JPS60185132A - 非線形モ−ド結合状態の測定方法 - Google Patents
非線形モ−ド結合状態の測定方法Info
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- JPS60185132A JPS60185132A JP4049784A JP4049784A JPS60185132A JP S60185132 A JPS60185132 A JP S60185132A JP 4049784 A JP4049784 A JP 4049784A JP 4049784 A JP4049784 A JP 4049784A JP S60185132 A JPS60185132 A JP S60185132A
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分計〕
本発明は、光後方散乱法を偏波保持ファイバに適用して
誘導ラマン散乱の長手方向への非線形モード結合量を正
確に測定する方法に関するものである。
誘導ラマン散乱の長手方向への非線形モード結合量を正
確に測定する方法に関するものである。
従来、光フアイバ中の誘導ラマン散乱がどのように光フ
アイバ中で発生するのかを測定するためには、第１図に
示す測定系を用いている。すなわち、光パルス光源１か
らの光パルスを、偏光子２およびビームスプリッタ３を
経た後に偏波保持光ファイバ４に入射する。この光ファ
イバ４からの後方散乱光はビームスプリッタ３を経て検
光子５および分光器６を通過した後、光検出器７によシ
検出される。偏光子２および検光子５は直交ニコルに配
置され、入射端でのフレネル反射を除去する。なお、こ
こで分光器６を用いているのは、誘導ラマン光およびレ
ーザ光の波長選択を行うためである。光検出器７で検出
された信号は信号処理部８で処理され、最終的に表示部
９に出力される。
アイバ中で発生するのかを測定するためには、第１図に
示す測定系を用いている。すなわち、光パルス光源１か
らの光パルスを、偏光子２およびビームスプリッタ３を
経た後に偏波保持光ファイバ４に入射する。この光ファ
イバ４からの後方散乱光はビームスプリッタ３を経て検
光子５および分光器６を通過した後、光検出器７によシ
検出される。偏光子２および検光子５は直交ニコルに配
置され、入射端でのフレネル反射を除去する。なお、こ
こで分光器６を用いているのは、誘導ラマン光およびレ
ーザ光の波長選択を行うためである。光検出器７で検出
された信号は信号処理部８で処理され、最終的に表示部
９に出力される。
入力光パルスが弱い場合にかかる構成により得られた後
方散乱光を第２図（Ａ）Ｋ示す。この場合には誘導ラマ
ンが発生していないので、分光器６の波長は入射光パル
スの波長に設定して、その波長の光を取り出す。ここで
は、光ファイバの損失で決まる指数関数的減衰波形Ａが
観測される◇Ｂは出力端面でのフレネル反射による後方
散乱光を示す。
方散乱光を第２図（Ａ）Ｋ示す。この場合には誘導ラマ
ンが発生していないので、分光器６の波長は入射光パル
スの波長に設定して、その波長の光を取り出す。ここで
は、光ファイバの損失で決まる指数関数的減衰波形Ａが
観測される◇Ｂは出力端面でのフレネル反射による後方
散乱光を示す。
入射パルスのパワーを増加すると、誘導ラマンが発生し
、ファイバ長手方向において、第２図（Ｂ）に示すよう
に、その増幅Ｃおよび減衰りがなされる。これによると
後方散乱波形の初期部での誘導ラマン散乱の増幅の様子
がよくわかり、対数変換を右なうと直線で表わされ、そ
の傾きから誘導ラマン散乱の利得がわかる。
、ファイバ長手方向において、第２図（Ｂ）に示すよう
に、その増幅Ｃおよび減衰りがなされる。これによると
後方散乱波形の初期部での誘導ラマン散乱の増幅の様子
がよくわかり、対数変換を右なうと直線で表わされ、そ
の傾きから誘導ラマン散乱の利得がわかる。
しかし、この方法では、偏波保持光ファイバの長手方向
に沿って、２つの主軸（Ｘおよびｙ軸）の間での誘導ラ
マン散乱の結合がどのように生じているかは測定できな
い。特に、偏波保持光ファイバを用いる場合、Ｘ軸から
の誘導ラマン光がｙ軸方向へどのように結合していくか
を知ることがコヒーレント伝送等においては非常に重要
であるが、これまではそれを測定できる方法はなかった
。
に沿って、２つの主軸（Ｘおよびｙ軸）の間での誘導ラ
マン散乱の結合がどのように生じているかは測定できな
い。特に、偏波保持光ファイバを用いる場合、Ｘ軸から
の誘導ラマン光がｙ軸方向へどのように結合していくか
を知ることがコヒーレント伝送等においては非常に重要
であるが、これまではそれを測定できる方法はなかった
。
このような誘導ラマン光のｙ軸方向への結合は伝送後の
信号光の消光比の劣化をもたらし、コヒーレント伝送に
とって重大な問題である。
信号光の消光比の劣化をもたらし、コヒーレント伝送に
とって重大な問題である。
さらにまた、各主軸方向での誘導ラマン散乱の発生の波
長分布は、光フアイバ出力端で容易に測定できるが、長
手方向にわたって偏波保持光フアイバ内部でどのように
ラマン形の非線形モード結合が生じているかはこれまで
測定できなかった。
長分布は、光フアイバ出力端で容易に測定できるが、長
手方向にわたって偏波保持光フアイバ内部でどのように
ラマン形の非線形モード結合が生じているかはこれまで
測定できなかった。
そこで、本発明の目的は、これらの欠点を解決し、偏波
保持光ファイバの両主軸から２種類の誘導ラマン散乱信
号の比率をめ、その大きさからラマン形非線形モード結
合量を測定する方法を提供することにある。
保持光ファイバの両主軸から２種類の誘導ラマン散乱信
号の比率をめ、その大きさからラマン形非線形モード結
合量を測定する方法を提供することにある。
かかる目的を達成するだめに、本発明は、光パルスを偏
波保持光ファイバに入射し、該光ファイバの２つの直交
する主軸方向からの後方散乱光のうちの誘導ラマン散乱
光の波長域の光を分光器を介して順次に検出し、これら
検出された光の強度の比率をめることにより、前記光フ
ァイバで発生ずる誘導ラマン散乱光の光フアイバ長手方
向についての偏波モード結合の状態を測定することを特
徴とする。
波保持光ファイバに入射し、該光ファイバの２つの直交
する主軸方向からの後方散乱光のうちの誘導ラマン散乱
光の波長域の光を分光器を介して順次に検出し、これら
検出された光の強度の比率をめることにより、前記光フ
ァイバで発生ずる誘導ラマン散乱光の光フアイバ長手方
向についての偏波モード結合の状態を測定することを特
徴とする。
ここで、前記分光器の設定波長を誘導ラマン散孔の中心
波長に設定し、各ラマン波長での非線形モード結合を測
定することができる。
波長に設定し、各ラマン波長での非線形モード結合を測
定することができる。
以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する０第３図
は本発明の１実施例であって、ここに、１は光パルス光
＃、（例えばＹＡＧレーザ、ｂｏ“センターレーザ）、
２は偏光子、３はビームスプリッタ、４は被測定偏波保
持光ファイバ、５は検光子、６は分光器、７は光検出器
、８は信号処理部、９は表示）１１・である。１０は光
スイッチングを行なうための超ど波光偏向素子、１１は
偏向素子１０を駆動するだめの電気回路および遅延回路
、１２は光源ｌを駆動するだめの電気パルス発生器であ
る０本発明方法においては、まず、電気パルス発生器１
２からの電気パルスにより光源１を駆動し、そこから発
生する光パルスを偏光子２およびビームスプリッタ３を
経て、偏波保持光ファイバ４の主軸のうちＸ軸方向に入
射させる。光パルスばこの光フアイバ４中を伝搬し、後
方散乱光を発生する。光パルス強度が弱ければ入射光と
同一波長の後方散乱光が観測される。パルス強度が強く
なると、誘導ラマン散乱により、波長のシフトした後方
散乱光が観測される。
は本発明の１実施例であって、ここに、１は光パルス光
＃、（例えばＹＡＧレーザ、ｂｏ“センターレーザ）、
２は偏光子、３はビームスプリッタ、４は被測定偏波保
持光ファイバ、５は検光子、６は分光器、７は光検出器
、８は信号処理部、９は表示）１１・である。１０は光
スイッチングを行なうための超ど波光偏向素子、１１は
偏向素子１０を駆動するだめの電気回路および遅延回路
、１２は光源ｌを駆動するだめの電気パルス発生器であ
る０本発明方法においては、まず、電気パルス発生器１
２からの電気パルスにより光源１を駆動し、そこから発
生する光パルスを偏光子２およびビームスプリッタ３を
経て、偏波保持光ファイバ４の主軸のうちＸ軸方向に入
射させる。光パルスばこの光フアイバ４中を伝搬し、後
方散乱光を発生する。光パルス強度が弱ければ入射光と
同一波長の後方散乱光が観測される。パルス強度が強く
なると、誘導ラマン散乱により、波長のシフトした後方
散乱光が観測される。
ここで、入射光パルスのＸ軸方向の後方散乱光り
をＰｂｘ Ｎ ｙ軸方向の後方散乱光をＰｂｙとし、誘
導ラマン散乱により発生したストークス光のＸ軸方向の
光をＰｂｘ、ｙ軸方向の光をＰｂｙとする。なお、＋；
ｓノ単のために、誘導ラマン散乱は１次ストークスのみ
とし、波長選択は分光器６で行なう。また、Ｐｂｘ ＋
Ｐｂｙの波長とＰｂｘ ｒ Ｐｂｙの波長とはラマン
シフト量だけ異なるｏＰｂｚは偏光子２と検光子５の偏
光方向が同一の場合である。従って、光ファイバ４の入
射端面でのフレネル反射（散乱レベルに比べて４０ｄＢ
程度大きい）をも−緒に受光することになるので、超音
波光偏向器１０を用いて入射端でのフレネル反射光のマ
スキングを行ない、Ｐｂｘを無歪み状態で光検出器７に
より受光する０なお、光マスキングのタイミングは駆動
回路１１により制御する。後方散乱光は微弱であるので
、Ｓ／Ｎ比改善等の信号処理を行うのが好適である。
導ラマン散乱により発生したストークス光のＸ軸方向の
光をＰｂｘ、ｙ軸方向の光をＰｂｙとする。なお、＋；
ｓノ単のために、誘導ラマン散乱は１次ストークスのみ
とし、波長選択は分光器６で行なう。また、Ｐｂｘ ＋
Ｐｂｙの波長とＰｂｘ ｒ Ｐｂｙの波長とはラマン
シフト量だけ異なるｏＰｂｚは偏光子２と検光子５の偏
光方向が同一の場合である。従って、光ファイバ４の入
射端面でのフレネル反射（散乱レベルに比べて４０ｄＢ
程度大きい）をも−緒に受光することになるので、超音
波光偏向器１０を用いて入射端でのフレネル反射光のマ
スキングを行ない、Ｐｂｘを無歪み状態で光検出器７に
より受光する０なお、光マスキングのタイミングは駆動
回路１１により制御する。後方散乱光は微弱であるので
、Ｓ／Ｎ比改善等の信号処理を行うのが好適である。
次いで、同様の測定を検光子５を９０°回転させてｙ軸
方向について行う。すなわち、光ファイバ４の他方の主
軸すなわちｙ軸方向からの（Ｍ−号Ｐｂｙを測定する。
方向について行う。すなわち、光ファイバ４の他方の主
軸すなわちｙ軸方向からの（Ｍ−号Ｐｂｙを測定する。
このように順次に測定した両信号光ＰｂｘおよびＰｂｙ
′（Ｉｌ−信号処理装置１１に供給し、ここで両信号光
の強度の比率をめ、その結果を、誘導ラマン散乱光の光
フアイバ長手方向についての偏波モード結合係数および
消光比などを表示装置１２に表示する。
′（Ｉｌ−信号処理装置１１に供給し、ここで両信号光
の強度の比率をめ、その結果を、誘導ラマン散乱光の光
フアイバ長手方向についての偏波モード結合係数および
消光比などを表示装置１２に表示する。
ここで、光源１からの入射光を強くし、かつ分光器６ｆ
：誘導ラマン波長に設定することにより、ＰＳＸおよび
Ｐｂｙを測定することができる。
：誘導ラマン波長に設定することにより、ＰＳＸおよび
Ｐｂｙを測定することができる。
ここで、Ｘ軸方向でのレーザ人力をＰＸ、ストークス光
をＰｘ、またｙ軸方向でのレーザ入力をＰｙ＋スト−メ
莞をｐＨとすると、それらの近゛は次の結合方程式を満
足する０ ここで、γは偏波が同一方向でのラマン利得、γ′は直
交方向でのラマン利得、ｈは線形なモード結合係数、α
はファイバ損失である０ 式（１）〜（４）において、右辺の第１，２項は誘導ラ
マンによる非線形モード結合であり、第３項は線形なモ
ード結合、第４項はファイバ損失を示している。従って
、上式は一般化したモード結合の関係を示している。
をＰｘ、またｙ軸方向でのレーザ入力をＰｙ＋スト−メ
莞をｐＨとすると、それらの近゛は次の結合方程式を満
足する０ ここで、γは偏波が同一方向でのラマン利得、γ′は直
交方向でのラマン利得、ｈは線形なモード結合係数、α
はファイバ損失である０ 式（１）〜（４）において、右辺の第１，２項は誘導ラ
マンによる非線形モード結合であり、第３項は線形なモ
ード結合、第４項はファイバ損失を示している。従って
、上式は一般化したモード結合の関係を示している。
さて、上式を参考にしながら、モード結合の竺子を説明
する〇 非線形モード結合時の後方散乱の様子を第４図（４）〜
促）に示す。ここでは、光パルスはＰｘで与え、Ｐｙ（
０） ＝ ０としている０第４図（５）および（Ｂ）に
は、入射パルスが微弱な場合、すなわち線形領域での同
方向（Ｘ軸）後方散乱光および直交方向（ｙ軸）後方散
乱光を示す。第４図（４）に示す尖頭波形は出力端面で
のフレネル反射による後方散乱光である０入射パルスを
強くすると、誘導ラマン散乱により非線形モード結合が
発生し、第４図（支）は第４図（Ｃ）の実線部に変化し
、第４図（Ｂ）は第４図（＄、）に変化する。いずれに
おいても、後方散乱光のレベルは増加するとともに、そ
の傾きも変化している。この変化はストークス光、すな
わちＰｂｘ 、 ｐｂ、の発生に起因している。
する〇 非線形モード結合時の後方散乱の様子を第４図（４）〜
促）に示す。ここでは、光パルスはＰｘで与え、Ｐｙ（
０） ＝ ０としている０第４図（５）および（Ｂ）に
は、入射パルスが微弱な場合、すなわち線形領域での同
方向（Ｘ軸）後方散乱光および直交方向（ｙ軸）後方散
乱光を示す。第４図（４）に示す尖頭波形は出力端面で
のフレネル反射による後方散乱光である０入射パルスを
強くすると、誘導ラマン散乱により非線形モード結合が
発生し、第４図（支）は第４図（Ｃ）の実線部に変化し
、第４図（Ｂ）は第４図（＄、）に変化する。いずれに
おいても、後方散乱光のレベルは増加するとともに、そ
の傾きも変化している。この変化はストークス光、すな
わちＰｂｘ 、 ｐｂ、の発生に起因している。
分光器６の波長をレーザパルスの波長からストークス波
長に設定して得られた同一方向（Ｘ軸）の誘導ラマン成
分をＰｂｘ、直交方向（ｙ軸）の成分をＰｂｙとし、そ
の波形を第４図（Ｄ）および（Ｆ）にそれぞれ示す。こ
れより、徐々に誘導ラマン散乱が増幅されていく様子が
よくわかる０第４図（Ｄ）およびＷ）の立ち上がり部分
を対数変換することによシその傾きからラマンの利得係
数γおよびγ′がまる。第４図（Ｄ）と（Ｆ）とを比べ
ると、増幅の割合いについては、第４図ＣＦ）の方が小
さいのは、直交方向でのラマン利得係数γ′がγに比べ
て小さいためである。
長に設定して得られた同一方向（Ｘ軸）の誘導ラマン成
分をＰｂｘ、直交方向（ｙ軸）の成分をＰｂｙとし、そ
の波形を第４図（Ｄ）および（Ｆ）にそれぞれ示す。こ
れより、徐々に誘導ラマン散乱が増幅されていく様子が
よくわかる０第４図（Ｄ）およびＷ）の立ち上がり部分
を対数変換することによシその傾きからラマンの利得係
数γおよびγ′がまる。第４図（Ｄ）と（Ｆ）とを比べ
ると、増幅の割合いについては、第４図ＣＦ）の方が小
さいのは、直交方向でのラマン利得係数γ′がγに比べ
て小さいためである。
本発明では、このようにして得られた種々の後方散乱光
の比率をめることにより、非線形モード結合の様子をめ
る。その様子を第５図（４）〜［有］）により説明する
。第５図（支）は入力パルスが弱い線形領域の場合での
Ｐｂｙ／ Ｐｂｘの変化を示す。その傾きは２ｈで与え
られ、モード結合係数がまる。
の比率をめることにより、非線形モード結合の様子をめ
る。その様子を第５図（４）〜［有］）により説明する
。第５図（支）は入力パルスが弱い線形領域の場合での
Ｐｂｙ／ Ｐｂｘの変化を示す。その傾きは２ｈで与え
られ、モード結合係数がまる。
入射パワーを増大して誘導ラマンが発生すると（非線形
領域）、パワーの増加とともに第５図（Ｂ）に示すよう
に変化する。これは、誘導ラマン散乱によりＰｂｘ（Ｚ
）が減少し、さらに急激にｐｂ、 （ｚ）も減少するた
めである。
領域）、パワーの増加とともに第５図（Ｂ）に示すよう
に変化する。これは、誘導ラマン散乱によりＰｂｘ（Ｚ
）が減少し、さらに急激にｐｂ、 （ｚ）も減少するた
めである。
第５図（Ｃ）にはＸ軸方向でのレーザ光波長における後
方散乱パワーＰｂｚに対する誘導ラマン散乱の変化Ｐｂ
ｘの割合いを示す。入射パワーを増加するにつれて入射
端近傍でラマンが立ち上がる０紀５図ＣＤ）には分光器
６により波長選択して得られるラマン波長での散乱光Ｐ
ｂｙ ／ Ｐｂｘを示す０入射パワーを増加するにつれ
て１． Ｐｂｘ （Ｚ）の方がＰｂｙ（ｚ）に比べて早
く立ち上がり、大きな値となるため、Ｐｂｙ ／ Ｐｂ
ｘは急激に小さくなる０第５図（Ｅ）は分光器６をはず
して直交する２軸（ｘ、ｙ）間の後方散乱パワーの比率
（Ｐｂｙ ＋ Ｐｂｙ）Ｌ’ （３ ／ （Ｐｂｘ ” ”ｂｘ ）をめたものである。人力
が増加するにつれて、Ｐｂｙの増加量がＰｂｘ＋Ｐｂｚ
の変化に比べて大きいので、パワーの増加とともにモー
ド結合量は増加することになる。
方散乱パワーＰｂｚに対する誘導ラマン散乱の変化Ｐｂ
ｘの割合いを示す。入射パワーを増加するにつれて入射
端近傍でラマンが立ち上がる０紀５図ＣＤ）には分光器
６により波長選択して得られるラマン波長での散乱光Ｐ
ｂｙ ／ Ｐｂｘを示す０入射パワーを増加するにつれ
て１． Ｐｂｘ （Ｚ）の方がＰｂｙ（ｚ）に比べて早
く立ち上がり、大きな値となるため、Ｐｂｙ ／ Ｐｂ
ｘは急激に小さくなる０第５図（Ｅ）は分光器６をはず
して直交する２軸（ｘ、ｙ）間の後方散乱パワーの比率
（Ｐｂｙ ＋ Ｐｂｙ）Ｌ’ （３ ／ （Ｐｂｘ ” ”ｂｘ ）をめたものである。人力
が増加するにつれて、Ｐｂｙの増加量がＰｂｘ＋Ｐｂｚ
の変化に比べて大きいので、パワーの増加とともにモー
ド結合量は増加することになる。
このように、第５図（Ｂ）〜［有］）において、光パル
スパワーの増加とともにＸ、ｙ軸間での非線形モード結
合がどのように長手方向に変化していくのかよくわかる
。
スパワーの増加とともにＸ、ｙ軸間での非線形モード結
合がどのように長手方向に変化していくのかよくわかる
。
本発明の測定方法によれば、個別の光ファイバについて
入射エネルギの増大に伴う誘導ラマン光の発生と、モー
ド結合の長手方向の分布を知ることができるので、個別
の光ファイバの特性として、実質的な消光比の劣化をも
たらさない入力限界を知ることができる。
入射エネルギの増大に伴う誘導ラマン光の発生と、モー
ド結合の長手方向の分布を知ることができるので、個別
の光ファイバの特性として、実質的な消光比の劣化をも
たらさない入力限界を知ることができる。
以上説明したように、本発明によれば、偏波保持光フア
イバ中の誘導ラマン散乱形の非線形モード結合の様子を
、光後方散乱法を用いて、２つの直交主軸における後方
散乱光の比率からめることができる。これによれば、従
来測定できなかった非線形モード結合の様子がファイバ
の長芋方向にわたって判る利点がある。さらに加えて、
本発明によれば、個別の光ファイバについて入力限界を
めることができるから、コヒーレント通信における入力
限界を知る上でも有効である。
イバ中の誘導ラマン散乱形の非線形モード結合の様子を
、光後方散乱法を用いて、２つの直交主軸における後方
散乱光の比率からめることができる。これによれば、従
来測定できなかった非線形モード結合の様子がファイバ
の長芋方向にわたって判る利点がある。さらに加えて、
本発明によれば、個別の光ファイバについて入力限界を
めることができるから、コヒーレント通信における入力
限界を知る上でも有効である。
第１図は従来のラマン形後方散乱法の説明図、第２図（
４）および（８）は第１図の方法により得られる後方散
乱信号を示す線図、 第３図は本発明装置の一実施例を示す構成図、第４図（
４）〜（ト）は第３図の測定系により得られた恢方散乱
ブＣの説明図、 第５図（４）〜（ト））は本発明により測定した非線形
モード結合状態の神々の態様を示す線図である０１・・
・光パルス光源、 ２・・偏光子、 ３・・ビームスプリッタ、 ４・・・被測定偏波保持光ファイバ、 ５・・・検光子、 ６・・・分光器、 ７・・・光検出器、 ８・信号処理部１ ．９・・表示器、 １０・・・超音波光偏向器、 １１・・・超音波光偏向器用駆動回路および遅延回路、 １２・・・電気パルス発生器０ ９Ｉ出願人 日本電信電話公社 第１図 第２図（Ａ） Ｌ） 腺 呼
４）および（８）は第１図の方法により得られる後方散
乱信号を示す線図、 第３図は本発明装置の一実施例を示す構成図、第４図（
４）〜（ト）は第３図の測定系により得られた恢方散乱
ブＣの説明図、 第５図（４）〜（ト））は本発明により測定した非線形
モード結合状態の神々の態様を示す線図である０１・・
・光パルス光源、 ２・・偏光子、 ３・・ビームスプリッタ、 ４・・・被測定偏波保持光ファイバ、 ５・・・検光子、 ６・・・分光器、 ７・・・光検出器、 ８・信号処理部１ ．９・・表示器、 １０・・・超音波光偏向器、 １１・・・超音波光偏向器用駆動回路および遅延回路、 １２・・・電気パルス発生器０ ９Ｉ出願人 日本電信電話公社 第１図 第２図（Ａ） Ｌ） 腺 呼
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）光パルスを偏波保持光ファイバに入射し、該光ファ
イバの２つの直交する主軸方向から−の後方散乱光のう
ちの誘導ラマン散乱光の波長域の光を多〕光器を介して
順次に検出し、これら検出された光の強度の比率をめる
ことによシ、前記光ファイバで発生する誘導ラマン散乱
光の光フアイバ長手方向についての偏波モード結合の状
態を測定することをＱ−ｒ徴とする非線形モード結合状
態の測定方法。 ２、特許請求の範囲第１項記載の測定方法において、前
記分光器の設定波長を誘導ラマン散乱の中心波長に設定
し、各ラマン波長での非線形モード結合を測定すること
を特徴とする非線形モード結合状態の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4049784A JPS60185132A (ja) | 1984-03-05 | 1984-03-05 | 非線形モ−ド結合状態の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4049784A JPS60185132A (ja) | 1984-03-05 | 1984-03-05 | 非線形モ−ド結合状態の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60185132A true JPS60185132A (ja) | 1985-09-20 |
| JPH0354291B2 JPH0354291B2 (ja) | 1991-08-19 |
Family
ID=12582200
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4049784A Granted JPS60185132A (ja) | 1984-03-05 | 1984-03-05 | 非線形モ−ド結合状態の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60185132A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0234659A2 (de) * | 1986-02-28 | 1987-09-02 | Philips Patentverwaltung GmbH | Messanordnung zur Ermittlung der längenabhängigen Dämpfung von Monomode-Lichtwellenleitern nach dem Rückstreuverfahren |
| EP2095030A2 (en) * | 2006-12-20 | 2009-09-02 | LG Electronics, Inc. | Air conditioner |
| CN106895959A (zh) * | 2017-04-17 | 2017-06-27 | 吉林大学 | 一种基于双光子灯笼和少模光纤环形器的少模光纤模式耦合测量装置 |
-
1984
- 1984-03-05 JP JP4049784A patent/JPS60185132A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0234659A2 (de) * | 1986-02-28 | 1987-09-02 | Philips Patentverwaltung GmbH | Messanordnung zur Ermittlung der längenabhängigen Dämpfung von Monomode-Lichtwellenleitern nach dem Rückstreuverfahren |
| EP2095030A2 (en) * | 2006-12-20 | 2009-09-02 | LG Electronics, Inc. | Air conditioner |
| EP2095030A4 (en) * | 2006-12-20 | 2010-06-23 | Lg Electronics Inc | AIR CONDITIONER |
| CN106895959A (zh) * | 2017-04-17 | 2017-06-27 | 吉林大学 | 一种基于双光子灯笼和少模光纤环形器的少模光纤模式耦合测量装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0354291B2 (ja) | 1991-08-19 |
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