JPS6038644B2 - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
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- JPS6038644B2 JPS6038644B2 JP53143462A JP14346278A JPS6038644B2 JP S6038644 B2 JPS6038644 B2 JP S6038644B2 JP 53143462 A JP53143462 A JP 53143462A JP 14346278 A JP14346278 A JP 14346278A JP S6038644 B2 JPS6038644 B2 JP S6038644B2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 4
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 239000004753 textile Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/2803—Investigating the spectrum using photoelectric array detector
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0243—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows having a through-hole enabling the optical element to fulfil an additional optical function, e.g. a mirror or grating having a throughhole for a light collecting or light injecting optical fiber
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0291—Housings; Spectrometer accessories; Spatial arrangement of elements, e.g. folded path arrangements
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分散性反射素子及び評価平面中に配列された多
重光検出器配列体を有する分光光度計に関する。
重光検出器配列体を有する分光光度計に関する。
織物の繊維、液体及び種々の気体、特に汚染空気等のあ
らゆる試料をテストするためにはスペクトル分析方法が
殆んど排他的に適用されている。
らゆる試料をテストするためにはスペクトル分析方法が
殆んど排他的に適用されている。
この目的のために、一連の分光光度計、即ち放射線のス
ペクトル光の強度分布を測定するための装置が開発され
ている。これ等の方法はテストされる試料の組成の高速
、安全及び簡単な決定、もしくはこれ等の試料の特定の
成分の発見を可能とする。 ・例え
ばAcadem;c Press,New Yo【k
and山ndon l959,pages 3聡及至4
00の 1 、Este肌an著℃lassicaIM
e伍o船”,Vol.1なる論文中に記載されている単
色光器においては種々の色で発生される入口ギャップの
像は分散プリズム及び平面鏡の共同運動によって夫々出
口ギャップもしくは放射線感知素子上を相継いでシフト
される。
ペクトル光の強度分布を測定するための装置が開発され
ている。これ等の方法はテストされる試料の組成の高速
、安全及び簡単な決定、もしくはこれ等の試料の特定の
成分の発見を可能とする。 ・例え
ばAcadem;c Press,New Yo【k
and山ndon l959,pages 3聡及至4
00の 1 、Este肌an著℃lassicaIM
e伍o船”,Vol.1なる論文中に記載されている単
色光器においては種々の色で発生される入口ギャップの
像は分散プリズム及び平面鏡の共同運動によって夫々出
口ギャップもしくは放射線感知素子上を相継いでシフト
される。
特定の高分解館においてはこの型の装置は極めて複雑な
装備を必要とし、この方法に従って動作する装置は極め
て高価で、大きく及び縄乱を受けやすい。これ等の装置
はショック及び振動に極めて敏感で、極めて時間のかか
る調整が不可欠である。個々のスペクトル成分に対する
強度は同時には測定出来ず、未調整状態に敏感で且つ個
々の測定の時間と回転の同期が高度に要求される光学配
列体を回転する事によって相継いで測定されるが、上述
のタイプの装置で遂行される任意の測定は極めて時間を
消費する。特公昭斑−4班07号(待顔昭52−947
34号)にはその一側が多重光ダイオード配列体に接続
されたくさび形干渉フィル夕より成る分光光度計が説明
されている。
装備を必要とし、この方法に従って動作する装置は極め
て高価で、大きく及び縄乱を受けやすい。これ等の装置
はショック及び振動に極めて敏感で、極めて時間のかか
る調整が不可欠である。個々のスペクトル成分に対する
強度は同時には測定出来ず、未調整状態に敏感で且つ個
々の測定の時間と回転の同期が高度に要求される光学配
列体を回転する事によって相継いで測定されるが、上述
のタイプの装置で遂行される任意の測定は極めて時間を
消費する。特公昭斑−4班07号(待顔昭52−947
34号)にはその一側が多重光ダイオード配列体に接続
されたくさび形干渉フィル夕より成る分光光度計が説明
されている。
この配列体はくさび形干渉フィル夕の配列体の局所的に
変化されるスペクトル・フィル夕の特性により、各光ダ
イオードは特定の波長の放射線のみを受取る。この装置
は低重量のものである光ダイオード配列体がくさび状干
渉フィル夕にかたく取付けられているのでかなり撹乱を
受けにくく、相対的に高速であり、すべてのスペクトル
の成分の強度が同時に測定される。しかしながら1個の
光ダイオードの領域に到達する強度は略くさび形の千渉
フィル夕に印力ロされる全強度を光ダイオードの数によ
って割った値に等しいので、この様な分光光度計は低感
度であり、この結果低い放射線強度の場合に特定の測定
速度を超える事は出来ない。米国特許出願第41585
05号明細書中には1つの格子はスペクトル的に分割さ
れた放射線は凹面鏡を経て多重ダイオード配列体上に結
像される装置が開示されている。
変化されるスペクトル・フィル夕の特性により、各光ダ
イオードは特定の波長の放射線のみを受取る。この装置
は低重量のものである光ダイオード配列体がくさび状干
渉フィル夕にかたく取付けられているのでかなり撹乱を
受けにくく、相対的に高速であり、すべてのスペクトル
の成分の強度が同時に測定される。しかしながら1個の
光ダイオードの領域に到達する強度は略くさび形の千渉
フィル夕に印力ロされる全強度を光ダイオードの数によ
って割った値に等しいので、この様な分光光度計は低感
度であり、この結果低い放射線強度の場合に特定の測定
速度を超える事は出来ない。米国特許出願第41585
05号明細書中には1つの格子はスペクトル的に分割さ
れた放射線は凹面鏡を経て多重ダイオード配列体上に結
像される装置が開示されている。
この装置は上述の分光光度計よりも高感度のものであり
、その主な欠点は光ビームの発散するもしくは斜めの光
東に見出される凹面鏡の結像誤差により、高分解能を達
成するため、極限の平行度を有する放射線が凹面鏡もし
くは格子に印加これねばならず、この事が装置の感度及
び作業速度を制限する点にある。本発明の目的は極めて
簡単な構造、軽量及び小寸法で高分解能、高感度及び高
作業速度を示す分光光度計を与える事にある。
、その主な欠点は光ビームの発散するもしくは斜めの光
東に見出される凹面鏡の結像誤差により、高分解能を達
成するため、極限の平行度を有する放射線が凹面鏡もし
くは格子に印加これねばならず、この事が装置の感度及
び作業速度を制限する点にある。本発明の目的は極めて
簡単な構造、軽量及び小寸法で高分解能、高感度及び高
作業速度を示す分光光度計を与える事にある。
さらに、分析さるべき放射線の正規の方向からの実際の
方向の相対的高い偏差すら測定精度及び感度に何等の影
響を与えない。この目的は特許請求の範囲に記載された
本発明に従い達成される。上述の型の類似の装置と比較
して本発明によって開示される分光光度計の極高感度は
特に入射(入口)開孔と分散性反射素子間に該分散性反
射素子の直接近傍に配列される事が好ましいレンズが与
えられ、該レンズはその焦点平面近くに配列された入射
関孔からビームをその発散角とは無関係に平行ビームの
光東として上記分散性反射素子上に指向する事によって
達成される。
方向の相対的高い偏差すら測定精度及び感度に何等の影
響を与えない。この目的は特許請求の範囲に記載された
本発明に従い達成される。上述の型の類似の装置と比較
して本発明によって開示される分光光度計の極高感度は
特に入射(入口)開孔と分散性反射素子間に該分散性反
射素子の直接近傍に配列される事が好ましいレンズが与
えられ、該レンズはその焦点平面近くに配列された入射
関孔からビームをその発散角とは無関係に平行ビームの
光東として上記分散性反射素子上に指向する事によって
達成される。
レンズと分散素子間の距離が小さい事により、入射関孔
を通して通過するビームの発散光東中の中心ビームの装
置光軸からのずれは何等の重大な横方向の変位及び分散
反射素子上に入射するビームの光東の方向の変化を生ぜ
ず、従って多重光検出器配列体上の個々の波長に関連し
て入射開孔の像の位置の変化はあり得ない様にされてい
る。分析されるべきビームの光東を、その発散角(該角
度がレンズの関口角度内にあるものとして)及びその中
心ビームの方向に無関係に平行ビーム東として分散反射
素子上に指向するレンズは同時に多重光検出器配列体上
の個々の波長に関連する入射開孔の像を与えるので、本
発明において開示される分光光度計中に必要とされる光
学素子の数は上述の従来周知の特定タイプのすべての対
比させるべき装置のすべての中における光学素子の数よ
りも少なくすむ。本発明に従いレンズと分散反射素子間
の距離は特に小さい事が望まれるので、これ等の2つの
素子は本発明の装置の簡潔性及び振動及び衝突もしくは
汚染に関する頑健性がすべての従釆周知の分光光度計と
比較して著しく改良される様に互に接合されるか、一体
として成立ち得る。入射関孔を有する板は同様に多重光
検出器配列体に堅く取付けられているので本発明に従う
分光光度計は実用的には大量生産において組立てが相対
的に容易で、相互整列に高度の要求がなされない様に、
数弧の長さ及び1個のスリーブのみによって互に接続さ
れ得る様な2つの部分より成立っている。
を通して通過するビームの発散光東中の中心ビームの装
置光軸からのずれは何等の重大な横方向の変位及び分散
反射素子上に入射するビームの光東の方向の変化を生ぜ
ず、従って多重光検出器配列体上の個々の波長に関連し
て入射開孔の像の位置の変化はあり得ない様にされてい
る。分析されるべきビームの光東を、その発散角(該角
度がレンズの関口角度内にあるものとして)及びその中
心ビームの方向に無関係に平行ビーム東として分散反射
素子上に指向するレンズは同時に多重光検出器配列体上
の個々の波長に関連する入射開孔の像を与えるので、本
発明において開示される分光光度計中に必要とされる光
学素子の数は上述の従来周知の特定タイプのすべての対
比させるべき装置のすべての中における光学素子の数よ
りも少なくすむ。本発明に従いレンズと分散反射素子間
の距離は特に小さい事が望まれるので、これ等の2つの
素子は本発明の装置の簡潔性及び振動及び衝突もしくは
汚染に関する頑健性がすべての従釆周知の分光光度計と
比較して著しく改良される様に互に接合されるか、一体
として成立ち得る。入射関孔を有する板は同様に多重光
検出器配列体に堅く取付けられているので本発明に従う
分光光度計は実用的には大量生産において組立てが相対
的に容易で、相互整列に高度の要求がなされない様に、
数弧の長さ及び1個のスリーブのみによって互に接続さ
れ得る様な2つの部分より成立っている。
本発明の実施例によって達成される簡潔性、小型化、低
価格及び頑健性は従来周知の分光光度計のどの一つとも
比べものにならない。
価格及び頑健性は従来周知の分光光度計のどの一つとも
比べものにならない。
本発明において円形、正方形もしくは長方形の入射関孔
の近くに存在する直線状の多重光検出計配列体の配列体
は斜方向の光東及びこれによる誤差をかなり回避するが
従釆のこの型の装魔ではこれを防止する事が困難であっ
た。
の近くに存在する直線状の多重光検出計配列体の配列体
は斜方向の光東及びこれによる誤差をかなり回避するが
従釆のこの型の装魔ではこれを防止する事が困難であっ
た。
次に本発明は本発明の実施例を表わす図面により以下詳
細に説明されている。
細に説明されている。
この図において概略的に示された本発明の実施例は検査
さるべき試料2を保持する試料保持器1、レンズ20、
正方形の関孔3を板4、板4上開孔3の直接近傍に配列
された光ダイオード6により成る多重光ダイオード配列
体5、レンズ8、階段格子として設計された分散反射素
子9により成る。板4は分散素子9にスリーブ101こ
よって接続され、スリーブ10の上部はカバー21で閉
されている。試料保持器1上に配列された試料2は斜め
に入射する多色放射線11によって照射される。
さるべき試料2を保持する試料保持器1、レンズ20、
正方形の関孔3を板4、板4上開孔3の直接近傍に配列
された光ダイオード6により成る多重光ダイオード配列
体5、レンズ8、階段格子として設計された分散反射素
子9により成る。板4は分散素子9にスリーブ101こ
よって接続され、スリーブ10の上部はカバー21で閉
されている。試料保持器1上に配列された試料2は斜め
に入射する多色放射線11によって照射される。
図示されてはいないが、斜めの照射に代って、試料2及
びレンズ20間に配列された半透明鏡によって垂直照射
を与える事も同様に可能である。試料2の表面の一点に
おいて拡散的に散乱されもし〈は反射される放射線はし
ンズ20を経てレンズ8の焦点に存在する入射開孔3内
を収救するビーム東12として通過し、レンズ8の方向
に発散するビーム東として出現する。このレンズを経過
する時ビームの発散東は平行ビーム東へ変換され、この
平行ビーム東は小さあ入射角で分散反射素子9上へ入射
する。素子9は入射光が主として1次の回折方向のみに
回折される如き設計になっている。或る回折次の方向は
波長にに依存するので、1次の回折は各波長に対して他
の方向に反射され、レンズを介して夫々1つの特定の波
長に関連する1個の光ダイオード6へ結像される。表示
を簡単にし、理解を容易にするために、これ等の関連は
入射開孔3を通過するビームの発散東の右手の限界を表
わす単一のビーム13によってのみ示される。レンズ8
を通るビーム13はこのレンズによってこのレンズの光
軸に平行なビームに変換され、この平行ビ−ムは分散反
射素子9において1次の方向にのみ回折される。赤、緑
及び青色に関する方向13R,13G及び13Bと託さ
れている。レンズ8を通過する時、これ等のビームはこ
れ等の色彩に関連する光ダイオード6R,6G,6Bの
方向に偏向される。同一プロセスはしンズ8の光藤に平
行に伝播し分散反射素子9上に衝突する各ビームについ
て発生し、分散素子の全表面から反射される或る特定波
長の放射線が夫々1つの特定光ダイオード6に収束する
様にされている事は全く明らかであるつo発散角が相対
的に小さなビーム東12の測定の場合でもビーム東が同
一光東を有する限り測定結果は異なるものではなく、測
定感度は減少されなし、事は全く明らかである。
びレンズ20間に配列された半透明鏡によって垂直照射
を与える事も同様に可能である。試料2の表面の一点に
おいて拡散的に散乱されもし〈は反射される放射線はし
ンズ20を経てレンズ8の焦点に存在する入射開孔3内
を収救するビーム東12として通過し、レンズ8の方向
に発散するビーム東として出現する。このレンズを経過
する時ビームの発散東は平行ビーム東へ変換され、この
平行ビーム東は小さあ入射角で分散反射素子9上へ入射
する。素子9は入射光が主として1次の回折方向のみに
回折される如き設計になっている。或る回折次の方向は
波長にに依存するので、1次の回折は各波長に対して他
の方向に反射され、レンズを介して夫々1つの特定の波
長に関連する1個の光ダイオード6へ結像される。表示
を簡単にし、理解を容易にするために、これ等の関連は
入射開孔3を通過するビームの発散東の右手の限界を表
わす単一のビーム13によってのみ示される。レンズ8
を通るビーム13はこのレンズによってこのレンズの光
軸に平行なビームに変換され、この平行ビ−ムは分散反
射素子9において1次の方向にのみ回折される。赤、緑
及び青色に関する方向13R,13G及び13Bと託さ
れている。レンズ8を通過する時、これ等のビームはこ
れ等の色彩に関連する光ダイオード6R,6G,6Bの
方向に偏向される。同一プロセスはしンズ8の光藤に平
行に伝播し分散反射素子9上に衝突する各ビームについ
て発生し、分散素子の全表面から反射される或る特定波
長の放射線が夫々1つの特定光ダイオード6に収束する
様にされている事は全く明らかであるつo発散角が相対
的に小さなビーム東12の測定の場合でもビーム東が同
一光東を有する限り測定結果は異なるものではなく、測
定感度は減少されなし、事は全く明らかである。
入射関孔3を通して通過するビームがもし一般に観察さ
れる如くレンズ8の関孔角よりはるかにd・さい発散の
角度を示すならば、このビームの中央軸の方向は多重光
ダイオード配列体5上の個々の色の成分の像の位置及び
測定感度に影響を与えない。本発明によって開示される
光学光度計はる光学光度計の光軸を測定顕微鏡の光軸に
整列させるという特定のステップを必要とする事なく、
例えば測定顕微鏡と関連して利用され得る。この発明に
よれば入射関孔が光学系の光軸上にあるので、この関孔
を通過して入射してくる光東が光学系の光藤に対して全
体として一致するようにできる。
れる如くレンズ8の関孔角よりはるかにd・さい発散の
角度を示すならば、このビームの中央軸の方向は多重光
ダイオード配列体5上の個々の色の成分の像の位置及び
測定感度に影響を与えない。本発明によって開示される
光学光度計はる光学光度計の光軸を測定顕微鏡の光軸に
整列させるという特定のステップを必要とする事なく、
例えば測定顕微鏡と関連して利用され得る。この発明に
よれば入射関孔が光学系の光軸上にあるので、この関孔
を通過して入射してくる光東が光学系の光藤に対して全
体として一致するようにできる。
したがってレンズエラーが少なく、その分だけ開孔を大
として近軸光線まで用いることができる。このことは受
光素子の像の光強度が大となることを意味し、この分光
計では高速測定が可能なことがわかる。これはスチル・
カメラの絞りとシャツ夕速度との関係と同一である。ま
た、この発明ではしンズと分散素子との間の距離が小と
なっているので、入射光東が光軸に対してわずかに便し
、た場合でも、像位置の変位を実質上回避することがで
き、正確な測定が可能である。
として近軸光線まで用いることができる。このことは受
光素子の像の光強度が大となることを意味し、この分光
計では高速測定が可能なことがわかる。これはスチル・
カメラの絞りとシャツ夕速度との関係と同一である。ま
た、この発明ではしンズと分散素子との間の距離が小と
なっているので、入射光東が光軸に対してわずかに便し
、た場合でも、像位置の変位を実質上回避することがで
き、正確な測定が可能である。
また、全体の構成もコンパクトにでき、たとえばその長
さを11仇程度にでき、顕微鏡に直接実装できる。
さを11仇程度にでき、顕微鏡に直接実装できる。
図は本発明に従う分光光度計の−実施例を示す。
1・・試料保持器、2・・試料、3・・入射関孔、4・
・板、5・・多重光ダイオード配列体、6・・光ダイオ
ード、8・・レンズ、9・・分散性反射素子、11・・
入射多色光、13・・発散ビーム東の右手端の単一ビー
ム、13R,13G,13B・・回折反射光、20・・
レンズ。
・板、5・・多重光ダイオード配列体、6・・光ダイオ
ード、8・・レンズ、9・・分散性反射素子、11・・
入射多色光、13・・発散ビーム東の右手端の単一ビー
ム、13R,13G,13B・・回折反射光、20・・
レンズ。
Claims (1)
- 1 凸レンズの光軸上の焦点位置に形成された入射開孔
と、この入射開孔とともに上記凸レンズを挟む配置で、
しかも上記凸レンズに近接する配置で設けられた分散性
反射素子と、上記入射開孔がわの上記凸レンズの焦点面
の配列された複数個の光検出器とを有することを特徴と
する分光光度計。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2758141.5 | 1977-12-27 | ||
DE2758141A DE2758141C2 (de) | 1977-12-27 | 1977-12-27 | Spektrophotometer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54109890A JPS54109890A (en) | 1979-08-28 |
JPS6038644B2 true JPS6038644B2 (ja) | 1985-09-02 |
Family
ID=6027371
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53143462A Expired JPS6038644B2 (ja) | 1977-12-27 | 1978-11-22 | 分光光度計 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6038644B2 (ja) |
CA (1) | CA1108429A (ja) |
CH (1) | CH634656A5 (ja) |
DE (1) | DE2758141C2 (ja) |
FR (1) | FR2413644A1 (ja) |
GB (1) | GB2012067B (ja) |
IT (1) | IT1160375B (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57179646A (en) * | 1981-04-28 | 1982-11-05 | Shimadzu Corp | Multiple light fluxes mixer |
DE3224736A1 (de) * | 1982-07-02 | 1984-01-05 | Bodenseewerk Perkin-Elmer & Co GmbH, 7770 Überlingen | Gitterspektrometer |
DE3614639A1 (de) * | 1986-04-30 | 1987-11-05 | Messerschmitt Boelkow Blohm | Abbildendes spektrometer |
JPH01120106U (ja) * | 1988-04-07 | 1989-08-15 | ||
JP2749387B2 (ja) * | 1989-08-12 | 1998-05-13 | 科学技術振興事業団 | 高感度顕微多波長分光装置 |
DE4039070A1 (de) * | 1990-12-07 | 1992-06-11 | Philips Patentverwaltung | Vielkanalspektrometer |
JPH05231938A (ja) * | 1991-02-07 | 1993-09-07 | Res Dev Corp Of Japan | 高感度多波長分光装置 |
DE19609916A1 (de) * | 1996-03-14 | 1997-09-18 | Robert Prof Dr Ing Massen | Preisgünstiger spektroskopischer Sensor für die Erkennung von Kunststoffen |
GB2362460A (en) * | 2000-05-19 | 2001-11-21 | William Howard Considine | Spectroscope |
JP4409860B2 (ja) * | 2003-05-28 | 2010-02-03 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光検出器を用いた分光器 |
RU2492434C1 (ru) * | 2012-01-24 | 2013-09-10 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт мониторинга климатических и экологических систем Сибирского отделения Российской академии наук (ИМКЭС СО РАН) | Многоканальный высокоэффективный кр-спектрометр |
DE102021111892B3 (de) | 2021-05-06 | 2022-08-25 | 4D Photonics GmbH | Vorrichtung zur spektral aufgelösten Erfassung optischer Strahlung |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2861172A (en) * | 1955-08-18 | 1958-11-18 | Leitz Ernst Gmbh | Monochromator |
US3024693A (en) * | 1959-03-16 | 1962-03-13 | Fisher Scientific Co | Apparatus for spectrographic analysis |
-
1977
- 1977-12-27 DE DE2758141A patent/DE2758141C2/de not_active Expired
-
1978
- 1978-11-21 FR FR7833626A patent/FR2413644A1/fr active Granted
- 1978-11-22 GB GB7845611A patent/GB2012067B/en not_active Expired
- 1978-11-22 JP JP53143462A patent/JPS6038644B2/ja not_active Expired
- 1978-11-23 CA CA316,716A patent/CA1108429A/en not_active Expired
- 1978-12-05 CH CH1243078A patent/CH634656A5/de not_active IP Right Cessation
- 1978-12-21 IT IT31080/78A patent/IT1160375B/it active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2758141C2 (de) | 1982-11-18 |
CH634656A5 (de) | 1983-02-15 |
IT7831080A0 (it) | 1978-12-21 |
GB2012067B (en) | 1982-02-24 |
CA1108429A (en) | 1981-09-08 |
JPS54109890A (en) | 1979-08-28 |
FR2413644B1 (ja) | 1982-06-04 |
IT1160375B (it) | 1987-03-11 |
GB2012067A (en) | 1979-07-18 |
DE2758141A1 (de) | 1979-06-28 |
FR2413644A1 (fr) | 1979-07-27 |
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