JPS6159237A - 光線路の測定装置 - Google Patents
光線路の測定装置Info
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- JPS6159237A JPS6159237A JP18167784A JP18167784A JPS6159237A JP S6159237 A JPS6159237 A JP S6159237A JP 18167784 A JP18167784 A JP 18167784A JP 18167784 A JP18167784 A JP 18167784A JP S6159237 A JPS6159237 A JP S6159237A
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- optical
- polarized wave
- linearly polarized
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術の分野）
本発明は通信用等の光線路の端末から連続またはパルス
状の測定光を入射し、もう一方の端末からの反射光また
は後方散乱光等の応答光波形を観測することにより、光
損失等の測定を行う装置に関するものである。
状の測定光を入射し、もう一方の端末からの反射光また
は後方散乱光等の応答光波形を観測することにより、光
損失等の測定を行う装置に関するものである。
（従来の技術）
通信用光線路の破断点検出または特性測定のために、光
線路の一端からパルス状の測定光を入射してその反射光
を観測する装置が知られている。
線路の一端からパルス状の測定光を入射してその反射光
を観測する装置が知られている。
この装置は光線路の一端のみで測定を行うことができる
利点があるが入射端で反射するフレネル反射光の強度が
大きいので、光検出器またはその後段に接続された増幅
器を飽和させるため、入射端近傍の状態が観測できない
欠点がある。このため、超音波偏向器を用いて所定時間
域の反射光のみを光検出器で検出する方法、または光検
出器を所定時間のみ動作させることが考えられたが、こ
れらを用いても回路動作の遅れのため、入射端面から数
ｍ以内を十分な精度で観測する装置は得られない。一方
、偏光プリズムまたは複屈折現象を呈する物体（以下、
偏光ビームスプリッタという）を用いて特定の直線偏波
Ｘのみを光線路に入射させ、直線偏波Ｘと直交する直線
偏波Ｙのみを検出することが可能な装置も知られている
。この様なりｌ置によれば、入射端面からの反射光は受
光されないので、入射端面近傍も十分な精度で観測する
ことが可能である。しかしながら、現実の光線路では局
側の端末部が局内の主配分架に成端されていたり、加入
者側の端末部は補強部材内部に固定されるため、測定装
置に直接に光線路を接続することが困難な場合が多い。
利点があるが入射端で反射するフレネル反射光の強度が
大きいので、光検出器またはその後段に接続された増幅
器を飽和させるため、入射端近傍の状態が観測できない
欠点がある。このため、超音波偏向器を用いて所定時間
域の反射光のみを光検出器で検出する方法、または光検
出器を所定時間のみ動作させることが考えられたが、こ
れらを用いても回路動作の遅れのため、入射端面から数
ｍ以内を十分な精度で観測する装置は得られない。一方
、偏光プリズムまたは複屈折現象を呈する物体（以下、
偏光ビームスプリッタという）を用いて特定の直線偏波
Ｘのみを光線路に入射させ、直線偏波Ｘと直交する直線
偏波Ｙのみを検出することが可能な装置も知られている
。この様なりｌ置によれば、入射端面からの反射光は受
光されないので、入射端面近傍も十分な精度で観測する
ことが可能である。しかしながら、現実の光線路では局
側の端末部が局内の主配分架に成端されていたり、加入
者側の端末部は補強部材内部に固定されるため、測定装
置に直接に光線路を接続することが困難な場合が多い。
この場合には測定装置と光線路とを接続する光コードを
介して測定することになるが、光コードと光線路の接続
部でのフレネル反射光には上記の直線偏波Ｙが含まれる
ため、光検出器あるいは後段の増幅器を飽和δｅる。し
たがって、光線路の端末近傍を十分な精度で測定するこ
とは困難となる。
介して測定することになるが、光コードと光線路の接続
部でのフレネル反射光には上記の直線偏波Ｙが含まれる
ため、光検出器あるいは後段の増幅器を飽和δｅる。し
たがって、光線路の端末近傍を十分な精度で測定するこ
とは困難となる。
（発明が解決しようとする問題点）
以下に図面を参照してこの問題点を更に詳細に説明する
。
。
第３図（ａ）は従来の光パルス試賎器の開成を示１°図
、同図（ｂ）は偏光ビームスプリッタ周辺の拡大図であ
る。１はパルス駆動レーザ、２は偏光ビームスプリッタ
、３は偏光ビームスプリッタ２の境界面、４は測定ずべ
き光線路、５は光検出器、６は増幅器、７は表示部であ
る。８はパルス駆動レーザ１．偏光ビームスプリッタ２
．光検出器５．増幅器６１表爪部７等からなる測定装置
本体、９は測定光で、通常直線偏波になっている。
、同図（ｂ）は偏光ビームスプリッタ周辺の拡大図であ
る。１はパルス駆動レーザ、２は偏光ビームスプリッタ
、３は偏光ビームスプリッタ２の境界面、４は測定ずべ
き光線路、５は光検出器、６は増幅器、７は表示部であ
る。８はパルス駆動レーザ１．偏光ビームスプリッタ２
．光検出器５．増幅器６１表爪部７等からなる測定装置
本体、９は測定光で、通常直線偏波になっている。
１０は光線路でのフレネル反射光、１１は応答光、１２
ａ〜１２ｃはコリメータである。
ａ〜１２ｃはコリメータである。
第３図に示すように測定寸べき光線路４を偏光ビームス
プリッタ２に直接接続することが可能な場合には入射端
面でのフレネル反射光１ｏは境界面３を通過した測定光
中の直線偏波成分と同一の偏波のままであるから、同図
（ａ）の拡大図に示すように、境界面３を再び通過し、
光検出器５では検出されない。したがって、境界面３で
反射する応答光１１の成分のみが検出され受光波形は第
４図のようになり、入射端近傍を十分な精度で測定しう
る。
プリッタ２に直接接続することが可能な場合には入射端
面でのフレネル反射光１ｏは境界面３を通過した測定光
中の直線偏波成分と同一の偏波のままであるから、同図
（ａ）の拡大図に示すように、境界面３を再び通過し、
光検出器５では検出されない。したがって、境界面３で
反射する応答光１１の成分のみが検出され受光波形は第
４図のようになり、入射端近傍を十分な精度で測定しう
る。
第５図は現実的な測定形態図である。１はパルス駆動レ
ーザ、２は偏光ビームスプリッタ、３は偏光ビームスプ
リッタの境界面、４は測定Ｊべき多数の光線路で、受註
の間隙をおいて配列されている。５は光検出器、６は増
幅器、７は表示部、８は上記測定装置本体、１３は光コ
ード、１４は主配分架（ＭＤＦ、）、１５は主配分架１
４に取り付けられた各光線路４に光−１−ド１３を接続
するアダプタである。第５図に示すように、現実には主
配分架１４の各光線路４に第３図に示す測定装置本体８
を直接に接続することができないので、光コード１３と
アダプタ１５とを用い°Ｃ光線路４と測定装置本体８を
接続し−Ｃいる。
ーザ、２は偏光ビームスプリッタ、３は偏光ビームスプ
リッタの境界面、４は測定Ｊべき多数の光線路で、受註
の間隙をおいて配列されている。５は光検出器、６は増
幅器、７は表示部、８は上記測定装置本体、１３は光コ
ード、１４は主配分架（ＭＤＦ、）、１５は主配分架１
４に取り付けられた各光線路４に光−１−ド１３を接続
するアダプタである。第５図に示すように、現実には主
配分架１４の各光線路４に第３図に示す測定装置本体８
を直接に接続することができないので、光コード１３と
アダプタ１５とを用い°Ｃ光線路４と測定装置本体８を
接続し−Ｃいる。
しかしながら、この様な装置ひは１つの直Ｊ！偏波Ｘの
みからなる測定光９が光コード１３を伝搬するうちに、
直線偏波Ｘと直交する成分Ｙを同程度に含むようになる
ため、アダプタ１５における光コード端と光線絡端での
フレネル反射光も境界面３で反射する成分Ｙを含むこと
になる。しだがつ°Ｃ１強いフレネル反射光が検出され
、光検出器５あるいは後段の増幅器６が飽和するため、
受光波形は第６図に示すようになり、光線路４の端末近
傍を観測することが困難となる。
みからなる測定光９が光コード１３を伝搬するうちに、
直線偏波Ｘと直交する成分Ｙを同程度に含むようになる
ため、アダプタ１５における光コード端と光線絡端での
フレネル反射光も境界面３で反射する成分Ｙを含むこと
になる。しだがつ°Ｃ１強いフレネル反射光が検出され
、光検出器５あるいは後段の増幅器６が飽和するため、
受光波形は第６図に示すようになり、光線路４の端末近
傍を観測することが困難となる。
また、測定すべき光線路の終端からの反射波、または反
射光パルスを用いて伝送特性の測定を行う装置において
も同様であり、アダプタでの光コード端末、光線路端末
におけるフレネル反射光が光検出器に入射するので高精
度の測定が困難である。
射光パルスを用いて伝送特性の測定を行う装置において
も同様であり、アダプタでの光コード端末、光線路端末
におけるフレネル反射光が光検出器に入射するので高精
度の測定が困難である。
（発明の構成）
第１の本発明は前述した如き問題点を解決するため、光
フアイバケーブルよりなる光線路４の一方の端末から測
定光を入射し該端末から出射する上記測定光に対する応
答光の波形を観測することにより光損失、その他の測定
を行なう光線路の測定装置にＪ５いて、Ｅ記測定光の発
光器１及び上記応答光の波形観測手段（光検出器５、増
幅器６、表示部７）を備えた測定装置本体８と、上記光
線路に直接光学的に接続される結合部１６と、該測定、
該測定装置本体８と上記結合部１６とを光学的に接続す
る測定光伝搬用光コード１７及び応答光伝搬用光コード
１８とからなり、上記結合部１６は上記測定光伝搬用光
コード１７の測定光のうちの一つの直線偏波Ｘのみを上
記光線路４に導くと共に上記直線偏波Ｘに直交１゛る直
線偏波Ｙのみを応答光として分離し上記応答光伝搬用光
１−ド１８に導く手段（偏光ビ・−ムスブリツタ２、」
リメータ１２ａ〜１２Ｃ）を含むことを特徴とし、第２
の発明は測定光の発光器１及び応答光の波形１１１１ｍ
手段（光検出器５、増幅器６、表示部７）を備えた測定
装置本体８と、上記光線路に直接光学的に接続される結
合部１６と、該測定装置本体８と、上記結合部１６とを
光学的に接続する測定光伝搬用光コード１７及び応答光
伝搬用光コード１８とからなり、上記結合部１６は、上
記測定光伝搬用光コード１７の測定光のうちの一つの直
線偏波Ｘのみを上記光線路４に導くと共に１記直線偏波
Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを応答光として分離し上記
応答光伝搬用光コード１８に導く手段（偏光ビームスプ
リッタ２、コリメータ１２８〜１２Ｃ）を含む光線路の
測定装置において、上記各光コード１７．１８の一端１
７ａ、１８ａ側は端子２１゜２２を介して上記測定装置
本体８に着脱自在に接続できるように構成され、該測定
装置本体８は上記発光器１の測定光のうちの−・つの直
線偏波Ｘのみを測定光伝搬用光コード１７の端子２１に
導くと共に上記直線偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを
応答光として分離する手段（偏光ビームスプリッタ１９
、シリメータ１２ｄ〜１２ｆ）及び該応答光を選択的に
上記波形観測手段（光検出器５、増幅器６、表示部７）
に導く手段（２４，２４）を含むことを特徴とする。
フアイバケーブルよりなる光線路４の一方の端末から測
定光を入射し該端末から出射する上記測定光に対する応
答光の波形を観測することにより光損失、その他の測定
を行なう光線路の測定装置にＪ５いて、Ｅ記測定光の発
光器１及び上記応答光の波形観測手段（光検出器５、増
幅器６、表示部７）を備えた測定装置本体８と、上記光
線路に直接光学的に接続される結合部１６と、該測定、
該測定装置本体８と上記結合部１６とを光学的に接続す
る測定光伝搬用光コード１７及び応答光伝搬用光コード
１８とからなり、上記結合部１６は上記測定光伝搬用光
コード１７の測定光のうちの一つの直線偏波Ｘのみを上
記光線路４に導くと共に上記直線偏波Ｘに直交１゛る直
線偏波Ｙのみを応答光として分離し上記応答光伝搬用光
１−ド１８に導く手段（偏光ビ・−ムスブリツタ２、」
リメータ１２ａ〜１２Ｃ）を含むことを特徴とし、第２
の発明は測定光の発光器１及び応答光の波形１１１１ｍ
手段（光検出器５、増幅器６、表示部７）を備えた測定
装置本体８と、上記光線路に直接光学的に接続される結
合部１６と、該測定装置本体８と、上記結合部１６とを
光学的に接続する測定光伝搬用光コード１７及び応答光
伝搬用光コード１８とからなり、上記結合部１６は、上
記測定光伝搬用光コード１７の測定光のうちの一つの直
線偏波Ｘのみを上記光線路４に導くと共に１記直線偏波
Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを応答光として分離し上記
応答光伝搬用光コード１８に導く手段（偏光ビームスプ
リッタ２、コリメータ１２８〜１２Ｃ）を含む光線路の
測定装置において、上記各光コード１７．１８の一端１
７ａ、１８ａ側は端子２１゜２２を介して上記測定装置
本体８に着脱自在に接続できるように構成され、該測定
装置本体８は上記発光器１の測定光のうちの−・つの直
線偏波Ｘのみを測定光伝搬用光コード１７の端子２１に
導くと共に上記直線偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを
応答光として分離する手段（偏光ビームスプリッタ１９
、シリメータ１２ｄ〜１２ｆ）及び該応答光を選択的に
上記波形観測手段（光検出器５、増幅器６、表示部７）
に導く手段（２４，２４）を含むことを特徴とする。
（作用）
前述した構成の第１の発明によれば、主配分架に取り付
けられた多数光線路４のように測定装置本体８を直接に
接続できないような場合においても、測定装置本体８は
結合部１６を介して光線路４に接続でき、しかも結合部
１６は上記測定光伝搬用光コード１７の測定光のうちの
一つのｆｆ１Ｎ偏波Ｘのみを上記光線路４に導くと共に
上記直線偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを一応答光と
して分離し上記応答光伝搬用光コ・・ド１８に導く手段
（偏光ビームスプリッタ２、コリメータ１２ａ〜１２Ｃ
）を含むので、入射端でのフレネル反射光の影響を回避
できる。また、前述した構成の第２の発明によれば、前
述した構成の第１の発明の作用に加え光」−ド１７，１
８を用いずに測定装置本体８を直接に光線路４に接続°
りることもできる。
けられた多数光線路４のように測定装置本体８を直接に
接続できないような場合においても、測定装置本体８は
結合部１６を介して光線路４に接続でき、しかも結合部
１６は上記測定光伝搬用光コード１７の測定光のうちの
一つのｆｆ１Ｎ偏波Ｘのみを上記光線路４に導くと共に
上記直線偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを一応答光と
して分離し上記応答光伝搬用光コ・・ド１８に導く手段
（偏光ビームスプリッタ２、コリメータ１２ａ〜１２Ｃ
）を含むので、入射端でのフレネル反射光の影響を回避
できる。また、前述した構成の第２の発明によれば、前
述した構成の第１の発明の作用に加え光」−ド１７，１
８を用いずに測定装置本体８を直接に光線路４に接続°
りることもできる。
（実施例）
第１図は本発明の実施例を示ずものであって、測定装置
本体から離れた位置にある被測定光線路の入射端面から
のフレネル反射光の影響を回避しつつ、入射端に近い部
分の測定を可能にＪる光パルス試験器の構成図である。
本体から離れた位置にある被測定光線路の入射端面から
のフレネル反射光の影響を回避しつつ、入射端に近い部
分の測定を可能にＪる光パルス試験器の構成図である。
なお、従来例と同一構成部分は同一符号をもって表り。
１【、１パルス駆動レーザ、２は偏光ビームスプリッタ
、３は偏光ビームスプリッタの境界面、４は測定すべき
光線路である。５は光検出器、６は増幅器、７は表示部
で、応答光の波形観測手段を構成するｎ８は上記パルス
駆動レーザ１及び波形ＩＱ）１１１１手段からなる測定
装置本体、９は測定光、１０は光線絡端でのフレネル反
射光、１１は応答光、１２ａ〜１２Ｇは偏光ビームスプ
リッタ２のコリメータである。
、３は偏光ビームスプリッタの境界面、４は測定すべき
光線路である。５は光検出器、６は増幅器、７は表示部
で、応答光の波形観測手段を構成するｎ８は上記パルス
駆動レーザ１及び波形ＩＱ）１１１１手段からなる測定
装置本体、９は測定光、１０は光線絡端でのフレネル反
射光、１１は応答光、１２ａ〜１２Ｇは偏光ビームスプ
リッタ２のコリメータである。
１６は主配分架近傍におかれた結合部で、−Ｆ２偏光ビ
ームスプリッタ２を含む。１７は結合部１６のコリメー
タ１２ａとパルス駆動レー・ザ１とを接続する測定光伝
搬用光コード、１８は結合部１６の：」リメータ１２Ｇ
と光検出器５を接続１Ｊる応答光伝搬用光」−ドである
。
ームスプリッタ２を含む。１７は結合部１６のコリメー
タ１２ａとパルス駆動レー・ザ１とを接続する測定光伝
搬用光コード、１８は結合部１６の：」リメータ１２Ｇ
と光検出器５を接続１Ｊる応答光伝搬用光」−ドである
。
パルス駆動レーザ１からの測定光９は通常レーザ出力端
で特定の偏波成分のみを有していても、光コード１７を
極めて短い距離伝搬するうちにこの性質は間失し、測定
光９は偏光ビームスグリツタ３の直前では境界面３で反
射される成分Ｙと透過する成分Ｘを同じ割合で含むよう
になる。このうち境界面３を透過する成分Ｘはコリメー
タ１２ｂを介して被測定光線路４に入射される。この時
、光線路４の端面でフレネル反射が生じるが、このフレ
ネル反射光は境界面３を透過した成分Ｘと同一の直線偏
波であるから、境界面３を再び通過し、コリメータ１２
Ｇに達する反射先番よ極めＶｉａ弱である。
で特定の偏波成分のみを有していても、光コード１７を
極めて短い距離伝搬するうちにこの性質は間失し、測定
光９は偏光ビームスグリツタ３の直前では境界面３で反
射される成分Ｙと透過する成分Ｘを同じ割合で含むよう
になる。このうち境界面３を透過する成分Ｘはコリメー
タ１２ｂを介して被測定光線路４に入射される。この時
、光線路４の端面でフレネル反射が生じるが、このフレ
ネル反射光は境界面３を透過した成分Ｘと同一の直線偏
波であるから、境界面３を再び通過し、コリメータ１２
Ｇに達する反射先番よ極めＶｉａ弱である。
一方、被測定光線路４のもう一方の端末または線路途中
にＪ３けるフレネル反射光またはレイリー散乱光は光コ
ード１７を伝搬した後の測定光９と同様、境界面３で反
射８゛れる成分Ｙと透過する成分Ｘを有している。この
うち、境界面３で反射される成分Ｙ Ｇ、ｔ：Ｊリメー
タ１２Ｃ１光コード１８を介して、光検出器５で検出さ
れる。光コード１７としては単一モードファイバ、偏波
保存ファイバ、多モードファイバが適用可能である。光
コード１７として偏波保存ノ？イバを用い、測定光が偏
光ビームスプリッタ３にＸ成分として入射するように設
置すれば、光コ・−ド中でＹ成分に変換されて失なわれ
る部分がなくなるため、効率よく測定光を入射できる。
にＪ３けるフレネル反射光またはレイリー散乱光は光コ
ード１７を伝搬した後の測定光９と同様、境界面３で反
射８゛れる成分Ｙと透過する成分Ｘを有している。この
うち、境界面３で反射される成分Ｙ Ｇ、ｔ：Ｊリメー
タ１２Ｃ１光コード１８を介して、光検出器５で検出さ
れる。光コード１７としては単一モードファイバ、偏波
保存ファイバ、多モードファイバが適用可能である。光
コード１７として偏波保存ノ？イバを用い、測定光が偏
光ビームスプリッタ３にＸ成分として入射するように設
置すれば、光コ・−ド中でＹ成分に変換されて失なわれ
る部分がなくなるため、効率よく測定光を入射できる。
また、光重１−ド１８としては同様に単一モードファイ
バ、偏波保存ファイバの適用が可能であるが、コア径、
ＮＡの大きな多モードファイバが実用的である。
バ、偏波保存ファイバの適用が可能であるが、コア径、
ＮＡの大きな多モードファイバが実用的である。
上記のような構成となっているから、測定装置本体８を
直接接続Ｊ°ることが困難な光線路４にも結合部１６を
介して測定装置本体８を接続できしかも結合Ｐｉ１１６
は上記測定光伝搬用光コード１７の測定光のうちの−っ
の直線偏波Ｘのみを上記光線路４に導（と共に上記直線
偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを応答光として分離し
上記応答光伝搬用光コード１８に導く手段（Ｍ光ビーム
スプリッタ２、コリメータ１２ａ〜１２ｃ）を含むので
、入射端でのフレネル反射光の影フＪを回避できる。
直接接続Ｊ°ることが困難な光線路４にも結合部１６を
介して測定装置本体８を接続できしかも結合Ｐｉ１１６
は上記測定光伝搬用光コード１７の測定光のうちの−っ
の直線偏波Ｘのみを上記光線路４に導（と共に上記直線
偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを応答光として分離し
上記応答光伝搬用光コード１８に導く手段（Ｍ光ビーム
スプリッタ２、コリメータ１２ａ〜１２ｃ）を含むので
、入射端でのフレネル反射光の影フＪを回避できる。
第２図は本発明の他の実施例を示す要部４ト１成図であ
る。１はパルス駆動レーザ、２は偏光ビームスプリッタ
、５は光検出器、６は増幅器、７は表示部で、応答光の
波形観測手段を構成する。８はパルス駆動レーザ１及び
波形観測手段からなる測定装置本体、１２ａ〜１２ｃは
偏光ビームスプリッタ２のコリメー・夕、１６は上記偏
光ビームスプリッタ２を含む結合部である。１７は結合
部１６のコリメータ１２ａとパルス駆動し・−ザ１とを
接続する測定光伝搬用光コード、１８は結合部１６のコ
リメータ１２ｃと光検出ＰＪ５を接続り°る応答光伝搬
用光コード、１９は前述した偏光ビームスプリッタ２と
同様の偏光ビームスプリッタで、測定装置本体８内に設
けられる。１２ｄ〜１２ｆはコリメータである。各光コ
ード１７．１８の一端１７ａ、１８ａは端子２１．２２
を介して」リメータ１２ｅ、光コード２３に接続できる
ようになっている。光コード２３は光コード１Ｂからの
応答光を光検出器５に導き、光コード２４はコリメータ
１２ｆからの応答光を光検出器５に導くようになってい
る。なお、光コード２４はコリメータ１２ｆからの応答
光を光検出器５に導く必要性のない場合には符号２４′
で示ず位置に移動させてコリメータ１２ｆからの応答光
が光検出器５に導かれないようになっている。
る。１はパルス駆動レーザ、２は偏光ビームスプリッタ
、５は光検出器、６は増幅器、７は表示部で、応答光の
波形観測手段を構成する。８はパルス駆動レーザ１及び
波形観測手段からなる測定装置本体、１２ａ〜１２ｃは
偏光ビームスプリッタ２のコリメー・夕、１６は上記偏
光ビームスプリッタ２を含む結合部である。１７は結合
部１６のコリメータ１２ａとパルス駆動し・−ザ１とを
接続する測定光伝搬用光コード、１８は結合部１６のコ
リメータ１２ｃと光検出ＰＪ５を接続り°る応答光伝搬
用光コード、１９は前述した偏光ビームスプリッタ２と
同様の偏光ビームスプリッタで、測定装置本体８内に設
けられる。１２ｄ〜１２ｆはコリメータである。各光コ
ード１７．１８の一端１７ａ、１８ａは端子２１．２２
を介して」リメータ１２ｅ、光コード２３に接続できる
ようになっている。光コード２３は光コード１Ｂからの
応答光を光検出器５に導き、光コード２４はコリメータ
１２ｆからの応答光を光検出器５に導くようになってい
る。なお、光コード２４はコリメータ１２ｆからの応答
光を光検出器５に導く必要性のない場合には符号２４′
で示ず位置に移動させてコリメータ１２ｆからの応答光
が光検出器５に導かれないようになっている。
この実施例では光線路４を端子２１に直接接続できる場
合は結合部１６及び光コード１７．１８を用いずに光線
路４を端子２１に直接接続り°ると共に光コード２４を
実線で示す位置に移動させてコリメータ１２ｆからの応
答光が光検出器５に尋かれるようにする。これによって
、前述のように偏光ビームスプリッタ１９により光線路
端でのフレネル反射光の影響を回避でき、またパルス駆
動レーザ１を偏光ビームスプリッタ１９に密着さぜるこ
とにより、光コード１７を介した場合の装入損失（少な
くとも３ｄＢ）を回避できる。また光線路４を測定装置
本体８に直接接続できない場合は光コード１７の一端１
７ａ及び光コード１８の一端１８ａを端子２１．２２に
接続し結合部１６を光線路４に接続すると共に光コード
２４を破線で示す位置に戻すことによって、前述の如く
光線路端でのフレネル反射光の影響を回避しつつ測定を
行うことができる。
合は結合部１６及び光コード１７．１８を用いずに光線
路４を端子２１に直接接続り°ると共に光コード２４を
実線で示す位置に移動させてコリメータ１２ｆからの応
答光が光検出器５に尋かれるようにする。これによって
、前述のように偏光ビームスプリッタ１９により光線路
端でのフレネル反射光の影響を回避でき、またパルス駆
動レーザ１を偏光ビームスプリッタ１９に密着さぜるこ
とにより、光コード１７を介した場合の装入損失（少な
くとも３ｄＢ）を回避できる。また光線路４を測定装置
本体８に直接接続できない場合は光コード１７の一端１
７ａ及び光コード１８の一端１８ａを端子２１．２２に
接続し結合部１６を光線路４に接続すると共に光コード
２４を破線で示す位置に戻すことによって、前述の如く
光線路端でのフレネル反射光の影響を回避しつつ測定を
行うことができる。
（発明の効果）
以上説明した如く第１の発明によれば、主配分架に取り
付けられた多数の光線路のように測定装置本体を直接に
接続できないような場合においても、測定装置本体は結
合部を介して光線路に接続でき、しかも結合部は上記測
定光伝搬用光コードの測定光のうちの一つの直線偏波Ｘ
のみを上記光線路に導くと共に上記直線偏波Ｘに直交す
る直線偏波Ｙのみを応答光として分離し上記応答光仏殿
用光コードに導く手段を含むので、入射端でのフレネル
反射光の影響を回避しつつ光線路の測定をできる。また
、第２の発明によれば、前述した第 １の発明の効果に
加え光コードを用いずに測定装置本体を直接に光線路に
接続することもでき、この場合でも測定装置本体に測定
光のうちの一つの直線偏波Ｘのみを上記光線路に導くと
共に上記直線偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを応答光
として分離し上記応答光伝搬用光コー・−ドに導く手段
を含むので、入射端でのフレネル反射光のＩＩを回避し
つつ光線路の測定をできる利点がある。
付けられた多数の光線路のように測定装置本体を直接に
接続できないような場合においても、測定装置本体は結
合部を介して光線路に接続でき、しかも結合部は上記測
定光伝搬用光コードの測定光のうちの一つの直線偏波Ｘ
のみを上記光線路に導くと共に上記直線偏波Ｘに直交す
る直線偏波Ｙのみを応答光として分離し上記応答光仏殿
用光コードに導く手段を含むので、入射端でのフレネル
反射光の影響を回避しつつ光線路の測定をできる。また
、第２の発明によれば、前述した第 １の発明の効果に
加え光コードを用いずに測定装置本体を直接に光線路に
接続することもでき、この場合でも測定装置本体に測定
光のうちの一つの直線偏波Ｘのみを上記光線路に導くと
共に上記直線偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを応答光
として分離し上記応答光伝搬用光コー・−ドに導く手段
を含むので、入射端でのフレネル反射光のＩＩを回避し
つつ光線路の測定をできる利点がある。
第１図は本発明の第１の実施例を示づ光線路の測定装置
の概略構成図、第２図は本発明の第２の実施例を示す光
線路の測定装置の概略構成図、第３図（ａ）は従来の測
定装置の概要を示す構成図、第３図（ｂ）は偏光ビーム
スプリッタ周辺の拡大図、第４図は測定波形図、第５図
は従来の測定装置の概要を示す構成図、第６図は測定波
形図である。１・・・パルス駆動レーザ、２，１９・・
・偏光ビームスプリッタ、３・・・偏光ビームスプリッ
タ２の境界面、４・・・光線路、５・・・光検出器、６
・・・増幅器、７・・・表示部、８・・・測定装置本体
、９・・・測定光、１０・・・光線路端でのフレネル反
射光、１１・・・応答光、１２ａ〜１２ｆ・・・偏光ビ
ームスプリッタ２，１９のコリメータ、１６・・・結合
部、１７・・・測定光伝搬用光コード、１８・・・応答
光伝搬用光コード、２１゜２２・・・端子、２３．２４
・・・光コー ド、特許出願人 日本電信電話公社 代理人 弁理士 古１）精牟 第１図 第２図 １’１ 第３図 （ａ） （ｂ） 第４図 第６図 第５図
の概略構成図、第２図は本発明の第２の実施例を示す光
線路の測定装置の概略構成図、第３図（ａ）は従来の測
定装置の概要を示す構成図、第３図（ｂ）は偏光ビーム
スプリッタ周辺の拡大図、第４図は測定波形図、第５図
は従来の測定装置の概要を示す構成図、第６図は測定波
形図である。１・・・パルス駆動レーザ、２，１９・・
・偏光ビームスプリッタ、３・・・偏光ビームスプリッ
タ２の境界面、４・・・光線路、５・・・光検出器、６
・・・増幅器、７・・・表示部、８・・・測定装置本体
、９・・・測定光、１０・・・光線路端でのフレネル反
射光、１１・・・応答光、１２ａ〜１２ｆ・・・偏光ビ
ームスプリッタ２，１９のコリメータ、１６・・・結合
部、１７・・・測定光伝搬用光コード、１８・・・応答
光伝搬用光コード、２１゜２２・・・端子、２３．２４
・・・光コー ド、特許出願人 日本電信電話公社 代理人 弁理士 古１）精牟 第１図 第２図 １’１ 第３図 （ａ） （ｂ） 第４図 第６図 第５図
Claims (2)
- （１）光ファイバケーブルよりなる光線路の一方の端末
から測定光を入射し該端末から出射する上記測定光に対
する応答光の波形を観測することにより光損失、その他
の測定を行なう光線路の測定装置において、上記測定光
の発光器及び上記応答光の波形観測手段を備えた測定装
置本体と、上記光線路に直接光学的に接続される結合部
と、該測定装置本体と上記結合部とを光学的に接続する
測定光伝搬用光コード及び応答光伝搬用光コードとから
なり、上記結合部は上記測定光伝搬用光コードの測定光
のうちの一つの直線偏波Ｘのみを上記光線路に導くと共
に上記直線偏波Ｘに直交する直線偏波Ｙのみを応答光と
して分離し上記応答光伝搬用光コードに導く手段を含む
ことを特徴とする光線路の測定装置。 - （２）測定光の発光器及び応答光の波形観測手段を備え
た測定装置本体と、上記光線路に直接接続される結合部
と、上記光線路に直接光学的に接続される結合部と、該
測定装置本体と上記結合部とを光学的に接続する測定光
伝搬用光コード及び応答光伝搬用光コードとからなり、
上記結合部は上記測定光伝搬用光コードの測定光のうち
の一つの直線偏波Ｘのみを上記光線路に導くと共に上記
直線偏波Ｘに、直交する直線偏波Ｙのみを応答光として
分離し上記応答光伝搬用光コードに導く手段を含む光線
路の測定装置において、上記各光コードの一端側は接続
用端子を介して上記測定装置本体に着脱自在に接続でき
るように構成され、該測定装置本体は上記発光器の測定
光のうちの一つの直線偏波Ｘのみを測定光伝搬用光コー
ドの上記端子に導くと共に上記直線偏波Ｘに直交する直
線偏波Ｙのみを応答光として分離する手段及び該応答光
を選択的に上記波形観測手段に導く手段を含むことを特
徴とする光線路の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18167784A JPS6159237A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光線路の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18167784A JPS6159237A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光線路の測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6159237A true JPS6159237A (ja) | 1986-03-26 |
Family
ID=16104937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18167784A Pending JPS6159237A (ja) | 1984-08-31 | 1984-08-31 | 光線路の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6159237A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0580858A1 (en) * | 1992-02-17 | 1994-02-02 | Sumitomo Cement Co. Ltd. | Method of measuring the amount of light reflected by an optical fiber and device therefor |
-
1984
- 1984-08-31 JP JP18167784A patent/JPS6159237A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0580858A1 (en) * | 1992-02-17 | 1994-02-02 | Sumitomo Cement Co. Ltd. | Method of measuring the amount of light reflected by an optical fiber and device therefor |
| EP0580858A4 (en) * | 1992-02-17 | 1994-03-21 | Sumitomo Cement Co | METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THE QUANTITY OF LIGHT REFLECTED BY AN OPTICAL FIBER. |
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