JPH04132540A - 角層の厚さ測定方法及びその測定装置 - Google Patents
角層の厚さ測定方法及びその測定装置Info
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- JPH04132540A JPH04132540A JP2254822A JP25482290A JPH04132540A JP H04132540 A JPH04132540 A JP H04132540A JP 2254822 A JP2254822 A JP 2254822A JP 25482290 A JP25482290 A JP 25482290A JP H04132540 A JPH04132540 A JP H04132540A
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Landscapes
- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は人体の角’１１１！ （以下角層と記す）の厚
さの測定方法及びその測定装置に係り、詳しくは人体の
皮膚に何らの処置を施すことなく、皮膚の角層の厚さを
正確に測定することができる角層の厚さの測定方法及び
その測定装置に関するものである。
さの測定方法及びその測定装置に係り、詳しくは人体の
皮膚に何らの処置を施すことなく、皮膚の角層の厚さを
正確に測定することができる角層の厚さの測定方法及び
その測定装置に関するものである。
〔従来の技術］
人体の皮膚の角層の厚さを測定することは、皮膚の性状
や老化度合い等を知る上で重要である。
や老化度合い等を知る上で重要である。
従来、角層の厚さを測定する方法として、皮膚を切除し
、この切除した皮膚を顕？ｉ！鏡により観察して測定す
る方法が知られている。また、皮膚に和音波をあて角層
の厚さを推定する方法も知られている。
、この切除した皮膚を顕？ｉ！鏡により観察して測定す
る方法が知られている。また、皮膚に和音波をあて角層
の厚さを推定する方法も知られている。
しかし、上述した角層の厚さの測定方法のうち、前者の
測定方法は、病変した皮膚以外の皮膚に適用することが
難しい欠点があった。また、切除した皮膚が測定するま
での間に乾燥し、角層の厚さが変化してしまうおそれが
あった。更に、切除した皮膚を顕微鏡観察のため試料台
上に固定するが、この固定のしかたによっては、角層の
厚さの測定値が変わってしまうおそれもあった。
測定方法は、病変した皮膚以外の皮膚に適用することが
難しい欠点があった。また、切除した皮膚が測定するま
での間に乾燥し、角層の厚さが変化してしまうおそれが
あった。更に、切除した皮膚を顕微鏡観察のため試料台
上に固定するが、この固定のしかたによっては、角層の
厚さの測定値が変わってしまうおそれもあった。
また、後者の超音波を用いる方法は、分解能が低く、精
度が十分でないという欠点があった。
度が十分でないという欠点があった。
従って、本発明の目的は、病変した皮膚に限られず、炎
症や痛みを伴うことなく、いずれの皮膚にも通用でき、
角層の厚さを正確に測定することができる角層の厚さの
測定方法及びその測定装置を提供することにある。
症や痛みを伴うことなく、いずれの皮膚にも通用でき、
角層の厚さを正確に測定することができる角層の厚さの
測定方法及びその測定装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段］
本発明者等は上記目的を達成すべく鋭意研究の結果、波
長６３２．８ｎｍのレーザー光を皮膚に照射し、皮膚の
角層から反射した反射光の強度分布を求めたところ、角
層の厚さを正確に測定できることを知見した。
長６３２．８ｎｍのレーザー光を皮膚に照射し、皮膚の
角層から反射した反射光の強度分布を求めたところ、角
層の厚さを正確に測定できることを知見した。
本発明は、上記知見に基づいてなされたもので、レーザ
ー光照射手段により皮膚に波長６３２．８ｎｍのレーザ
ー光を照射する一方、複数の充電変換素子を有した検知
手段により上記皮膚の角層から反射した上記レーザー光
の反射光の強度を検知し、信号処理手段により上記検知
手段からの検知信号に基づいて反射光の強度分布を求め
て角層の厚さデータに処理し、該データから角層の厚さ
を測定することを特徴とする角層の厚さの測定方法を提
供するものである。
ー光照射手段により皮膚に波長６３２．８ｎｍのレーザ
ー光を照射する一方、複数の充電変換素子を有した検知
手段により上記皮膚の角層から反射した上記レーザー光
の反射光の強度を検知し、信号処理手段により上記検知
手段からの検知信号に基づいて反射光の強度分布を求め
て角層の厚さデータに処理し、該データから角層の厚さ
を測定することを特徴とする角層の厚さの測定方法を提
供するものである。
また、本発明は、上記方法の実施に好適な装置として、
波長６３２．８ｎｍのレーザー光を皮膚に照射するレー
ザー光照射手段と、前記レーザー光照射手段から照射さ
れたレーザー光の反射光の強度を検知する複数の光電変
換素子からなる検知手段と、前記検知手段からの検知信
号に基づいて反射光の強度分布を求めて角層の厚さデー
タに処理する信号処理手段とを具備することを特徴とす
る角層の厚さ測定装置を提供するものである。
波長６３２．８ｎｍのレーザー光を皮膚に照射するレー
ザー光照射手段と、前記レーザー光照射手段から照射さ
れたレーザー光の反射光の強度を検知する複数の光電変
換素子からなる検知手段と、前記検知手段からの検知信
号に基づいて反射光の強度分布を求めて角層の厚さデー
タに処理する信号処理手段とを具備することを特徴とす
る角層の厚さ測定装置を提供するものである。
本発明の角層の厚さの測定方法及び装置によれば、レー
ザー光照射手段により皮膚に波長６３２゜８ｎｍのレー
ザー光を照射する一方、検知手段により該レーザー光の
反射光の強度を検知し、信号処理手段により該反射光の
強度分布を求めて角層の厚さデータに処理し、該データ
から角層の厚さを測定するので、病変した皮膚に限られ
ず、炎症や痛みを伴うことなく、いずれの皮膚の角層の
厚さ測定に適用することができ、角層の厚さ正確に測定
することができる。
ザー光照射手段により皮膚に波長６３２゜８ｎｍのレー
ザー光を照射する一方、検知手段により該レーザー光の
反射光の強度を検知し、信号処理手段により該反射光の
強度分布を求めて角層の厚さデータに処理し、該データ
から角層の厚さを測定するので、病変した皮膚に限られ
ず、炎症や痛みを伴うことなく、いずれの皮膚の角層の
厚さ測定に適用することができ、角層の厚さ正確に測定
することができる。
（実施例〕
以下、本発明の詳細な説明する。
まず、本発明の角層の厚さの測定装置の一実施例を図面
を参照して説明する。
を参照して説明する。
第１図乃至第４図は本発明の一実施例を示し、第１図は
本実施例に係る角層の厚さの測定装置を含んだ角層解析
装夏全体の概略説明図、第２図は反射光の測定原理を説
明する説明図、第３図はフォトダイオードアレイの位ｒ
と反射光の強度との関係を示すグラフ、第４図は角層の
弾性を示すグラフである。
本実施例に係る角層の厚さの測定装置を含んだ角層解析
装夏全体の概略説明図、第２図は反射光の測定原理を説
明する説明図、第３図はフォトダイオードアレイの位ｒ
と反射光の強度との関係を示すグラフ、第４図は角層の
弾性を示すグラフである。
本実施例に係る角層の厚さの測定装置を含んだ角層解析
装置は、第１図に示すように、レーザー光照射手段とし
ての半導体レーザー１と、検知手段としてのフォトダイ
オードアレイ２と、信号増幅器３と、信号処理手段とし
てのコンピュータ４の他に、音波発生器５と、フォトダ
イオード６とを具備して構成されており、上記半導体レ
ーザー１から人体の角層ＳＣ（略２０μｍの厚さがある
）にレーザー光を照射し、このレーザー光の反射光の強
度をフォトダイオードアレイ２で検知し、この検知信号
を信号増幅器３で増幅し、アナログデジタル変換器（Ａ
／Ｄ変換器）７でデジタル化した後、コンピュータ４で
信号処理することにより、角層ＳＣの厚さを測定するよ
うになしである。
装置は、第１図に示すように、レーザー光照射手段とし
ての半導体レーザー１と、検知手段としてのフォトダイ
オードアレイ２と、信号増幅器３と、信号処理手段とし
てのコンピュータ４の他に、音波発生器５と、フォトダ
イオード６とを具備して構成されており、上記半導体レ
ーザー１から人体の角層ＳＣ（略２０μｍの厚さがある
）にレーザー光を照射し、このレーザー光の反射光の強
度をフォトダイオードアレイ２で検知し、この検知信号
を信号増幅器３で増幅し、アナログデジタル変換器（Ａ
／Ｄ変換器）７でデジタル化した後、コンピュータ４で
信号処理することにより、角層ＳＣの厚さを測定するよ
うになしである。
また、上記角層解析装置は、上記半導体レーザー１から
角ＮＳＣにレーザー光を照射しつつ上記音波発生器５か
ら角層ＳＣに振動を与え、フォトダイオード６で人体の
角層ＳＣからの反射光の強度の時間変化を検知し、この
検知信号を信号増幅器３で増幅し、アナログ・デジタル
変換器（Ａ／Ｄ変換器）７でデジタル化した後、コンピ
ュータ４で信号処理することにより、角層ＳＣの弾性を
測定するようになしである。
角ＮＳＣにレーザー光を照射しつつ上記音波発生器５か
ら角層ＳＣに振動を与え、フォトダイオード６で人体の
角層ＳＣからの反射光の強度の時間変化を検知し、この
検知信号を信号増幅器３で増幅し、アナログ・デジタル
変換器（Ａ／Ｄ変換器）７でデジタル化した後、コンピ
ュータ４で信号処理することにより、角層ＳＣの弾性を
測定するようになしである。
上記半導体レーザーｌは、発信するレーザー光の波長が
６３′２．．８ｎｍ、出力が１０ｍＷ〜３０ｍＷで、グ
リンレンズ（焦点レンズ）ｌａを介して皮膚の所定部位
にレーザー光を照射するもので、下端が開口したケース
１１内に配置されている。
６３′２．．８ｎｍ、出力が１０ｍＷ〜３０ｍＷで、グ
リンレンズ（焦点レンズ）ｌａを介して皮膚の所定部位
にレーザー光を照射するもので、下端が開口したケース
１１内に配置されている。
上記半導体レーザー１から照射されるレーザー光の角層
ＳＣへの入射角度は、１７７°〜１３０”に設定するの
が好ましい。
ＳＣへの入射角度は、１７７°〜１３０”に設定するの
が好ましい。
上記フォトダイオードアレイ２は、光電変換素子として
のフォトダイオードを複数具備したもので、１０数枚〜
２０数枚程度ある各角層ＳＣからの反射光の強度をそれ
ぞれ検知するものである。即ち、上記フォトダイオード
アレイ２は、それを構成するフォトダイオードのうち、
第２図のＡの位置にあるフォトダイオードは最上層の角
層からの反射光の強度を検知し、また同図のＢの位置に
あるフォトダイオードは最下層の角層からの反射光の強
度を検知するようになしである。上記フォトダイオード
アレイ２は、上記半導体レーザー１と同様に上記ケース
１１内に配置されている。上記フォトダイオードアレイ
２は、各角層ＳＣからの反射光の入射量が最も多い姿勢
、即ち光軸が角層ＳＣに対して３°〜５０°傾斜するよ
うな姿勢で配Ｉすることが好ましい。
のフォトダイオードを複数具備したもので、１０数枚〜
２０数枚程度ある各角層ＳＣからの反射光の強度をそれ
ぞれ検知するものである。即ち、上記フォトダイオード
アレイ２は、それを構成するフォトダイオードのうち、
第２図のＡの位置にあるフォトダイオードは最上層の角
層からの反射光の強度を検知し、また同図のＢの位置に
あるフォトダイオードは最下層の角層からの反射光の強
度を検知するようになしである。上記フォトダイオード
アレイ２は、上記半導体レーザー１と同様に上記ケース
１１内に配置されている。上記フォトダイオードアレイ
２は、各角層ＳＣからの反射光の入射量が最も多い姿勢
、即ち光軸が角層ＳＣに対して３°〜５０°傾斜するよ
うな姿勢で配Ｉすることが好ましい。
上記信号増幅器３の入力側には、上記コンピュータ４に
よって上記フォトダイオードアレイ２と上記フォトダイ
オード６とを切り換える切換器８が配置されている。
よって上記フォトダイオードアレイ２と上記フォトダイ
オード６とを切り換える切換器８が配置されている。
上記コンピュータ４は、上記フォトダイオードアレイ２
と上記フォトダイオード６とからの検知信号を処理する
他に、上記半導体レーザーｌ、上記フォトダイオード２
等、装置全体の制御を行うＣＰ ｔＪと、該ＣＰ Ｕの
制御プログラム等を記憶したＲＯＭと、上記フォトダイ
オードアレイ２と上記フォトダイオード６からの検知信
号を一時的に記憶するＲＡＭ等とを具備して構成されて
おり、角層ＳＣの厚さ測定時に、上記フォトダイオード
アレイ２の各フォトダイオードの位置と該各フォトダイ
オードの出力（反射光の強度）との関係を解析して角層
ＳＣの厚さデータに処理し、また角）ＩＳＣの弾性の測
定時に、上記フォトダイオード６の出力（反射光の強度
）の時間変化との関係を解析して角層ＳＣの弾性データ
に処理し、このデータをデジタル・アナログ変換器（Ｄ
／Ａ変換器）９を介してＣＲＴ、Ｘ−Ｙレコーダ等の表
示装置１０に出力するようになしである。
と上記フォトダイオード６とからの検知信号を処理する
他に、上記半導体レーザーｌ、上記フォトダイオード２
等、装置全体の制御を行うＣＰ ｔＪと、該ＣＰ Ｕの
制御プログラム等を記憶したＲＯＭと、上記フォトダイ
オードアレイ２と上記フォトダイオード６からの検知信
号を一時的に記憶するＲＡＭ等とを具備して構成されて
おり、角層ＳＣの厚さ測定時に、上記フォトダイオード
アレイ２の各フォトダイオードの位置と該各フォトダイ
オードの出力（反射光の強度）との関係を解析して角層
ＳＣの厚さデータに処理し、また角）ＩＳＣの弾性の測
定時に、上記フォトダイオード６の出力（反射光の強度
）の時間変化との関係を解析して角層ＳＣの弾性データ
に処理し、このデータをデジタル・アナログ変換器（Ｄ
／Ａ変換器）９を介してＣＲＴ、Ｘ−Ｙレコーダ等の表
示装置１０に出力するようになしである。
上記音波発生器５は、上記半導体レーザー１のレーザー
光照射部位に接近するように上記ケースｌｌ内に配置さ
れ、被検部位に接触するようになしである。
光照射部位に接近するように上記ケースｌｌ内に配置さ
れ、被検部位に接触するようになしである。
上記フォトダイオード６は、対物レンズ６ａを具備し、
角層ＳＣ表面からの反射光の強度を検知するもので、上
記半導体レーザー１のレーザー光照射部位の真上に位置
するように上記ケースｌｌ内に配置されている。
角層ＳＣ表面からの反射光の強度を検知するもので、上
記半導体レーザー１のレーザー光照射部位の真上に位置
するように上記ケースｌｌ内に配置されている。
尚、上記ケース】１内には被測定部位である角層ＳＣ表
面に当接するプリズム１２が配置されている。このプリ
ズム１２は、上記半導体レーザーｌ、上記フォトダイオ
ードアレイ２、上記フォトダイオード６の光路を屈折す
ることにより、これらが互いに可及的に接近して配置で
きるようにするもの、即ち上記ケース１１がコンパクト
になるようにするものである。
面に当接するプリズム１２が配置されている。このプリ
ズム１２は、上記半導体レーザーｌ、上記フォトダイオ
ードアレイ２、上記フォトダイオード６の光路を屈折す
ることにより、これらが互いに可及的に接近して配置で
きるようにするもの、即ち上記ケース１１がコンパクト
になるようにするものである。
次に、上記装置を用いて、本発明の角層の厚さの測定方
法の一実施例を説明する。
法の一実施例を説明する。
まず、ケース１１を厚さが略２０μｍある人体の角層Ｓ
Ｃ表面にセットし、コンピュータ４を作動をさせ、半導
体レーザー１から角１ｓｃに波長６３２、８ ｎ ｍの
レーザー光を照射する一方、角ＮＳＣから反射する反射
光をフォトダイオードアレイ２で電気信号に変換し、該
電気信号を信号増幅！Ｓ３で増幅し、Ａ／Ｄ変換器７で
デジタル化した後、コンピュータ４で処理することによ
り、反射光の強度分布を求めて角層の厚さデータに処理
し、該データから角層ＳＣ全体の厚さを求める（角ＮＳ
Ｃ全体の厚さを測定する）。
Ｃ表面にセットし、コンピュータ４を作動をさせ、半導
体レーザー１から角１ｓｃに波長６３２、８ ｎ ｍの
レーザー光を照射する一方、角ＮＳＣから反射する反射
光をフォトダイオードアレイ２で電気信号に変換し、該
電気信号を信号増幅！Ｓ３で増幅し、Ａ／Ｄ変換器７で
デジタル化した後、コンピュータ４で処理することによ
り、反射光の強度分布を求めて角層の厚さデータに処理
し、該データから角層ＳＣ全体の厚さを求める（角ＮＳ
Ｃ全体の厚さを測定する）。
即ち、半導体レーザー１から角層ＳＣに波長６３２．８
ｎｍのレーザー光を照射すると、該レーザー光が角層
ＳＣ内部に入射する一方、該レーザー光のうち一部が各
角層ＳＣを反射してフォトダイオードアレイ２に入射す
る。このとき、第２図に示すように、フォトダイオード
アレイ２のＡの位置にあるフォトダイオードには一番上
層の角層ＳＣからの反射光が入射し、また同図のＢの位
置にあるフォトダイオードには一番下層の角層ＳＣから
の反射光が入射し、また同図のＣの位置にあるフォトダ
イオードには角層ＳＣの下にある顆粒層からの反射光が
入射する。コンピュータ４では、上記フォトダイオード
アレイ２の各フォトダイオードの位置と該各フォトダイ
オードの出力（反射光の強度）との関係を解析し、反射
光の強度分布を求めて角層の厚さデータに処理し、この
角層の厚さデータをＤ／Ａ変換器９を介して表示装置１
０に出力する。
ｎｍのレーザー光を照射すると、該レーザー光が角層
ＳＣ内部に入射する一方、該レーザー光のうち一部が各
角層ＳＣを反射してフォトダイオードアレイ２に入射す
る。このとき、第２図に示すように、フォトダイオード
アレイ２のＡの位置にあるフォトダイオードには一番上
層の角層ＳＣからの反射光が入射し、また同図のＢの位
置にあるフォトダイオードには一番下層の角層ＳＣから
の反射光が入射し、また同図のＣの位置にあるフォトダ
イオードには角層ＳＣの下にある顆粒層からの反射光が
入射する。コンピュータ４では、上記フォトダイオード
アレイ２の各フォトダイオードの位置と該各フォトダイ
オードの出力（反射光の強度）との関係を解析し、反射
光の強度分布を求めて角層の厚さデータに処理し、この
角層の厚さデータをＤ／Ａ変換器９を介して表示装置１
０に出力する。
これにより、表示装置１０には、第３図に示すようなグ
ラフが表示され、該グラフから角層ＳＣ全体の厚さｄを
測定することが出来る。
ラフが表示され、該グラフから角層ＳＣ全体の厚さｄを
測定することが出来る。
以上のようにレーザー光を照射して角層ＳＣを測定する
と、病変した角層に限られず、いずれの角層の厚さの測
定に適用することが出来る。
と、病変した角層に限られず、いずれの角層の厚さの測
定に適用することが出来る。
また、皮膚を損傷するおそれがなく、安全であり、炎症
や痛みを伴わない。
や痛みを伴わない。
また、切除した皮膚が乾燥して厚さが変わったすせず、
また切除した皮膚の固定方法により測定値が変わったり
すること等がないため、正確に角層ＳＣ全体の厚さを測
定することができる。
また切除した皮膚の固定方法により測定値が変わったり
すること等がないため、正確に角層ＳＣ全体の厚さを測
定することができる。
また、手間がかからず、測定時間を大幅に短縮すること
ができるため、従来の測定方法に比して測定能率が向上
する。
ができるため、従来の測定方法に比して測定能率が向上
する。
尚、角１ｓｃの弾性を測定する場合には、コンピュータ
４により音波発生器５を動作させ、角層ＳＣ表面からの
反射光の強度をフォトダイオード６により検知し、該フ
ォトダイオード６の検知信号を信号増幅Ｆ５３で増幅し
、Ａ／Ｄ変換器７でデジタル化した後、コンピュータ４
で反射光の強度の時間変化、即ち反射光の強度変化を示
す第４図に示すような波の振幅、位相のズレ、周波数依
存性等を解析して行う。
４により音波発生器５を動作させ、角層ＳＣ表面からの
反射光の強度をフォトダイオード６により検知し、該フ
ォトダイオード６の検知信号を信号増幅Ｆ５３で増幅し
、Ａ／Ｄ変換器７でデジタル化した後、コンピュータ４
で反射光の強度の時間変化、即ち反射光の強度変化を示
す第４図に示すような波の振幅、位相のズレ、周波数依
存性等を解析して行う。
上記実施例では、角層ＳＣ全体の厚さを測定した場合を
示したが、角層ＳＣ−枚の厚さを測定するようにしても
よい。
示したが、角層ＳＣ−枚の厚さを測定するようにしても
よい。
また、上記実施例では、レーザー光照射手段として半導
体レーザー１を用いた場合を示したが、波長６３２．８
ｎｍのレーザー光を発信するＨｅ −Ｎｅレーザーを用
いてもよい、この場合、Ｈｅ −Ｎｅレーザーをケース
１１外部に配置し、ｆｉＨｅ Ｎｅレーザーのレーザ
ー光を光ファイバを使用してケース１１内部に配置した
電点レンズ１ａに導くようにすればよい。尚、実施例の
ように、レーザー光照射手段として半導体レーザー１を
使用した場合には、ケース１１をコンパクトにまとめる
ことができる。
体レーザー１を用いた場合を示したが、波長６３２．８
ｎｍのレーザー光を発信するＨｅ −Ｎｅレーザーを用
いてもよい、この場合、Ｈｅ −Ｎｅレーザーをケース
１１外部に配置し、ｆｉＨｅ Ｎｅレーザーのレーザ
ー光を光ファイバを使用してケース１１内部に配置した
電点レンズ１ａに導くようにすればよい。尚、実施例の
ように、レーザー光照射手段として半導体レーザー１を
使用した場合には、ケース１１をコンパクトにまとめる
ことができる。
また、検知手段としてフォトダイオードアレイ２を使用
した場合を示したが、これに限定されず、フォトトラン
ジスタ等の光電変換素子を複数配置したものでもよい。
した場合を示したが、これに限定されず、フォトトラン
ジスタ等の光電変換素子を複数配置したものでもよい。
本発明の角層の厚さの測定方法及びその測定装置によれ
ば、病変した皮膚に限られず、炎症や痛みを伴うことな
く、いずれの皮膚にも適用でき、角層の厚さを正確に測
定することができる。
ば、病変した皮膚に限られず、炎症や痛みを伴うことな
く、いずれの皮膚にも適用でき、角層の厚さを正確に測
定することができる。
第１図乃至第４図は本発明の一実施例を示し、第１図は
本実施例に係る角層の厚さの測定装置を含んだ角層解析
装置全体の概略説明図、第２図は反射光の測定原理を説
明する説明図、第３図はフォトダイオードアレイの位置
と反射光の強度との関係を示すグラフ、第４図は角層の
弾性を示すグラフである。 Ｉ；レーザー光照射手段（半導体レーザー）２：検知手
段（フォトダイオードアレイ）４：信号処理手段（コン
ピュータ） １０；表示装置
本実施例に係る角層の厚さの測定装置を含んだ角層解析
装置全体の概略説明図、第２図は反射光の測定原理を説
明する説明図、第３図はフォトダイオードアレイの位置
と反射光の強度との関係を示すグラフ、第４図は角層の
弾性を示すグラフである。 Ｉ；レーザー光照射手段（半導体レーザー）２：検知手
段（フォトダイオードアレイ）４：信号処理手段（コン
ピュータ） １０；表示装置
Claims (2)
- （１）レーザー光照射手段により皮膚に波長６３２．８
ｎｍのレーザー光を照射する一方、複数の光電変換素子
を有した検知手段により上記皮膚の角層から反射した上
記レーザー光の反射光の強度を検知し、信号処理手段に
より上記検知手段からの検知信号に基づいて反射光の強
度分布を求めて角層の厚さデータに処理し、該データか
ら角層の厚さを測定することを特徴とする角層の厚さの
測定方法。 - （２）波長６３２．８ｎｍのレーザー光を皮膚に照射す
るレーザー光照射手段と、 前記レーザー光照射手段から照射されたレーザー光の反
射光の強度を検知する複数の光電変換素子からなる検知
手段と、 前記検知手段からの検知信号に基づいて反射光の強度分
布を求めて角層の厚さデータに処理する信号処理手段と を具備することを特徴とする角層の厚さ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2254822A JP2763823B2 (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 角層の厚さ測定方法及びその測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2254822A JP2763823B2 (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 角層の厚さ測定方法及びその測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04132540A true JPH04132540A (ja) | 1992-05-06 |
| JP2763823B2 JP2763823B2 (ja) | 1998-06-11 |
Family
ID=17270353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2254822A Expired - Lifetime JP2763823B2 (ja) | 1990-09-25 | 1990-09-25 | 角層の厚さ測定方法及びその測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2763823B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998023916A1 (fr) * | 1996-11-26 | 1998-06-04 | Omron Corporation | Procede et appareil permettant de mesurer la concentration d'une substance absorbant la lumiere dans un tissu vivant et l'epaisseur d'un tissu intercalaire |
| KR100916153B1 (ko) * | 2007-11-23 | 2009-09-08 | (주)아모레퍼시픽 | 피부 각질층의 두께를 정량적 및 시각적으로 측정하여 두피손상 정도를 평가하는 방법 |
| JP2016526408A (ja) * | 2013-06-25 | 2016-09-05 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 皮膚特性のための測定装置、及び、非侵襲的処理装置 |
| US11079279B2 (en) | 2019-03-22 | 2021-08-03 | Speclipse, Inc. | Diagnosis method using laser induced breakdown spectroscopy and diagnosis device performing the same |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2018139853A2 (ko) * | 2017-01-26 | 2018-08-02 | 스페클립스 주식회사 | 색소 병변의 진단 장치에 사용되는 핸드피스 |
-
1990
- 1990-09-25 JP JP2254822A patent/JP2763823B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| US11079279B2 (en) | 2019-03-22 | 2021-08-03 | Speclipse, Inc. | Diagnosis method using laser induced breakdown spectroscopy and diagnosis device performing the same |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2763823B2 (ja) | 1998-06-11 |
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