JPS602957B2 - パラレルギヤツプ溶接の検査方法及びその装置 - Google Patents
パラレルギヤツプ溶接の検査方法及びその装置Info
- Publication number
- JPS602957B2 JPS602957B2 JP8702280A JP8702280A JPS602957B2 JP S602957 B2 JPS602957 B2 JP S602957B2 JP 8702280 A JP8702280 A JP 8702280A JP 8702280 A JP8702280 A JP 8702280A JP S602957 B2 JPS602957 B2 JP S602957B2
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- JP
- Japan
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- welding
- time
- electrodes
- radiant energy
- parallel
- Prior art date
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はパラレルギャップ溶接の検査方法及びその装置
、特に二層に重ねた被溶接材の一面に、平行な一対の露
桐を位置させ、これらの電極にシリーズ通電して行なう
パラレルギャップ溶接の溶接部の良否をその溶接と同時
に検査する方法と、検査装置とに関するものである。
、特に二層に重ねた被溶接材の一面に、平行な一対の露
桐を位置させ、これらの電極にシリーズ通電して行なう
パラレルギャップ溶接の溶接部の良否をその溶接と同時
に検査する方法と、検査装置とに関するものである。
パラレルギャップ溶接は、通常、電子部品のリード線接
続等に用いられることが多く、他の種類の溶接に比べて
溶接良否の判定、特に非破壊判定は難しいとされていた
。
続等に用いられることが多く、他の種類の溶接に比べて
溶接良否の判定、特に非破壊判定は難しいとされていた
。
そこで一般には、溶接工程とは別の検査工程を設け、そ
こで被溶接材に生じる黒化帯の幅、あるいは溶接部の割
れ等の外観を顕微鏡による目視で観測し、あらかじめ経
験に基づいて定められた外観目視検査基準と比較して、
その溶接の良否を判定していた。
こで被溶接材に生じる黒化帯の幅、あるいは溶接部の割
れ等の外観を顕微鏡による目視で観測し、あらかじめ経
験に基づいて定められた外観目視検査基準と比較して、
その溶接の良否を判定していた。
しかしながらこの種の従来検査方法によると、溶接工程
とは別の検査工程が必要とされると共に、検査に経験が
必要なだけでなく、多くの時間を要し、作業性が患いだ
けでなく、検査工の眼の疲労が激しく、衛生上からの欠
点も生じ、更に定量的な検査方法でない為に検査結果の
バラツキが大きく、確実性に乏しいものであった。
とは別の検査工程が必要とされると共に、検査に経験が
必要なだけでなく、多くの時間を要し、作業性が患いだ
けでなく、検査工の眼の疲労が激しく、衛生上からの欠
点も生じ、更に定量的な検査方法でない為に検査結果の
バラツキが大きく、確実性に乏しいものであった。
本発明は前述した従来の議題に鑑み為されたものであり
、その目的は、溶接と同時に溶接良否の検査を行ない、
検査の為の時間を不要として作業性を向上させると共に
、衛生上での弊害を除去し、更には定量的かつ確実に検
査が行なえるパラレルギャップ溶接の検査方法及びその
装置を提供することにある。
、その目的は、溶接と同時に溶接良否の検査を行ない、
検査の為の時間を不要として作業性を向上させると共に
、衛生上での弊害を除去し、更には定量的かつ確実に検
査が行なえるパラレルギャップ溶接の検査方法及びその
装置を提供することにある。
上記目的を達成する為に、本発明は、二層に重ねた被溶
接材の一面に平行な一対の電極を位置させ、これらの電
極にシリーズ通電して行なうパラレルギャップ溶接にお
いて、電極間隙の被熔接材から放射する赤外線放射エネ
ルギーの増加率急変時刻、ピーク値到達時刻、常態値復
帰時刻の内の適宜時刻を測定し、通電開始時から前記各
時刻の内の任意時刻迄の時間によって溶接の良否を判定
することを特徴とし、更には二に重ねた被溶接材の一面
に平行な一対の電極を位置させ、これらの電極にシリー
ズ通電して行なうパラレルギャップ溶接において、電極
間隙の被溶接材から放射する赤外線放射エネルギーを検
出する手段と、放射エネルギーを波形処理し、放射エネ
ルギーを波形処理し、放射エネルギー急変時点、ピーク
値到達時点、常態値復帰時点の内の適宜時点を検出して
送出する手段と、通電開始からそれらの時点迄の時間を
計測する手段と、それらの時間をあらかじめ設定した時
間と比較して溶接の良否を判定する手段とを備えたこと
を特徴とする。
接材の一面に平行な一対の電極を位置させ、これらの電
極にシリーズ通電して行なうパラレルギャップ溶接にお
いて、電極間隙の被熔接材から放射する赤外線放射エネ
ルギーの増加率急変時刻、ピーク値到達時刻、常態値復
帰時刻の内の適宜時刻を測定し、通電開始時から前記各
時刻の内の任意時刻迄の時間によって溶接の良否を判定
することを特徴とし、更には二に重ねた被溶接材の一面
に平行な一対の電極を位置させ、これらの電極にシリー
ズ通電して行なうパラレルギャップ溶接において、電極
間隙の被溶接材から放射する赤外線放射エネルギーを検
出する手段と、放射エネルギーを波形処理し、放射エネ
ルギーを波形処理し、放射エネルギー急変時点、ピーク
値到達時点、常態値復帰時点の内の適宜時点を検出して
送出する手段と、通電開始からそれらの時点迄の時間を
計測する手段と、それらの時間をあらかじめ設定した時
間と比較して溶接の良否を判定する手段とを備えたこと
を特徴とする。
以下、図面に基づいて本発明の好適な実施例を説明する
。
。
第１図は、本発明を実施する為の一つの装贋を示す一部
ブロックダイヤグラムを用いた系統図である。
ブロックダイヤグラムを用いた系統図である。
プリント基板としてのべーク板１０上に、箔膜１２がプ
リント配線されており、こ箔膜１２上に、被溶接材とし
てＩＣの電子部品等に用いるリード線１４が位置させて
ある。
リント配線されており、こ箔膜１２上に、被溶接材とし
てＩＣの電子部品等に用いるリード線１４が位置させて
ある。
又このリード線１４上には、箔膜１２とりード線１４と
をシリーズ通電してパラレルギャップ溶接を施す為の一
対の電極１６，１８が平行に位隠させてある。又図中２
川ま、パラレルギャップ溶接機の電源及び制御装置であ
る。又一対の電極１６，１８上方には、パラレルギャッ
プ溶接中にリード線１４、表面より発生する赤外線の全
放射エネルギーを収束するレンズ２２が設けてあり、こ
のレンズ２２で収束された赤外線の全放射エネルギーは
、検出器２４にて検出、測定され、増幅器２６で増幅さ
れる。この増幅器２６は、リード線１４の表面状態が一
定の場合に、リード線１４から発生する全赤外線放射エ
ネルギーをリード線１４の表面温度に換算するりニアラ
ィザー２８に連結されている。このリニアラィザー２８
からの出力は波形処理器３０に送られ、赤外線の全放射
エネルギーが急激に変化する時点が検出され、カウンタ
ー３２によって、電極１６，１８への通電開始信号Ｐの
入力時から波形処理器３０での検査時刻迄の時間ちが検
出、測定される。なお図中３４は、カウンター３２から
出力される時間ｔ，を表示する表示器である。一方、パ
ラレルギャップ熔接において良品熔接と判定される場合
の、通電開始から赤外線の全放射ェネギーが急激に変化
する時点迄の時間をあらかじめ測定し、おの基準となる
時Ｔ２を基準時間設定回路３６に入力しておく。その後
、カウンター３２によって検出された時間ｔ．と、基準
時間設定回路３６で設定される時間Ｌとを比較し、差動
増幅する差動増幅回路３８によって、ｔ，がＴ２と大幅
に異なる場合にその溶接自体を不良品溶接と判定し、警
報器４川こて警報を発する様に形成してある。なお、電
極１６，１８間隙のリード線から放射する赤外線エネル
ギーのピーク値到達時刻を用いて溶接の良否を判定する
場合は、前記した波形処理器３０１こて赤外線エネルギ
ーがピークになる時点を検出し、カウンター３２にて通
電開始信号Ｐの入力時から波形処理器３０での検出時刻
迄の時間ｔ２を検出、測定すると共に、基準時間設定回
路３６に、逐電開始から赤外線の全放射エネルギーがピ
ーク値に到達する迄の基準の時間Ｔ２を入力し、これら
ｔ２とＴ２との比較を差動増幅回路３８にて行なって、
溶接の良否を判定するものである。
をシリーズ通電してパラレルギャップ溶接を施す為の一
対の電極１６，１８が平行に位隠させてある。又図中２
川ま、パラレルギャップ溶接機の電源及び制御装置であ
る。又一対の電極１６，１８上方には、パラレルギャッ
プ溶接中にリード線１４、表面より発生する赤外線の全
放射エネルギーを収束するレンズ２２が設けてあり、こ
のレンズ２２で収束された赤外線の全放射エネルギーは
、検出器２４にて検出、測定され、増幅器２６で増幅さ
れる。この増幅器２６は、リード線１４の表面状態が一
定の場合に、リード線１４から発生する全赤外線放射エ
ネルギーをリード線１４の表面温度に換算するりニアラ
ィザー２８に連結されている。このリニアラィザー２８
からの出力は波形処理器３０に送られ、赤外線の全放射
エネルギーが急激に変化する時点が検出され、カウンタ
ー３２によって、電極１６，１８への通電開始信号Ｐの
入力時から波形処理器３０での検査時刻迄の時間ちが検
出、測定される。なお図中３４は、カウンター３２から
出力される時間ｔ，を表示する表示器である。一方、パ
ラレルギャップ熔接において良品熔接と判定される場合
の、通電開始から赤外線の全放射ェネギーが急激に変化
する時点迄の時間をあらかじめ測定し、おの基準となる
時Ｔ２を基準時間設定回路３６に入力しておく。その後
、カウンター３２によって検出された時間ｔ．と、基準
時間設定回路３６で設定される時間Ｌとを比較し、差動
増幅する差動増幅回路３８によって、ｔ，がＴ２と大幅
に異なる場合にその溶接自体を不良品溶接と判定し、警
報器４川こて警報を発する様に形成してある。なお、電
極１６，１８間隙のリード線から放射する赤外線エネル
ギーのピーク値到達時刻を用いて溶接の良否を判定する
場合は、前記した波形処理器３０１こて赤外線エネルギ
ーがピークになる時点を検出し、カウンター３２にて通
電開始信号Ｐの入力時から波形処理器３０での検出時刻
迄の時間ｔ２を検出、測定すると共に、基準時間設定回
路３６に、逐電開始から赤外線の全放射エネルギーがピ
ーク値に到達する迄の基準の時間Ｔ２を入力し、これら
ｔ２とＴ２との比較を差動増幅回路３８にて行なって、
溶接の良否を判定するものである。
又、リード線１４から放射する赤外線エネルギーの常態
値復帰時刻を用いて溶接の良否を判定する場合は、波形
処理器３０‘こて赤外線エネルギーが溶接前である常態
値に復帰する時点を検出し、カウンター３２にて通電開
始信号Ｐの入力時から波形処理時刻迄の時間ｔ３を検出
、測定すると共に、基準時間設定回路３６に、通電開始
から赤外線の放射エネルギーが常態値に復帰する迄の基
準の時間Ｔを入力し、これらｔ３とＴ３との比較を差動
増幅回転３８にて行なって、溶接の良否を判定するもの
である。第２図は、本発明の作用を説明する為の時間一
赤外線放射エネルギー曲線図である。
値復帰時刻を用いて溶接の良否を判定する場合は、波形
処理器３０‘こて赤外線エネルギーが溶接前である常態
値に復帰する時点を検出し、カウンター３２にて通電開
始信号Ｐの入力時から波形処理時刻迄の時間ｔ３を検出
、測定すると共に、基準時間設定回路３６に、通電開始
から赤外線の放射エネルギーが常態値に復帰する迄の基
準の時間Ｔを入力し、これらｔ３とＴ３との比較を差動
増幅回転３８にて行なって、溶接の良否を判定するもの
である。第２図は、本発明の作用を説明する為の時間一
赤外線放射エネルギー曲線図である。
図において１７の実線は外観目視検査で良溶接とされる
サンプルであり、１８の一点鎖線は入熱不足気味のサン
プル、１９の破線は入熱過大気味のサンプルである。
サンプルであり、１８の一点鎖線は入熱不足気味のサン
プル、１９の破線は入熱過大気味のサンプルである。
ここで箔膜１２としてニッケル、リード線１４として金
メッキ付コバールを用いてパラレルギャップ溶接を行な
った場合を例に説明すると、リ−ド線１４の温度上昇に
伴ない、リード線１４表面の金メッキ層にコバールの成
分である鉄、ニッケル、コバルトが拡散して表面状態に
変化が生じ、表面が赤外線放射率の高い黒化帯に変質す
る為、赤外線放射エネルギーが急激に上昇し、第２図Ａ
，、Ｂ，、Ｃ，の変曲点が生じる。
メッキ付コバールを用いてパラレルギャップ溶接を行な
った場合を例に説明すると、リ−ド線１４の温度上昇に
伴ない、リード線１４表面の金メッキ層にコバールの成
分である鉄、ニッケル、コバルトが拡散して表面状態に
変化が生じ、表面が赤外線放射率の高い黒化帯に変質す
る為、赤外線放射エネルギーが急激に上昇し、第２図Ａ
，、Ｂ，、Ｃ，の変曲点が生じる。
又Ａ２、Ｂ２、Ｃ２は、リード線１４温度が一定となり
、放射エネルギーがピーク値に達して平衝状態となった
点であり、Ａ３、Ｂ３Ｃ３は、通電終了後にリード線１
４温度が常温に戻り、放射エネルギーが常態値に復帰し
た点である。ここで良溶接のものに比べて入熱不足のも
のは、変曲点Ｂ，が遅れて発生し、黒化帯生成時期が遅
く、かつその幅も狭いものとなる。
、放射エネルギーがピーク値に達して平衝状態となった
点であり、Ａ３、Ｂ３Ｃ３は、通電終了後にリード線１
４温度が常温に戻り、放射エネルギーが常態値に復帰し
た点である。ここで良溶接のものに比べて入熱不足のも
のは、変曲点Ｂ，が遅れて発生し、黒化帯生成時期が遅
く、かつその幅も狭いものとなる。
又逆に入熱過大のものは、変曲点Ｃ，が早く発生し、黒
化帯生成時期が早く、かつその幅も広いものとなるが、
リード線１４の溶け落ちが生じたりする。又同様に、赤
外線放射エネルギーがピーク値に達する時期ん、母、Ｃ
２を比較しても同機に時期の相違が生じる。これらより
、通電開始から、赤外線放射エネルギーの増加率急変点
である変曲点Ａ，、Ｂ、Ｃ，までの時間、あるいはピー
ク値に達する点ん、Ｂ、Ｃ２迄の時間等を比較すること
によって、熔接の良否判定が行なえることになる。又通
電開始から、リード線１４の温度が常温に戻る点、即ち
赤外線放射エネルギーの常態値復帰点Ａ３、Ｂ３、Ｃ３
迄の時間を測定すると、良溶接のものに比べて、入熱不
足のもの及び入熱過大のものは共に時間が短くなる。入
熱不足のものはリード線１４への入熱量が少な．いから
であり、入熱過大のものはＩＪ−ド線１４の溶け落ち、
飛散等による加熱体積減少の為からである。これより、
通電開始から、赤外線放射エネルギーの常態値復帰点Ａ
３、Ｂ３、Ｃ３迄の時間を比較することによって、溶接
の良否判定が行なえるこになる。第３図は、箔腰１２と
ＩＪード線１４とをパラレルギャップ溶接した場合の断
面模式図であり、４２は金メッキ憎、１４は溶融層、４
６は接合層を各々示すものである。溶接現象としては、
電極１６，１８間隙に相当するりード線１４表面が黒化
すると共に、金、ニッケル、鉄、コバルト組成の溶融層
４４たる黒化帯を形成すると共に、箔膜１２とりード線
１４が接合層４６によって接合されているものである。
。本発明は、溶接と同時に、あるいは溶接終了後直ちに
溶接の良否判定が行なえるので、検査の為別工程が不要
であると共に検査時間の著しい短縮が図れ、検査の作業
性を著しく向上させると共に、衛生上での弊害も防止し
、更には定量的かつ確実な検査が行なえるものである。
化帯生成時期が早く、かつその幅も広いものとなるが、
リード線１４の溶け落ちが生じたりする。又同様に、赤
外線放射エネルギーがピーク値に達する時期ん、母、Ｃ
２を比較しても同機に時期の相違が生じる。これらより
、通電開始から、赤外線放射エネルギーの増加率急変点
である変曲点Ａ，、Ｂ、Ｃ，までの時間、あるいはピー
ク値に達する点ん、Ｂ、Ｃ２迄の時間等を比較すること
によって、熔接の良否判定が行なえることになる。又通
電開始から、リード線１４の温度が常温に戻る点、即ち
赤外線放射エネルギーの常態値復帰点Ａ３、Ｂ３、Ｃ３
迄の時間を測定すると、良溶接のものに比べて、入熱不
足のもの及び入熱過大のものは共に時間が短くなる。入
熱不足のものはリード線１４への入熱量が少な．いから
であり、入熱過大のものはＩＪ−ド線１４の溶け落ち、
飛散等による加熱体積減少の為からである。これより、
通電開始から、赤外線放射エネルギーの常態値復帰点Ａ
３、Ｂ３、Ｃ３迄の時間を比較することによって、溶接
の良否判定が行なえるこになる。第３図は、箔腰１２と
ＩＪード線１４とをパラレルギャップ溶接した場合の断
面模式図であり、４２は金メッキ憎、１４は溶融層、４
６は接合層を各々示すものである。溶接現象としては、
電極１６，１８間隙に相当するりード線１４表面が黒化
すると共に、金、ニッケル、鉄、コバルト組成の溶融層
４４たる黒化帯を形成すると共に、箔膜１２とりード線
１４が接合層４６によって接合されているものである。
。本発明は、溶接と同時に、あるいは溶接終了後直ちに
溶接の良否判定が行なえるので、検査の為別工程が不要
であると共に検査時間の著しい短縮が図れ、検査の作業
性を著しく向上させると共に、衛生上での弊害も防止し
、更には定量的かつ確実な検査が行なえるものである。
なお、赤外線放射エネルギーの増加率急変点、あるいは
ピーク値到達点を用いて溶接の良否を判定する装置にあ
っては、差動増幅回路３８での判定結果を、パラレルギ
ャップ溶接機の電源及び制御装鷹２０に入力させて、基
準時間設定回路３６での設定時間によって電極１６，１
８への通電を制御する様に形成することで、全品が良溶
接となる様にした溶接装置の提供も可能である。
ピーク値到達点を用いて溶接の良否を判定する装置にあ
っては、差動増幅回路３８での判定結果を、パラレルギ
ャップ溶接機の電源及び制御装鷹２０に入力させて、基
準時間設定回路３６での設定時間によって電極１６，１
８への通電を制御する様に形成することで、全品が良溶
接となる様にした溶接装置の提供も可能である。
又以上の説明において、被溶接材をリード線１４として
説明したが、リードフレーム等他のものでも良いし、具
体例として挙げた材質等も、他の材質を用いることが可
能なことは言う迄もない。
説明したが、リードフレーム等他のものでも良いし、具
体例として挙げた材質等も、他の材質を用いることが可
能なことは言う迄もない。
以上説明した様に本発明は、被溶接材から放射する赤外
線放射エネルギーが特定の状態に達する迄の時間を測定
することで、溶接の良否判定が行なえるので、検査時間
の著しい短縮、作業性の向上が図れると共に、衛生上で
の弊害がなく、更には定量的かつ確実な検査が行なえる
等多くの優れた効果を奏するものである。
線放射エネルギーが特定の状態に達する迄の時間を測定
することで、溶接の良否判定が行なえるので、検査時間
の著しい短縮、作業性の向上が図れると共に、衛生上で
の弊害がなく、更には定量的かつ確実な検査が行なえる
等多くの優れた効果を奏するものである。
第１図は本発明を実施する為の装置を示す系統図、第２
図は本発明の作用を説明する為の曲線図、第３図は溶接
部の断面嬢式図である。 各図中同一部材には同一符号を付し、１０はべーク板、
１２は箔膜、１４はリード線、１６，１８は電極、２２
はしンズ、２４は検出器、２６は増幅器、２８はリニア
ラィザー、３川ま波形処理器、３２はカウンター、３６
は基準時間設定回略、３８は差動増幅回路である。 第１図 第３図 第２図
図は本発明の作用を説明する為の曲線図、第３図は溶接
部の断面嬢式図である。 各図中同一部材には同一符号を付し、１０はべーク板、
１２は箔膜、１４はリード線、１６，１８は電極、２２
はしンズ、２４は検出器、２６は増幅器、２８はリニア
ラィザー、３川ま波形処理器、３２はカウンター、３６
は基準時間設定回略、３８は差動増幅回路である。 第１図 第３図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 二層に重ねた被溶接材の一面に平行な一対の電極を
位置させ、これらの電極にシリーズ通電して行なうパラ
レルギヤツプ溶接において、電極間隙の被溶接材から放
射する赤外線放射エネルギーの増加率急変時該、ピーク
値到達時該、常態値復帰時該の内の適宜時該を測定し、
通電開始時から前記各時刻の内の任意時刻迄の時間によ
って溶接の良否を判定することを特徴としたパラレルギ
ヤツプ溶接の検査方法。 ２ 二層に重ねた被溶接材の一面に平行な一対の電極を
位置させ、これらの電極にシリーズ通電して行なうパラ
レルギヤツプ溶接において、電極間隙の被溶接材から放
射する赤外線放射エネルギーを検出する手段と、放射エ
ネルギーを波形処理し、放射エネルギー急変時点、ピー
ク値到達時点、常態値復帰時点の内の適宜時点を検出し
て送出する手段と、通電開始からそれらの時点迄の時間
を計測する手段と、それらの時間をあらかじめ設定した
時間と比較して溶接の良否を判定する手段とを備えたこ
とを特徴とするパラレルギヤツプ溶接の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8702280A JPS602957B2 (ja) | 1980-06-26 | 1980-06-26 | パラレルギヤツプ溶接の検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8702280A JPS602957B2 (ja) | 1980-06-26 | 1980-06-26 | パラレルギヤツプ溶接の検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5711785A JPS5711785A (en) | 1982-01-21 |
| JPS602957B2 true JPS602957B2 (ja) | 1985-01-24 |
Family
ID=13903328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8702280A Expired JPS602957B2 (ja) | 1980-06-26 | 1980-06-26 | パラレルギヤツプ溶接の検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS602957B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0517127Y2 (ja) * | 1987-02-27 | 1993-05-10 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0620204Y2 (ja) * | 1986-03-31 | 1994-05-25 | アマノ株式会社 | カ−ド発行機用給紙装置 |
| US4894508A (en) * | 1988-11-04 | 1990-01-16 | Hughes Aircraft Company | Welder control system |
| DE4328363C2 (de) * | 1993-08-24 | 1995-06-08 | Siemens Ag | Verfahren zur Ermittlung eines Bewertungszeitintervalles sowie Verfahren zur Qualitätsbeurteilung einer Punktschweißverbindung auf Grundlage eines Temperaturverlaufes in dem Bewertungszeitintervall |
| CN102528260A (zh) * | 2011-11-10 | 2012-07-04 | 江苏耀华机电科技有限公司 | 智能点焊机 |
-
1980
- 1980-06-26 JP JP8702280A patent/JPS602957B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0517127Y2 (ja) * | 1987-02-27 | 1993-05-10 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5711785A (en) | 1982-01-21 |
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