JPS6032144A - 物体の傾き検出装置 - Google Patents
物体の傾き検出装置Info
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- JPS6032144A JPS6032144A JP14015983A JP14015983A JPS6032144A JP S6032144 A JPS6032144 A JP S6032144A JP 14015983 A JP14015983 A JP 14015983A JP 14015983 A JP14015983 A JP 14015983A JP S6032144 A JPS6032144 A JP S6032144A
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- Japan
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- displacement sensor
- axis
- displacement
- disk
- tilt
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は物体の直交二軸方向への傾きを検出する傾き検
出装置に関する。
出装置に関する。
背景技術
近時、光ビデオ、光オーディオなどの分野で再生専用の
ものは勿論のこと、Ｄ ＲＡ Ｗ（Ｄ Ｉ ＲＥＤＴ−
ＲＥＡＤＩＮＧ−ＡＦＴＥＲ−ＷＲＩＴＥ）又は消去可
能、すなわち記録再生可能なディスクプレーヤの開発研
究が進められている。このようなディスクプレーヤでは
、ディスクの信号記録密度を高密度化するためにビット
の形をできるだけ小さくし正確に書き込めるようにする
こと、半導体レーザの発振出力を大きくすると素子の寿
命が極度に劣化し易い傾向にあること、およびその発振
出力はディスクに集束する半導体レーザのビームスポッ
トの径が例えば２倍Ｃ拡がると略４倍の大きさのものが
必要になること、等の点からレーザビームのスポット径
を極力小さくすることが重要な課題とされている。この
スポット径ｄは、半導体レーザの発振波長をλ、光ピツ
クアップの対物レンズの開口数をＮＡとすれば、一般に
ｄ ” ２／ＮＡとなる。したがって、スポット径ｄを
小さくするには、■発振波長λを小さくする、■開口数
ＮＡを大きくする、の２つの方法が考えられる。ところ
が、現在実用化されているＧａＡｌＡｓ系の半導体レー
ザの発振波長λは、実用化レベルで書き込み用のものは
０．８３μｍ近辺、また再生用のものは０．７７μｍ近
辺が短波長限界であり、それ以下に短くすることは半導
体レーザの寿命などの点で実用上困難である。そこで対
物レンズの開口数ＮＡを大きくする方法が採用される。
ものは勿論のこと、Ｄ ＲＡ Ｗ（Ｄ Ｉ ＲＥＤＴ−
ＲＥＡＤＩＮＧ−ＡＦＴＥＲ−ＷＲＩＴＥ）又は消去可
能、すなわち記録再生可能なディスクプレーヤの開発研
究が進められている。このようなディスクプレーヤでは
、ディスクの信号記録密度を高密度化するためにビット
の形をできるだけ小さくし正確に書き込めるようにする
こと、半導体レーザの発振出力を大きくすると素子の寿
命が極度に劣化し易い傾向にあること、およびその発振
出力はディスクに集束する半導体レーザのビームスポッ
トの径が例えば２倍Ｃ拡がると略４倍の大きさのものが
必要になること、等の点からレーザビームのスポット径
を極力小さくすることが重要な課題とされている。この
スポット径ｄは、半導体レーザの発振波長をλ、光ピツ
クアップの対物レンズの開口数をＮＡとすれば、一般に
ｄ ” ２／ＮＡとなる。したがって、スポット径ｄを
小さくするには、■発振波長λを小さくする、■開口数
ＮＡを大きくする、の２つの方法が考えられる。ところ
が、現在実用化されているＧａＡｌＡｓ系の半導体レー
ザの発振波長λは、実用化レベルで書き込み用のものは
０．８３μｍ近辺、また再生用のものは０．７７μｍ近
辺が短波長限界であり、それ以下に短くすることは半導
体レーザの寿命などの点で実用上困難である。そこで対
物レンズの開口数ＮＡを大きくする方法が採用される。
その場合、開口数ＮＡは記録再生用のものでは最低でも
０．５３程度にしなければならない。ところが、この開
口数ＮＡを大きくすることはディスクの傾き（直交する
ラジアル軸、ジッタ軸方向の傾き）に起因するコマ収差
を増大させる要因となる。このコマ収差はディスクの傾
きの三乗に比例して生ずるもので、その増大は波面収差
に悪影響をおよぼし、これを許容範囲以上に大きくしア
イパターンへ悪くさせてしまう。その結果、良好な記録
再生が行えなくなるｅしたがって、開口数ＮＡを大きく
してスポット径ｄを小さくしようとすれば、ディスクの
傾きを最小限に精度良く抑制することが不可欠となる。
０．５３程度にしなければならない。ところが、この開
口数ＮＡを大きくすることはディスクの傾き（直交する
ラジアル軸、ジッタ軸方向の傾き）に起因するコマ収差
を増大させる要因となる。このコマ収差はディスクの傾
きの三乗に比例して生ずるもので、その増大は波面収差
に悪影響をおよぼし、これを許容範囲以上に大きくしア
イパターンへ悪くさせてしまう。その結果、良好な記録
再生が行えなくなるｅしたがって、開口数ＮＡを大きく
してスポット径ｄを小さくしようとすれば、ディスクの
傾きを最小限に精度良く抑制することが不可欠となる。
そこで従来はディスクを支持する機構系を極めて高精度
なもので構成し、例えばディスクを空気軸受で支持した
り、ディスク回転時にその下方に流体力学的な遠心空気
流を作り出すような構成を採用していた。
なもので構成し、例えばディスクを空気軸受で支持した
り、ディスク回転時にその下方に流体力学的な遠心空気
流を作り出すような構成を採用していた。
ところが、以上のような構成によりディスク回転時の動
的バランスを厳密に抑えたとしても、通常のモータでデ
ィスクを回転駆動すると、モータ軸それ自体の精度やモ
ータ軸と嵌合するプラッタの精度などによりディスクの
面振れやバク付きを完全になくすことは不可能に近い。
的バランスを厳密に抑えたとしても、通常のモータでデ
ィスクを回転駆動すると、モータ軸それ自体の精度やモ
ータ軸と嵌合するプラッタの精度などによりディスクの
面振れやバク付きを完全になくすことは不可能に近い。
また、ディスクを支持する機構系に高精度々ものが要求
されるため、その構造が複雑化すると共に、高価につく
。
されるため、その構造が複雑化すると共に、高価につく
。
特に空気軸受を用いるものは極めて高価であり、コスト
が嵩むため、産業用、工業用としては使用可能であるが
、安価にしなければならない民生用機器には適用困難で
あり不可である。
が嵩むため、産業用、工業用としては使用可能であるが
、安価にしなければならない民生用機器には適用困難で
あり不可である。
そこで、■ディスク支持機構の精度をラフにし、空気軸
受などを不要としその構造を簡単、安価にする、■光ピ
ックアップの姿勢をディスクの傾キに追従させて傾き制
御し、両者の相対姿勢を一定に保つ。これによりコマ収
差の増大を招くことなく対物レンズの開口数ＮＡを少な
くとも０．５以上に太きくシ、スポット径ｄを小さくで
きるようにする。■以上によりディスクが多少類いたり
、ターンテーブルに振れが少々あっても常に高密度なＦ
ｌ−８４；’！−Ａｔン千ゆ７、トらＶ−＋７、プ；Ｊ
’ａ）＞Ｊ−ａニーｉン、Ｍとなる。そのためにディス
クの傾きを精度良く確実に検出して光ピツクアップに正
確に傾きサーボを伝えられるようにすることが必要とな
った。
受などを不要としその構造を簡単、安価にする、■光ピ
ックアップの姿勢をディスクの傾キに追従させて傾き制
御し、両者の相対姿勢を一定に保つ。これによりコマ収
差の増大を招くことなく対物レンズの開口数ＮＡを少な
くとも０．５以上に太きくシ、スポット径ｄを小さくで
きるようにする。■以上によりディスクが多少類いたり
、ターンテーブルに振れが少々あっても常に高密度なＦ
ｌ−８４；’！−Ａｔン千ゆ７、トらＶ−＋７、プ；Ｊ
’ａ）＞Ｊ−ａニーｉン、Ｍとなる。そのためにディス
クの傾きを精度良く確実に検出して光ピツクアップに正
確に傾きサーボを伝えられるようにすることが必要とな
った。
発明の開示
本発明は上記光デイスクプレーヤにおけるディスクのよ
うな平板状の対象物体の基準面に対する直交二軸方向の
傾き検出に用いて好適であり、その傾き検出が対象物体
の動作に追従して誤りなく正確に、かつ簡単、容易に行
える検出装置を提供することを目的とする。
うな平板状の対象物体の基準面に対する直交二軸方向の
傾き検出に用いて好適であり、その傾き検出が対象物体
の動作に追従して誤りなく正確に、かつ簡単、容易に行
える検出装置を提供することを目的とする。
この目的は以下のような構成を採用することによって達
成できる。
成できる。
すなわち、本発明は基準面に設定した直交二軸の交点に
第１の変位センサを、かつ該直交二軸線上の夫々の所定
位置に第２および第３の変位センサを対象物体と近接し
て対向するように設け、該対象物体が前記基準面に対し
傾いたとき、この傾きによる変位を前記各変位センサで
検出し、前記第１の変位センサと第２の変位センサとの
検出出力の首卦よ１１’ ａｆｔ ＩｔＰ筑１のを位セ
ンサに笛３の安位センサとの検出出力の差に基づいて前
記対象物体の基準面に対する直交二軸方向の傾きを検出
するように構成した点に特徴を有する。
第１の変位センサを、かつ該直交二軸線上の夫々の所定
位置に第２および第３の変位センサを対象物体と近接し
て対向するように設け、該対象物体が前記基準面に対し
傾いたとき、この傾きによる変位を前記各変位センサで
検出し、前記第１の変位センサと第２の変位センサとの
検出出力の首卦よ１１’ ａｆｔ ＩｔＰ筑１のを位セ
ンサに笛３の安位センサとの検出出力の差に基づいて前
記対象物体の基準面に対する直交二軸方向の傾きを検出
するように構成した点に特徴を有する。
本発明によれば、対象物体が基準面に対して傾いたとき
、その傾きによる変位を直交二軸の交点に配された基準
となる第１のセンサと、該直交二軸線上に配された第２
．第３のセンサとによって検出し、この検出出力を直交
する二軸について夫々比較しその差出力に基づいて対象
物体の傾き検出を行う構成であるため、その傾き検出が
簡単、容易かつ対象物体の動作に追従して誤シなく正確
に行える。
、その傾きによる変位を直交二軸の交点に配された基準
となる第１のセンサと、該直交二軸線上に配された第２
．第３のセンサとによって検出し、この検出出力を直交
する二軸について夫々比較しその差出力に基づいて対象
物体の傾き検出を行う構成であるため、その傾き検出が
簡単、容易かつ対象物体の動作に追従して誤シなく正確
に行える。
よって本発明を光デイスクプレーヤの光ピツクアップに
適用した場合は、ディスクの傾き検出がいわゆるラジア
ル、ジッタの直交二軸について簡単にかつ正確に行え、
しかもこの検出′により光ピツクアップをディスクの傾
きに追従させて簡単に傾き制御することができ、両者の
相対姿勢を一定に保つことができる。そのため、ディス
クの傾きを一定の範囲でラフに許容することが可能にな
りその面振れ規格などを大幅に緩和し又はなくすことが
できる。したがって、ディスク支持機構も高精度のもの
は不要になり、ラフなもので良くなる。
適用した場合は、ディスクの傾き検出がいわゆるラジア
ル、ジッタの直交二軸について簡単にかつ正確に行え、
しかもこの検出′により光ピツクアップをディスクの傾
きに追従させて簡単に傾き制御することができ、両者の
相対姿勢を一定に保つことができる。そのため、ディス
クの傾きを一定の範囲でラフに許容することが可能にな
りその面振れ規格などを大幅に緩和し又はなくすことが
できる。したがって、ディスク支持機構も高精度のもの
は不要になり、ラフなもので良くなる。
よってディスク支持構造を簡単、安価に構成できる。ま
た、ディスク傾きに起因するコマ収差の発生、増大を抑
制防止できるため、対物レンズの開口数Ｎ Ａを支障な
く０．５以上に大きくすることができる。したがって、
安価な対物レンズが使用可能になる。
た、ディスク傾きに起因するコマ収差の発生、増大を抑
制防止できるため、対物レンズの開口数Ｎ Ａを支障な
く０．５以上に大きくすることができる。したがって、
安価な対物レンズが使用可能になる。
また、これによシ半導体レーザからディスクに照射され
るビームスポットの径ｄを極力小さくすることができる
。
るビームスポットの径ｄを極力小さくすることができる
。
なお、本発明は以下に詳述する光デイスクプレーヤのデ
ィスクの傾き検出のみならず、その他の磁気ヘッドによ
り磁気ディスクに記録再生する形式の情報機器における
ディスクの傾き検出、あるいはロボット技術や生産自動
化技術の分野における、ある動作を行う物体の傾きを近
接位置で該動作に追従して検出したいような場合に広く
適用できるものである。
ィスクの傾き検出のみならず、その他の磁気ヘッドによ
り磁気ディスクに記録再生する形式の情報機器における
ディスクの傾き検出、あるいはロボット技術や生産自動
化技術の分野における、ある動作を行う物体の傾きを近
接位置で該動作に追従して検出したいような場合に広く
適用できるものである。
更に、傾き検出に用いられる変位センサとしては、光セ
ンサだけでなく、その他の超音波センサや磁気センサな
どの近接センサであれば、広く採用することが可能であ
る。
ンサだけでなく、その他の超音波センサや磁気センサな
どの近接センサであれば、広く採用することが可能であ
る。
発明を実施するための最良の形態
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。
。
第１図、第２図は本発明が適用される記録再生可能な光
デイスクプレーヤの光ピツクアップを示すもので、プレ
ーヤ本体を構成する基盤１０上に半導体レーザを備えた
光学系を有する光学ベース１１が弾性支持体１２および
Ｍｌ、第２の制御体１３．１４によって直交するラジア
ル軸Ｒおよびジッタ軸Ｊ方向に傾き制御可能に支持され
ている。
デイスクプレーヤの光ピツクアップを示すもので、プレ
ーヤ本体を構成する基盤１０上に半導体レーザを備えた
光学系を有する光学ベース１１が弾性支持体１２および
Ｍｌ、第２の制御体１３．１４によって直交するラジア
ル軸Ｒおよびジッタ軸Ｊ方向に傾き制御可能に支持され
ている。
弾性支持体１２は板バネ材によって略５状に形成され、
光学ベース１１の一隅ヤイ底部（図に示す手前隅部）と
基盤１０間に介装されている。
光学ベース１１の一隅ヤイ底部（図に示す手前隅部）と
基盤１０間に介装されている。
第１．第２の制御体１３．１４はいわゆるバイモルフ素
子から成っており、支持片１５．１６を介して基盤ｌＯ
上に片持ち支持されている。
子から成っており、支持片１５．１６を介して基盤ｌＯ
上に片持ち支持されている。
第１の制御体１３は光学ベース１１を弾性支持体１２で
支持されたところを支点にラジアル軸Ｒに傾き制御する
ためのもので、ベース１１の長手方向反対側の隅部底面
を支えている。
支持されたところを支点にラジアル軸Ｒに傾き制御する
ためのもので、ベース１１の長手方向反対側の隅部底面
を支えている。
第２の制御体１４は光学ベース１１を弾性支持体１２を
支点にジッタ軸Ｊ方向に傾き制御するためのもので、ベ
ース１１の弾性支持体１２と幅方向反対側すなわち第１
の制御体１３と対角位置の隅部底面を支えている。
支点にジッタ軸Ｊ方向に傾き制御するためのもので、ベ
ース１１の弾性支持体１２と幅方向反対側すなわち第１
の制御体１３と対角位置の隅部底面を支えている。
光学ベース１１のラジアル軸Ｒに沿う長手方向中心線上
のディスクＤの中心寄り一端部に光ビームの透過窓１７
が開口形成されている。この透過窓１７を通して半導体
レーザからのレーザビームがコリメータ光軸Ｃに沿って
対物レンズ１８に入射し、これよりスポットとなってデ
ィスクＤの記録再生面に照射される。この対物レンズ１
８は光学ベース１１上に設けられたアクチュエータによ
ってフォーカス軸Ｆおよびラジアル軸Ｒに沿う直交二軸
方向に駆動制御される。これによりビームスポットの位
置がフォーカス方向又はラジアル方向に正しく制御され
る。
のディスクＤの中心寄り一端部に光ビームの透過窓１７
が開口形成されている。この透過窓１７を通して半導体
レーザからのレーザビームがコリメータ光軸Ｃに沿って
対物レンズ１８に入射し、これよりスポットとなってデ
ィスクＤの記録再生面に照射される。この対物レンズ１
８は光学ベース１１上に設けられたアクチュエータによ
ってフォーカス軸Ｆおよびラジアル軸Ｒに沿う直交二軸
方向に駆動制御される。これによりビームスポットの位
置がフォーカス方向又はラジアル方向に正しく制御され
る。
なお、実施例では対物レンズ１８を支持するレンズホル
ダや、これを支持する板バネ系、あるいは磁気回路やこ
れと組合されるフォーカス制御およびラジアル制御用コ
イルなどのレンズ駆動系などから成るピックアップアク
チュエータは、簡単化のため図示を省略しである０ 光学ベース１１のラジアル軸Ｒとジッタ軸Ｊとの交点に
相当する上面隅部に基準変位センサＳＳ、そのラジアル
軸Ｒに沿う直交軸上の隅部にラジアル方向傾き検出用の
変位センサＳＲ，またジッタ軸Ｊに沿う直交軸上の隅部
にジッタ類き検出用の変位センサＳ、ｒがディスクＤの
反射面と対向するように配設されている。
ダや、これを支持する板バネ系、あるいは磁気回路やこ
れと組合されるフォーカス制御およびラジアル制御用コ
イルなどのレンズ駆動系などから成るピックアップアク
チュエータは、簡単化のため図示を省略しである０ 光学ベース１１のラジアル軸Ｒとジッタ軸Ｊとの交点に
相当する上面隅部に基準変位センサＳＳ、そのラジアル
軸Ｒに沿う直交軸上の隅部にラジアル方向傾き検出用の
変位センサＳＲ，またジッタ軸Ｊに沿う直交軸上の隅部
にジッタ類き検出用の変位センサＳ、ｒがディスクＤの
反射面と対向するように配設されている。
これらの変位センサＳ Ｓ ＋ Ｓ Ｒ、Ｓ Ｊは、第
２図。
２図。
第３図に示すように、例えば光りフレフタで構成され、
ケーシング２０と、このケーシング２０に夫々配設され
ｆｃＬＥＤ等からなる発光素子２１と、フォトトランジ
スタ、フォトダイオード等からなる受光素子２２とから
成っている。発光素子２１からの光はディスクＤで反射
されて受光素子２２で受光検出され、アンプ２４で増幅
され出力される。その際、ディスクＤの反射面と変位セ
ンサとの間の距離、すなわちセンサの作動距離Ｗ、Ｄ（
ＷＯＲＫＩＮＧ−ＤＩＳＴＡＮＣＥ）は、先ず第２図に
示すディスク反射面上での発光開口Ｎ１１受光開口Ｎ２
の共有部分、すなわち両開口が重なり合う部分Ｎ３の比
から第４図に示す変位特性を得る（ここで、Ｈはディス
クＤが基準面に対して傾いたときの該面に対する変位を
表わす）。次に第４図に示す変化特性線と破線で示す線
との交点上に作動距離Ｗ、Ｄを設定する。これによって
Ｗ、Ｄを変位特性がリニアな部分に設定する。
ケーシング２０と、このケーシング２０に夫々配設され
ｆｃＬＥＤ等からなる発光素子２１と、フォトトランジ
スタ、フォトダイオード等からなる受光素子２２とから
成っている。発光素子２１からの光はディスクＤで反射
されて受光素子２２で受光検出され、アンプ２４で増幅
され出力される。その際、ディスクＤの反射面と変位セ
ンサとの間の距離、すなわちセンサの作動距離Ｗ、Ｄ（
ＷＯＲＫＩＮＧ−ＤＩＳＴＡＮＣＥ）は、先ず第２図に
示すディスク反射面上での発光開口Ｎ１１受光開口Ｎ２
の共有部分、すなわち両開口が重なり合う部分Ｎ３の比
から第４図に示す変位特性を得る（ここで、Ｈはディス
クＤが基準面に対して傾いたときの該面に対する変位を
表わす）。次に第４図に示す変化特性線と破線で示す線
との交点上に作動距離Ｗ、Ｄを設定する。これによって
Ｗ、Ｄを変位特性がリニアな部分に設定する。
次に第５図は本発明によるディスク傾き検出の基本的原
理を示すものである。
理を示すものである。
先ず、ディスクＤがラジアル軸方向にｅＲの角度で傾く
と、変位セ／すＳｓ 、ＳＲが夫々の位置におけるディ
スクＤの仮想基準面に対する変位Ｈ１，Ｈ２を検出する
。この傾きｅＲは、図より明らかなように、０Ｒ−ｔａ
ｎ−１Ｈ７Ｌとなる。ここでＬは変位センサｓ３．ｓＨ
による傾き検出位置間の距離であって一定である。よっ
て、Ｈ＝Ｈｔ Ｈ＋をめることによって傾きｅＲがめら
れる。その手順は次のように行われる。
と、変位セ／すＳｓ 、ＳＲが夫々の位置におけるディ
スクＤの仮想基準面に対する変位Ｈ１，Ｈ２を検出する
。この傾きｅＲは、図より明らかなように、０Ｒ−ｔａ
ｎ−１Ｈ７Ｌとなる。ここでＬは変位センサｓ３．ｓＨ
による傾き検出位置間の距離であって一定である。よっ
て、Ｈ＝Ｈｔ Ｈ＋をめることによって傾きｅＲがめら
れる。その手順は次のように行われる。
変位Ｌ 、Ｈｚが変位センサｓｓ、ＳＲで検出されると
、その検出信号ｅｓ、ｅＢは夫々コンパレータ４１の■
端子と○端子とに加えられ、ここで比較され、その差出
力として端子４３からラジアル軸Ｒ方向の傾き誤差信号
θＲ＝（ｅｓ−ｅｎ）が取り出される。これによってデ
ィスクＤの傾きθＢが検出される。
、その検出信号ｅｓ、ｅＢは夫々コンパレータ４１の■
端子と○端子とに加えられ、ここで比較され、その差出
力として端子４３からラジアル軸Ｒ方向の傾き誤差信号
θＲ＝（ｅｓ−ｅｎ）が取り出される。これによってデ
ィスクＤの傾きθＢが検出される。
なお、以上の説明では、ディスクがラジアル軸方向に傾
いた場合を例に挙げて説明したが、ジッタ軸Ｊ方向に傾
いた場合においても上述と同様の手順によりその傾きを
検出することができる。
いた場合を例に挙げて説明したが、ジッタ軸Ｊ方向に傾
いた場合においても上述と同様の手順によりその傾きを
検出することができる。
次に以上の原理に基づいた本実施例装置によるディスク
傾き検出動作について説明する。
傾き検出動作について説明する。
先ずディスクＤが光ピツクアップのコリメータ光軸Ｃと
直交した状態からラジアル軸Ｒおよびジッタ軸Ｊ方向に
θＲ１θＪの角度で傾いたとする。
直交した状態からラジアル軸Ｒおよびジッタ軸Ｊ方向に
θＲ１θＪの角度で傾いたとする。
すると、各変位センサＳｓ、ＳＲ，ＳＪの発光素子２１
からの光がディスクＤの反射面で反射し、その反射光が
受光素子２２で受光検出され、夫２々の位置におけるデ
ィスクＤの基準面に対する変位が検出される。その検出
信号ｅｌｌｊ、ｅＪ、ｅＳは第６図に示すように、アン
プ３１，３２．３３を通してコンノ（レータ４１．４２
のｅ端子と■端子とに夫々加えられる。すなわち、信号
ｅＲはコンパレータ４１のθ端子に、また信号ｅＪはコ
ンパレータ４２のｅ端子に、かつｅｓはコンパレータ４
１，４２の各■端子に、夫々加えられる。次いで、信号
ｅＲ＋ｅＪはコンパレータ４１，４２で基準信号ｅＳ
と比較され、そ５の差出力として端子４３．４４からラ
ジアル軸方向の傾き誤差信号０Ｒ＝（ｅｓ−ｅＲ）およ
びジッタ軸方向の傾き誤差信号θ、ｒ ＝（ｅ ｓ−ｅ
Ｊ ）が取り出される。これによってディスクＤのラ
ジアル方向 軸方向の傾き検出がなされる。
からの光がディスクＤの反射面で反射し、その反射光が
受光素子２２で受光検出され、夫２々の位置におけるデ
ィスクＤの基準面に対する変位が検出される。その検出
信号ｅｌｌｊ、ｅＪ、ｅＳは第６図に示すように、アン
プ３１，３２．３３を通してコンノ（レータ４１．４２
のｅ端子と■端子とに夫々加えられる。すなわち、信号
ｅＲはコンパレータ４１のθ端子に、また信号ｅＪはコ
ンパレータ４２のｅ端子に、かつｅｓはコンパレータ４
１，４２の各■端子に、夫々加えられる。次いで、信号
ｅＲ＋ｅＪはコンパレータ４１，４２で基準信号ｅＳ
と比較され、そ５の差出力として端子４３．４４からラ
ジアル軸方向の傾き誤差信号０Ｒ＝（ｅｓ−ｅＲ）およ
びジッタ軸方向の傾き誤差信号θ、ｒ ＝（ｅ ｓ−ｅ
Ｊ ）が取り出される。これによってディスクＤのラ
ジアル方向 軸方向の傾き検出がなされる。
端子４３．４４から取り出された傾き誤差信号ＯＲ２θ
Ｊは上記第１．第２の制御体１３．１４に夫々加えられ
る。これによシ第１および第２の制御体１３．１’４は
共に通電駆動され、第１図の矢印１０１，１０２ で示
すように、弾性支持体１２で片持ち支持されたところを
支点に、信号θＲ１θＪのの、ｅの符号および大きさに
応じて、例えば上方に所要量変位する。その結果、光ピ
ツクアップ全体に傾きサーボが加わり、これを誤差信号
θ几。
Ｊは上記第１．第２の制御体１３．１４に夫々加えられ
る。これによシ第１および第２の制御体１３．１’４は
共に通電駆動され、第１図の矢印１０１，１０２ で示
すように、弾性支持体１２で片持ち支持されたところを
支点に、信号θＲ１θＪのの、ｅの符号および大きさに
応じて、例えば上方に所要量変位する。その結果、光ピ
ツクアップ全体に傾きサーボが加わり、これを誤差信号
θ几。
θＪを打ち消すように弾性支持体１２を支点にラジアル
軸Ｒとジッタ軸Ｊとの直交二軸方向に傾かせる。したが
って、光ピツクアップはディスクＤの傾きに追従して傾
き制御され、両者の相対姿勢が一定に保たれる。すなわ
ち、光ピツクアップのコリメータ元軸ＣをディスクＤに
直交した状態でビームスポットを正しくディスク面に照
射することができる。
軸Ｒとジッタ軸Ｊとの直交二軸方向に傾かせる。したが
って、光ピツクアップはディスクＤの傾きに追従して傾
き制御され、両者の相対姿勢が一定に保たれる。すなわ
ち、光ピツクアップのコリメータ元軸ＣをディスクＤに
直交した状態でビームスポットを正しくディスク面に照
射することができる。
次に第７図、第８図は本発明装置の他の実施例を示すも
ので、上記実施例と同一箇所には同一符号を援用してそ
の説明を省略する。
ので、上記実施例と同一箇所には同一符号を援用してそ
の説明を省略する。
第７図、第８図において、光学ペース１１のラジアル軸
Ｒとジッタ軸Ｊとの直交二軸交点に相当する上面−隅部
に基準変位センサＳＳに接続される一対の発光側と受光
側の光ファイバ５１１，５１２が配設されている。その
ラジアル軸Ｒに沿う直交軸上の他隅部すなわちベース１
１の長手方向他隅部に変位センサｓＲに接続される一対
の発光側および受光側の光ファイバ５２１．５２２が、
更にジッタ軸Ｊに沿う直交軸上の他隅部すなわちベース
幅方向他隅部に変位センサＳＪに接ｉされる一対の発光
側、受光側の光ファイバ５３１，５３２が夫々ディスク
Ｄの反射面と対向するように配設されている。
Ｒとジッタ軸Ｊとの直交二軸交点に相当する上面−隅部
に基準変位センサＳＳに接続される一対の発光側と受光
側の光ファイバ５１１，５１２が配設されている。その
ラジアル軸Ｒに沿う直交軸上の他隅部すなわちベース１
１の長手方向他隅部に変位センサｓＲに接続される一対
の発光側および受光側の光ファイバ５２１．５２２が、
更にジッタ軸Ｊに沿う直交軸上の他隅部すなわちベース
幅方向他隅部に変位センサＳＪに接ｉされる一対の発光
側、受光側の光ファイバ５３１，５３２が夫々ディスク
Ｄの反射面と対向するように配設されている。
これらの光ファイバ５１１〜５３１および５１２の一端
は光学ベース１１から引き出され、コネクタ５４を介し
て各変位センサの上記発光素子２１と受光素子２２とに
接続されている。
は光学ベース１１から引き出され、コネクタ５４を介し
て各変位センサの上記発光素子２１と受光素子２２とに
接続されている。
そして、各変位センサＳＳ ＋ Ｓ Ｒｒ Ｓ Ｊから
の光は発光側の光ファイバ５１１〜５３１を通してディ
スクＤの反射面に反射され、その反射光が受光側の光フ
ァイバ５１２〜５３２を通して各センサの、受光素子２
２で受光検出される。この検出信号ｅ３゜ｅ Ｒ＋ ｅ
Ｊは上述と同様の手順によって信号処理され、・その
結果、上記同様にディスクＤの傾き検出がなされる。
の光は発光側の光ファイバ５１１〜５３１を通してディ
スクＤの反射面に反射され、その反射光が受光側の光フ
ァイバ５１２〜５３２を通して各センサの、受光素子２
２で受光検出される。この検出信号ｅ３゜ｅ Ｒ＋ ｅ
Ｊは上述と同様の手順によって信号処理され、・その
結果、上記同様にディスクＤの傾き検出がなされる。
第１図は本発明が適用される光ピツクアップの一例を示
す斜視図、第２図は本発明に係る変位センサの一例を示
す断面図、第３図はその回路図、第４図は本変位センサ
の変位特性を示すグラフ図第５図は本発明装置の傾き検
出原理図、第６図は本発明装置によるディスク傾き検出
動作を説明すＳｓ・・・・・・ （第１の）変位センサ
、ＳＲ・・・・・ （第２の〕変位セ／ンサ、ＳＪ・・
・・ （第３の）変位センサ、Ｄ・・・・・・・ディス
ク（対象物体）、ｅＲ・・・・・・ ラジアル軸方向の
傾き、／ｌ −、−、−、−、！シ 、リ カ 重重
１ｚ 而 θ）を百 さ■・・・・・・・・・変位、 ” ｓｒ ｅＲ＋ ” Ｊ・・・・・・変位センサの検
出出力、３１．３２．３３・・・・・・アンプ、４１．
４２・・・・・・ コンパレーク、５１１〜５３１・・
・・・発光側光ファイノく、５１２〜５３２・・・・・
受光側光ファイノ；。 特許出願人 日本電気ホームエレクトロ第２図 第３図
す斜視図、第２図は本発明に係る変位センサの一例を示
す断面図、第３図はその回路図、第４図は本変位センサ
の変位特性を示すグラフ図第５図は本発明装置の傾き検
出原理図、第６図は本発明装置によるディスク傾き検出
動作を説明すＳｓ・・・・・・ （第１の）変位センサ
、ＳＲ・・・・・ （第２の〕変位セ／ンサ、ＳＪ・・
・・ （第３の）変位センサ、Ｄ・・・・・・・ディス
ク（対象物体）、ｅＲ・・・・・・ ラジアル軸方向の
傾き、／ｌ −、−、−、−、！シ 、リ カ 重重
１ｚ 而 θ）を百 さ■・・・・・・・・・変位、 ” ｓｒ ｅＲ＋ ” Ｊ・・・・・・変位センサの検
出出力、３１．３２．３３・・・・・・アンプ、４１．
４２・・・・・・ コンパレーク、５１１〜５３１・・
・・・発光側光ファイノく、５１２〜５３２・・・・・
受光側光ファイノ；。 特許出願人 日本電気ホームエレクトロ第２図 第３図
Claims (4)
- （１）、基準面に設定した直交、二軸の交点に第１の変
位センサを、かつ該直交二軸上の夫々の所定位置に第２
および第３の変位センサを対象物体と近接して対向する
ように設け、該対象物体が前記基準面に対し傾いたとき
、この傾きによる変位を前記各変位センサで検出し、前
記第１の変位センサと第２の変位センサとの検出出力の
差および前記第１の変位センサと第３の変位センサとの
検出出力の差に基づいて前記対象物体の前記基準面に対
する前記直交二軸方向の傾きを検出するようにして成る
物体の傾き検出装置。 - （２）、前記第１乃至第３の変位センサが、光ピツクア
ップ上のラジアル軸とジッタ軸とに沿う直交する二軸の
交点と該二軸上とに光デイスク面と近接して対向するよ
うに夫々配置されて成る特許請求の範囲筺１頂にＲＰ截
の物体の傾き検出装置。 - （３）、前記変位センサが、光りフレフタ等の光センサ
で構成されて成る特許請求の範囲第１項又は第２項に記
載の物体の傾き検出装置。 - （４）、前記変位センサが、前記対象物体と近接して対
向するように設けられた一対の光ファイバーと、この光
ファイバーの一端に夫々接続された発光素子と受光素子
とからなる光センサとによって構成されて成る特許請求
の範囲第１項、第２項又は第３項に記載の物体の傾き検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14015983A JPS6032144A (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | 物体の傾き検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14015983A JPS6032144A (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | 物体の傾き検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6032144A true JPS6032144A (ja) | 1985-02-19 |
Family
ID=15262238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14015983A Pending JPS6032144A (ja) | 1983-07-30 | 1983-07-30 | 物体の傾き検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6032144A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0877372A2 (en) * | 1997-05-09 | 1998-11-11 | Hewlett-Packard Company | Head positioning system with photosensor |
| EP0877230A2 (en) * | 1997-05-09 | 1998-11-11 | Hewlett-Packard Company | Circuit for lateral photoeffect position sensor |
-
1983
- 1983-07-30 JP JP14015983A patent/JPS6032144A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0877372A2 (en) * | 1997-05-09 | 1998-11-11 | Hewlett-Packard Company | Head positioning system with photosensor |
| EP0877230A2 (en) * | 1997-05-09 | 1998-11-11 | Hewlett-Packard Company | Circuit for lateral photoeffect position sensor |
| EP0877372A3 (en) * | 1997-05-09 | 2000-12-13 | Hewlett-Packard Company | Head positioning system with photosensor |
| EP0877230A3 (en) * | 1997-05-09 | 2000-12-13 | Hewlett-Packard Company | Circuit for lateral photoeffect position sensor |
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