JPS60225452A - 半導体装置用ステムの製造方法 - Google Patents

半導体装置用ステムの製造方法

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JPS60225452A
JPS60225452A JP59082611A JP8261184A JPS60225452A JP S60225452 A JPS60225452 A JP S60225452A JP 59082611 A JP59082611 A JP 59082611A JP 8261184 A JP8261184 A JP 8261184A JP S60225452 A JPS60225452 A JP S60225452A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heat sink
flange
stem
curved part
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59082611A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuo Yatani
矢谷 龍男
Koichi Komoda
薦田 孝一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd, Kansai Nippon Electric Co Ltd filed Critical Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority to JP59082611A priority Critical patent/JPS60225452A/ja
Publication of JPS60225452A publication Critical patent/JPS60225452A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4871Bases, plates or heatsinks

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 この発明はパワー用のトランジスタ、サイリスタ等の封
止容器として用いられる半導体装置用ステムの製造方法
に関する。
従来技術 小電力用のトランジスタ等の半導体装置用ステムは、一
般に実開昭48−80462号公報に示されるように、
鉄製のステム基板に設けた2個のリード線封着用の透孔
に、それぞれガーラスを介してリード線を完密に封着し
たものであるが、中電力用のトランジスタ等の半導体装
置用ステムは、例えば実開昭49−85L964号公報
に示されるように、鉄製のフランジの透孔に銅製のヒー
トシンクを嵌合してロウ付けした構造を有する。第7図
はそのような半導体装置用ステムの平面図を示し、第8
図は第7図の■−■線に沿う断面の一部を円内に拡大し
て示した断面図である。図において、1はほは菱形状の
鉄製のフランジで、長手方向の両端にシャーシや放熱板
への取付孔2.2を有し、中央部に後述するヒートシン
ク嵌合部の大径の透孔8と、この透孔8の近傍にリード
線封着用の小径の2個の透孔4,4を有する。前記透孔
8にはフランジ1より厚い銅製のヒートシンク5が嵌合
され、銀ロウ等のロウ材6によって微密に固着封止され
ている。1だ、前記透孔4,4にはソーダ系のガラス7
.7を介して鉄・ニッケル合金製のリード線8.8が気
密に封着されている。
ところで、上記の構造の半導体装置用ステムにおいて、
銅製のヒートシンク5は、厚肉の銅板より打ち抜いて製
造しており、その打ち抜き方向の面の肩部に、第9図に
示すように、曲面部5aを有しており、この曲面部6a
を有する面を下方にフランジ1の透孔8に嵌合固着する
と、フランジ1とヒートシンク5との間に隙間が生じる
ので°、この曲面部5aを有する面を上方にしてフラン
ジ1の透孔8に嵌合していたため、次のような問題点が
あった。第1に曲面部5aの存在によって、上面ノ平面
部の直径Aがヒートシンク5ノ直径Bに比較して小さく
なり、ヒートシンク6の有効面積が小さくなることであ
る。第2に曲面部5aがあると、フランジ1とヒートシ
ンク5のロウ付は時に溶融したロウ材6が、この曲面部
5aを通ってヒートシンク5の上面に“流れやすくなっ
て、ヒートシンク5の平坦度が損なわれるため、半導体
ベレットのマウント性が悪くなることである。この第2
の点は、特にフランジ1の表面に侵炭現象防止およびロ
ウ材・Gの流れ広がりを防止するための銅メッキ層を形
成するとともに、ヒートシンク5の側面に無電解ニリヶ
ルメウキ層を形成しておいて、小径の透孔4,4にガフ
スフ、7を介してリード線8.8を封着すると同時に、
無電解ニッケルメッキ層を溶融させてロウ付けする製造
方法を採用した場合に顕著であった。
発明の目的 そこで、この発明はヒートシンクの上面の有効面積が大
きく、しかもヒートシンク上面へのロウ材の這い上りが
起きない半導体装置用ステムを提供することを目的とす
る。
発明の構成 この発明は、銅製のヒートシンクを、その打ち抜き方向
の肩部に曲面部を有する面が下面になるように鉄製のフ
ランジの透孔に嵌合する工程と、前記ヒートシンクの下
面の曲面部の近傍に環状溝を形成して前記曲面部によっ
て形成される隙間を埋める工程とを含むことを特徴とす
るものである。
すなわち、上記の構成によれば、ヒートシンクの上面の
肩部に曲面部が存在しないから、ヒートシンクの上面の
有効面積は大きいし、ロウ付は時に溶融したロウ材が曲
面部を通ってヒートシンクの上面まで這い上らないので
、ヒートシンクの上面の平坦度が良好であり、半導体ベ
レ・ソ)の良好なマウント性が得られる。
実施例 以下、この発明の実施例を第1図ないし第6°図を参照
して説明する。
第1図は製造方法の各工程のブロックダイヤグラムであ
り、第2図はフランジとヒートシンクの組立前の分解断
面図、第8図は組立後の断面図、第4図はかしめ後の断
面図、第5図はガヲヌタブレソトおよびリード線の組立
後の断面図、第6図は封着およびロウ付は後の断面図を
示す。
まず、従来と同様に鉄板をプレス打ち抜いてフランジ1
を製作し、その表面に厚さ3〜6μm程度の銅メ・ツキ
層を形成するとともに、銅板をプレス打ち抜きしてヒー
トシンク5を製作し、その側面に厚さ10〜20μ情程
度の無電解ニッケルメッキ層6′を形成する。そして、
フランジ1の透孔8に、ヒートシンク5をその打ち抜き
方向である肩部に曲面部5aを有する面を下面に−して
嵌合する(第2図および第8図)。この状態°°では、
ヒートシンク5の曲面部5aの存在によって、フランジ
5とヒートシンク5との嵌合部の下面に隙間9が形成さ
れている(第8図の円内拡大図参照)。
次にヒートシンク5の曲面部5aの近傍部分をかしめ加
工して環状溝10を形成する。すると、この環状溝10
部分にあった肉が外周に押しやられて、フランジ1とヒ
ートシンク5との隙間9がなくなる(第4図の特に円内
拡大図参照)。次に、グラファイト製の封着治具(図示
せず)を用いて、フランジ1の透孔4,4にガラスタブ
レット(ガラス微粉末に有機バインダを混練し、成型後
焼結して有機バインダを焼失させたもの)7’、7’を
嵌入し、このガラスタブレット?’、?’にリード線8
゜8を挿通して組み立てる1(第;51図)。この状態
で全体を中性または弱還元性雰囲訊中において、960
〜1050℃程度に加熱する。すると、ガラス微粉末・
フト7’、、7’が溶融して、ガラス7.7を介してリ
ード線8.8が気密絶縁的に封着されるとともに、ヒー
トシンク5の倶1面に形成された無電解二・フケルメソ
キ層6′が溶融して、フランジ1にヒートシンク5がロ
ウ材6によって気密にロウ付けされる(第6図)。この
のち、全体に厚さ2〜10μ毒程度の無電解ニリケルメ
・フキ層等よりなる仕上げメ・フキ層を形成する。 ゛
なお、上記実施例は円形のヒートシンク5を用る場合に
ついて説明したが、ひょうたん形等のヒートシンクを用
いる場合も同様に実施できる。
また、上記構造以外の半導体装置用ステムを製造する場
合にも実施できる。
発明の効果 この発明は以上のように、銅製のヒートシンクを、その
打ち抜き方向の胸部に曲面部を有する主面が下面になる
ように鉄製のフランジの透孔に嵌合する工程と、前記ヒ
ートシンクの下面の曲面部の近傍に環状溝を形成して前
記曲面部によって形成される隙間を埋める工程とを含む
ものであるから、ヒートシンクの上面の肩部に曲面部が
存在しないため、ヒートシンクの上面の有効面積は大き
くなるし、封着、ロウ付は時に溶融し、たロウ材が曲面
部を通ってヒートシンクの上面まで這い上ることもなく
、ヒートシンクの上面の平坦度が高いので、良好が半導
体ペレットのマウント性が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例の半導体装置用ステムの製
造方法の工程ブロック図である。 第2図々いし第6図は上記各工程におけるフランジない
しステムの断面図である。 第7図は従来の半導体装置用ステムの平面図で、第8図
は第7図の■−■線に沿う断面図である。□第9図は銅
製のヒートシンクの拡大断面図であ□る。 1・・・・・・・・川・・・・フランジ1.8.4・・
・・・・透孔、 5 、、、、、、、、、、、、、、、ヒートシンク、5
a・・・・・・・・・ 曲面部、 6・・・・・・・・・・・・・・・ロウ材、6′・・・
・・・・・・・・・・・無電解二・フケルメッキ層、7
・・・・・・・・・・・・・・・ガラス、7′・・・・
・・・・・・・・・・ガラスタブレット、8・・・・・
・・・・・・・・・・ リード線19・・・・・・・・
・・・・・・隙間、10・・・・・・・・・・・・環状
溝。 !!1図 第2図 第3図 9 第4図 ]0 第5図 2 562 第7図 第8図 第9図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、鉄製のフランジの透孔に銅製のヒートシンクを嵌合
    してロウ付けする半導体装置用ステムの製造方法におい
    て、 前記ヒートシンクを、その打ち抜き方向の肩部に曲面部
    を有する主面が下面になる向きで前記フランジの透孔に
    嵌合する工程と、 前記ヒートシンクの下面の曲面部の近傍に環状溝を形成
    して前記曲面部によって形成される隙間を埋める工程と
    を含むことを特徴とする半導体装置用ステムの製造方法
    。 2、ml記ヒートシンクの側面に無電解二・7 ’7 
    A’ ) ・ツキ層が形成されている、特許請求の範囲
    の第1項記載の半導体装置用ステムの製造方法。
JP59082611A 1984-04-23 1984-04-23 半導体装置用ステムの製造方法 Pending JPS60225452A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018190289A1 (ja) * 2017-04-11 2018-10-18 株式会社デンソー 電動パワーステアリング制御装置および電子ユニット

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018190289A1 (ja) * 2017-04-11 2018-10-18 株式会社デンソー 電動パワーステアリング制御装置および電子ユニット
JP2018176943A (ja) * 2017-04-11 2018-11-15 株式会社デンソー 電動パワーステアリング制御装置および電子ユニット。
US11634170B2 (en) 2017-04-11 2023-04-25 Denso Corporation Electric power-steering control device and electronic unit

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