JPS6029894B2 - 表面検査範囲設定方法 - Google Patents

表面検査範囲設定方法

Info

Publication number
JPS6029894B2
JPS6029894B2 JP15260177A JP15260177A JPS6029894B2 JP S6029894 B2 JPS6029894 B2 JP S6029894B2 JP 15260177 A JP15260177 A JP 15260177A JP 15260177 A JP15260177 A JP 15260177A JP S6029894 B2 JPS6029894 B2 JP S6029894B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
edge
circuit
inspected
inspection range
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP15260177A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5484783A (en
Inventor
正勝 藤田
茂 鈴木
祥郎 冨岡
豊史 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd, Nippon Steel Corp filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP15260177A priority Critical patent/JPS6029894B2/ja
Publication of JPS5484783A publication Critical patent/JPS5484783A/ja
Publication of JPS6029894B2 publication Critical patent/JPS6029894B2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、撮像装置により被検査体表面を撮像し、その
ビデオ信号により被検査体の表面状態を検査する表面検
査装置の検査範囲設定方法に関する。
圧延鋼板などの被検査体の表面欠陥を検出する表面検査
装置を本出願人は開発し、特願昭51−87017号(
特公昭55一41077号)、特願昭51一86387
号(特公昭57−35788号)等として出願した。
この表面検査装置の詳細は既出願の明細書に詳記されて
いるが、その概要を述べると次の如くである。即ち第1
図で1は高解像度テレビカメラであり、ストロボ6が高
速移動中の被検査体、本例では圧延中の鋼板5を照射す
るとき、該鋼板を静止像として撮像する。2は変化点信
号出力回路、3は検査範囲設定信号出力回路、4はアン
ドゲート、7は癖信号出力回路であり、これらがカメラ
1からのビデオ信号Sgを信号処理して癖検出を行なう
テレビカメラーからのビデオ信号Sgは第2図Sgに示
す如く、水平同期信号S如と、被検査体表面のビデオ信
号S,と、その周囲のビデオ信号S2と、場合により含
まれる癖信号Nからなる。求めるのは混信号Nであるか
ら、先ず回路2で信号Sgを微分し、次いで全波整流し
て第2図bに示す変化点信号bを得る。この信号には同
期信号S肌、被検査体のエッジを示す信号S3、癖信号
Nなど、ビデオ信号の急激な振中変化をする点すべてを
示す信号が含まれる。そこで癖信号を他の信号から識別
するため、回路3でビデオ信号Sgからエッジ信号を取
出し、左、右両側のエッジ信号間の間隔よりやや狭い第
2図cに示すパルス中Tの検査範囲設定信号cを作り、
これをアンドゲート4に加える。回路2の出力信号bを
このゲート4に通せ‘よ、該ゲートからは第2図NIこ
示す如く癖検出信号Nを得ることができる。勿論鋼板表
面のビデオ信号は種々の原因により微細な変化をしてお
り、従って変化点信号出力回路2の出力信号にも図示し
ないが多数の微小なパルスが含まれる。従って混信号の
みを出力するにはシュミット回路などの関別手段からな
る庇信号出力回路7を用い、あるスレショルドレベルT
H以上のものとして舵信号Nを得る。検査範囲設定に必
要なエッジ検出は第2図Sgに示した如く、被検査体表
面部ではその周囲よりビデオ信号のレベルが顕著に異な
り、これは癖によるレベル変化より大であるという点を
利用して行なうことができ、中Wより狭い期間Tは中検
出(エッジ検出)信号および画像信号を若干遅らせる等
の信号処理により求めることができる。
第3図はその回路を示し、3aは分配器、3・b,3c
は同じ遅延時間7を待つ遅延回路、3dは差動増幅器、
3eはシュミット回路、3fはフリップフロップである
。テレビカメラ1からのビデオ信号Sgは分配器3aに
より一方では遅延回路3bを介して差動増幅器3dの一
方の入力端に、他方では該差動増幅器3dの他方の入力
端に直接加えられる。第4図艦gは該ビデオ信号Sgを
示し、第4図e,fは増幅器3dに加わる信号Sgの遅
延された信号eおよび直接信号fの各波形を示す。信号
eは信号Sgを単に一定時間すだけ遅延した信号である
が、信号fはこの信号入力回路には一端開放の遅延線3
cが接続されているので27後に反射波の影響が現われ
、図示の如く立上り立下り部が2段になる。増幅器3d
でこれらの信号eとfの差をとるとその結果は第4図g
に示す波形の信号gとなり、これをシュミット回路3e
においてスレショルドレベルを図示Thのレベルにして
閥則すると該シュミット回路からは第4図hに示す信号
h,,h2が得られる。この信号h,,h2は図示の如
くほぼ被検査体の左、右両エッジに対応するが左端の信
号h,は遅延時間7だけ左エッジから遅れており、従っ
て両エッジを示す信号h,,h2のパルス間隔は被検査
体の中WよりTだけ狭い。この信号h,,h2でフリッ
プフロップ3fをセット、リセットすれば該回路3fか
らは第4図cに示す検査範囲Tを示す信号cが得られる
。検査範囲設定信号cは第4図から明らかなように左端
では被検査体のエッジから外れて内側にあるが、右端で
はエッジと一致している。これではエッジが検査範囲内
に含まれる可能性が生じるので、ビデオ信号Sgを例え
ばィ/2遅らせた信号Sg′を作り、Sgを検査範囲設
定信号cで検査を行なうことによりエッジは両側とも検
査範囲から外れて外側に出、エッジを検出する恐れはな
くなる。ところで左、右のエッジが正常に検出されるな
ら、上記のようにして検査範囲の設定が行なわれ、所望
通り癖検出を行なうことができるが、実際にはエッジ検
出が不可能な場合がある。
即ち第5図に示すように被検査体5が熱延ラインの鋼板
である場合は、鋼板移送路(ロールガング)の両側に鋼
板ガイド10,11が設けられ、テレビカメラの撮像範
囲12は図示の如く鋼板ガイドを包含するように設定さ
れる。なおこの図で■は鋼板位置正常時、■は鋼板が左
端に寄ったとき、■は鋼板が右端に寄ったときを示す。
従ってビデオ信号Sgは第6図Sgに示す如く鋼板ガイ
ドを示す信号S4を含み、前述の変化点信号出力回路2
の出力信号bは第6図bに示す如くなる。この鋼板ガイ
ド信号は鋼板表面を示す信号S,としベル的に殆んど差
がなく、従って第4図に示したようにスレショルドレベ
ルでエッジ信号と閥別することは困難である。そのため
第6図dに示すように、鋼板ガイド信号S4とその外側
の水平同期信号等をマスクする信号dを用い、この信号
dで開放するゲートにビデオ信号を通したのち、第3図
および第4図で説明した態様でエッジ検出を行なう。し
かしながら移送中の鋼板は左右に蛇行する煩向があり、
場合によっては鋼板ガド10または11と接触する。
接触が生じると当然鋼板ガイド信号と鋼板表面信号とは
1体になってしまい、マスク信号dとの関係があっても
エッジ検出は不可能である。本発明はかかる問題に対処
しようとするものであって、エッジ信号が検出できない
場合は擬似信号で代用し、エッジが検出できなくても検
査範囲の設定、延し、ては正確な庇検出を可能にしよう
とするものである。
即ち本発明は被検査体表面を照射する閃光光源と、該表
面を綾像する猿像装置と、該撮擬装暦の出力ビデオ信号
から被検査体のエッジを検出して検査範囲設定信号を作
り、該信号で前記ビデオ信号をゲートして被検査体表面
に対応するビデオ信号部分から該表面の庇を検出する癖
検出回路とを備える表面検査装置の表面検査範囲の設定
方法において、前記癖検出回路にエッジ検出回路、該エ
ッジ検出回路から出力された左、右エッジ信号に遅延を
かけて検出範囲設定信号を出力する手段、前記エッジ検
出回路が左または右のエッジ信号非検出信号を出力する
とき該信号により計数を開始するカウンタ、及びカウン
タの出力と予め設定した値とを比較して擬似エッジ信号
を出力する擬似エッジ信号出力手段を設け、前記被検査
体の左または右のエッジが検出できないとき、該擬似エ
ッジ信号を用いて検査範囲設定を行なうことを特徴とす
るものである。次に第7図に示す実施例を参照しながら
これを詳細に説明する。第7図で1は前述のカメラであ
り、13はエッジ検出回路である。
エッジ検出回路13には第3図の回路3a〜3eを用い
ることができるが、勿論エッジ検出が可能な他の回路で
もよい。h,,h2はエッジ検出回路13から出力され
た左、右エッジ信号であり、これらはIH遅延線25,
26、オアゲート19,20を通って前述のフリップフ
ロップ3fと同様な回路17に入力し、検出範囲設定信
号cとなる。エッジ検出回路13はエッジ信号非検出を
検知する回路を備えてあり、左または右エッジ信号が検
出されないとき、それを示す信号S5またはS6を出力
する。エッジ信号非検出検知回路の一例を第8図に示す
。該回路はフリップフロツプ回路27,28,33,3
4、カウンタ回路31,32、ゲート回路29,30、
インバータ回路35等で構成されている。第8図で例え
ばエッジ信号h,のパルス入力がないとすると、カメラ
水平同期信号日s叩でリセットされたフリップフロツプ
回路27の出力S,.は“0”となり、S,.の入力に
よりゲート回路29を開き、ゲート回路29の一方の入
力として与えられているクロツクCLKをカウンタ回路
31に伝える。第5図の鋼板が移動した場合の鋼板エッ
ジの最左端Q,位置に相当するデータD4が入力される
力ウン夕回路31はカメラ水平同期信号Hs肌の前縁か
ら7だけ遅延してデータD4をよみとって、よみとった
データからカウントを開始してカウントデータが全て“
1”のときキヤリャー信号S,3を出力しカウント動作
を停止する。
キャリャー信号S,3は第9図に示すように次のHs肌
の前縁から7まで保持される信号で、Hsynをクロッ
クとするフリップフロツプ回路33に入力されエッジ信
号非検出信号S5をh,が存在しないラインの次のライ
ンに発生させる。またh,としてエッジ信号が入力され
た場合はフリツプフロツプ回路27がセットされカウン
タ回路31がフルカウント状態になる前にゲート回路2
9によりカウンタ回路へ入力されるクロツク信号がィン
ピツトされ、キャリヤ−信号S,3は出力されずS5の
信号は出力されない。同様にh2パルスの入力がない場
合は右端Q2位置に相当するデータD5が入力されるカ
ウンタ32、フリップフロッブ回路34等が動作し、エ
ッジ信号非検出信号S6をh2が存在しないラインの次
に発生させ、h2としてエッジ信号が入力された場合は
S6の信号は出力さない。
第7図で15は右、16は左各擬似エッジ信号発生用の
比較器で、比較する設定数データD,,○2をセットす
る。ここで設定数とは例えば走査が左から右へ行なわれ
る場合は、比較器16に対しては、水平同期信号(第5
図の点Pに対応する)から左側鋼板ガイド10を越えて
若干鋼板側へ行った点P,までの水平走査時間をクロッ
クCLKの数で表わしたものであり、比較器15に対し
ては該水平同期信号から右側鋼板ガイド11のやや手前
の点P2迄の水平走査時間をクロックCLKの数で表わ
したものである。即ちエッジ検出不能は鋼板左エッジが
鋼板ガイド10‘こ密接したためであり、右エッジ検出
不能は鋼板右エッジが鋼板ガイド11に密接したためで
あるとし、それに基づいて検査範囲を鋼板表面内に入る
ように設定する。14はクロックCLKを計数するカウ
ンタである。
左エッジ検出不能を示す信号S5が出力されると、該信
号はオアゲート18を通ってアンドゲート23を開きカ
ウンタ14がクロツクCLKの計数を開始し、カゥンタ
14の計数値と比較器16による比較を行なわせる。
カゥン夕計数値が設定数D,と一致すると回路16は出
力S9を生じ、これは左擬似エッジ信号となって、S5
により開かれたアンドゲート21とオアゲート20を通
り、回路17に入る。左右エッジ信号h,,h2が共に
検出されないということはないから、左エッジ検出不能
なら右エッジ信号h2は有効に検出され、この信号h2
がIH遅延線26、オアゲート19を通って回路17に
入り、これらの結果該回路は検査範囲設定信号cを出力
する。石工ツジ検出不能の場合は信号S6が出力し、該
信号は同様にカウンター4のクロック計数を開始させ、
また比較器15で設定数D2とカウンター4の計数値と
の比較を行なわせ、両者が一致するとき該回路15は右
擬似エッジ信号S,oを出力し、これと左エッジ信号h
,とで回路17は検査範囲設定信号cを出力する。エッ
ジ信号不検出が検知されるのは水平走査が一部(左エッ
ジに対し)又は全部(右エッジに対し)終ってからであ
るカウンタの計数、擬似エッジパルスの出力は次回の水
平走査で行なわれることになる。従ってカメラーの出力
Sgを1水平走査期間遅延させる必要が生じ、該信号S
gはIH遅延線24を通して出力する。左、右擬似エッ
ジ信号は、検出された他方のエッジ信号と被検査体の中
とから発生させるようにしてもよい。
この場合は、例え右ばエッジ信号が検出されない場合は
、被検査体の中相当クロックパルス数を回路15のレジ
スタにセットしておき、実測された左エッジ信号h,で
カウンタ14のクロック計数開始および回路15での比
較動作開始を行なわせればよい。左エッジ検出不能に対
しては、検出された右エッジ信号までの水平走査時間相
当クロック数から被検査体の中相当クロック数を差引し
、た数を回路16のレジス外こ設定しておき、前記信号
S8でカゥンタのクロック計数、回路16での比較動作
を開始させればよい。被検査体の中は、既知の値、また
は中測定器による測定値、またはこの表面検査装置で正
常にエッジ検出がなされているときに得た値として得る
ことができる。
以上詳細に説明したように本発明によれば、エッジ検出
がなされない場合も擬似エッジ信号を発生させて検査範
囲設定を可能にし、癖検出を可能にすることができる。
検査範囲設定にはこの他、正常にエッジ検出がなされて
いた時に得た検査範囲を記憶しておいてそれを用いると
いう方式も考えられるが、この場合エッジ検出が連続し
て不可能になった様な場合には検査範囲が古いものにな
って現状から外れ、エッジが検査範囲に入ってしまう等
の問題がある。この点本発明では前述の説明から明らか
なように被検査体位置を推定しており、特に実測エッジ
信号と被検査体中とから非検出エッジの擬似信号を作る
第2の実施例では実測と同様に正確な検査範囲設定を行
なうことが可能である。
【図面の簡単な説明】 第1図および第3図は既提案の癖検出装置および検査範
囲設定回路の構成を示すブロック図、第2図および第4
図は第1図および第3図の動作説明図、第5図、第6図
は被検査体が熱延ラインの鋼板である場合の検査状態お
よび検出信号の説明図、第7図、第6図は太発明の実施
例を示すブロック図、第9図は第8図の動作説明図であ
る。 図面で5は被検査体、6は閃光光源、1は撮像装置、2
,3,4,7は癖検出回路である。第1図第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図 第9図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被検査体表面を照射する閃光光源と、該表面を撮像
    する撮像装置と、該撮像装置の出力ビデオ信号から被検
    査体のエツジを検出して検査範囲設定信号を作り、該信
    号で前記ビデオ信号をゲートして被検査体表面に対応す
    るビデオ信号部分から該表面の疵を検出する疵検出回路
    とを備える表面検査装置の表面検査範囲の設定方法にお
    いて、前記疵検出回路にエツジ検出回路、該エツジ検出
    回路から出力された左、右エツジ信号に遅延をかけて検
    出範囲設定信号を出力する手段、前記エツジ検出回路が
    左または右のエツジ信号非検出回路を出力するとき該信
    号により計数を開始するカウンタ、及びカウンタの出力
    と予め設定した値とを比較して擬似エツジ信号を出力す
    る擬似エツジ信号出力手段を設け、前記被検査体の左ま
    たは右のエツジが検出できないとき、該擬似エツジ信号
    を用いて検査範囲設定を行なうことを特徴とする表面検
    査範囲設定方法。
JP15260177A 1977-12-19 1977-12-19 表面検査範囲設定方法 Expired JPS6029894B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15260177A JPS6029894B2 (ja) 1977-12-19 1977-12-19 表面検査範囲設定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15260177A JPS6029894B2 (ja) 1977-12-19 1977-12-19 表面検査範囲設定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5484783A JPS5484783A (en) 1979-07-05
JPS6029894B2 true JPS6029894B2 (ja) 1985-07-13

Family

ID=15543972

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15260177A Expired JPS6029894B2 (ja) 1977-12-19 1977-12-19 表面検査範囲設定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6029894B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04110643A (ja) * 1990-08-30 1992-04-13 Nippon Steel Corp 板材の検査方法
JP5894012B2 (ja) * 2012-05-30 2016-03-23 公益財団法人鉄道総合技術研究所 コンクリート表面の線状変状検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5484783A (en) 1979-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02140884A (ja) イメージ処理方法および装置
JPH0135295B2 (ja)
JPS6029894B2 (ja) 表面検査範囲設定方法
JPS58190707A (ja) 表面検査方法
JPH02194307A (ja) 板状物体の反り形状測定装置
JPH038504B2 (ja)
JPH0412257A (ja) 鋼板の線状疵の検出方法及びその装置
JP2501436B2 (ja) パタ−ンデ−タ検査装置
JPS6133091A (ja) 表面疵位置を決定する方法及び装置
JPS6250775B2 (ja)
JP2633673B2 (ja) 表面検査装置
JPH04213007A (ja) 円形物体の形状測定方法及びこの方法を用いた形状測定装置
JPS5847016B2 (ja) 表面検査装置の自己診断方法
JPH0367631B2 (ja)
JPS6063168A (ja) 走行印刷物の検査における同期不良補正方法
JPS6042674B2 (ja) 表面検査装置の自動検査範囲設定方式
JPS6246803B2 (ja)
JPS6134407A (ja) 寸法測定方法
JPS63215953A (ja) 欠陥検査装置
JPS6349180B2 (ja)
JPS62289752A (ja) 表面検査装置
JPS6353454A (ja) 外観検査装置
JPH0519937B2 (ja)
JPS588742B2 (ja) ヒヨウメンケンサソウチ
JPS6116519Y2 (ja)