JPS6031038A - 構造物試験機 - Google Patents
構造物試験機Info
- Publication number
- JPS6031038A JPS6031038A JP13956283A JP13956283A JPS6031038A JP S6031038 A JPS6031038 A JP S6031038A JP 13956283 A JP13956283 A JP 13956283A JP 13956283 A JP13956283 A JP 13956283A JP S6031038 A JPS6031038 A JP S6031038A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- jack
- displacement
- control device
- value
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M7/00—Vibration-testing of structures; Shock-testing of structures
- G01M7/02—Vibration-testing by means of a shake table
- G01M7/022—Vibration control arrangements, e.g. for generating random vibrations
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は構造物試験機に関し、特に、構造物に加える負
荷を変位で制御するような試験において有効な構造物試
験機に関する。
荷を変位で制御するような試験において有効な構造物試
験機に関する。
（ロ）従来技術
従来の構造物試験機においては、負荷を変位で制御する
場合、構造物に負荷を与えるジヤツキ内部に設けられた
変位検出器の出力を、目標値にフィードバックすること
によって行っていた。すなわち、ジヤツキの変位量（駆
動量）が所定の目標値となるような制御を行っていた。
場合、構造物に負荷を与えるジヤツキ内部に設けられた
変位検出器の出力を、目標値にフィードバックすること
によって行っていた。すなわち、ジヤツキの変位量（駆
動量）が所定の目標値となるような制御を行っていた。
しかし、このようなジヤツキの変位量の針側値には、ジ
ヤツキ部分やジヤツキと構造物との接合部分等に存在す
る機械的な遊びや、電気的な雑音成分により誤差が生ず
る。更に、試験するべき構造物の剛性等の材料特性によ
り、構造物自体の変位量はジヤツキの変位量とは若干具
る値となり、特に数十ミクロンのオーダーの精度が要求
される構造物試験にあっては、かかる従来の制御方法で
は問題があった。
ヤツキ部分やジヤツキと構造物との接合部分等に存在す
る機械的な遊びや、電気的な雑音成分により誤差が生ず
る。更に、試験するべき構造物の剛性等の材料特性によ
り、構造物自体の変位量はジヤツキの変位量とは若干具
る値となり、特に数十ミクロンのオーダーの精度が要求
される構造物試験にあっては、かかる従来の制御方法で
は問題があった。
（ハ）目的
本発明は上述の問題点を解消すべくなされたもので、従
来の試験機では実質的に不可能であった高精度の変位制
御を行い得る構造物試験機の提供を目的とする。
来の試験機では実質的に不可能であった高精度の変位制
御を行い得る構造物試験機の提供を目的とする。
（ニ）構成
本発明の構造物試験機は、試験すべき構造物に負荷を与
えるジヤツキと、入力された制御命令に基づき、ジヤツ
キの駆動を制御するジヤツキ制御装置と、そのジヤツキ
制御装置に対して上述の制御命令を供給する演算制御部
と、試験すべき構造物の変位を検出してその検出値を演
算制御部に供給する構造物変位センサとを備え、演算制
御部において次に出力すべき制御命令Ａｏｎを、現在の
制御命令Ａ ｏ ｐ、あらかじめ設定された構造物変位
目標値ｄＱおよび構造物変位センサによる検出値ｄを用
いて、 Ａｏｎ＝Ａｏｐ＋ＳＧＮ （ｄｏ ｄ）ここでＳＧＮ、
括弧内の値が正であれば＋１．０であれば０１負であれ
ば−１ となる関数 によって演算するよう構成したことを特徴としている。
えるジヤツキと、入力された制御命令に基づき、ジヤツ
キの駆動を制御するジヤツキ制御装置と、そのジヤツキ
制御装置に対して上述の制御命令を供給する演算制御部
と、試験すべき構造物の変位を検出してその検出値を演
算制御部に供給する構造物変位センサとを備え、演算制
御部において次に出力すべき制御命令Ａｏｎを、現在の
制御命令Ａ ｏ ｐ、あらかじめ設定された構造物変位
目標値ｄＱおよび構造物変位センサによる検出値ｄを用
いて、 Ａｏｎ＝Ａｏｐ＋ＳＧＮ （ｄｏ ｄ）ここでＳＧＮ、
括弧内の値が正であれば＋１．０であれば０１負であれ
ば−１ となる関数 によって演算するよう構成したことを特徴としている。
（ホ）実施例
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第１図は本発明実施例の構成図である。
試験すべき構造物Ｗは、ジヤツキ１によって負荷が与え
られる。そのジヤツキ１の駆動はジヤツキ制御装置２か
ら発生される操作信号に基づいて制御される。この操作
信号の大きさは、ジヤツキ制御装置２に供給される後述
する制御命令ＡＯの大きさによって決定される。なお、
ジヤツキ制御装置２によるジヤツキ１の駆動制御は、例
えば電気油圧式サーボ機構によって実施することができ
、具体的には、図示しない油圧源からの作動油のジヤツ
キ１への流入量を、ジヤツキ制御装置２からの操作信号
によって作動されるサーボバルブで加減することにより
、ジヤツキ１のストロークを制御するよう構成すればよ
い。
られる。そのジヤツキ１の駆動はジヤツキ制御装置２か
ら発生される操作信号に基づいて制御される。この操作
信号の大きさは、ジヤツキ制御装置２に供給される後述
する制御命令ＡＯの大きさによって決定される。なお、
ジヤツキ制御装置２によるジヤツキ１の駆動制御は、例
えば電気油圧式サーボ機構によって実施することができ
、具体的には、図示しない油圧源からの作動油のジヤツ
キ１への流入量を、ジヤツキ制御装置２からの操作信号
によって作動されるサーボバルブで加減することにより
、ジヤツキ１のストロークを制御するよう構成すればよ
い。
ジヤツキ１により加えられた負荷による構造物Ｗの変位
は、構造物変位センサ３によって検出される。この構造
物変位センサ３は、構造物Ｗの変位をデジタル量で検出
して出力するセンサであって、例えば構造物Ｗと隔離的
にフレーム４を構築し、そのフレーム４に装着された磁
気格子スケール３ａと、構造物Ｗの変位測定部位に取り
付けられた磁気ヘッド３ｂとによって構成することがで
きる。
は、構造物変位センサ３によって検出される。この構造
物変位センサ３は、構造物Ｗの変位をデジタル量で検出
して出力するセンサであって、例えば構造物Ｗと隔離的
にフレーム４を構築し、そのフレーム４に装着された磁
気格子スケール３ａと、構造物Ｗの変位測定部位に取り
付けられた磁気ヘッド３ｂとによって構成することがで
きる。
構造物変位センサ３による構造物Ｗのデジタル変位検出
値ｄは、演算制御部５に取り込まれる。
値ｄは、演算制御部５に取り込まれる。
演算制御部５はミニコンピユータによって構成され、上
述の変位検出値ｄとあらかじめ設定されている構造物変
位目標値ｄＱとに基づいて、後述する如く制御命令Ａｏ
を逐次演算し、Ｄ−Ａ変換器６を介してジヤツキ制御装
置２に供給する。この制御命令Ａｏは、上述した如く、
ジヤツキ制御装置２からの操作信号の大きさを決定する
。なお、演算制御部５には、ジヤツキ１に組み込まれた
荷重センサによる荷重データが、ジヤツキ制御装置２を
経てＡ−Ｄ変換器７を介してデジタル化された後、入力
されるよう構成されている。
述の変位検出値ｄとあらかじめ設定されている構造物変
位目標値ｄＱとに基づいて、後述する如く制御命令Ａｏ
を逐次演算し、Ｄ−Ａ変換器６を介してジヤツキ制御装
置２に供給する。この制御命令Ａｏは、上述した如く、
ジヤツキ制御装置２からの操作信号の大きさを決定する
。なお、演算制御部５には、ジヤツキ１に組み込まれた
荷重センサによる荷重データが、ジヤツキ制御装置２を
経てＡ−Ｄ変換器７を介してデジタル化された後、入力
されるよう構成されている。
次に作用を述べる。第２図は演算制御部５に書き込まれ
たプログラムを示すフローチャートである。
たプログラムを示すフローチャートである。
試験に先立ち、構造物変位目標値ｄ、を演算制御部５に
設定しておく。試験開始当初、制御命令の初期値が０に
設定される。そして、構造物変位センサ３からの変位検
出値ｄの初期値が取り込まれ、次の式によってジヤツキ
制御部２に供給すべき制御命令Ａｏｎが算出される。
設定しておく。試験開始当初、制御命令の初期値が０に
設定される。そして、構造物変位センサ３からの変位検
出値ｄの初期値が取り込まれ、次の式によってジヤツキ
制御部２に供給すべき制御命令Ａｏｎが算出される。
Ａｏｎ＝Ａｏｐ＋ＳＧＮ （ｄ□ −ｄ）式において、
Ａｏｐは現在の制御命令で、ＳＧＮは括弧内の値が正で
あれば＋１．０であれば０、負であれば−１なる数値を
採る関数である。試験開始当初はＡｏｐが０に設定さて
ており、構造物Ｗの変位検出値ｄは目標値ｔｉｏに達し
ていないから、Ａｏｎは１なる値となる。そしてこの算
出された制御命令Ａｏｎが出力され、Ｄ−Ａ変換器６を
介してジヤツキ制御装置２に供給され、その値に応じた
操作信号を発してジヤツキ１が駆動され。
Ａｏｐは現在の制御命令で、ＳＧＮは括弧内の値が正で
あれば＋１．０であれば０、負であれば−１なる数値を
採る関数である。試験開始当初はＡｏｐが０に設定さて
ており、構造物Ｗの変位検出値ｄは目標値ｔｉｏに達し
ていないから、Ａｏｎは１なる値となる。そしてこの算
出された制御命令Ａｏｎが出力され、Ｄ−Ａ変換器６を
介してジヤツキ制御装置２に供給され、その値に応じた
操作信号を発してジヤツキ１が駆動され。
構造物Ｗに負荷が与えられる。次に、再度構造物Ｗの変
位検出値ｄが採取され、目標値ｄｏと比較される。変位
検出値ｄが目標値ｄＯに達していない間は、次に出力す
べき制御命令Ａｏｎが順次＋１づつ増加されてゆく。ま
た、もし変位検出値ｄが目標値ｄＯを超えたときには、
次に出力すべき制御命令Ａｏｎは−１だけ減少される。
位検出値ｄが採取され、目標値ｄｏと比較される。変位
検出値ｄが目標値ｄＯに達していない間は、次に出力す
べき制御命令Ａｏｎが順次＋１づつ増加されてゆく。ま
た、もし変位検出値ｄが目標値ｄＯを超えたときには、
次に出力すべき制御命令Ａｏｎは−１だけ減少される。
やがて変位検出値ｄが目標値ｄＱと等しくなれば、その
時点における荷重検出値のデジタル変換データが採取さ
れて格納される。なお、目標値ｄＱを複数個設定して、
段階的に構造物Ｗの変位を変化させるような試験では、
一つの目標値に到達した後、自動的に次の目標値が選択
される。また、目標値ｄ□と変位検出値ｄとの比較は、
ｄがｄＱに対してあらかじめ定められた許容範囲内に収
まっていればｄ−ｄＯと判断するようプログラムしてお
いてもよい。
時点における荷重検出値のデジタル変換データが採取さ
れて格納される。なお、目標値ｄＱを複数個設定して、
段階的に構造物Ｗの変位を変化させるような試験では、
一つの目標値に到達した後、自動的に次の目標値が選択
される。また、目標値ｄ□と変位検出値ｄとの比較は、
ｄがｄＱに対してあらかじめ定められた許容範囲内に収
まっていればｄ−ｄＯと判断するようプログラムしてお
いてもよい。
以上説明した実施例では、ジヤツキおよび構造物変位セ
ンサを各１個用いる場合について述べたが、複数個のジ
ヤツキと各ジヤツキに対応する構造物変位センサを用い
、複数個のジヤツキそれぞれに対して上述の如き制御を
施すことも可能である。
ンサを各１個用いる場合について述べたが、複数個のジ
ヤツキと各ジヤツキに対応する構造物変位センサを用い
、複数個のジヤツキそれぞれに対して上述の如き制御を
施すことも可能である。
また、構造物変位センサは、磁気格子スケールと磁気ヘ
ッドによらず、例えば光学格子スケールと光学ヘッドに
よるデジタル変位センサであってもよいことは勿論であ
る。
ッドによらず、例えば光学格子スケールと光学ヘッドに
よるデジタル変位センサであってもよいことは勿論であ
る。
（へ）効果
以上説明したように、本発明によれば、構造物自体の変
位量を直接検出して、目標値に対する差に基づいて制御
命令ＡＯを演算するので、従来の試験機に比べて制御精
度が著しく向上する。また、目標値を複数個設定して段
階的な負荷を加えるような試験においては、試験に先立
って複数個の目標値を設定しておくことにより、後は自
動的に試験が遂行され、試験の省力化並びに短縮化が達
成される。
位量を直接検出して、目標値に対する差に基づいて制御
命令ＡＯを演算するので、従来の試験機に比べて制御精
度が著しく向上する。また、目標値を複数個設定して段
階的な負荷を加えるような試験においては、試験に先立
って複数個の目標値を設定しておくことにより、後は自
動的に試験が遂行され、試験の省力化並びに短縮化が達
成される。
第１図は本発明実施例の構成図、第２図はその演算制御
部に書き込まれたプログラムを示すフローチャートであ
る。 １・・−ジヤツキ ２−ジヤツキ制御装置３・−構造物
変位センサ ４・−フレーム５−・−演算ｍ１ｌｌｉ部
６−−−−Ｄ −ＡＩＥＩｉ器７・−Ａ −Ｄ変換器 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士西１）新
部に書き込まれたプログラムを示すフローチャートであ
る。 １・・−ジヤツキ ２−ジヤツキ制御装置３・−構造物
変位センサ ４・−フレーム５−・−演算ｍ１ｌｌｉ部
６−−−−Ｄ −ＡＩＥＩｉ器７・−Ａ −Ｄ変換器 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人 弁理士西１）新
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試験すべき構造物に負荷を与えるジヤツキと、入力され
た制御命令に基づき上記ジヤツキの駆動を制御するジヤ
ツキ制御装置と、そのジヤツキ制御装置に上記制御命令
を与える演算制御部と、上記構造物の変位を検出して上
記演算制御部に供給する構造物変位センサとを備え、上
記演算制御部において次に出力すべき制御命令Ａｏｎを
、現在の制御命令Ａｏｐ、あらかじめ設定された構造物
変位目標値ｄＯおよび重量構造物変位センサ出力ｄを用
いて、 Ａｏｎ＝Ａｏｐ＋ＳＧＮ （ｄｏ ｄ）ここでＳＧＮ；
括弧内が正のとき＋１，０のとき０．負のとき−１とな
る関数 によって演算するよう構成した構造物試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13956283A JPS6031038A (ja) | 1983-07-29 | 1983-07-29 | 構造物試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13956283A JPS6031038A (ja) | 1983-07-29 | 1983-07-29 | 構造物試験機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6031038A true JPS6031038A (ja) | 1985-02-16 |
Family
ID=15248152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13956283A Pending JPS6031038A (ja) | 1983-07-29 | 1983-07-29 | 構造物試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6031038A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01236499A (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-21 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
| JPH0212699A (ja) * | 1988-04-01 | 1990-01-17 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 冗長ワード線を有する半導体メモリ |
| JPH02246100A (ja) * | 1989-01-06 | 1990-10-01 | Philips Gloeilampenfab:Nv | 集積マトリックスメモリ |
| JPH08212796A (ja) * | 1994-11-17 | 1996-08-20 | Samsung Electron Co Ltd | 半導体メモリ装置の冗長回路及び冗長方法 |
-
1983
- 1983-07-29 JP JP13956283A patent/JPS6031038A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01236499A (ja) * | 1988-03-16 | 1989-09-21 | Hitachi Ltd | 半導体記憶装置 |
| JPH0212699A (ja) * | 1988-04-01 | 1990-01-17 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 冗長ワード線を有する半導体メモリ |
| JPH02246100A (ja) * | 1989-01-06 | 1990-10-01 | Philips Gloeilampenfab:Nv | 集積マトリックスメモリ |
| JPH08212796A (ja) * | 1994-11-17 | 1996-08-20 | Samsung Electron Co Ltd | 半導体メモリ装置の冗長回路及び冗長方法 |
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