JPS6027141A - ウエハ−のセツト機構 - Google Patents
ウエハ−のセツト機構Info
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- JPS6027141A JPS6027141A JP13436883A JP13436883A JPS6027141A JP S6027141 A JPS6027141 A JP S6027141A JP 13436883 A JP13436883 A JP 13436883A JP 13436883 A JP13436883 A JP 13436883A JP S6027141 A JPS6027141 A JP S6027141A
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- wafers
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- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68742—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a lifting arrangement, e.g. lift pins
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
不発明は光照射炉への半導体ウェハー(不明細書では単
にウェハーと河う)のセット機構に関するものである。
にウェハーと河う)のセット機構に関するものである。
一般に加熱処理を行なうための昧謹のうち、白軌電球よ
りの放射光を被処理物に照射する光照射炉は、種々の特
長を有するため、■材等の熱処理及び乾燥、グラスチッ
ク成型、熱特性試験側15に巾広くλ11甲を引ている
。t;寺に最近に卦いては、半導体の製造における加熱
が必要とさすする工程、例えば不純物拡散工程、化学的
気相成長工程、イオン打ち込み層の結晶欠陥の回復工部
、電気的活性化のための熱処理工程、史にdシリコンウ
ェハーの表11!″lf窒化若しくは酸化せしめるため
熱処理工程を縁付する場合の加熱炉として、従来力・ら
用いられている電気炉、高周波炉等に代って、光j!4
1射炉の利用が検討きれている。こね、は、光照射炉に
かいては、被処理物を汚染し或いは電気的に惑影巻を与
えることがないこと、精神電力が小格いこと等の#!1
ρ島、従来の加熱炉では大面積の仮処理物を均一に加熱
することができず、最近における半導体の大面積化に対
応することができないからである。
りの放射光を被処理物に照射する光照射炉は、種々の特
長を有するため、■材等の熱処理及び乾燥、グラスチッ
ク成型、熱特性試験側15に巾広くλ11甲を引ている
。t;寺に最近に卦いては、半導体の製造における加熱
が必要とさすする工程、例えば不純物拡散工程、化学的
気相成長工程、イオン打ち込み層の結晶欠陥の回復工部
、電気的活性化のための熱処理工程、史にdシリコンウ
ェハーの表11!″lf窒化若しくは酸化せしめるため
熱処理工程を縁付する場合の加熱炉として、従来力・ら
用いられている電気炉、高周波炉等に代って、光j!4
1射炉の利用が検討きれている。こね、は、光照射炉に
かいては、被処理物を汚染し或いは電気的に惑影巻を与
えることがないこと、精神電力が小格いこと等の#!1
ρ島、従来の加熱炉では大面積の仮処理物を均一に加熱
することができず、最近における半導体の大面積化に対
応することができないからである。
トコ口で、ウェハーは石英ガラスなどの光透過性材料で
作られた搬送台によって光照射炉内の熱処理位置と炉外
の待機位置との間を搬送さ名、この待機位置で搬送台に
何えられたウニノ1−支持具に真空チャックなどの唖、
着機鷹により、生処理のウェハーを供給してセットL、
また、y+処理の完了したウェハーを支持具〃為ら回収
していた。1かLながら、搬送台や支持、1.は石英ガ
ラスなどの光透過性材料で作られて込るために跪くて弱
く、更に、寸法精度よく製作することが困駿なため、支
持埒れたウニI・−の表面レベルが不均一となる。
作られた搬送台によって光照射炉内の熱処理位置と炉外
の待機位置との間を搬送さ名、この待機位置で搬送台に
何えられたウニノ1−支持具に真空チャックなどの唖、
着機鷹により、生処理のウェハーを供給してセットL、
また、y+処理の完了したウェハーを支持具〃為ら回収
していた。1かLながら、搬送台や支持、1.は石英ガ
ラスなどの光透過性材料で作られて込るために跪くて弱
く、更に、寸法精度よく製作することが困駿なため、支
持埒れたウニI・−の表面レベルが不均一となる。
従って、X符〕チャックなどの一定のレベル2 T 1
?、賃下する脱着様相でウェハーを脱着する際に、ウェ
ハ−のa面しベルか少しでも高けれは搬送台などに力が
加わるため破1μする危険性があった。そして、熱処理
が完了した直後の高温のウニノ・−は、同じく高温の支
持几に支持嘔れて待機位置に搬送されて来るので、待博
位着のウニノー−は冷却づわにくく、従って、高温のウ
ニノ・−を取拐わかけ幻(7fなら斤い不桟合があった
。
?、賃下する脱着様相でウェハーを脱着する際に、ウェ
ハ−のa面しベルか少しでも高けれは搬送台などに力が
加わるため破1μする危険性があった。そして、熱処理
が完了した直後の高温のウニノ・−は、同じく高温の支
持几に支持嘔れて待機位置に搬送されて来るので、待博
位着のウニノー−は冷却づわにくく、従って、高温のウ
ニノ・−を取拐わかけ幻(7fなら斤い不桟合があった
。
そこで本発明に、搬送白々どか破40する危険性がすど
、そしてウエノ1−が十Btで冷却可能なウェハーのセ
ット校1構を提供ゴることを目的と【−1七の構成に、
中央の開口周縁部によりウニノ1−の周辺部を叉える支
持具を備えた光透過性材質よりなる搬送台と、ウニ/・
−を光照射炉内のk・処理位置と炉外の待機位置との凹
1.P送するべく搬送台を移動させる駆動機構と、熱処
理が完了して待ネでp位置に来たウニI・−を上方に突
き上げ、かつ台上に載1青さねた未処理のウエノ・−を
降下しながら支持具にセットする昇降台と、上昇限位置
にある昇降台上にウニノ・−を供給し、回収するウニノ
・−脱着機構とを含むことを特徴とする。
、そしてウエノ1−が十Btで冷却可能なウェハーのセ
ット校1構を提供ゴることを目的と【−1七の構成に、
中央の開口周縁部によりウニノ1−の周辺部を叉える支
持具を備えた光透過性材質よりなる搬送台と、ウニ/・
−を光照射炉内のk・処理位置と炉外の待機位置との凹
1.P送するべく搬送台を移動させる駆動機構と、熱処
理が完了して待ネでp位置に来たウニI・−を上方に突
き上げ、かつ台上に載1青さねた未処理のウエノ・−を
降下しながら支持具にセットする昇降台と、上昇限位置
にある昇降台上にウニノ・−を供給し、回収するウニノ
・−脱着機構とを含むことを特徴とする。
以下に図面に示す実施例に基いて本発明′f:、J’l
一体的に説明する。
一体的に説明する。
光照射炉1内にけ長尺なハロゲンランプなどよりなるラ
ング2が加熱空間3を囲むように上方および下方にそわ
それ平面状に密に並んで設けらねでかり、その発光が加
熱空間3に向けて囮射されるようにランプ2の背後にそ
れぞf1王ミラー4が設けられ、個11方にも側方ミラ
ー5が設けらガている。これら主ミラー4、側方ミラー
5には図示略の冷却水路が設けられて冷却1tlている
。光照射炉10両端にはウェハー6を加熱空間3に出し
入れするための出入口1aが設けられ、771]熱空間
3内には出入口1aに面した両端に開口が設けられた石
英ガラス製の容器7が配置されているが、この中央部が
熱処理位fRTPである。そして、必要に応じて出入口
1aにはクヤッターが設けられる。
ング2が加熱空間3を囲むように上方および下方にそわ
それ平面状に密に並んで設けらねでかり、その発光が加
熱空間3に向けて囮射されるようにランプ2の背後にそ
れぞf1王ミラー4が設けられ、個11方にも側方ミラ
ー5が設けらガている。これら主ミラー4、側方ミラー
5には図示略の冷却水路が設けられて冷却1tlている
。光照射炉10両端にはウェハー6を加熱空間3に出し
入れするための出入口1aが設けられ、771]熱空間
3内には出入口1aに面した両端に開口が設けられた石
英ガラス製の容器7が配置されているが、この中央部が
熱処理位fRTPである。そして、必要に応じて出入口
1aにはクヤッターが設けられる。
ウェハー6はホウ素をイオン注入した単結晶シリコンで
あり、搬送台8に工っで熱処理位1t?、(TPと出入
口1a近傍の待機位置wp1’rたケWP、との間を搬
送されるが、搬送台8け光箒禍(壬材゛h例えば石英ガ
ラス製であり、2木の長いフレーム8aとその間のクロ
スメンバー8bとによりはしご状に形成されている。そ
して2本のクロスメンバー8bの段部によっで支持具9
が脱着自在に保接ζ名でいるが、この支持具9け2個備
えら台、その中心間距鴎は熱処理位RTPと待搏位蓋W
Pとの甲離に等しい。この支持具9の中央fff(にウ
ェハー6の大鋤さに相応する内形の開口が明けられ、こ
の開口にウェハー6″f瞼め込んで、開口周邦の段N(
K 、Cリウエハー6′f支持するようになっている。
あり、搬送台8に工っで熱処理位1t?、(TPと出入
口1a近傍の待機位置wp1’rたケWP、との間を搬
送されるが、搬送台8け光箒禍(壬材゛h例えば石英ガ
ラス製であり、2木の長いフレーム8aとその間のクロ
スメンバー8bとによりはしご状に形成されている。そ
して2本のクロスメンバー8bの段部によっで支持具9
が脱着自在に保接ζ名でいるが、この支持具9け2個備
えら台、その中心間距鴎は熱処理位RTPと待搏位蓋W
Pとの甲離に等しい。この支持具9の中央fff(にウ
ェハー6の大鋤さに相応する内形の開口が明けられ、こ
の開口にウェハー6″f瞼め込んで、開口周邦の段N(
K 、Cリウエハー6′f支持するようになっている。
次に、両方の出入口1aからそれぞれ外方にガイドレー
ル10が設けられ、搬送台8の両端の町ηh枠8Cがこ
のガイドレール10に摺動自在に保持されている。そし
て−力の可動枠8CとモータMとけ図示略の送りねじ梓
で連結式れており、モータMが正逆回転することにより
搬送台8が往復運動し、2個の支持具9が熱処理位置T
Pと2ケ所の待機位+?JWP+およびWP、のいずれ
力・どの間を移動する。そ【−て待琳位置WPを挾んで
増大コンベヤー11と搬出コンベヤー12が対置さ幻、
ウェハー脱落機構である4本の真空チャックアーム13
がそ:Mぞねのコンベヤー11.12の近傍に設けられ
ており、搬入コンベヤー11上のウェハー6を待機位置
WPへ、訃よび待機位置WPのウェハー6f搬出コンベ
ヤー12上に吸引チャックして移送させる。更に待機位
置WPIお工びWP、にはそ力、ぞれステンレス製の昇
降台14Aお工び14Bが設けら引て上下運動を行うか
、昇降台14の外径寸法は支持具9の中央開口の内径寸
法より小さくて、この中央開口を通過可能となってh
6 、その上昇限位置はコンベヤー11.12 と同レ
ベルとなっている。そして、ウェハー6が支持具9に支
持されているときに、昇降台14か下刃から上昇すると
ウェハー6は突き上げられ、逆に上方に位置する昇降台
14かウェハー6を台上に載置して降下すると支持具9
の開口を3A堝する陣にウェハー6が支持具9に支持さ
れるようにでる。
ル10が設けられ、搬送台8の両端の町ηh枠8Cがこ
のガイドレール10に摺動自在に保持されている。そし
て−力の可動枠8CとモータMとけ図示略の送りねじ梓
で連結式れており、モータMが正逆回転することにより
搬送台8が往復運動し、2個の支持具9が熱処理位置T
Pと2ケ所の待機位+?JWP+およびWP、のいずれ
力・どの間を移動する。そ【−て待琳位置WPを挾んで
増大コンベヤー11と搬出コンベヤー12が対置さ幻、
ウェハー脱落機構である4本の真空チャックアーム13
がそ:Mぞねのコンベヤー11.12の近傍に設けられ
ており、搬入コンベヤー11上のウェハー6を待機位置
WPへ、訃よび待機位置WPのウェハー6f搬出コンベ
ヤー12上に吸引チャックして移送させる。更に待機位
置WPIお工びWP、にはそ力、ぞれステンレス製の昇
降台14Aお工び14Bが設けら引て上下運動を行うか
、昇降台14の外径寸法は支持具9の中央開口の内径寸
法より小さくて、この中央開口を通過可能となってh
6 、その上昇限位置はコンベヤー11.12 と同レ
ベルとなっている。そして、ウェハー6が支持具9に支
持されているときに、昇降台14か下刃から上昇すると
ウェハー6は突き上げられ、逆に上方に位置する昇降台
14かウェハー6を台上に載置して降下すると支持具9
の開口を3A堝する陣にウェハー6が支持具9に支持さ
れるようにでる。
次に上計i構成のセット機構のFTE 1fd+をy9
明すると、壕ず、一方の支持具9が待也4yrFl杼W
P、に位置すると昇降台14Aが上昇眼位f母寸で上昇
する。そして、搬入コンベヤー11上のウェハ−6が宵
空チャックアーム13にチャックされて巧−降台14A
上番で移送これて載置ざねると昇降台14Aが降下し、
支持具9の開口′5r通過する際にウェハー6が支持具
9に支持ζわる。そして、搬送台8が移1T11してウ
ェハー6は熱処理位69.TP VC搬送されるととも
に11!!方の支持具9が待1−i44 イλン噴WP
、に位置し、ウェハー6が熱処理されている間に昇降台
14Bが上昇し、先に説明した昇降台14Aにおける
と同じ作動で未処理のウェハー6が支持具9に支持され
る。そしてp)処理が完了すると再ひ裕送む8か逆方間
に移!Jb して処理痛のウェハー6が待イと位ij7
. W’ P+に搬送さt′1.6とともに未処理のウ
ェハ−6が熱処理位vTPK考送イ台で熱処理が開始さ
tlふ。この熱処理中にかいて昇[隆台14Aが再び下
方から上昇し、処理済のウェハー6を支持jル9から突
き上げて上昇限位置に停止する。そして、′:vt、?
チャックアーム13がこのウェハー6をチャックして搬
出コンベヤー12に移送して1サイクルが完了し1この
よう斤サイクルが1顆次繰返ざねることによりウェハー
6の熱処理が効率よ〈行わわる。
明すると、壕ず、一方の支持具9が待也4yrFl杼W
P、に位置すると昇降台14Aが上昇眼位f母寸で上昇
する。そして、搬入コンベヤー11上のウェハ−6が宵
空チャックアーム13にチャックされて巧−降台14A
上番で移送これて載置ざねると昇降台14Aが降下し、
支持具9の開口′5r通過する際にウェハー6が支持具
9に支持ζわる。そして、搬送台8が移1T11してウ
ェハー6は熱処理位69.TP VC搬送されるととも
に11!!方の支持具9が待1−i44 イλン噴WP
、に位置し、ウェハー6が熱処理されている間に昇降台
14Bが上昇し、先に説明した昇降台14Aにおける
と同じ作動で未処理のウェハー6が支持具9に支持され
る。そしてp)処理が完了すると再ひ裕送む8か逆方間
に移!Jb して処理痛のウェハー6が待イと位ij7
. W’ P+に搬送さt′1.6とともに未処理のウ
ェハ−6が熱処理位vTPK考送イ台で熱処理が開始さ
tlふ。この熱処理中にかいて昇[隆台14Aが再び下
方から上昇し、処理済のウェハー6を支持jル9から突
き上げて上昇限位置に停止する。そして、′:vt、?
チャックアーム13がこのウェハー6をチャックして搬
出コンベヤー12に移送して1サイクルが完了し1この
よう斤サイクルが1顆次繰返ざねることによりウェハー
6の熱処理が効率よ〈行わわる。
この様に本実施例によ名ば、待抄位情に昇降台を上下動
可能に設け、支持具に支持式りだ処理済のウェハーをこ
の昇降台で突き上げ、また昇降台を降下させて未処理の
ウェハーを支持具にセットするようにし、昇降台上で処
理済のウェハーの回収と未処理のウェハーυ、・供給を
行うようにしたので、脆くて弱い楡送台や支持具にウェ
ハー脱着機構を直接作用させてウェハーの供給、回収を
イ〕うことがなく、従って搬送台などがウェハー脱清時
に破損する危険性がなく、マだ、従来要求をれた破損防
止のための高寸法精度も要求さflない。そして高温に
加熱さhて炉外の待坤位v4“に搬迦さ引たウェハーを
、同じく高潟に加熱;名た支持基から昇降台によりf+
離上昇させるのでウェハーは効率よく冷却される。
可能に設け、支持具に支持式りだ処理済のウェハーをこ
の昇降台で突き上げ、また昇降台を降下させて未処理の
ウェハーを支持具にセットするようにし、昇降台上で処
理済のウェハーの回収と未処理のウェハーυ、・供給を
行うようにしたので、脆くて弱い楡送台や支持具にウェ
ハー脱着機構を直接作用させてウェハーの供給、回収を
イ〕うことがなく、従って搬送台などがウェハー脱清時
に破損する危険性がなく、マだ、従来要求をれた破損防
止のための高寸法精度も要求さflない。そして高温に
加熱さhて炉外の待坤位v4“に搬迦さ引たウェハーを
、同じく高潟に加熱;名た支持基から昇降台によりf+
離上昇させるのでウェハーは効率よく冷却される。
なお、本発明の構成は実施例において説明したものに限
らねるものではなく、特許請求の箱間を逸脱することな
く、種々の構成が可能である。
らねるものではなく、特許請求の箱間を逸脱することな
く、種々の構成が可能である。
以上説明したように、本発明によれば節牟な構造で、搬
送台などが破債する危険性がなく、そしてウェハーが十
分に冷却可能なウェハーのセット機構を提供することが
できる。
送台などが破債する危険性がなく、そしてウェハーが十
分に冷却可能なウェハーのセット機構を提供することが
できる。
第1図は本発明実施例の平面図、第2171f−i、同
じく正面図、第3図、第4図目間じく装部の正面]ネj
である。 1・・・光照射炉 2・・・シンク 6・・・ウヱハ−
8・・・搬送台 9・・・支持具 11・・・搬入コン
ベヤー12・・・搬出コンベヤー 13・・・真空チャ
ックアーム14 (14A、14B)・・・昇降台TP
・・・熱処理位置 wp、 、 wp、・・・待楼位置 出願人 ウシオを機株式会社 代理人 弁理士 田原寅之助
じく正面図、第3図、第4図目間じく装部の正面]ネj
である。 1・・・光照射炉 2・・・シンク 6・・・ウヱハ−
8・・・搬送台 9・・・支持具 11・・・搬入コン
ベヤー12・・・搬出コンベヤー 13・・・真空チャ
ックアーム14 (14A、14B)・・・昇降台TP
・・・熱処理位置 wp、 、 wp、・・・待楼位置 出願人 ウシオを機株式会社 代理人 弁理士 田原寅之助
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 中央の開口周縁部によりウェハーの周辺部を支える支持
具を備えた光透過性材質よりなる搬送台と、ウェハーを
光照射炉内の熱処理位fりと炉外の待機位置との間を搬
送するべく搬送台を移動させる駆動機構と、熱処理が完
了して待機位置に来たウェハーを上方に突き上げ、かつ
台上に載置ざ名。 た未処理のウェハーを降下しながら支持具にセットする
昇降台と、上昇限位漱にある昇降台上にウェハーを供給
し、回収するウェハー脱着機構とを含むウェハーのセy
ト機構。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13436883A JPS6027141A (ja) | 1983-07-25 | 1983-07-25 | ウエハ−のセツト機構 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13436883A JPS6027141A (ja) | 1983-07-25 | 1983-07-25 | ウエハ−のセツト機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6027141A true JPS6027141A (ja) | 1985-02-12 |
JPS6334622B2 JPS6334622B2 (ja) | 1988-07-11 |
Family
ID=15126740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13436883A Granted JPS6027141A (ja) | 1983-07-25 | 1983-07-25 | ウエハ−のセツト機構 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6027141A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07161632A (ja) * | 1993-07-16 | 1995-06-23 | Semiconductor Syst Inc | 基板コーティング/現像システム用熱処理モジュール |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5457867A (en) * | 1977-10-17 | 1979-05-10 | Nichiden Varian Kk | Vacuum processor with automatic wafer feeder |
JPS56123552U (ja) * | 1980-02-20 | 1981-09-19 | ||
JPS58118112A (ja) * | 1981-12-30 | 1983-07-14 | ア−ノン・エマニエル・ガツト | 半導体材料の熱処理装置 |
-
1983
- 1983-07-25 JP JP13436883A patent/JPS6027141A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5457867A (en) * | 1977-10-17 | 1979-05-10 | Nichiden Varian Kk | Vacuum processor with automatic wafer feeder |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6334622B2 (ja) | 1988-07-11 |
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