JPH05264337A - 反射戻り光測定方法および測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 受光系の評価を簡易にかつ正確に行える反射
戻り光測定方法および測定装置を提供することを目的と
する。 【構成】 レーザ光源１から出射された単一モードのレ
ーザ光はカップラ３によって分岐し、一方の分岐光は信
号光として受光系４に出射され、他方の分岐光はローカ
ル光としてカップラ６に出射される。受光系４から反射
して戻ってきた反射戻り光をカップラ３によって分岐
し、分岐したこの反射戻り光をカップラ６に入射してロ
ーカル光と合波する。この合波光から反射戻り光および
ローカル光のビート成分を検出し、このビート成分に基
づいて反射戻り光が検出される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、入射した信号光が極め
て低い光強度レベルで受光系から反射して戻ってくる反
射戻り光を測定する方法および装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】この種の反射戻り光を測定する方法およ
び装置は、例えばアナログ光通信の受光系の評価に用い
られている。アナログ光通信の受光系には極めて低い信
号反射特性が必要とされ、受光系からの反射戻り光を極
めて低いレベルに抑えなければならない。従来、この信
号反射特性の評価は、受光系からの反射戻り光を光パワ
ーメータに直接入力し、反射戻り光の光強度を直に検波
することにより行われていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の反射戻り光の評価においては、評価すべき反射戻り
光の強度が非常に小さい場合には、光パワーメータは極
めて感度の高いものを用いなければならなかった。例え
ば、反射して戻ってくる光のレベルを数１０ｄＢ以下に
抑える必要のある受光系では、超高感度の光パワーメー
タを準備しなければならない。このため、従来、反射戻
り光の評価を簡易に行うことができなかった。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明はこのような課題
を解消するためになされたもので、レーザ光源から出射
された単一モードのレーザ光を光分岐器によって分岐
し、一方の分岐光を信号光として受光系に出射し、他方
の分岐光をこの信号光の局部信号光として光結合器に出
射し、信号光の入射によって受光系から反射して戻って
きた反射戻り光を光分岐器によって分岐し、分岐したこ
の反射戻り光を上記光結合器に入射して局部信号光と合
波し、この合波した光から反射戻り光および局部信号光
のビート成分を検出し、このビート成分に基づいて反射
戻り光を検出するものである。

【０００５】また、単一モードのレーザ光を発振するレ
ーザ光源と、このレーザ光を分岐して一方の分岐光を信
号光として受光系に出射し他方の分岐光をこの信号光の
局部信号光として出射する光分岐器と、信号光の入射に
よって受光系から反射して上記光分岐器に戻って分岐し
た反射戻り光および上記の局部信号光を合波する光結合
器と、この合波光から反射戻り光および局部信号光のビ
ート成分を取り出して反射戻り光を検出する検出器とを
備えて反射戻り光測定装置を構成したものである。

【０００６】

【作用】極めて微弱な反射戻り光が大きな光強度を持つ
局部信号に合波されることにより、微弱な反射戻り光は
反射戻り光および局部信号のビート成分として検出され
る。

【０００７】

【実施例】図１は本発明の一実施例による反射戻り光測
定装置の構成を示す図であり、この装置を用いて反射戻
り光を測定する方法について以下に説明する。

【０００８】レーザ光源１は分布帰還反射型半導体レー
ザからなり、単一モードのレーザ光を発振する。レーザ
光源１から出射されたレーザ光はアイソレーション３０
ｄＢ程度の一般的な光アイソレータ（ＩＳＯ）２を通過
し、通過形の光ファイバカップラ３に入射される。この
カップラ３は入射した光を１対１の分岐比に分岐して出
力する。分岐された一方のレーザ光は信号光として測定
対象になる受光系４に出射される。また、カップラ３で
分岐された他方のレーザ光は光ファイバ５を介して光フ
ァイバカップラ６にローカル光として出射される。この
光ファイバカップラ６はカップラ３と同様に１対１の分
岐比を持っている。

【０００９】カップラ３から出射され、受光素子４に入
射した信号光のわずかな一部はこの受光素子４において
反射し、カップラ３に戻ってくる。この反射戻り光はカ
ップラ３において再び分岐され、一方の光成分は光アイ
ソレータ２で遮断される。また、反射戻り光の他方の光
成分は光ファイバ７に入射し、カップラ６に与えられ
る。このため、光ファイバカップラ６には光ファイバ５
を介するローカル光と光ファイバ７を介する反射戻り光
とが入射され、これらローカル光および反射戻り光はこ
のカップラ６において合波される。この合波された光は
受光帯域が１００ＭＨｚ程度のホトダイオードまたはア
バランシェ・ホトダイオードからなる受光素子８に与え
られる。従って、合波された光はこの受光素子８におい
て自己ホモダイン検波され、ローカル光および反射戻り
光のビート成分が電気信号として検出される。この検出
信号は帯域１００ＭＨｚ程度，利得２０ｄＢ程度の直流
増幅器９に出力されて増幅される。増幅された信号は高
感度のスペクトラム・アナライザ１０に与えられて計測
される。このアナライザ１０としては、例えば、横河ヒ
ューレット・パッカード社製のＨＰ８５６６Ｂなどが挙
げられる。

【００１０】このような本実施例による反射戻り光測定
方法および装置においては、単一モードの光源１が用い
られているため、極めて微弱な反射戻り光がカップラ６
において大きな光強度を持つローカル光に合波され、合
波された光は受光素子８において各光のビート成分とし
て検出される。この時、ビート成分は直流〜数１０ＭＨ
ｚの範囲で生じることになる。このビート成分には大き
な光強度を持つローカル光が寄与しているため、極めて
微弱な反射戻り光であっても容易に反射戻り光を検出す
ることが可能になる。従って、反射戻り光強度を直接検
波する従来の測定方法および装置に比べ、反射戻り光強
度の測定感度および測定精度は向上する。ローカル光強
度を大きくすることにより、理論的には、受光素子８お
よび直流増幅器９からなる検出系固有の雑音に束縛され
ない、ショット雑音限界レベルの測定が可能になる。

【００１１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、極
めて微弱な反射戻り光が大きな光強度を持つ局部信号に
合波されることにより、微弱な反射戻り光は反射戻り光
および局部信号のビート成分として検出される。

【００１２】このため、反射戻り光を簡易かつ精度良く
測定することが可能になり、受光系の評価を簡易にかつ
正確に行えるようになる。従って、本発明はアナログ通
信のような低反射受光系が要求される分野に適用される
と極めて効果的である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例による反射戻り光測定装置の
構成を示す図である。

【符号の説明】

１…光源、２…光アイソレータ、３，６…光ファイバカ
ップラ、４…受光系、５，７…光ファイバ、８…受光素
子、９…直流増幅器、１０…スペクトラム・アナライ
ザ。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光源から出射された単一モードの
   レーザ光を光分岐器によって分岐し、一方の分岐光を信
   号光として受光系に出射し、他方の分岐光を前記信号光
   の局部信号光として光結合器に出射し、前記信号光の入
   射によって前記受光系から反射して戻ってきた反射戻り
   光を前記光分岐器によって分岐し、分岐したこの反射戻
   り光を前記光結合器に入射して前記局部信号光と合波
   し、この合波した光から前記反射戻り光および前記局部
   信号光のビート成分を検出し、このビート成分に基づい
   て前記反射戻り光を検出することを特徴とする反射戻り
   光測定方法。
2. 【請求項２】 単一モードのレーザ光を発振するレーザ
   光源と、このレーザ光を分岐して一方の分岐光を信号光
   として受光系に出射し他方の分岐光を前記信号光の局部
   信号光として出射する光分岐器と、前記信号光の入射に
   よって前記受光系から反射して前記光分岐器に戻って分
   岐した反射戻り光および前記局部信号光を合波する光結
   合器と、この合波光から前記反射戻り光および前記局部
   信号光のビート成分を取り出して前記反射戻り光を検出
   する検出器とを備えたことを特徴とする反射戻り光測定
   装置。