、図１に符
号４０で示されている。
【００２６】次に、図３には、テストヘッドＨが適用さ
れる回路基板検査装置の他の例が示されている。図３に
示す装置は、図２に示す装置の場合と反対に、支持台８
０上に上向きにテストヘッドＨを取り付け、移動台８４
の下面側に被検査物Ａを吸着等によって保持するように
したものであり、その他の構成は図２に示す回路基板検
査装置と略同様である。なお、符号８８で示すのは、検
査対象物の状態（例えば、液晶パネルの表示状態）を目
視点検するための点検窓である。
れる回路基板検査装置の他の例が示されている。図３に
示す装置は、図２に示す装置の場合と反対に、支持台８
０上に上向きにテストヘッドＨを取り付け、移動台８４
の下面側に被検査物Ａを吸着等によって保持するように
したものであり、その他の構成は図２に示す回路基板検
査装置と略同様である。なお、符号８８で示すのは、検
査対象物の状態（例えば、液晶パネルの表示状態）を目
視点検するための点検窓である。
【００２７】この場合も、支持台８０に向かって移動台
８４を下降させ、被検査物Ａに対して各接触ピン１を弾
発的に接触させることにより、図２に示すものと同様に
被検査物Ａの回路検査を行うことができる。ただし、図
１、図４乃至図９においては、上下方向の向きを図２に
示す装置に対応させて示している。
８４を下降させ、被検査物Ａに対して各接触ピン１を弾
発的に接触させることにより、図２に示すものと同様に
被検査物Ａの回路検査を行うことができる。ただし、図
１、図４乃至図９においては、上下方向の向きを図２に
示す装置に対応させて示している。
【００２８】次に、本実施形態のテストヘッドＨの構造
について詳細に説明する。まず、図１に示すように、上
記ブロック部４は、複数の小ねじＳによって順次分離可
能に積層締結されたピンブロック５、ばねブロック６及
び背面ブロック７を有している。これらの各ブロック
５, ６, ７は、それぞれ絶縁性材料でつくられている。
また、符号Ｐで示すのは、フロック部４における各ブロ
ック５, ６, ７の位置決めをするためのピンである。
について詳細に説明する。まず、図１に示すように、上
記ブロック部４は、複数の小ねじＳによって順次分離可
能に積層締結されたピンブロック５、ばねブロック６及
び背面ブロック７を有している。これらの各ブロック
５, ６, ７は、それぞれ絶縁性材料でつくられている。
また、符号Ｐで示すのは、フロック部４における各ブロ
ック５, ６, ７の位置決めをするためのピンである。
【００２９】次に、図４に示すように、テストヘッド
は、上記接触ピン１の基端部１８に対してその一端２０
が接触し、接触ピン１を軸線方向に被検査物側（ここで
は下方）へ付勢する導電性コイルばね２と、このコイル
ばね２を上記検査手段Ｔに対して電気的に接続するため
の接続手段してのフレキシブルプリント基板（回路基
板）３Ａとを更に備えている。
は、上記接触ピン１の基端部１８に対してその一端２０
が接触し、接触ピン１を軸線方向に被検査物側（ここで
は下方）へ付勢する導電性コイルばね２と、このコイル
ばね２を上記検査手段Ｔに対して電気的に接続するため
の接続手段してのフレキシブルプリント基板（回路基
板）３Ａとを更に備えている。
【００３０】ここで、上記コイルばね２は、上記ばねブ
ロック６に形成されたばね収納孔６０内に収納されてい
る。また、上記フレキシブルプリント基板３Ａは、ばね
ブロック６と背面ブロック７との間に挟持されている
（図１参照）。
ロック６に形成されたばね収納孔６０内に収納されてい
る。また、上記フレキシブルプリント基板３Ａは、ばね
ブロック６と背面ブロック７との間に挟持されている
（図１参照）。
【００３１】次に、図５に示すように、接触ピン１は、
全体として中実構造をなすと共に、大径部１０と、この
大径部１０の両端から延長する先端側小径部１２及び基
端側小径部１４とを有している。そして、各小径部１
２, １４の延長端部に、それぞれ略円錐形状をなす先端
部１６と基端部１８とが形成されている。ここで、各接
触ピン１の大きさは、例えば全長３. ６mm、大径部１０
の直径８０μｍ、両小径部１２, １４の直径５０μｍ程
度である。
全体として中実構造をなすと共に、大径部１０と、この
大径部１０の両端から延長する先端側小径部１２及び基
端側小径部１４とを有している。そして、各小径部１
２, １４の延長端部に、それぞれ略円錐形状をなす先端
部１６と基端部１８とが形成されている。ここで、各接
触ピン１の大きさは、例えば全長３. ６mm、大径部１０
の直径８０μｍ、両小径部１２, １４の直径５０μｍ程
度である。
【００３２】次に、図４に示すように、上記ピンブロッ
ク５は、接触ピン１に対応する部分において、コの字形
をなすと共に、接触ピン１を軸線方向に摺動自在に保持
するピン保持孔５０, ５２, ５４を有している。このう
ち、ピン保持孔５０, ５２は、接触ピン１の大径部１０
に対応する内径を有し、ピン保持孔５４は接触ピン１の
先端側小径部１２に対応する内径を有している。
ク５は、接触ピン１に対応する部分において、コの字形
をなすと共に、接触ピン１を軸線方向に摺動自在に保持
するピン保持孔５０, ５２, ５４を有している。このう
ち、ピン保持孔５０, ５２は、接触ピン１の大径部１０
に対応する内径を有し、ピン保持孔５４は接触ピン１の
先端側小径部１２に対応する内径を有している。
【００３３】このことにより、これらのピン保持孔５
０, ５２, ５４は、接触ピン１をばねブロック６に対応
する側からのみ挿脱可能に保持すると共に、図５に示す
接触ピン１の先端側小径部１２と大径部１０との間の段
部１０ａが、図４に示すピン保持孔５０, ５４間の段部
５６に当接することで、接触ピン１のピンブロック５か
らの抜け出しを防止するようになっている。
０, ５２, ５４は、接触ピン１をばねブロック６に対応
する側からのみ挿脱可能に保持すると共に、図５に示す
接触ピン１の先端側小径部１２と大径部１０との間の段
部１０ａが、図４に示すピン保持孔５０, ５４間の段部
５６に当接することで、接触ピン１のピンブロック５か
らの抜け出しを防止するようになっている。
【００３４】次に、図６に示すように、上記ばねブロッ
ク６のばね収納孔６０は、コイルばね２に対応した内径
を以て背面ブロック７に対応する側に開口し、コイルば
ね２を背面ブロック７に対応する側からのみ挿脱可能に
収納している。また、ばね収納孔６０のピンブロック５
に対応する側に、接触ピン１の基端側小径部１４を通し
接触ピン１の大径部１０及びコイルばね２を通さない大
きさの内径を有したピン貫入孔６２が形成されている。
ク６のばね収納孔６０は、コイルばね２に対応した内径
を以て背面ブロック７に対応する側に開口し、コイルば
ね２を背面ブロック７に対応する側からのみ挿脱可能に
収納している。また、ばね収納孔６０のピンブロック５
に対応する側に、接触ピン１の基端側小径部１４を通し
接触ピン１の大径部１０及びコイルばね２を通さない大
きさの内径を有したピン貫入孔６２が形成されている。
【００３５】次に、このような構成よりなる本実施形態
の作用効果について説明する。本実施形態によれば、ブ
ロック部４からピンブロック５のみを分離することで、
ブロック部４内にコイルばね２を保持したまま、ピンブ
ロック５のばねブロック６に対応する側において、ピン
保持孔５０, ５２, ５４から接触ピン１を挿脱すること
ができる。
の作用効果について説明する。本実施形態によれば、ブ
ロック部４からピンブロック５のみを分離することで、
ブロック部４内にコイルばね２を保持したまま、ピンブ
ロック５のばねブロック６に対応する側において、ピン
保持孔５０, ５２, ５４から接触ピン１を挿脱すること
ができる。
【００３６】また、ブロック部４から背面ブロック７を
分離しても、ばねブロック６のばね収納孔６０を通して
接触ピン１が抜け出ることはないので、ブロック部４か
ら背面ブロック７のみを分離することで、ブロック部４
内に接触ピン１を保持したまま、ばねブロック６の背面
ブロック７に対応する側において、ばね収納孔６０から
コイルばね２を挿脱することができる。
分離しても、ばねブロック６のばね収納孔６０を通して
接触ピン１が抜け出ることはないので、ブロック部４か
ら背面ブロック７のみを分離することで、ブロック部４
内に接触ピン１を保持したまま、ばねブロック６の背面
ブロック７に対応する側において、ばね収納孔６０から
コイルばね２を挿脱することができる。
【００３７】このため、接触ピン１とコイルばね２のい
ずれか一方をブロック部４の内部に保持したままで、他
方を容易に点検・交換することができる。
ずれか一方をブロック部４の内部に保持したままで、他
方を容易に点検・交換することができる。
【００３８】更に、ばねブロック６から背面ブロック７
を分離することで、少なくとも接触ピン１をブロック部
４の内部に保持したままで、容易に接続手段としてのフ
レキシブルプリント回路３Ａを取り外して点検・交換す
ることができる。
を分離することで、少なくとも接触ピン１をブロック部
４の内部に保持したままで、容易に接続手段としてのフ
レキシブルプリント回路３Ａを取り外して点検・交換す
ることができる。
【００３９】［第２の実施形態］次に、図７乃至図９に
より本発明の第２の実施形態について説明する。本実施
形態は、図７に示すように、上述したような接続手段と
して、上記フレキシブルプリント基板（回路基板）３Ａ
に代えて、各コイルばね２に対応した複数の受けピンワ
イヤ３Ｂを用いると共に、上記背面ブロック７に代え
て、これらの受けピンワイヤ３Ｂに対応した背面ブロッ
ク７′を備えた点で上記第１の実施形態と異なり、その
他の構成は図１乃至図６に示す上記第１の実施形態と同
様である。
より本発明の第２の実施形態について説明する。本実施
形態は、図７に示すように、上述したような接続手段と
して、上記フレキシブルプリント基板（回路基板）３Ａ
に代えて、各コイルばね２に対応した複数の受けピンワ
イヤ３Ｂを用いると共に、上記背面ブロック７に代え
て、これらの受けピンワイヤ３Ｂに対応した背面ブロッ
ク７′を備えた点で上記第１の実施形態と異なり、その
他の構成は図１乃至図６に示す上記第１の実施形態と同
様である。
【００４０】具体的には、上記受けピンワイヤ３Ｂは、
図７乃至図９に示すように、各コイルばね２に対応して
上記背面ブロック７′を貫通すると共に、背面ブロック
７′のばねブロック６に対応する側からのみ挿脱可能
（図９参照）となっている。
図７乃至図９に示すように、各コイルばね２に対応して
上記背面ブロック７′を貫通すると共に、背面ブロック
７′のばねブロック６に対応する側からのみ挿脱可能
（図９参照）となっている。
【００４１】より具体的には、各受けピンワイヤ３Ｂ
は、図８及び図９に示すように、対応するコイルばね２
の他端２２に接触する円盤状受け部３０と、この受け部
３０に繋がるワイヤ部３２とを有すると共に、このワイ
ヤ部３２は、受け部３０の外径より小さい外径を有して
いる。
は、図８及び図９に示すように、対応するコイルばね２
の他端２２に接触する円盤状受け部３０と、この受け部
３０に繋がるワイヤ部３２とを有すると共に、このワイ
ヤ部３２は、受け部３０の外径より小さい外径を有して
いる。
【００４２】また、背面ブロック７′は、各受けピンワ
イヤ３Ｂの受け部３０とワイヤ部３２とにそれぞれ対応
する、ばねブロック側凹部７０とワイヤ貫通孔７２（図
７参照）とを有している。
イヤ３Ｂの受け部３０とワイヤ部３２とにそれぞれ対応
する、ばねブロック側凹部７０とワイヤ貫通孔７２（図
７参照）とを有している。
【００４３】なお、図９は、ばねブロック６から背面ブ
ロック７′を分離することにより、ばねブロック６の背
面ブロック７′に対応する側からコイルばね２が、背面
ブロック７′のばねブロック６に対応する側から受けピ
ンワイヤ３Ｂが、それぞれ挿脱可能となる状態を示して
いる。
ロック７′を分離することにより、ばねブロック６の背
面ブロック７′に対応する側からコイルばね２が、背面
ブロック７′のばねブロック６に対応する側から受けピ
ンワイヤ３Ｂが、それぞれ挿脱可能となる状態を示して
いる。
【００４４】次に、このような構成よりなる本実施形態
の作用効果について説明する。本実施形態によれば、上
記第１の実施形態と同様、ブロック部４からピンブロッ
ク５のみを分離することで、ブロック部４内にコイルば
ね２を保持したまま、ピンブロック５のばねブロック６
に対応する側において、ピン保持孔５０, ５２, ５４か
ら接触ピン１を挿脱することができる。
の作用効果について説明する。本実施形態によれば、上
記第１の実施形態と同様、ブロック部４からピンブロッ
ク５のみを分離することで、ブロック部４内にコイルば
ね２を保持したまま、ピンブロック５のばねブロック６
に対応する側において、ピン保持孔５０, ５２, ５４か
ら接触ピン１を挿脱することができる。
【００４５】また、ブロック部４から背面ブロック７′
を分離しても、ばねブロック６のばね収納孔６０を通し
て接触ピン１が抜け出ることはないので、ブロック部４
から背面ブロック７′のみを分離することで、ブロック
部４内に接触ピン１を保持したまま、ばねブロック６の
背面ブロック７′に対応する側において、ばね収納孔６
０からコイルばね２を挿脱することができる。
を分離しても、ばねブロック６のばね収納孔６０を通し
て接触ピン１が抜け出ることはないので、ブロック部４
から背面ブロック７′のみを分離することで、ブロック
部４内に接触ピン１を保持したまま、ばねブロック６の
背面ブロック７′に対応する側において、ばね収納孔６
０からコイルばね２を挿脱することができる。
【００４６】このため、接触ピン１とコイルばね２のい
ずれか一方をブロック部４の内部に保持したままで、他
方を容易に点検・交換することができる。
ずれか一方をブロック部４の内部に保持したままで、他
方を容易に点検・交換することができる。
【００４７】更に、ばねブロック６から背面ブロック
７′を分離して、受けピンワイヤ３Ｂを背面ブロック
７′のばねブロック６に対応する側から挿脱することに
より、接続手段としての受けピンワイヤ３Ｂを容易に点
検・交換するとができる。また、各受けピンワイヤ３Ｂ
を個別に挿脱することができるので、特定の接触ピン１
及びコイルばね２に対応する接続手段３Ｂ毎に、必要に
応じた点検・交換を行うことができる。
７′を分離して、受けピンワイヤ３Ｂを背面ブロック
７′のばねブロック６に対応する側から挿脱することに
より、接続手段としての受けピンワイヤ３Ｂを容易に点
検・交換するとができる。また、各受けピンワイヤ３Ｂ
を個別に挿脱することができるので、特定の接触ピン１
及びコイルばね２に対応する接続手段３Ｂ毎に、必要に
応じた点検・交換を行うことができる。
【００４８】
【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、ブロック
部からピンブロックのみを分離することで、ブロック部
内にコイルばねを保持したまま、ピンブロックのばねブ
ロックに対応する側において、ピン保持孔から接触ピン
を挿脱することができる。このため、コイルばねを内部
に保持したままで、接触ピンを容易に点検・交換するこ
とができる。
部からピンブロックのみを分離することで、ブロック部
内にコイルばねを保持したまま、ピンブロックのばねブ
ロックに対応する側において、ピン保持孔から接触ピン
を挿脱することができる。このため、コイルばねを内部
に保持したままで、接触ピンを容易に点検・交換するこ
とができる。
【００４９】請求項２記載の発明によれば、請求項１記
載の発明において、更にブロック部から背面ブロックを
分離しても、ばねブロックのばね収納孔を通して接触ピ
ンが抜け出ることはないので、ブロック部から背面ブロ
ックのみを分離することで、ブロック部内に接触ピンを
完全に保持したまま、ばねブロックの背面ブロックに対
応する側において、ばね収納孔からコイルばねを挿脱す
ることができる。このため、接触ピンとコイルばねのい
ずれか一方を内部に保持したままで、他方を容易に点検
・交換することができる。
載の発明において、更にブロック部から背面ブロックを
分離しても、ばねブロックのばね収納孔を通して接触ピ
ンが抜け出ることはないので、ブロック部から背面ブロ
ックのみを分離することで、ブロック部内に接触ピンを
完全に保持したまま、ばねブロックの背面ブロックに対
応する側において、ばね収納孔からコイルばねを挿脱す
ることができる。このため、接触ピンとコイルばねのい
ずれか一方を内部に保持したままで、他方を容易に点検
・交換することができる。
【図１】本発明による回路基板検査装置のテストヘッド
の第の実施形態を示す側面図。
の第の実施形態を示す側面図。
【図２】本発明のテストヘッドが適用される回路基板検
査装置の一例を示す正面図。
査装置の一例を示す正面図。
【図３】本発明のテストヘッドが適用される回路基板検
査装置の他の例を示す正面図。
査装置の他の例を示す正面図。
【図４】図１に示すテストヘッドの要部縦断面図。
【図５】図１に示すテストヘッドの接触ピンの拡大側面
図。
図。
【図６】図４に示すテストヘッドにおける、コイルばね
周辺を拡大して示す図。
周辺を拡大して示す図。
【図７】本発明による回路基板検査装置のテストヘッド
の第２の実施形態を図４に対応して示す図。
の第２の実施形態を図４に対応して示す図。
【図８】図７に示すテストヘッドにおける、受けピンワ
イヤの受け部周辺を拡大して示す図。
イヤの受け部周辺を拡大して示す図。
【図９】図８に示す部分の分離状態図。
【図１０】従来の回路基板検査装置のテストヘッドにお
ける、接触ピン部分の一例を示す縦断面図。
ける、接触ピン部分の一例を示す縦断面図。
【図１１】図１０に示す接触ピン部分の変形例を示す縦
断面図。
断面図。
Ａ 検査対象物 Ｈ テストヘッド １ 接触ピン １０ 大径部 １２ 先端側小径部 １４ 基端側小径部 １６ 先端部 １８ 基端部 ２ コイルばね ２０ 一端 ２２ 他端 ３Ａ フレキシブルプリント基板（接続手段） ３Ｂ 受けピンワイヤ（接続手段） ３０ 受け部 ３２ ワイヤ部 ４ ブロック部 ５ ピンブロック ５０, ５２, ５４ ピン保持孔 ６ ばねブロック ６０ ばね収納孔 ６２ ピン貫入孔 ７ 背面ブロック ７０ ばねブロック側凹部 ７２ ワイヤ貫通孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 1/06 - 1/073 G01R 31/02
Claims (6)
- 【請求項１】先端部を被検査物に接触させるための導電
性の接触ピンと、 この接触ピンの基端部に対してその一端が接触し、前記
接触ピンを軸線方向に前記被検査物側へ付勢する導電性
のコイルばねと、 このコイルばねを所定の検査手段に対して電気的に接続
するための接続手段と、 順次分離可能に積層締結されたピンブロック、ばねブロ
ック及び背面ブロックを有し、前記被検査物に対して前
記接触ピンの軸線方向に相対的に離接可能となった絶縁
性のブロック部とを備え、 前記ブロック部のピンブロックは、前記接触ピンを軸線
方向に摺動自在かつ前記ばねブロックに対応する側から
のみ挿脱可能に保持するピン保持孔を有し、 前記ブロック部のばねブロックは、前記コイルばねを前
記背面ブロックに対応する側からのみ挿脱可能に収納す
るばね収納孔を有することを特徴とする回路基板検査装
置のテストヘッド。 - 【請求項２】前記接触ピンは、大径部と、この大径部か
ら基端側へ延び前記大径部よりも径の小さい基端側小径
部とを有し、 前記ばねブロックにおいて、前記ばね収納孔の前記ピン
ブロックに対応する側にピン貫入孔が形成され、このピ
ン貫入孔は、前記接触ピンの基端側小径部を通し前記接
触ピンの大径部及び前記コイルばねを通さない大きさの
内径を有することを特徴とする請求項１記載の回路基板
検査装置のテストヘッド。 - 【請求項３】前記接続手段は、前記ばねブロックと前記
背面ブロックとの間に挟持される回路基板であることを
特徴とする請求項１又は２記載の回路基板検査装置のテ
ストヘッド。 - 【請求項４】前記接続手段は、各コイルばねに対応して
前記背面ブロックを貫通すると共に、前記背面ブロック
の前記ばねブロックに対応する側からのみ挿脱可能とな
った受けピンワイヤであることを特徴とする請求項１又
は２記載の回路基板検査装置のテストヘッド。 - 【請求項５】前記受けピンワイヤは、前記コイルばねの
他端に接触する円盤状受け部と、この受け部に繋がるワ
イヤ部とを有すると共に、このワイヤ部は、前記受け部
の外径より小さい外径を有し、 前記背面ブロックは、前記受けピンワイヤの受け部とワ
イヤ部とにそれぞれ対応する、ばねブロック側凹部とワ
イヤ貫通孔とを有することを特徴とする請求項４記載の
回路基板検査装置のテストヘッド。 - 【請求項６】前記接触ピンは中実構造であることを特徴
とする請求項１乃至５のいずれかに記載の回路基板検査
装置のテストヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10079630A JP3135884B2 (ja) | 1998-03-26 | 1998-03-26 | 回路基板検査装置のテストヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10079630A JP3135884B2 (ja) | 1998-03-26 | 1998-03-26 | 回路基板検査装置のテストヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11281673A JPH11281673A (ja) | 1999-10-15 |
| JP3135884B2 true JP3135884B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=13695411
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10079630A Expired - Lifetime JP3135884B2 (ja) | 1998-03-26 | 1998-03-26 | 回路基板検査装置のテストヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3135884B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1496366A4 (en) * | 2002-04-16 | 2005-09-14 | Nhk Spring Co Ltd | HOLDER FOR CONDUCTIVE CONTACT |
-
1998
- 1998-03-26 JP JP10079630A patent/JP3135884B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11281673A (ja) | 1999-10-15 |
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