JPS60211335A - 光フアイバの測定装置 - Google Patents
光フアイバの測定装置Info
- Publication number
- JPS60211335A JPS60211335A JP6950484A JP6950484A JPS60211335A JP S60211335 A JPS60211335 A JP S60211335A JP 6950484 A JP6950484 A JP 6950484A JP 6950484 A JP6950484 A JP 6950484A JP S60211335 A JPS60211335 A JP S60211335A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical fiber
- light
- measured
- face
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、通信用光フアイバケーブルの一端から六ルス
状の測定光を入射し、反射光または後方散乱光などの応
答光を観測することにより、伝送特性その他の測定を行
う測定装置に関するものである。
状の測定光を入射し、反射光または後方散乱光などの応
答光を観測することにより、伝送特性その他の測定を行
う測定装置に関するものである。
通信用光ファイバの破断点検出または特性測定のために
、光ファイバの一端からパルス状の測定光を入射してそ
の反射光を観測する装置が知られている。この装置は光
フアイバケーブルの一端のみで測定を行うことができる
利点があるが、入射端面で反射する反射光の強度が大き
いので、光検出器またはその後段に接続された増幅器を
飽和させるため、入射端面近傍の状態が観測できない欠
点がある。パルス状の測定光のレベルを調節して飽和が
生じないようにしても、現実の測定器で用いられる光パ
ルス幅では、端面からの反射光のレベルは光フアイバ内
のレイリー散乱による応答光のレベルに比べてかなり大
きいので、入射端面近傍の高精度の観測は困難である。
、光ファイバの一端からパルス状の測定光を入射してそ
の反射光を観測する装置が知られている。この装置は光
フアイバケーブルの一端のみで測定を行うことができる
利点があるが、入射端面で反射する反射光の強度が大き
いので、光検出器またはその後段に接続された増幅器を
飽和させるため、入射端面近傍の状態が観測できない欠
点がある。パルス状の測定光のレベルを調節して飽和が
生じないようにしても、現実の測定器で用いられる光パ
ルス幅では、端面からの反射光のレベルは光フアイバ内
のレイリー散乱による応答光のレベルに比べてかなり大
きいので、入射端面近傍の高精度の観測は困難である。
このため超音波偏向器を用いて、所定時間域の反射光の
みを光検出器で検出する方法、または光検出器を所定時
間域のみ動作させる方法などが考えられたが、これらを
用いても回路動作には遅れがあるので、入射端面から数
ｍ以内は十分な精度で観測する装置は得られない。
みを光検出器で検出する方法、または光検出器を所定時
間域のみ動作させる方法などが考えられたが、これらを
用いても回路動作には遅れがあるので、入射端面から数
ｍ以内は十分な精度で観測する装置は得られない。
第１図は従来例の光パルス試験器の構成を示す図である
。１はパルス駆動レーザ、２は方向性結合器、３は入射
端面近傍に破断点のある測定すべき光ファイバ、４は超
音波偏向器、５は光検出器、６は増幅器である。第１図
において、超音波偏向器４がない場合の受光波形は第２
図ｔａ＋に示すように光強度Ｓで飽和した波形となり、
離れた点Ｘ２は観測できるが入射端近傍の点Ｘ、はマス
クされてしまい検出できない。一方、超音波偏向器４に
より、入射端での反射光が通過した後に光検出器を動作
させるように構成した場合には、受光波形は第２図（ｂ
ｌのようになり、飽和はないが応答時間の遅れから入射
端近傍の点Ｘ、につぃては信号がなく同様に検出できな
い。
。１はパルス駆動レーザ、２は方向性結合器、３は入射
端面近傍に破断点のある測定すべき光ファイバ、４は超
音波偏向器、５は光検出器、６は増幅器である。第１図
において、超音波偏向器４がない場合の受光波形は第２
図ｔａ＋に示すように光強度Ｓで飽和した波形となり、
離れた点Ｘ２は観測できるが入射端近傍の点Ｘ、はマス
クされてしまい検出できない。一方、超音波偏向器４に
より、入射端での反射光が通過した後に光検出器を動作
させるように構成した場合には、受光波形は第２図（ｂ
ｌのようになり、飽和はないが応答時間の遅れから入射
端近傍の点Ｘ、につぃては信号がなく同様に検出できな
い。
測定すべき光ファイバの終端からの反射波、または反射
光パルスを用いて伝送特性の測定を行う場合には、入射
端からの反射光が受光器に入射するので高精度の測定が
困難であり、特に帯域特性については従来入射端側のみ
からの測定では測定不可能であった。
光パルスを用いて伝送特性の測定を行う場合には、入射
端からの反射光が受光器に入射するので高精度の測定が
困難であり、特に帯域特性については従来入射端側のみ
からの測定では測定不可能であった。
本発明は、入射端面からの測定光の反射の影響を回避し
、入射端に近い部分の測定をも可能にする光ファイバの
測定装置を提供することを目的とする。
、入射端に近い部分の測定をも可能にする光ファイバの
測定装置を提供することを目的とする。
本発明は、被測定光ファイバの入射端面に斜萄に測定光
を入射させ、その端面の反射光が斜めになるようにして
、測定光の反射光を出射光と区別するように構成するこ
とを特徴とする。
を入射させ、その端面の反射光が斜めになるようにして
、測定光の反射光を出射光と区別するように構成するこ
とを特徴とする。
すなわち本発明は、被測定光ファイバの一方の端面から
測定光を入射する手段と、上記端面から出射する上記測
定光に対する応答光（反射光または後方散乱光を含む。
測定光を入射する手段と、上記端面から出射する上記測
定光に対する応答光（反射光または後方散乱光を含む。
）を検出する手段とを備えた光ファイバの測定装置にお
いて、上記入射する手段は、上記端面に対して垂直な方
向から角度α（０〈α〈９０°）の方向から上記測定光
を入射するように構成され、上記応答光を検出する手段
は、上記端面から出射する応答光を上記端面に垂直な方
向から上記角度α以内で集光する手段を含むことを特徴
とする。
いて、上記入射する手段は、上記端面に対して垂直な方
向から角度α（０〈α〈９０°）の方向から上記測定光
を入射するように構成され、上記応答光を検出する手段
は、上記端面から出射する応答光を上記端面に垂直な方
向から上記角度α以内で集光する手段を含むことを特徴
とする。
集光する手段には、端面から出射する応答光を集光する
コリメータを含む構造が望ましい。
コリメータを含む構造が望ましい。
上記角度αは、測定光と出射光とを区別するためには大
きい方がよいが、大きくなると測定光が被測定光ファイ
バに入射しにくくなる。実験的にはこのαの値は、 ５°くα〈２０゜ 程度に設定することが好ましい。
きい方がよいが、大きくなると測定光が被測定光ファイ
バに入射しにくくなる。実験的にはこのαの値は、 ５°くα〈２０゜ 程度に設定することが好ましい。
第３図は本発明実施例装置の構成図である。測定用光源
１の出力する測定光は、励振用光ファイバ１１を介して
レンズ１２の端部に導がれる。この測。足先はレンズ１
２の中を通過して被測定光ファイバ３の端面に入射する
。被測定光ファイバ３の端面から出射される応答光はレ
ンズ１２の中を実線で示す光路を通過して、さらにコリ
メータ１３および１４を通過して光検出器５に導かれる
。
１の出力する測定光は、励振用光ファイバ１１を介して
レンズ１２の端部に導がれる。この測。足先はレンズ１
２の中を通過して被測定光ファイバ３の端面に入射する
。被測定光ファイバ３の端面から出射される応答光はレ
ンズ１２の中を実線で示す光路を通過して、さらにコリ
メータ１３および１４を通過して光検出器５に導かれる
。
第４図に被測定光ファイバの端面の状態をさらに詳しく
示す。すなわち測定光の光路１７はレンズ１２の中を通
過して被測定光ファイバ３に入射するときには、その端
面に垂直な方向に対して角度αだけ斜めの方向になって
いる。したがってこの端面で生じる反射光の光路１８は
同じく角度αだけ反対側に斜めになる。また、レンズ１
２の表面でも反射が生じるが、この反射光の光路１９も
斜めになっている。このため第４図に鎖線で示す領域は
、測定光の入射端面あるいはレンズ表面における反射光
の影響のない領域となる。一方、被測定光ファイバ３の
内部で発生する測定光に対する応答光（反射光または後
方散乱光）は被測定光ファイバ３の端面からある拡がり
をもって出射されるが、この鎖線で囲む領域についてそ
の応答光を検出するならば、端面の反射光の影響を回避
することができる。
示す。すなわち測定光の光路１７はレンズ１２の中を通
過して被測定光ファイバ３に入射するときには、その端
面に垂直な方向に対して角度αだけ斜めの方向になって
いる。したがってこの端面で生じる反射光の光路１８は
同じく角度αだけ反対側に斜めになる。また、レンズ１
２の表面でも反射が生じるが、この反射光の光路１９も
斜めになっている。このため第４図に鎖線で示す領域は
、測定光の入射端面あるいはレンズ表面における反射光
の影響のない領域となる。一方、被測定光ファイバ３の
内部で発生する測定光に対する応答光（反射光または後
方散乱光）は被測定光ファイバ３の端面からある拡がり
をもって出射されるが、この鎖線で囲む領域についてそ
の応答光を検出するならば、端面の反射光の影響を回避
することができる。
第５図は本発明第二実施例装置の要部構成図である。こ
の例は測定用光源として波長の異なる二つの光ａｉｉｉ
１および１′があり、各光源１および１′の発生する二
つの波長λ、およびλ２が被測定光ファイバ３に入射す
るように構成されたものである。被測定光ファイバ３の
入射端面で発生する波長λ１の反射光は第５図に斜線を
付して示す領域Ｐ、に、波長λ２の反射光は同じく領域
Ｐ２に現れるので、コリメータ１３には入射しない。し
たがってコリメータ１３には被測定光ファイバ３の端面
から出射する応答光のみが入射することになる。
の例は測定用光源として波長の異なる二つの光ａｉｉｉ
１および１′があり、各光源１および１′の発生する二
つの波長λ、およびλ２が被測定光ファイバ３に入射す
るように構成されたものである。被測定光ファイバ３の
入射端面で発生する波長λ１の反射光は第５図に斜線を
付して示す領域Ｐ、に、波長λ２の反射光は同じく領域
Ｐ２に現れるので、コリメータ１３には入射しない。し
たがってコリメータ１３には被測定光ファイバ３の端面
から出射する応答光のみが入射することになる。
第６図は本発明第三実施例装置の構成図である。
この装置は応答光の検出出力に対して平均化処理を実行
するように構成された装置である。光源１は半導体レー
ザが使用され、パルス駆動回路２Ｉにより一定周期のパ
ルスで駆動される。光検出器５はＡＰＤ （アバランシ
ェ・フォト・ダイオード）が使用され、その検出出力は
上記パルス駆動回路２１により駆動される平均化処理回
路２２により処理されて、表示袋Ｎ２３に表示される。
するように構成された装置である。光源１は半導体レー
ザが使用され、パルス駆動回路２Ｉにより一定周期のパ
ルスで駆動される。光検出器５はＡＰＤ （アバランシ
ェ・フォト・ダイオード）が使用され、その検出出力は
上記パルス駆動回路２１により駆動される平均化処理回
路２２により処理されて、表示袋Ｎ２３に表示される。
ごの回路によれば、信号対雑音比のきわめて良好な受信
信号の分析を行うことができる。第７図は表示装置２３
に表示される応答光の強度を時間軸上に表示した例であ
る。時間とともに光強度がなだらかに下がる部分は、被
測定光ファイバ３の内部で発生ずる後方散乱光であり、
時間ｔ、に現れる光曽度の大きい部分は遠端の反射であ
る。
信号の分析を行うことができる。第７図は表示装置２３
に表示される応答光の強度を時間軸上に表示した例であ
る。時間とともに光強度がなだらかに下がる部分は、被
測定光ファイバ３の内部で発生ずる後方散乱光であり、
時間ｔ、に現れる光曽度の大きい部分は遠端の反射であ
る。
本発明を実施することにより光検出器５の検出出力に被
測定光ファイバ３の入射端面からの反射光が混入しない
ので、検出出力が接続された回路に飽和状態が発生する
ことがなく、はじめてこのような平均化処理を実行する
回路を接続することができる。
測定光ファイバ３の入射端面からの反射光が混入しない
ので、検出出力が接続された回路に飽和状態が発生する
ことがなく、はじめてこのような平均化処理を実行する
回路を接続することができる。
第８図は本発明第四実施例装置の構成図である。
この例は被測定光ファイバ３のベースバンド伝送特性を
測定する装置である。被測定光ファイバ３の遠端に反射
器２５を接続し、光検出器５の検出出力を高速フーリエ
変換回路２４により処理して表示装置２３にベースバン
ド伝送特性を表示するように構成されたものである。こ
のような測定系も、高速フーリエ変換回路２４に高いレ
ベルの信号が到来したのでは実現することができないの
で、本発明を実施してはじめて可能になる測定装置であ
る。
測定する装置である。被測定光ファイバ３の遠端に反射
器２５を接続し、光検出器５の検出出力を高速フーリエ
変換回路２４により処理して表示装置２３にベースバン
ド伝送特性を表示するように構成されたものである。こ
のような測定系も、高速フーリエ変換回路２４に高いレ
ベルの信号が到来したのでは実現することができないの
で、本発明を実施してはじめて可能になる測定装置であ
る。
以上説明したように、本発明によれば被測定光ファイバ
の入射点での反射は、その被測定光ファイバの応答光に
混入しないように区別できるので、光検出器の検出出力
に入射点の反射の影響が現れない装置が得られる。した
がって、被測定光ファイバの入射点に近い部分の状態の
観測を行うことができる、検出出力を処理するための回
路が飽和しないので、従来は接続することができなかっ
たデリケートな回路を接続し、従来光ファイバの一端か
らは実行することができなかった測定を行うことができ
る効果がある。
の入射点での反射は、その被測定光ファイバの応答光に
混入しないように区別できるので、光検出器の検出出力
に入射点の反射の影響が現れない装置が得られる。した
がって、被測定光ファイバの入射点に近い部分の状態の
観測を行うことができる、検出出力を処理するための回
路が飽和しないので、従来は接続することができなかっ
たデリケートな回路を接続し、従来光ファイバの一端か
らは実行することができなかった測定を行うことができ
る効果がある。
第１図は従来例装置の構成図。
第２図は従来例装置による特性測定結果を示す図。
第３図は本発明第一実施例装置の構成図。
第４図はその要部構成図。
第５図は本発明第二実施例装置の要部構成図。
第６図は本発明第三実施例装置の構成図。
第７図はその測定結果の一例を示す図。
第８図は本発明第四実施例装置の構成図。
１・・・測定光を発生する光源、３・・・被測定光ファ
イバ、５・・・応答光を検出する光検出器、１１・・・
光源の出力光を導く光ファイバ、１２・・・レンズ、１
３・・・コリメータ、１４・・・コリメータ。 特許出願人 日本電信電話公社 代理人 弁理士 井 出 直 孝 も １ 口 （ａ） （ｂ） 不３ａｌ 活５ 図 も６０ 鬼８０
イバ、５・・・応答光を検出する光検出器、１１・・・
光源の出力光を導く光ファイバ、１２・・・レンズ、１
３・・・コリメータ、１４・・・コリメータ。 特許出願人 日本電信電話公社 代理人 弁理士 井 出 直 孝 も １ 口 （ａ） （ｂ） 不３ａｌ 活５ 図 も６０ 鬼８０
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋１１ 被測定光ファイバの一方の端面から測定光を入
射する手段と、 上記端面から出射する上記測定光に対する応答光を検出
する手段と を備えた光ファイバの測定装置において、上記入射する
手段は、上記端面に対して垂直な方向から角度α（０〈
α＜９０’）の方向から上記測定光を入射するように構
成され、 上記応答光を検出する手段は、上記端面から出射する応
答光を上記端面に垂直な方向から上記角度α以内で集光
する手段を含む ことを特徴とする光ファイバの測定装置。 （２） 集光する手段には、端面から出射する応答光を
集光するコリメータを含む特許請求の範囲第（１１項に
記載の光ファイバの測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6950484A JPS60211335A (ja) | 1984-04-06 | 1984-04-06 | 光フアイバの測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6950484A JPS60211335A (ja) | 1984-04-06 | 1984-04-06 | 光フアイバの測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60211335A true JPS60211335A (ja) | 1985-10-23 |
Family
ID=13404631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6950484A Pending JPS60211335A (ja) | 1984-04-06 | 1984-04-06 | 光フアイバの測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60211335A (ja) |
-
1984
- 1984-04-06 JP JP6950484A patent/JPS60211335A/ja active Pending
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