JPS6022328A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- Power Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体装置の製造方法に関し、特にワイヤーボ
ンディング方法に関するものである。
ンディング方法に関するものである。
本導体装口の製造組立において、半導体素子と外部引出
しリードの電気的導通を得る目的で、数十ミクロンメー
トル径の金属細線(この細線を一般にワイヤーと呼んで
いる)で、互いの必要部所を結ぶワイヤーボンディング
工程がある。ワイヤーボンディングの方法は、熱圧着法
や超音波溶接法などがあるが、本発明は、最も代表的な
方法である熱圧着法によるワイヤーボンディングに関す
る。ものである。以下、特にことわりのない限りにおい
て、ワイヤーボンディングとは熱圧着法によるものであ
ることとする。
しリードの電気的導通を得る目的で、数十ミクロンメー
トル径の金属細線(この細線を一般にワイヤーと呼んで
いる)で、互いの必要部所を結ぶワイヤーボンディング
工程がある。ワイヤーボンディングの方法は、熱圧着法
や超音波溶接法などがあるが、本発明は、最も代表的な
方法である熱圧着法によるワイヤーボンディングに関す
る。ものである。以下、特にことわりのない限りにおい
て、ワイヤーボンディングとは熱圧着法によるものであ
ることとする。
従来のワイヤーボンディング方法によれば、ワイヤーボ
ンディング装置の一部を構成するヒーターブロックを高
温に温度制御し、熱伝導によって、上に置いた半導体素
子搭載法リードフレームを、300〜500Cに加熱し
ていた。例として、ワイヤーボンディング開始前の状態
を、第1図に部分斜視図として、第2図に部分断面図と
し℃それぞれ示す。半導体素子1搭載済リードフレーム
2をヒーターブロック3上に置く。その上方には、ワイ
ヤー4を通したボンディングキャピラリ5が有り、ワイ
ヤー4の先端にはワイヤーボール6を形成しておく。半
導体素子1上にワイヤー4をボンディングする箇所とし
て、電極7が形成されており、ボンディングキャピラリ
5を作動することによって、電極7とリードフレーム2
の一部を構成する外部引出しリード8にワイヤー4をボ
ンディングし、互いを結線する。外部引出しリード側の
ボンディング位M9は、特に形成されているものではな
く、外部引出しリード8の任意の位置である。
ンディング装置の一部を構成するヒーターブロックを高
温に温度制御し、熱伝導によって、上に置いた半導体素
子搭載法リードフレームを、300〜500Cに加熱し
ていた。例として、ワイヤーボンディング開始前の状態
を、第1図に部分斜視図として、第2図に部分断面図と
し℃それぞれ示す。半導体素子1搭載済リードフレーム
2をヒーターブロック3上に置く。その上方には、ワイ
ヤー4を通したボンディングキャピラリ5が有り、ワイ
ヤー4の先端にはワイヤーボール6を形成しておく。半
導体素子1上にワイヤー4をボンディングする箇所とし
て、電極7が形成されており、ボンディングキャピラリ
5を作動することによって、電極7とリードフレーム2
の一部を構成する外部引出しリード8にワイヤー4をボ
ンディングし、互いを結線する。外部引出しリード側の
ボンディング位M9は、特に形成されているものではな
く、外部引出しリード8の任意の位置である。
従来のワイヤーボンディング装置では、ヒーターブロッ
ク3でリードフレーム2全体を加熱する方法である為、
外部引出しり一部8に金や釧などの貴金属の外装めっき
を施したリードフレーム2を使用しなければならなかっ
た。従って、半導体装置が高価になる欠点があった。
ク3でリードフレーム2全体を加熱する方法である為、
外部引出しり一部8に金や釧などの貴金属の外装めっき
を施したリードフレーム2を使用しなければならなかっ
た。従って、半導体装置が高価になる欠点があった。
外部引出しり−ド8に貴金属の外装めっきを施す必要が
ある理由を以下に述べる。半導体素子lの電極7は、一
般にアルミニウムで形成しており、加熱することによっ
てその表面に酸化膜を生ずるが、その酸化膜の厚さは数
十オングストローム程度のものであり、その酸化膜を破
ってワイヤー4をボンディングするので、電極7の酸化
膜はあまり問題になら表(・。一方、リードフレーム2
の材質として、銅合金などを多く用(・て(・るが、主
要部であるところの外部引出しり−ド8を金や銀なでの
貴金属の外装めっぎなしで使用した場合、加熱すること
によってその表面には数百〜数千オングストロームの厚
さの酸化膜が生じ、ワイヤー4をボンディングすること
が困難である。金や銀は高温においても酸化し難い性質
をもつので、外部引出しリード8の外装めっきとして施
すことにより、ワイヤー4をボンディングすることを可
能にしていた。
ある理由を以下に述べる。半導体素子lの電極7は、一
般にアルミニウムで形成しており、加熱することによっ
てその表面に酸化膜を生ずるが、その酸化膜の厚さは数
十オングストローム程度のものであり、その酸化膜を破
ってワイヤー4をボンディングするので、電極7の酸化
膜はあまり問題になら表(・。一方、リードフレーム2
の材質として、銅合金などを多く用(・て(・るが、主
要部であるところの外部引出しり−ド8を金や銀なでの
貴金属の外装めっぎなしで使用した場合、加熱すること
によってその表面には数百〜数千オングストロームの厚
さの酸化膜が生じ、ワイヤー4をボンディングすること
が困難である。金や銀は高温においても酸化し難い性質
をもつので、外部引出しリード8の外装めっきとして施
すことにより、ワイヤー4をボンディングすることを可
能にしていた。
本発明の目的は、金や銀などの貴金属の外装めっきを施
していたい外部引出しリードにワイヤーをボンディング
し得る方法を提供するものである。
していたい外部引出しリードにワイヤーをボンディング
し得る方法を提供するものである。
本発明は、熱圧着法によるワイヤーボンディングにお(
・て、半導体素子の電極部分及びIA外部引出リードの
ボンディング位置部分を、局部的かつ短時間に各々加熱
し、その直後に、ワイヤーを各々の部分にボンディング
することを特徴とするワイヤーポンディング方法であり
、局部的かつ短時間に加熱する手段としては、レーザー
光線や赤外線などをスポット照射することによるもので
ある。
・て、半導体素子の電極部分及びIA外部引出リードの
ボンディング位置部分を、局部的かつ短時間に各々加熱
し、その直後に、ワイヤーを各々の部分にボンディング
することを特徴とするワイヤーポンディング方法であり
、局部的かつ短時間に加熱する手段としては、レーザー
光線や赤外線などをスポット照射することによるもので
ある。
本発明の一実施例として、局部加熱の手段としてレーザ
ー光線照射を用いた場合について、図により具体的に説
明する。第3−1図から第3−12図は、本発明による
ワイヤーボンディング工程の順序を示す部分断面図であ
る。第3−1図は、ワイヤーボンディング開始前の状態
を示す。従来のワイヤーポンディング装置に設けてあっ
たヒーターブロック3(第1図、第2図参照)はガく、
レーザー光線照射部11を設けている。第3−2図は、
レーザー光線照射部11からレーザー光線10を電極7
に照射し、電極7を加熱して(・る状態である。第3−
3図は、レーザー光線照射を止め、電極7が加熱された
状態にある。第3−4図から第3−6図は、電極7にワ
イヤー4をボンディングし力から、レーザー光線照射部
11を外部引出しリード8側のボンディング位置9上に
移動している状態である。第3−7図は、ボンディング
位置9にレーザー光線lOを照射し、加熱して(・る状
態である。第3−8図は、V−ザー光線照射を止め、ボ
ンディング位置9が加熱された状態にある。第3−9図
は、外部引出しリード8にワイヤー4をボンディングし
た状態である。第3−1O図は、ポンディングキャピラ
リ5を引上げ、ワイヤー4を切った状態であり、第3−
11図で水素トーチ12などで、ワイヤー4先端を加熱
溶融し、第3−12図でワイヤーボール6を形成した状
態を示す。以上の動作を縁り返し、他の電極4′と他の
外部引出しリード8′物のボンディング位置9′につい
てワイヤー4をボンディングし、−個の半導体装置につ
いてワイヤーボンディングを完了する。
ー光線照射を用いた場合について、図により具体的に説
明する。第3−1図から第3−12図は、本発明による
ワイヤーボンディング工程の順序を示す部分断面図であ
る。第3−1図は、ワイヤーボンディング開始前の状態
を示す。従来のワイヤーポンディング装置に設けてあっ
たヒーターブロック3(第1図、第2図参照)はガく、
レーザー光線照射部11を設けている。第3−2図は、
レーザー光線照射部11からレーザー光線10を電極7
に照射し、電極7を加熱して(・る状態である。第3−
3図は、レーザー光線照射を止め、電極7が加熱された
状態にある。第3−4図から第3−6図は、電極7にワ
イヤー4をボンディングし力から、レーザー光線照射部
11を外部引出しリード8側のボンディング位置9上に
移動している状態である。第3−7図は、ボンディング
位置9にレーザー光線lOを照射し、加熱して(・る状
態である。第3−8図は、V−ザー光線照射を止め、ボ
ンディング位置9が加熱された状態にある。第3−9図
は、外部引出しリード8にワイヤー4をボンディングし
た状態である。第3−1O図は、ポンディングキャピラ
リ5を引上げ、ワイヤー4を切った状態であり、第3−
11図で水素トーチ12などで、ワイヤー4先端を加熱
溶融し、第3−12図でワイヤーボール6を形成した状
態を示す。以上の動作を縁り返し、他の電極4′と他の
外部引出しリード8′物のボンディング位置9′につい
てワイヤー4をボンディングし、−個の半導体装置につ
いてワイヤーボンディングを完了する。
本発明によれば、ワイヤー4をボンディングする箇所を
局部局かつ瞬間的に加熱し、直後にワイヤー4をボンデ
ィングする為、特に外部引出しり一部8が金や銀などの
貴金属の外装めっきを施していな(・銅合金素材そのま
までも、その表面にボンディング障害とカる厚い酸化膜
が形成される前にボンディングが終了する。従って、外
部引出しリード8に高価な外装めっきを施す必要がない
。
局部局かつ瞬間的に加熱し、直後にワイヤー4をボンデ
ィングする為、特に外部引出しり一部8が金や銀などの
貴金属の外装めっきを施していな(・銅合金素材そのま
までも、その表面にボンディング障害とカる厚い酸化膜
が形成される前にボンディングが終了する。従って、外
部引出しリード8に高価な外装めっきを施す必要がない
。
これにより、廉価なリードフレームを使用し、半導体装
置を製造することが可能とガる。
置を製造することが可能とガる。
前記実施例では、レーザー光線照射部11を各電極7、
外部引出リード8側のボンディング装置9上に移動させ
た後、レーザー光線10を照射して(・るが、レーザー
光線照射部11を固定し、照射角度のみ変え、各電極4
、ボンディング位f!′9を照射、加熱してもよい。又
、レーザー光線照射部11を2つ設けて、1つは電&7
だけを専門に照射し、他1つは、外部引出しリード8側
のボンディング位置9だけを専門に照射するというよう
に分けて加熱してもよい。以上につ−・ては、他の局部
加熱手段である赤IAi照射などを用(・た場合でも同
様である。
外部引出リード8側のボンディング装置9上に移動させ
た後、レーザー光線10を照射して(・るが、レーザー
光線照射部11を固定し、照射角度のみ変え、各電極4
、ボンディング位f!′9を照射、加熱してもよい。又
、レーザー光線照射部11を2つ設けて、1つは電&7
だけを専門に照射し、他1つは、外部引出しリード8側
のボンディング位置9だけを専門に照射するというよう
に分けて加熱してもよい。以上につ−・ては、他の局部
加熱手段である赤IAi照射などを用(・た場合でも同
様である。
従来のワイヤーボンディング装置及びワイヤーボンディ
ング方法にお−・ては、ヒーターブロック3の熱により
、ワイヤー4が熱せられたが、本発明によれば、ワイヤ
ー4をボンディングする箇所のみ加熱されるから、ワイ
ヤー4が熱せられることがな(・。従って、ワイヤー4
についても酸化され難い。
ング方法にお−・ては、ヒーターブロック3の熱により
、ワイヤー4が熱せられたが、本発明によれば、ワイヤ
ー4をボンディングする箇所のみ加熱されるから、ワイ
ヤー4が熱せられることがな(・。従って、ワイヤー4
についても酸化され難い。
熱用着法によるワイヤーボンディングにお(・て、超音
波振動を加えながらワイヤー4をボンディングする方法
があるが、本発明は、このような方法にお(・ても適用
可能であることは、述べるまでもない。
波振動を加えながらワイヤー4をボンディングする方法
があるが、本発明は、このような方法にお(・ても適用
可能であることは、述べるまでもない。
第1図は、従来のワイヤーボンディング装置を使用した
場合のワイヤーボンディング方法におけるワイヤーボン
ディング開始前の部分斜視図である。第2図は、同じく
部分断面図である。 第3−1図から第3−12図は、本発明によるワイヤー
ボンディング装置を使用した場合のワイヤーボンディン
グ方法の一実施例であり、ワイヤーボンディング工程の
順序を示す部分断面図である。 1・・・・・・半導体素子、2・・・・・・リードフレ
ーム、3・・・・・・ヒーターブロック、4・・・・・
・ワイヤー、5・・・・・・ボンディングキャピラリ、
6・・・・・・ワイヤーボール、7.7’、7“・・・
・・・電極、8.8’、8“外部引出しリード1.9
、9’、9“・・・・・・(外部引出しリード側の)ボ
ンディング位置、lO・・・・・・レーザー光線、11
・・・・・・レーザー光線照射部、12・・・・・・水
素トーチz 2 区 具3−6図 箭3−yz図
場合のワイヤーボンディング方法におけるワイヤーボン
ディング開始前の部分斜視図である。第2図は、同じく
部分断面図である。 第3−1図から第3−12図は、本発明によるワイヤー
ボンディング装置を使用した場合のワイヤーボンディン
グ方法の一実施例であり、ワイヤーボンディング工程の
順序を示す部分断面図である。 1・・・・・・半導体素子、2・・・・・・リードフレ
ーム、3・・・・・・ヒーターブロック、4・・・・・
・ワイヤー、5・・・・・・ボンディングキャピラリ、
6・・・・・・ワイヤーボール、7.7’、7“・・・
・・・電極、8.8’、8“外部引出しリード1.9
、9’、9“・・・・・・(外部引出しリード側の)ボ
ンディング位置、lO・・・・・・レーザー光線、11
・・・・・・レーザー光線照射部、12・・・・・・水
素トーチz 2 区 具3−6図 箭3−yz図
Claims (1)
- 熱圧着法によるワイヤーボンディング工程を有する半導
体装置の方法にお(・又、半導体素子の電極部分及び外
部引出しリードのボンディング部分を局部的かつ短時間
に各々加熱してワイヤーを各々の部分にボンディングす
ることを特徴とする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58130682A JPS6022328A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58130682A JPS6022328A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6022328A true JPS6022328A (ja) | 1985-02-04 |
JPH0218583B2 JPH0218583B2 (ja) | 1990-04-26 |
Family
ID=15040090
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58130682A Granted JPS6022328A (ja) | 1983-07-18 | 1983-07-18 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6022328A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010035456A (ko) * | 2001-02-15 | 2001-05-07 | 최성규 | 반도체 발광 소자 패키지 및 그 제작 방법 |
JP2008184150A (ja) * | 2007-01-31 | 2008-08-14 | Sekisui Plastics Co Ltd | 車両用フロアスペーサ |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0542142Y2 (ja) * | 1988-11-11 | 1993-10-25 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5329070A (en) * | 1976-08-31 | 1978-03-17 | Toshiba Corp | Connecting method for conductor of semiconductor element |
JPS5565443A (en) * | 1978-11-10 | 1980-05-16 | Mitsubishi Electric Corp | Manufacture of semiconductor device |
-
1983
- 1983-07-18 JP JP58130682A patent/JPS6022328A/ja active Granted
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