JPS60249045A - 金属表面の活性度の測定方法及びその測定装置 - Google Patents
金属表面の活性度の測定方法及びその測定装置Info
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- JPS60249045A JPS60249045A JP59106265A JP10626584A JPS60249045A JP S60249045 A JPS60249045 A JP S60249045A JP 59106265 A JP59106265 A JP 59106265A JP 10626584 A JP10626584 A JP 10626584A JP S60249045 A JPS60249045 A JP S60249045A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は金属表面の酸化度、歪度などを示す活性度を測
定する方法及びこれに用いられる装置に関する。
定する方法及びこれに用いられる装置に関する。
本発明は例えばサンドブラストされた金属表面の活性度
を測定するのに利用される。溶射作業や塗装作業の前工
程としてなされたサンドブラスト直後の金属表面は活性
度が高く、次の溶射作業などを円滑に進めることができ
るが、サンドブラスト後時間が経過すると酸化により前
記活性度が低下して次の溶射作業などが困難になる。そ
こでサンドブラスト後の金属表面の活性度を測定できれ
ば、これによって次の溶射作業などを円滑に進めること
ができるか否かを客観的に判断できる。このような判断
を行うのに本発明を利用することができる。
を測定するのに利用される。溶射作業や塗装作業の前工
程としてなされたサンドブラスト直後の金属表面は活性
度が高く、次の溶射作業などを円滑に進めることができ
るが、サンドブラスト後時間が経過すると酸化により前
記活性度が低下して次の溶射作業などが困難になる。そ
こでサンドブラスト後の金属表面の活性度を測定できれ
ば、これによって次の溶射作業などを円滑に進めること
ができるか否かを客観的に判断できる。このような判断
を行うのに本発明を利用することができる。
（発明の目的）
本発明は金属表面の活性度を容易且つ迅速に測定できる
方法及び、この方法を実施する際に、各種金属表面の活
性度測定に容易に適応でき、ノイズ等による精度低下を
防ぐことができると共に取扱いが容易で、効率良く光線
を照射することができる装置を提供することを目的とす
る。
方法及び、この方法を実施する際に、各種金属表面の活
性度測定に容易に適応でき、ノイズ等による精度低下を
防ぐことができると共に取扱いが容易で、効率良く光線
を照射することができる装置を提供することを目的とす
る。
（発明の構成）
本願は上記目的を達成するため、以下のように構成した
ことを特徴とする４発明を有している。
ことを特徴とする４発明を有している。
特許請求の範囲第１項記載の第１発明は、測定電極に対
し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置い
て前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面に
光線を照射した際に、測定電極に流れる微小電流を４測
定し、この電流値と同種金属の表面の活性度に対応して
実験的にめた基準電流値とを対比することによって被測
定金属表面の活性度を測定することを特徴とする金属表
面の活性度の測定方法に係るものである。
し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置い
て前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面に
光線を照射した際に、測定電極に流れる微小電流を４測
定し、この電流値と同種金属の表面の活性度に対応して
実験的にめた基準電流値とを対比することによって被測
定金属表面の活性度を測定することを特徴とする金属表
面の活性度の測定方法に係るものである。
特許請求の範囲第３項記載の第２発明は、測定電極に対
し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置い
て前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面に
光線を照射した際に測定電極に流れる微小電流を測定す
ることによって被測定金属表面の活性度を測定する装置
において、前記微小電流を増幅する増幅器を任意に増幅
幅を設定できるように構成すると共に、この増幅器の入
力側に前記測定電極を、出力側に測定値表示装置を夫々
接続したことを特徴とする金属表面の活性度の測定装置
に係るものである。
し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置い
て前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面に
光線を照射した際に測定電極に流れる微小電流を測定す
ることによって被測定金属表面の活性度を測定する装置
において、前記微小電流を増幅する増幅器を任意に増幅
幅を設定できるように構成すると共に、この増幅器の入
力側に前記測定電極を、出力側に測定値表示装置を夫々
接続したことを特徴とする金属表面の活性度の測定装置
に係るものである。
特許請求の範囲８Ｎ４項記載の第３発明は、測定電極に
対し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置
いて前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面
に光線を照射した際に測定電極に流れる微小電流を測定
することによって被測定金属表面の活性度を測定する装
置において、光線照射装置、測定電極及び前記微小電流
を増幅するプリアンプを鋪えたプローブと、メインアン
プ、測定値表示装置を備えた装置本体とを可撓性の伝送
ケーブルでもって電気的に接続したことを特徴とする金
属表面の活性度の測定装置に係るものである。
対し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置
いて前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面
に光線を照射した際に測定電極に流れる微小電流を測定
することによって被測定金属表面の活性度を測定する装
置において、光線照射装置、測定電極及び前記微小電流
を増幅するプリアンプを鋪えたプローブと、メインアン
プ、測定値表示装置を備えた装置本体とを可撓性の伝送
ケーブルでもって電気的に接続したことを特徴とする金
属表面の活性度の測定装置に係るものである。
特許請求の範囲第６項記載の第４発明は、測定電極に対
し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置い
て前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面に
光線を照射した際に測定電極に流れる微小電流を測定す
ることによって被測定金属表面の活性度を測定する装置
において、光線発生源と被測定金属表面の照射面とを結
ぶ光線伝送路を光ファイバで構成したことを特徴とする
金属表面の活性度の測定装置に係るものである。
し負にバイアスされた被測定金属表面に所定間隔を置い
て前記測定電極を対置させると共に、被測定金属表面に
光線を照射した際に測定電極に流れる微小電流を測定す
ることによって被測定金属表面の活性度を測定する装置
において、光線発生源と被測定金属表面の照射面とを結
ぶ光線伝送路を光ファイバで構成したことを特徴とする
金属表面の活性度の測定装置に係るものである。
（実施例）
先ず本発明装置を図示する実施例に基き具体的に説明す
る。
る。
図面において、１は装置本体、２はプローブ、３は後記
測定電極５に対し負にバイアスされた被測定金属、４は
装置本体１とプローブ２とを電気的に接続する伝送ケー
ブルである。
測定電極５に対し負にバイアスされた被測定金属、４は
装置本体１とプローブ２とを電気的に接続する伝送ケー
ブルである。
プ四−プ２は第１図に示す上うに自由に手に持って移動
させることができるようにハンディな寸法に形成されて
いる。このプローブ２に°は第２図に示すように、ステ
ンレス製の測定電極５、この測定電極５の周囲に配した
絶縁材料製のガイド筒６、前記測定電極５に接続する電
流増幅用のプリアンプ７ａ、紫外線を前記被測定金属３
の表面３ａに向は照射する光線照射装置８を設けている
。
させることができるようにハンディな寸法に形成されて
いる。このプローブ２に°は第２図に示すように、ステ
ンレス製の測定電極５、この測定電極５の周囲に配した
絶縁材料製のガイド筒６、前記測定電極５に接続する電
流増幅用のプリアンプ７ａ、紫外線を前記被測定金属３
の表面３ａに向は照射する光線照射装置８を設けている
。
前記ガイド筒６は測定電極５と被測定金属表面３ａとの
間隔を１〜２回の所定距離に保つためのもので、測定時
にはガイド筒６の先端を被測定金属表面３ａ上に接触さ
せる。
間隔を１〜２回の所定距離に保つためのもので、測定時
にはガイド筒６の先端を被測定金属表面３ａ上に接触さ
せる。
前記プリアンプ７ａは入力インピーダンスの高いＭＯ５
型ＩＣによってｆ＃成されている。このため測定電極５
とプリアンプ７ａとの間に過電圧保護回路９を設けて、
プリアンプ７ａを過電圧から保護している。そしてこの
プリアンプ７ａは前記測定電極５を流れる微小電流を増
幅し、電圧出力に変換して、その信号を装置本体４のメ
インアンプ７ｂに送る働きをする。これにより、測定信
号をノイズ、電荷、浮遊容量の影響を受けることなしに
、プローブ２から装置本体４に伝送することができる。
型ＩＣによってｆ＃成されている。このため測定電極５
とプリアンプ７ａとの間に過電圧保護回路９を設けて、
プリアンプ７ａを過電圧から保護している。そしてこの
プリアンプ７ａは前記測定電極５を流れる微小電流を増
幅し、電圧出力に変換して、その信号を装置本体４のメ
インアンプ７ｂに送る働きをする。これにより、測定信
号をノイズ、電荷、浮遊容量の影響を受けることなしに
、プローブ２から装置本体４に伝送することができる。
前記光線照射装置８は紫外線ランプ１０、集光レンズ１
１、光７アイパ１２、及び照射レンズ１３）Ｃよって構
成され、紫外線ランプ１０からの紫外線は光ファイバ１
２によって被測定金属表面３＾の近（まて伝送された後
、これに向は照射される。この紫外線照射により、測定
電極５に微小電流が流れるが、この電流値は被測定金属
表面３ａの活性度によって異なる値を示す。又金属の種
類によっても前記電流値は異なる特性を示す。伺、前記
光線照射装置８は光線伝送路を光ファイバ１２によって
構成しているので、小容量の紫外線ランプ１０で十分な
照射強度を得ることができる。
１、光７アイパ１２、及び照射レンズ１３）Ｃよって構
成され、紫外線ランプ１０からの紫外線は光ファイバ１
２によって被測定金属表面３＾の近（まて伝送された後
、これに向は照射される。この紫外線照射により、測定
電極５に微小電流が流れるが、この電流値は被測定金属
表面３ａの活性度によって異なる値を示す。又金属の種
類によっても前記電流値は異なる特性を示す。伺、前記
光線照射装置８は光線伝送路を光ファイバ１２によって
構成しているので、小容量の紫外線ランプ１０で十分な
照射強度を得ることができる。
前記装置本体１は第２図に示すように、メインアンプ７
ｂ、測定値表示装置１４、アンプ用電源１５、バイアス
用電源１６、紫外線ランプ用電源１７、及び前記３つの
電源に接続する交流電源入力端子１８を備えている。
ｂ、測定値表示装置１４、アンプ用電源１５、バイアス
用電源１６、紫外線ランプ用電源１７、及び前記３つの
電源に接続する交流電源入力端子１８を備えている。
前記バイアス用電源１６は前記被測定金属３を負にバイ
アスしており、このためその負極側を接続線１９を介し
て被測定金属３に接続している。このように、バイアス
用電＃１６を装置本体１に内蔵させた構造としているの
で、プローブ２を小型軽量にできると同時に、バイアス
電圧を高めることができ、測定感度を高めることができ
る。
アスしており、このためその負極側を接続線１９を介し
て被測定金属３に接続している。このように、バイアス
用電＃１６を装置本体１に内蔵させた構造としているの
で、プローブ２を小型軽量にできると同時に、バイアス
電圧を高めることができ、測定感度を高めることができ
る。
前記アンプ用電源１５はプリアンプ７ａ及びメインアン
プ７ｂの直流電源として用いられ、前記紫外線ランプ用
電源１７は紫外線ランプ１０の電源として用いられる。
プ７ｂの直流電源として用いられ、前記紫外線ランプ用
電源１７は紫外線ランプ１０の電源として用いられる。
前記メインアンプ７ｂは前記プリアンプ７ａからの人力
信号を増幅し、これを測定値表示装置１４に表示する働
きをする。メインアンプ７ｂには零点調整手段２０及び
増幅度調整手段２１が付設されている。前述のように金
属の種類によって、金属表面の活性度と測定電極５を流
れる電流値との間の特性が異なるのである。が、予め各
種金属についての前記特性データを実験により把握して
おくと、この実験値に基き、前記増幅度調整手段２１を
最適に調整することができる。前記測定値表示装置１４
には、電流値を表示するようにし、この数値と実験によ
り把握されたデータ（基準電流値）とを対比することに
よって被測定金属３の表面３ａの活性度を知ることがで
きる。
信号を増幅し、これを測定値表示装置１４に表示する働
きをする。メインアンプ７ｂには零点調整手段２０及び
増幅度調整手段２１が付設されている。前述のように金
属の種類によって、金属表面の活性度と測定電極５を流
れる電流値との間の特性が異なるのである。が、予め各
種金属についての前記特性データを実験により把握して
おくと、この実験値に基き、前記増幅度調整手段２１を
最適に調整することができる。前記測定値表示装置１４
には、電流値を表示するようにし、この数値と実験によ
り把握されたデータ（基準電流値）とを対比することに
よって被測定金属３の表面３ａの活性度を知ることがで
きる。
又この外、前記測定値表示装置１４に被測定金属３の表
面３ａの活性度を直接表示しう芯ように構成することも
可能である。この場合には実験データに基き、各種金属
の夫々に対応する増幅度を決定しておき、前記増幅度調
整手段２１をこれに合せて測定することが必要である。
面３ａの活性度を直接表示しう芯ように構成することも
可能である。この場合には実験データに基き、各種金属
の夫々に対応する増幅度を決定しておき、前記増幅度調
整手段２１をこれに合せて測定することが必要である。
伺、この増幅度調整手段２１としては無段階に増幅度を
調整することができるものを用いる。
調整することができるものを用いる。
本装置の各配線は第２図に示すように構成されているが
、プローブ２と装置本体ｌとを電気的に接続する配線、
すなわち紫外線ランプ１０と紫外線ランプ用電源１７と
を接続する配線２２、プリアンプ７ａとメインアンプ７
ｂとを接続する配線２３、プリアンプ７ａとアンプ用電
源１５の正極側とを接続する配線２４、プリアンプ７ａ
とアンプ用電源１５及びバイアス用電源１６のＯｖ側と
を接続する配！２５は、可撓性のある伝送ケーブル４内
に配されている。
、プローブ２と装置本体ｌとを電気的に接続する配線、
すなわち紫外線ランプ１０と紫外線ランプ用電源１７と
を接続する配線２２、プリアンプ７ａとメインアンプ７
ｂとを接続する配線２３、プリアンプ７ａとアンプ用電
源１５の正極側とを接続する配線２４、プリアンプ７ａ
とアンプ用電源１５及びバイアス用電源１６のＯｖ側と
を接続する配！２５は、可撓性のある伝送ケーブル４内
に配されている。
次に本発明方法を上記装置を用いて行う１例に暴き具体
的に説明する。
的に説明する。
例えば軟鋼において、上記装置を所定条件に設定したと
きに、サンドブラスト直後に前記微小電流値が６０ＰＡ
を示し、これが２０ＰＡ以下になったとき軟鋼表面の活
性度が低下して、溶射など次工程の作業が困難になるこ
とが実験的に確められているとする。
きに、サンドブラスト直後に前記微小電流値が６０ＰＡ
を示し、これが２０ＰＡ以下になったとき軟鋼表面の活
性度が低下して、溶射など次工程の作業が困難になるこ
とが実験的に確められているとする。
被測定金属３としては、サンドブラストされた後、ある
時間経過した軟鋼を用いる。この被測定金属３を上記装
置にセットし、その表面３ａに紫外線を照射し、その際
測定電極５に流れる微小電流をアンプ７によって増幅し
、前記測定値表示装置１４に表示させる。この測定値表
示装置１４に表示される電流値が２０ＰＡ以下であるか
否かを判断し、２０ＰＡ以下のときは測定された軟鋼表
面の活性度は所定基準より低下し、溶射などの次工程の
作業が困難になることが分る。
時間経過した軟鋼を用いる。この被測定金属３を上記装
置にセットし、その表面３ａに紫外線を照射し、その際
測定電極５に流れる微小電流をアンプ７によって増幅し
、前記測定値表示装置１４に表示させる。この測定値表
示装置１４に表示される電流値が２０ＰＡ以下であるか
否かを判断し、２０ＰＡ以下のときは測定された軟鋼表
面の活性度は所定基準より低下し、溶射などの次工程の
作業が困難になることが分る。
この外、本発明方法によって、実験データと測定電流値
とを対比させることによって具体的な金属表面の活性度
を知ることもできる。
とを対比させることによって具体的な金属表面の活性度
を知ることもできる。
本発明は上記実施例に示す外、種々の態様に構成するこ
とができる。例えば上記装置及び上記方法では、被測定
金属表面３ａに紫外線を照射する構成としているが、他
の波長の光線を照射する構成とすることもできる。又ア
ンプ７としてプリアンプ７ａとメインアンプ７ｂとを備
えたものを採用しているが、これに限定されない。又プ
ローブ２と装置本体１とを剛性のパイプケーブルで接続
した構−成とすることもできる。
とができる。例えば上記装置及び上記方法では、被測定
金属表面３ａに紫外線を照射する構成としているが、他
の波長の光線を照射する構成とすることもできる。又ア
ンプ７としてプリアンプ７ａとメインアンプ７ｂとを備
えたものを採用しているが、これに限定されない。又プ
ローブ２と装置本体１とを剛性のパイプケーブルで接続
した構−成とすることもできる。
更にマイクシコンピユータを利用し、各種金属について
のデータを装置に記憶させて、測定後瞬時に被金属表面
３ａの活性度が測定値表示装置１４に表示される（ディ
ジタル表示が好適である。）ように構成することも可能
である。
のデータを装置に記憶させて、測定後瞬時に被金属表面
３ａの活性度が測定値表示装置１４に表示される（ディ
ジタル表示が好適である。）ように構成することも可能
である。
（発明の効果）
第１発明は被測定金属表面に光線を照射した際に測定電
極に流れる微小電流が被測定金属表面の活性度によって
成る特性を持つことに着目してなされた活性度測定方法
に係るものであり、この微小電流の測定値を同種金属に
ついて行った実験データと対比することにより、容易且
つ迅速に金属表面の活性度を測定することができるとい
う効果を有する。
極に流れる微小電流が被測定金属表面の活性度によって
成る特性を持つことに着目してなされた活性度測定方法
に係るものであり、この微小電流の測定値を同種金属に
ついて行った実験データと対比することにより、容易且
つ迅速に金属表面の活性度を測定することができるとい
う効果を有する。
第２発明は第１発明の方法を実施するための装置に係り
、各種金属についての実験的データに基き増幅器の増幅
度の調整を行うことにより、各種金属の表面の活性度を
正確且つ迅速に測定することができるという効果を有す
る。
、各種金属についての実験的データに基き増幅器の増幅
度の調整を行うことにより、各種金属の表面の活性度を
正確且つ迅速に測定することができるという効果を有す
る。
第３発明は第１発明の方法を実施するための装置に係９
、プローブと装置本体とを可撓性の伝送ケーブルで接続
しているので、プローブを自由に測定場所に移動させる
ことができ取扱いに便利であり、しかもプローブにプリ
アンプを内蔵させているので、ノイズ等による測定精度
の低下を防ぐことができる（プ四−プにプリアンプを内
蔵させているので、パイプケーブルに代えて可撓性の伝
送ケーブルを用いてもノイズ等の影響を無視できる範囲
におさえることができるという一面もある。）という効
果を有する。
、プローブと装置本体とを可撓性の伝送ケーブルで接続
しているので、プローブを自由に測定場所に移動させる
ことができ取扱いに便利であり、しかもプローブにプリ
アンプを内蔵させているので、ノイズ等による測定精度
の低下を防ぐことができる（プ四−プにプリアンプを内
蔵させているので、パイプケーブルに代えて可撓性の伝
送ケーブルを用いてもノイズ等の影響を無視できる範囲
におさえることができるという一面もある。）という効
果を有する。
第４発明は第１発明の方法を実施するための装置に係り
、光線発生源と被測定金属表面の照射面とを結ぶ光線伝
送路を光ファイバで構成しているので、小容量の光源で
十分な照射強度を得ることができるという効果を有する
。
、光線発生源と被測定金属表面の照射面とを結ぶ光線伝
送路を光ファイバで構成しているので、小容量の光源で
十分な照射強度を得ることができるという効果を有する
。
第１図は本発明装置の実施例の外観斜視図、第２図はそ
の内部の構成を示す概略図である。 １−ｍ−装置本体 ２−一一プロープ ３−−−被測定金属 ３ａ−ｍ−表面 ４−−−伝送ケーブル ５−ｍ−測定電極７−−−増幅
器 ７ａ−ｍ−プリアンプ７ｂ−−−メインアンプ ８
−ｍ−光線照射装置 １０−ｍ−光線発生源 １２−−
一光ファイバ −４−ｍ−測定値表示装置 代理人弁理土石原 勝
の内部の構成を示す概略図である。 １−ｍ−装置本体 ２−一一プロープ ３−−−被測定金属 ３ａ−ｍ−表面 ４−−−伝送ケーブル ５−ｍ−測定電極７−−−増幅
器 ７ａ−ｍ−プリアンプ７ｂ−−−メインアンプ ８
−ｍ−光線照射装置 １０−ｍ−光線発生源 １２−−
一光ファイバ −４−ｍ−測定値表示装置 代理人弁理土石原 勝
Claims (6)
- （１）測定電極に対し負にバイアスされな被測定金属表
面に所定間隔を置いて前記測定電極を対置させると共に
、被測定金属表面に光線を照射した際に測定電極に流れ
る微小電流を測定し、この電流値と同種金属の表面の活
性度に対応して実験的にめた基準電流値とを対比するこ
とＫよって被測定金属表面の活性度を測定することを特
徴とする金属表面の活性度の測定方法。 - （２）前記光線が紫外線である特許請求の範囲第１項記
載の金属表面の活性度の測定方法。 - （３）測定電極に対し負にバイアスされた被測定金属表
面に所定間隔を置いて前記測定電極を対置させると共に
、被測定金属表面に光線を照射した際に測定電極に流れ
る微小電流を測定することによって被測定金属表面の活
性度を測定する装置において、前記微小電流を増幅する
増幅器を任意に増幅度を設定できるように構成すると共
に、この増幅器の入力側に前記測定電極を、出力側に測
定値表示装置を夫々接続したことを特徴とする金属表面
の活性度の測定装置。 - （４）測定電極に対し負にバイアスされた被測定金属表
面に所定間隔を置いて前記測定電極を対置させると共に
、被測定金属表面に光線を照射した際に測定電極に流れ
る微小電流を測定することによって被測定金属表面の活
性度を測定する装置において、光線照射装置、測定電極
及び前記微小電流を増幅するプリアンプを備えたプロー
ブと、メインアンプ、測定値表示装置を備えた装置本体
とを可撓性の伝送ケーブルでもって電気的に接続したこ
とを特徴とする金属表面の活性度の測定装置。 - （５）前記プローブがハンディな寸法に形成されている
特許請求の範囲第４項記載の金属表面の活性度の測定装
置。 - （６） ｎ定電極に対し負にバイアスされた被測定金属
表面に所定間隔を置いて前記測定電極を対置させると共
に、被測定金属表面に光線を照射した際に測定電極に流
れる微小電流を測定することによって被測定金属表面の
活性度を測定する装置において、光線発生源と被測定金
属表面の照射面とを結ぶ光線伝送路を光ファイバで構成
したことを特徴とする金属表面の活性度の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59106265A JPS60249045A (ja) | 1984-05-24 | 1984-05-24 | 金属表面の活性度の測定方法及びその測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59106265A JPS60249045A (ja) | 1984-05-24 | 1984-05-24 | 金属表面の活性度の測定方法及びその測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60249045A true JPS60249045A (ja) | 1985-12-09 |
| JPH0352018B2 JPH0352018B2 (ja) | 1991-08-08 |
Family
ID=14429258
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59106265A Granted JPS60249045A (ja) | 1984-05-24 | 1984-05-24 | 金属表面の活性度の測定方法及びその測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60249045A (ja) |
-
1984
- 1984-05-24 JP JP59106265A patent/JPS60249045A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0352018B2 (ja) | 1991-08-08 |
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