JPS6035608B2 - 位置・姿勢制御装置 - Google Patents
位置・姿勢制御装置Info
- Publication number
- JPS6035608B2 JPS6035608B2 JP55128973A JP12897380A JPS6035608B2 JP S6035608 B2 JPS6035608 B2 JP S6035608B2 JP 55128973 A JP55128973 A JP 55128973A JP 12897380 A JP12897380 A JP 12897380A JP S6035608 B2 JPS6035608 B2 JP S6035608B2
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- JP
- Japan
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- ring
- light
- shaped
- control device
- attitude control
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- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012369 In process control Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Control Of Position, Course, Altitude, Or Attitude Of Moving Bodies (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光沢計等に適用される位置・姿勢制御装置に
関するものである。
関するものである。
従来の光沢計は静的に測定するものがほとんどで測定距
離および面傾きは一定として設定授受光角での拡散光量
を測定していた。
離および面傾きは一定として設定授受光角での拡散光量
を測定していた。
しかしながら、実際の被測定面は曲面をなしており測定
距離および傾きを一定にセットすることができない場合
が多く、この測定手段では精度の良い測定ができないと
いう欠点があった。またィンプロセスで光沢を測る場合
(例えば切削中の面粗さの測定、絞り加工中の面粗さの
測定)には高速で距離、面傾きを測定し自動的に補正し
て測定する必要があった。したがって、この発明の目的
は、測定距離および面傾きを自動制御できてィンプロセ
ス制御が容易な位置・姿勢制御装置を提供することであ
る。
距離および傾きを一定にセットすることができない場合
が多く、この測定手段では精度の良い測定ができないと
いう欠点があった。またィンプロセスで光沢を測る場合
(例えば切削中の面粗さの測定、絞り加工中の面粗さの
測定)には高速で距離、面傾きを測定し自動的に補正し
て測定する必要があった。したがって、この発明の目的
は、測定距離および面傾きを自動制御できてィンプロセ
ス制御が容易な位置・姿勢制御装置を提供することであ
る。
この発明の第1の実施例を適用した光沢計を第1図ない
し第3図に示す。すなわち、この光沢計は光沢測定ヘッ
ド部をつぎのように構成する。不透明外筒1の中心に光
フアィバ2を通し、その先端2aを外筒1の一端閉口l
aより突出して光フアィバ2よりビーム光Pを被測定面
Mに投射する。外筒1の一端開□laに遮光板3を取付
け、遮光板3に光フアィバ2を中心とするりング状透光
部4を透明板で形成してビーム光Pの中心から立体角Q
,〜Q2の拡散光が受光できるようにしている。外筒1
の内部で遮光板3から所定距離1だけ離れた位置にセン
サ部5を配置する。このセンサ部5は光フアイバ2を中
心として円板形遮光部6、その外周に臨設する第1のリ
ング状フオトセル7、その外周に臨設するりソグ状ポジ
ションセンサ8、さらにその外周に臨設する第2のリン
グ状フオトセル9をそれぞれ配置構成してある。このヘ
ッド部は、サーボ制御部およびモータ(図示省略)によ
り被測定面Mに対する距離xの方向および被測定面Mに
対する角度を制御する2方向(舷,OY)の3軸駆動を
するようになっている。このヘッド部を被測定面Mに対
して距離xで対時させ、光フアィバ2より被測定面Mに
投光すると、センサ部5ではつぎの表のような受光形態
を生ずる(表示○印が受光有り、×印が受光なし)。す
なわち、x=1のとき、透光部4から入射した光はすべ
て光ポジションセンサ8で受光され、フオトセル7,9
では受光されない。
し第3図に示す。すなわち、この光沢計は光沢測定ヘッ
ド部をつぎのように構成する。不透明外筒1の中心に光
フアィバ2を通し、その先端2aを外筒1の一端閉口l
aより突出して光フアィバ2よりビーム光Pを被測定面
Mに投射する。外筒1の一端開□laに遮光板3を取付
け、遮光板3に光フアィバ2を中心とするりング状透光
部4を透明板で形成してビーム光Pの中心から立体角Q
,〜Q2の拡散光が受光できるようにしている。外筒1
の内部で遮光板3から所定距離1だけ離れた位置にセン
サ部5を配置する。このセンサ部5は光フアイバ2を中
心として円板形遮光部6、その外周に臨設する第1のリ
ング状フオトセル7、その外周に臨設するりソグ状ポジ
ションセンサ8、さらにその外周に臨設する第2のリン
グ状フオトセル9をそれぞれ配置構成してある。このヘ
ッド部は、サーボ制御部およびモータ(図示省略)によ
り被測定面Mに対する距離xの方向および被測定面Mに
対する角度を制御する2方向(舷,OY)の3軸駆動を
するようになっている。このヘッド部を被測定面Mに対
して距離xで対時させ、光フアィバ2より被測定面Mに
投光すると、センサ部5ではつぎの表のような受光形態
を生ずる(表示○印が受光有り、×印が受光なし)。す
なわち、x=1のとき、透光部4から入射した光はすべ
て光ポジションセンサ8で受光され、フオトセル7,9
では受光されない。
x>1のと′きはフオトセル7で受光されフオトセル9
は受光されない。x<1のときはフオトセル7が受光さ
れずフオトセル9で受光される。この場合、第2図のブ
ロック図のように第1または第2のフオトセル7,9の
受光を検出判定部10で判定検出していずれのフオトセ
ル7,9も受光しない距離x=1の位置にサーボ制御部
11によりモータ12を制御してヘッド部をx方向駆動
する。一方、光ポジションセンサ8は平面上2方向(×
,Y)の各部分の光東中心の位置(光重心)を検出する
もの(たとえば浜松テレビ■社製の2次元型半導体位置
検出器SI200など)で、光ポジションセンサ8から
はX,Y方向の信号がそれぞれX,,X2,Y,,Y2
として出力される。
は受光されない。x<1のときはフオトセル7が受光さ
れずフオトセル9で受光される。この場合、第2図のブ
ロック図のように第1または第2のフオトセル7,9の
受光を検出判定部10で判定検出していずれのフオトセ
ル7,9も受光しない距離x=1の位置にサーボ制御部
11によりモータ12を制御してヘッド部をx方向駆動
する。一方、光ポジションセンサ8は平面上2方向(×
,Y)の各部分の光東中心の位置(光重心)を検出する
もの(たとえば浜松テレビ■社製の2次元型半導体位置
検出器SI200など)で、光ポジションセンサ8から
はX,Y方向の信号がそれぞれX,,X2,Y,,Y2
として出力される。
第3図のようにこれらは検出判定部13に入力され、検
出判定部13はその入力信号を演算して(艶,(帯)地 (X.十×2十Y,十Y2)として出力する。
出判定部13はその入力信号を演算して(艶,(帯)地 (X.十×2十Y,十Y2)として出力する。
ここで信号(隻ラ髪)は方向oxの光東中心(光重心)
位置を示し、サ−ボ制御部14に指令を与えてモータ1
5により方向ひxが零になるようにヘッド部を駆動する
。
位置を示し、サ−ボ制御部14に指令を与えてモータ1
5により方向ひxが零になるようにヘッド部を駆動する
。
また信号(串ラ宅)は方向ひYの光東中′Q(光重心)
位置を示し、サーボ制御部16に指令を与えてモータ1
7により方向OYが零になるようにヘッド部を駆動し、
この両者でビーム光が被測定面Mに対して垂直線となる
ように制御する。さらに信号(X,十×2十Y,十Y2
)は光沢に対応する受光量を示し、この受光量の検出に
より光沢を計測する。このように構成したため、ヘッド
部の核測定面に対する位贋と鏡きとを自動制御できるの
で曲面の光沢測定ができて、絶えず変化するようなィン
プロセス計測に適用でき、正確に光沢を測定でき、しか
も3鼠方向のサーボ制御駆動はそれぞれ独立的に処理で
きるので構成が簡単である。このようにして被測定面と
の距離,面頚きを常に自動的に補正し、設定角度におけ
るその拡散光量により光沢を測定する光沢計を提供でき
ることとなる。なお、3軸駆動は測定ヘッド部側および
被測定面倒のどちらでもよい。この発明の第2の実施例
を適用した光沢計を第4図および第5図に示す。
位置を示し、サーボ制御部16に指令を与えてモータ1
7により方向OYが零になるようにヘッド部を駆動し、
この両者でビーム光が被測定面Mに対して垂直線となる
ように制御する。さらに信号(X,十×2十Y,十Y2
)は光沢に対応する受光量を示し、この受光量の検出に
より光沢を計測する。このように構成したため、ヘッド
部の核測定面に対する位贋と鏡きとを自動制御できるの
で曲面の光沢測定ができて、絶えず変化するようなィン
プロセス計測に適用でき、正確に光沢を測定でき、しか
も3鼠方向のサーボ制御駆動はそれぞれ独立的に処理で
きるので構成が簡単である。このようにして被測定面と
の距離,面頚きを常に自動的に補正し、設定角度におけ
るその拡散光量により光沢を測定する光沢計を提供でき
ることとなる。なお、3軸駆動は測定ヘッド部側および
被測定面倒のどちらでもよい。この発明の第2の実施例
を適用した光沢計を第4図および第5図に示す。
すなわち、この光沢計は、第1の実施例の光ポジション
センサ8に代えて、リング状板18に多数のフオトセル
Si,i,(i=1・・・n,i=1・・・m)を蓬方
向および周に多数列設したもので、その出力を検出濃散
部19で検出して、8x,OY方向の光重心位置K,,
K2,i分割、i分割の光強度分布li,liおよび光
沢と対応する総受光量データZを測定するものである。
その他は第1の実施例と同様である。このように構成し
たため、この位置・姿勢制御装置は、拡散光の光強度分
布が測定でき被測定面の表面状態の性状がわかるほか、
第1の実施例と同効果を有する。以上のように、この発
明の位置・姿勢制御装置は、中心部よりビーム光を投射
しその反射光をリング状透光部よりリング状に受光して
センサ部からの距離および反射面に対する角度を自動制
御するようにしたため、簡単な穣成によりィンプロセス
での制御ができ、光沢計に適用した場合、精度良くしか
も曲面測定もできるという効果がある。
センサ8に代えて、リング状板18に多数のフオトセル
Si,i,(i=1・・・n,i=1・・・m)を蓬方
向および周に多数列設したもので、その出力を検出濃散
部19で検出して、8x,OY方向の光重心位置K,,
K2,i分割、i分割の光強度分布li,liおよび光
沢と対応する総受光量データZを測定するものである。
その他は第1の実施例と同様である。このように構成し
たため、この位置・姿勢制御装置は、拡散光の光強度分
布が測定でき被測定面の表面状態の性状がわかるほか、
第1の実施例と同効果を有する。以上のように、この発
明の位置・姿勢制御装置は、中心部よりビーム光を投射
しその反射光をリング状透光部よりリング状に受光して
センサ部からの距離および反射面に対する角度を自動制
御するようにしたため、簡単な穣成によりィンプロセス
での制御ができ、光沢計に適用した場合、精度良くしか
も曲面測定もできるという効果がある。
第1図はこの発明の第1の実施例を適用した光沢計の破
断斜視図、第2図は距離制御ブロック図、第3図は角度
制御ブロック図、第4図は第2の実施例を適用した光沢
計の破断斜視図、第5図はそのセンサ部の制御ブロック
図である。 M・・・・・・被測定面(対象面)、2…・・・光フア
ィバ(投光部)、4・・・・・・リング状受光部、5・
・・・・・センサ部、7,9・・・…フオトセル、8…
…光ポジションセンサ(リング状センサ部)、Si,j
……フオトセル。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
断斜視図、第2図は距離制御ブロック図、第3図は角度
制御ブロック図、第4図は第2の実施例を適用した光沢
計の破断斜視図、第5図はそのセンサ部の制御ブロック
図である。 M・・・・・・被測定面(対象面)、2…・・・光フア
ィバ(投光部)、4・・・・・・リング状受光部、5・
・・・・・センサ部、7,9・・・…フオトセル、8…
…光ポジションセンサ(リング状センサ部)、Si,j
……フオトセル。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 対象物の対象面へビーム光を投射する投光部と、こ
の投光部を中心として形成され前記対象面の反射光を透
過するリング状透光部と、このリング状透光部の後方に
一体配置されてそのリング状光の内外縁を検出すること
によりリング状透光部と前記対象面との距離を一定に制
御させる一対のリング状フオトセルと、これらの一対の
リング状フオトセル間に配置されて前記リング状光の光
束中心を検出することにより前記対象面に対する面傾き
を一定に制御させるリング状センサ部とを備えた位置・
姿勢制御装置。 2 前記リング状センサ部は光束中心を検出できる光ポ
ジシヨンセンサである特許請求の範囲第1項記載の位置
・姿勢制御装置。 3 前記リング状センサ部は径方向および周方向に多数
のフオトセルを列設構成してなる特許請求の範囲第1項
記載の位置・姿勢制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55128973A JPS6035608B2 (ja) | 1980-09-13 | 1980-09-13 | 位置・姿勢制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55128973A JPS6035608B2 (ja) | 1980-09-13 | 1980-09-13 | 位置・姿勢制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5752805A JPS5752805A (en) | 1982-03-29 |
JPS6035608B2 true JPS6035608B2 (ja) | 1985-08-15 |
Family
ID=14997977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55128973A Expired JPS6035608B2 (ja) | 1980-09-13 | 1980-09-13 | 位置・姿勢制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6035608B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT202000007837A1 (it) * | 2020-04-14 | 2021-10-14 | Tecnosens S P A | Dispositivo di misura dimensionale non a contatto con risoluzione micrometrica |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5951721A (ja) * | 1983-08-01 | 1984-03-26 | 井関農機株式会社 | コンバインにおける扱深さ調節装置 |
JPH0614012B2 (ja) * | 1984-01-23 | 1994-02-23 | 光洋精工株式会社 | 外観検査装置 |
JPS6117047A (ja) * | 1984-02-29 | 1986-01-25 | Suga Shikenki Kk | 視感光沢度測定方法 |
JPS622114A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Ando Electric Co Ltd | 反射光による表面粗さ計 |
KR101185075B1 (ko) | 2010-05-06 | 2012-09-21 | 주식회사 지노이드 | 반사 특성을 갖는 검사대상물의 결점 검지 장치 |
KR101185076B1 (ko) | 2010-05-06 | 2012-09-21 | 주식회사 지노이드 | 반사체용 반사형 광센서 |
-
1980
- 1980-09-13 JP JP55128973A patent/JPS6035608B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT202000007837A1 (it) * | 2020-04-14 | 2021-10-14 | Tecnosens S P A | Dispositivo di misura dimensionale non a contatto con risoluzione micrometrica |
WO2021209845A1 (en) * | 2020-04-14 | 2021-10-21 | Tecnosens S.P.A. | Non-contact dimensional measurement device with micrometric resolution |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5752805A (en) | 1982-03-29 |
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